具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
以下结合具体附图对本发明的实现进行详细的描述:
图2示出了本发明一实施例所提供的DC-DC转换器的模块结构,为了便于说明,仅示出了与本实施例相关的部分,详述如下:
如图2所示,本实施例提供的DC-DC转换器10包括控制电路100、电流采样电路101、储能电路102、反馈电路103以及线损补偿电路104。
其中,控制电路100的第一输入端与电流采样电路101的输出端连接,控制电路100的第二输入端接收参考电压VREF,控制电路100的第三输入端与反馈电路103的反馈端连接,控制电路100的第一输出端与储能电路102的输入端以及电流采样电路101的采样端共接,控制电路100的第二输出端与线损补偿电路104的第一输入端连接;电流采样电路101的输入端接收电源电压Vin,电流采样电路101的输出端与线损补偿电路104的第二输入端连接;反馈电路103的输入端与储能电路102的输出端VOUT1连接,线损补偿电路104的输出端与反馈电路103的反馈端连接。
具体的,电源电压Vin经过电流采样电路101、控制电路100以及储能电路102后输出芯片电压VOUT1,芯片电压VOUT1经过线损电阻Rcable向负载提供负载电压VOUT;电流采样电路101对流经储能电路102的电流进行采样并输出采样电流至线损补偿电路104;线损补偿电路104根据采样电流与控制电路100输出的控制信号输出线损补偿电流至反馈电路103的反馈端,反馈电路103根据线损补偿电流对负载电压VOUT的线损压降进行补偿。
图3示出了本发明一实施例所提供的DC-DC转换器的电路结构,为了便于说明,仅示出了与实施例相关的部分,详述如下:
如图3所示,本发明实施例所提供的DC-DC转换器10中的控制电路100包括振荡器与斜坡补偿模块100a、误差放大器100b、脉宽调制比较器100c、逻辑模块100d、主功率管MH以及晶体管ML;储能电路102包括电感L,电感L的第一端为储能电路102的输入端,电感L的第二端为储能电路102的输出端VOUT1;反馈电路103包括反馈电阻RF1与反馈电阻RF2,反馈电阻RF1的第一端为反馈电路103的输入端,反馈电阻RF1的第二端与反馈电阻RF2的第一端共接形成反馈电路103的反馈端;此外,本实施例提供的DC-DC转换器10还包括电容C,电容C的第一端与反馈电阻RF1的第一端以及电感L的第二端共接,电容C的第二端接地,在本实施例中,电感L与电容C组成LC滤波电路,对DC-DC转换器10输出的芯片电压VOUT1进行滤波处理。
进一步地,作为本发明一优选实施例,如图4所示,电流采样电路101包括镜像电流模块101a与电流采样模块101b。
其中,镜像电流模块101a的输入端接收输入电压VCC,镜像电流模块101a的输出端与电流采样模块101b的第一输入端连接,电流采样模块101b的第二输入端为电流采样电路101的输入端,电流采样模块101b的采样端为电流采样电路101的采样端,电流采样模块101b的输出端为电流采样电路101的输出端;
镜像电流模块101a根据输入电压VCC生成镜像电流,并根据镜像电流输出偏置电压至电流采样模块101b,电流采样模块101b对流经储能电路102的电流进行采样,并根据偏置电压输出采样电流。
进一步地,作为本发明一优选实施例,如图5所示,镜像电流模块101a包括电流源S、第十一开关元件Q11、第十二开关元件Q12、第十三开关元件Q13、第十四开关元件Q14、第十五开关元件Q15以及第十六开关元件Q16。
电流源S的负端为镜像电流模块101a的输入端,电流源S的正端与第十一开关元件Q11的输入端、第十一开关元件Q11的控制端、第十二开关元件Q12的控制端、第十三开关元件Q13的控制端、第十四开关元件Q14的控制端、第十五开关元件Q15的控制端以及第十六开关元件Q16的控制端共接,第十一开关元件Q11的输出端、第十二开关元件Q12的输出端、第十三开关元件Q13的输出端、第十四开关元件Q14的输出端、第十五开关元件Q15的输出端以及第十六开关元件Q16的输出端共接于地,第十五开关元件Q15的输入端为镜像电流模块101a的输出端。
需要说明的是,在本实施例中,第十一开关元件Q11、第十二开关元件Q12、第十三开关元件Q13、第十四开关元件Q14、第十五开关元件Q15以及第十六开关元件Q16均为第一开关管,该第一开关管为NMOS晶体管,该NMOS晶体管的栅极、漏极以及源极分别为该第一开关管的控制端、输入端以及输出端;此外,第十一开关元件Q11为第十一NMOS晶体管,第十二开关元件Q12为第十二NMOS晶体管,第十三开关元件Q13为第十三NMOS晶体管,第十四开关元件Q14为第十四NMOS晶体管,第十五开关元件Q15为十第五NMOS晶体管,第十六开关元件Q16为第十六NMOS晶体管,并且第十一NMOS晶体管的宽长比与第十五NMOS晶体管的宽长比以及第十六NMOS晶体管的宽长比为1:1:1,即(W/L)Q11:(W/L)Q15:(W/L)Q16=1:1:1;第十一NMOS晶体管的宽长比与第十二NMOS晶体管的宽长比、第十三NMOS晶体管的宽长比以及第十四NMOS晶体管的宽长比为1:8:6:2,即(W/L)Q11:(W/L)Q12:(W/L)Q13:(W/L)Q14=1:8:6:2。
进一步地,作为本发明一优选实施例,如图5所示,电流采样模块101b包括第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第十七开关元件Q17、第十八开关元件Q18、第十九开关元件Q19、第二十开关元件Q20、第二十一开关元件Q21、第二十二开关元件Q22、第二十三开关元件Q23以及第二十四开关元件Q24。
其中,第二电阻R2的第一端与第四电阻R4的第一端共接形成电流采样模块101b的采样端,第三电阻R3的第一端与第四电阻R4的第二端共接形成电流采样模块101b的第二输入端,第二电阻R2的第二输与第十九开关元件Q19的输入端连接,第十九开关元件Q19的输出端与第十七开关元件Q17的输入端以及第二十一开关元件Q21的控制端连接,第十九开关元件Q19的控制端与第二十开关元件Q20的控制端连接,第二十开关元件Q20的输入端与第三电阻R3的第二端以及第二十一开关元件Q21的输入端共接,第十七开关元件Q17的控制端与第十八开关元件Q18的控制端共接,并接收输入电压VCC,第十七开关元件Q17的输出端与第十二开关元件Q12的输入端连接,第十八开关元件Q18的输出端与第十三开关元件Q13的输入端连接,第十八开关元件Q18的输入端与第二十开关元件Q20的输出端连接,第二十一开关元件Q21的输出端与第二十三开关元件Q23的输入端以及第十四开关元件Q14的输入端连接,第二十三开关元件Q23的控制端与第二十二开关元件Q22的控制端、输出端以及第十五开关元件Q15的输入端共接,第二十三开关元件Q23的输出端为电流采样模块101b的输出端,第二十二开关元件Q22的输入端与第二十四开关元件Q24的控制端、第二十四开关元件Q24的输出端以及第一开关元件Q1的控制端共接,第二十四开关元件Q24的输入端接收输入电压VCC。
需要说明的是,在本实施例中,第十七开关元件Q17与第十八开关元件Q18均为第一开关管,该第一开关管为NMOS晶体管,该NMOS晶体管的栅极、漏极以及源极分别为该第一开关管的控制端、输入端以及输出端;此外,第十九开关元件Q19、第二十开关元件Q20、第二十一开关元件Q21、第二十二开关元件Q22、第二十三开关元件Q23以及第二十四开关元件Q24均为第二开关管,该第二开关管为PMOS晶体管,该PMOS晶体管的栅极、源极以及漏极分别为该第二开关管的控制端、输入端以及输出端。
进一步地,作为本发明一优选实施例,如图5所示,线损补偿电路104包括第一开关元件Q1、第二开关元件Q2、第三开关元件Q3、第四开关元件Q4、第五开关元件Q5、第六开关元件Q6、第七开关元件Q7、第八开关元件Q8、第九开关元件Q9、第十开关元件Q10、第一电阻R1、第一电容C1以及第二电容C2。
其中,第一开关元件Q1的输入端、第七开关元件Q7的输入端以及第八开关元件Q8的输入端均接收输入电压VCC,第一开关元件Q1的输出端与第二开关元件Q2的输入端、第三开关元件Q3的控制端、第三开关元件Q3的输入端以及第四开关元件Q4的控制端共接,第二开关元件Q2的控制端为线损补偿电路104的第一输入端,第二开关元件Q2的输出端、第三开关元件Q3的输出端、第四开关元件Q4的输出端、第五开关元件Q5的输入端以及第五开关元件Q5的控制端共接形成线损补偿电路104的第二输入端,第四开关元件Q4的输入端与第六开关元件Q6的控制端以及第一电容C1的第一端共接,第六开关元件Q6的输入端与第七开关元件Q7的输出端、第七开关元件Q7的控制端以及第八开关元件Q8的控制端共接,第八开关元件Q8的输出端与第九开关元件Q9的输入端、第九开关元件Q9的控制端以及第一电阻R1的第一端共接,第一电阻R1的第二端与第二电容C2的第一端以及第十开关元件Q10的控制端共接,第十开关元件Q10的输入端为线损补偿电路104的输出端,第五开关元件Q5的输出端、第六开关元件Q6的输出端、第一电容C1的第二端、第九开关元件Q9的输出端、第二电容C2的第二端以及第十开关元件Q10的输出端共接于地。
需要说明的是,在本实施例中,第二开关元件Q2、第三开关元件Q3、第四开关元件Q4、第五开关元件Q5、第六开关元件Q6、第九开关元件Q9以及第十开关元件Q10均为第一开关管,该第一开关管为NMOS晶体管,该NMOS晶体管的栅极、漏极以及源极分别为该第一开关管的控制端、输入端以及输出端;此外,第一开关元件Q1、第七开关元件Q7以及第八开关元件Q8均为第二开关管,该第二开关管为PMOS晶体管,该PMOS晶体管的栅极、源极以及漏极分别为该第二开关管的控制端、输入端以及输出端。
再者,在本实施例中,第一开关元件Q1为第一PMOS晶体管,第二十四开关元件Q24为第二十四PMOS晶体管,并且该第二十四PMOS晶体管的宽长比与该第一PMOS晶体管的宽长比为1:1,即(W/L)Q1:(W/L)Q24=1:1;第七开关元件Q7为第七PMOS晶体管,第八开关元件Q8为第八PMOS晶体管,并且该第七PMOS晶体管的宽长比与该第八PMOS晶体管的宽长比为1:m,即(W/L)Q7:(W/L)Q8=1:m,m为大于零的数;第九开关元件Q9为第九NMOS晶体管,第十开关元件Q10为第十NMOS晶体管,该第九NMOS晶体管的宽长比与该第十NMOS晶体管的宽长比为1:1,即(W/L)Q9:(W/L)Q10=1:n,n为大于零的数。
下面以图3与图5所示的具体电路为例对本发明实施例提供的DC-DC转换器10的工作原理作具体说明,详述如下:
如图3所示,电源电压Vin经过电流采样电路101与控制电路100,以使控制电路100中的逻辑模块100d输出导通控制信号至主功率管MH,进而使得主功率管MH根据该导通控制信号导通,从而使得电源电压Vin通过电感L后输出芯片电压VOUT1,该芯片电压VOUT1经过线损电阻Rcable向外部负载提供负载电压VOUT。
进一步地,如图5所示,由包括第十一开关元件Q11至第二十四开关元件Q24以及第二电阻R2至第四电阻R4组成的电流采样电路101对电感L的电流进行采样得到的采样电流Isense,该采样电路的表达式为:
其中,Ron为主功率管MH的导通阻抗值,R为第二电阻R2的阻值,并且第二电阻R2的阻值与第三电阻R3的阻值相等,l为电流采样比例;此外,从图6可知,电流采样电路101采样的采样电流Isense的波形为梯形。
进一步地,如图5所示,由包括第一开关元件Q1至第十开关元件Q10、第一电阻R1、第一电容C1以及第二电容C2组成的线损补偿电路104将电流采样电路101的采样电流Isense转化为近似直流的线损补偿电流Icable,线损补偿电流Icable的波形如图6所示。
具体的,如图4与图5所示,当电流采样电路101接收输入电压VCC时,电流源S为整个电流采样电路101与线损补偿电路104提供偏置电流Ib;由于第十一NMOS晶体管Q11分别与第十二NMOS晶体管Q12、第十三NMOS晶体管Q13、第十四NMOS晶体管Q14、第十五NMOS晶体管Q15、第十六NMOS晶体管Q16构成电流镜,并且第十一NMOS晶体管Q11的宽长比与第十五NMOS晶体管Q15的宽长比以及第十六NMOS晶体管Q16的宽长比为1:1:1,第一十NMOS晶体管Q11的宽长比与第十二NMOS晶体管Q12的宽长比、第十三NMOS晶体管Q13的宽长比以及第十四NMOS晶体管Q14的宽长比为1:8:6:2,则流过第十五NMOS晶体管Q15与第十六NMOS晶体管Q16的电流均为偏置电流Ib,该偏置电流Ib流经第二十二PMOS晶体管Q22,并为第二十二PMOS晶体管Q22与第二十三PMOS晶体管Q23提供偏置电压,进而使得第二十三PMOS晶体管Q23输出采样电流Isense至第五NMOS晶体管Q5,即第五NMOS晶体管Q5上的电流等于采样电流Isense。
进一步地,由于流过第二十二PMOS晶体管Q22的电流为偏置电流Ib,且第二十四PMOS晶体管Q24与第二十二PMOS晶体管Q22在同一通路,因此,流经第二十四PMOS晶体管Q24的电流为偏置电流Ib。由于第二十四PMOS晶体管Q24与第一PMOS晶体管Q1构成电流镜,且其镜像关系为1:1,则流经第一NMOS晶体管Q1的电流为偏置电流Ib,进而使得流经第二NMOS晶体管Q2的电流为偏置电流Ib。此外,当主功率管MH导通,且逻辑模块100d输出的控制信号Ctrl=0时,第二NMOS晶体管Q2截止,进而使得流经第一NMOS晶体管Q1的偏置电流Ib均流过第三NMOS晶体管Q3,从而在第三NMOS晶体管Q3的栅源两端产生压降为第四NMOS晶体管Q4提供偏置电压,即Vgs.3=Vgs.4;第四NMOS晶体管Q4在该偏置电压的作用下导通,此时第四NMOS晶体管Q4等效为电阻,其与第一电容C1构成低通滤波结构,并将采样电流Isense转换为较为平稳的电压给第六NMOS晶体管Q9提供偏执电压,又由于第五NMOS晶体管Q5和第六NMOS晶体管Q6是一组受控于第四NMOS晶体管Q4的镜像关系为1:1的电流镜;因此,流过第六NMOS晶体管Q6的电流即为主功率管MH导通期间采样电流Isense的平均值。
当主功率管MH截止,且逻辑模块100d输出的控制信号Ctrl=1时,第二NMOS晶体管Q2导通,进而使得流经第一PMOS晶体管Q1的偏置电流Ib全部流过第二NMOS晶体管Q2,第三NMOS晶体管Q3被短路,即第三NMOS晶体管Q3的栅源电压Vgs.3=0,从而使得第四NMOS晶体管Q4的栅源电压Vgs.4也为0,第四NMOS晶体管Q4呈现高阻态,但是由于第一电容C1具有储能作用,并且该第一电容C1没有放电路径,因此,流过第二十NMOS晶体管Q20的电流仍为主功率管MH导通期间采样电流Isense的平均值,即流过第六NMOS晶体管Q6的电流与电感电流平均值成比例关系,并且与占空比无关,电感电流平均值即为负载电流ILOAD,具体波形可参考图6;此外,由于第七PMOS晶体管Q7与第六NMOS晶体管Q6为一通路,因此,流经第七PMOS晶体管Q7的电流即为流过第六NMOS晶体管Q6的电流,又因为第七PMOS晶体管Q7与第八PMOS晶体管Q8构成电流镜,且镜像关系为1:m,因此,流经第八PMOS晶体管Q8的电流为m倍的流经第六NMOS晶体管Q6的电流;再者,由于第九NMOS晶体管Q23与第八PMOS晶体管Q8为一通路,因此,流经第九NMOS晶体管Q9的电流即为流过第八PMOS晶体管Q8的电流,又因为第九NMOS晶体管Q9与第十NMOS晶体管Q10构成电流镜,且镜像关系为1:n,因此,流经第十NMOS晶体管Q10的电流为m×n倍的流经第六NMOS晶体管Q6的电流,即线损补偿电路104得到的线损补偿电流Icable为m×n倍的流经第六NMOS晶体管Q6的电流。需要说明的是,在本实施例中,第一电阻R1与第二电容C2构成低通滤波器,其作用是对第十NMOS晶体管Q10的栅极偏置电压进行滤波,以使得第十NMOS晶体管Q10输出更加平稳的线损补偿电流Icable。
从上述描述可知,线损补偿电路104得到的线损补偿电流Icable的表达式为:
Icable=l×m×n×ILOAD=k×ILOAD; (4)
即线损补偿电流Icable与负载电流ILOAD成线性比例关系,其中k=l×m×n,并且l、m以及n均为大于零的数。
从图3可知,负载电压VOUT的表达式为:
VOUT=VREF×(1+RF1/RF2)-ILOAD×Rcable+Icable×RF1; (5)
将表达式(4)代入表达式(5)可得:
VOUT=VREF×(1+RF1/RF2)-ILOAD×Rcable+k×ILOAD×RF1; (6)
其中,VREF为参考电压值,RF1和RF2分别为反馈电阻RF1和反馈电阻RF2的电阻值,ILOAD为负载电流,Rcable为线损电阻Rcable的电阻值。
从负载电压VOUT的表达式(6)可以看出,可通过调节反馈电阻RF1的阻值RF1的大小,使得ILOAD×Rcable=k×ILOAD×RF1,即RF1=Rcable/k,即可实现不同负载、不同占空比情况下负载端得到的输出电压恒定,即负载电压VOUT恒定。
进一步地,图6示出了本发明一实施例所提供的DC-DC转换器10的线损补偿电流Icable与采样电流Isense之间的关系,从图6可以看出,本发明实施例所提供的线损补偿电路104得到的线损补偿电流Icable在整个开关周期内均为采样电流Isense的平均值。
进一步地,不管是在主功率管MH导通或者截止,流过第六NMOS晶体管Q6的电流仍为主功率管MH导通期间采样电流Isense的平均值,而采样电流Isense的平均值与电感电流平均值成比例关系,因此,流过第六NMOS晶体管Q6的电流与电感电流平均值成比例关系,并且与占空比无关;此外,由于电感电流平均值即为负载电流ILOAD,流过第六NMOS晶体管Q6的电流与负载电流ILOAD成比例关系,再者,线损补偿电路104得到的线损补偿电流Icable为m×n倍的流经第六NMOS晶体管Q6的电流,因此,本发明实施例得到的线损补偿电流Icable与负载电流ILOAD成比例关系,具体如图7所示。
进一步地,8a示出了现有DC-DC转换器芯片输出的芯片电压VOUT1与负载电压VOUT的关系,图8b示出了本发明一实施例所提供的DC-DC转换器10的芯片电压VOUT1和负载电压VOUT的关系。从图8a可以看出,现有的DC-DC转换器芯片输出的芯片电压VOUT1恒定,但是由于线损电阻的存在,进而使得负载得到的负载电压VOUT减小;而从图8b可以看出,由于本发明实施例提供的DC-DC转换器10在芯片电压VOUT1上叠加了一个线损补偿电压k×ILOAD×RF1,进而使得芯片电压VOUT1随着负载电流ILOAD增大而增大,从而保证负载端得到的负载电压VOUT恒定不变。
在本发明中,通过采用包括控制电路100、电流采样电路101、储能电路102、反馈电路103以及线损补偿电路104的DC-DC转换器10,使得电源电压Vin经过电流采样电路101、控制电路100以及储能电路102后输出芯片电压VOUT1,芯片电压VOUT1经过外部的线损电阻Rcable向外部的负载提供负载电压VOUT;电流采样电路101对流经储能电路102的电流进行采样并输出采样电流Isense至线损补偿电路104;线损补偿电路104根据采样电流Isense与控制电路100输出的控制信号输出线损补偿电流Icable至反馈电路103的反馈端,反馈电路103根据线损补偿电流Icable对负载电压VOUT的线损压降进行补偿,进而使得负载电压VOUT恒定,从而解决了现有DC-DC转换器存在由于线损导致的负载端输出电压降低的问题。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。