CN105911459A - To管插件方向的检测方法 - Google Patents

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韦明
宋怀成
唐勇
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Jiangsu Allray Inc
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2853—Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections

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Abstract

本发明公开一种TO管插件方向的检测方法，包括以下具体步骤：将检测管脚置低、读检测管脚电压、判断电压。通过上述，本发明的TO管插件方向的检测方法，通过获取的电压高低，区别TO组件插入的方向是否正确，从而避免因插错方向，在管芯与TO组件接触时，产生大电流，有几率造成光器件或者生产设备的损坏，从而可在一定程度上降低生产成本。

Description

TO 管插件方向的检测方法
技术领域
本发明涉及一种TO管插件方向的检测方法，应用于LD(Laser Diode,激光二极管)自动耦合生产时，TO（晶体管）组件接入设备时方向的检测。
背景技术
在同轴型激光器焊接封装中，TO组件插入生产设备中，TO组件的管脚与设备提供的接口必须一一对应，在插入器件时，如果不够仔细，可能会以正90度或负90度方向插入，如果方向插错，一旦管芯与TO组件接触后，则设备给TO组件供电管脚出错，导致设备与器件异常，产生大电流，可能会损坏光器件或设备，造成不必要的损失和时间上的耽搁。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种TO管插件方向的检测方法，在部分TO组件插错方向时，会有提醒，且不会继续工作，从而避免器件或设备的损坏。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供了一种TO管插件方向的检测方法，包括以下具体步骤：
a、将检测管脚置低，将器件的case脚连接到芯片的I/O管脚，且将I/O管脚设置为数字输入方式，同时将其置为低电平，允许低端输出驱动器；
b、读检测管脚电压，监测芯片的I/O管脚，当TO管插入方向正确时，读出的值为高电平；TO管方向插错或芯片的I/O管脚没有插入TO管时，读出的值为低电平；
c、判断电压，根据读出的值进行提示，判断读出的电压为高电平或低电平；
如果读出的值为高电平，则器件插入的方向准确，将芯片上此管脚置为高电平，禁止低端输出驱动器；
如果读出的值为高电平，则器件插入的方向有误。
在本发明一个较佳实施例中，所述的TO管包括LD Cathode脚、NA脚、LD Anode脚和CASE脚。
在本发明一个较佳实施例中，所述的LD Cathode脚和LD Anode脚位于同一垂直线上，所述的NA脚和CASE脚位于同一水平线上。
本发明的有益效果是：本发明的TO管插件方向的检测方法，通过获取的电压高低，区别TO组件插入的方向是否正确，从而避免因插错方向，在管芯与TO组件接触时，产生大电流，有几率造成光器件或者生产设备的损坏，从而可在一定程度上降低生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
图1为本发明中TO管插件方向的检测方法一较佳实施例的流程图。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，本发明实施例包括：
一种TO管插件方向的检测方法，包括以下具体步骤：
a、将检测管脚置低，将器件的case脚连接到芯片的I/O管脚，且将I/O管脚设置为数字输入方式，同时将其置为低电平，允许低端输出驱动器；
b、读检测管脚电压，监测芯片的I/O管脚，当TO管插入方向正确时，读出的值为高电平；TO管方向插错或芯片的I/O管脚没有插入TO管时，读出的值为低电平；
c、判断电压，根据读出的值进行提示，判断读出的电压为高电平或低电平；
如果读出的值为高电平，则器件插入的方向准确，将芯片上此管脚置为高电平，禁止低端输出驱动器；
如果读出的值为高电平，则器件插入的方向有误。
上述中，所述的TO管包括LD Cathode脚、NA脚、LD Anode脚和CASE脚。其中，所述的LD Cathode脚和LD Anode脚位于同一垂直线上，所述的NA脚和CASE脚位于同一水平线上。
本发明的工作原理为：用I/O口监测LD阳级，如果插入方向有误，即LD阳级插入的是器件的case脚或NA脚，其电压与正确接入的电压不同，会有高低区别。
本发明可检测出管脚插入的方向是否正确，所耗时间远小于1秒，几乎不影响生产效率；操作上，集成在启动键上，即增加检测功能，却不增加操作复杂度；同时也可避免因插错管脚而导致器件或者设备的损坏，造成不必要的损失，从而节约生产成本。
综上所述，本发明的TO管插件方向的检测方法，通过获取的电压高低，区别TO组件插入的方向是否正确，从而避免因插错方向，在管芯与TO组件接触时，产生大电流，有几率造成光器件或者生产设备的损坏，从而可在一定程度上降低生产成本。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (3)

1.一种TO管插件方向的检测方法，其特征在于，包括以下具体步骤：
a、将检测管脚置低，将器件的case脚连接到芯片的I/O管脚，且将I/O管脚设置为数字输入方式，同时将其置为低电平，允许低端输出驱动器；
b、读检测管脚电压，监测芯片的I/O管脚，当TO管插入方向正确时，读出的值为高电平；TO管方向插错或芯片的I/O管脚没有插入TO管时，读出的值为低电平；
c、判断电压，根据读出的值进行提示，判断读出的电压为高电平或低电平；
如果读出的值为高电平，则器件插入的方向准确，将芯片上此管脚置为高电平，禁止低端输出驱动器；
如果读出的值为高电平，则器件插入的方向有误。
2.根据权利要求1所述的TO管插件方向的检测方法，其特征在于，所述的TO管包括LD Cathode脚、NA脚、LD Anode脚和CASE脚。
3.根据权利要求2所述的TO管插件方向的检测方法，其特征在于，所述的LD Cathode脚和LD Anode脚位于同一垂直线上，所述的NA脚和CASE脚位于同一水平线上。
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