CN103063975A - 一种开/短路测试系统及方法 - Google Patents
一种开/短路测试系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103063975A CN103063975A CN2012105783827A CN201210578382A CN103063975A CN 103063975 A CN103063975 A CN 103063975A CN 2012105783827 A CN2012105783827 A CN 2012105783827A CN 201210578382 A CN201210578382 A CN 201210578382A CN 103063975 A CN103063975 A CN 103063975A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- power supply
- diode
- supply interface
- voltage
- ground connection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明提供一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。本发明还提供了一种开/短路测试方法。本发明通过提供一种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。
Description
技术领域
本发主要用于集成电路测试，具体涉及一种开/短路测试系统及方法。
背景技术
众所周知开/短路测试主要用于检测系统的连接特性及集成电路的静电保护电路是否完好；无论是在中测还是在成测中开/短路测试都是必不可少的。在集成电路设计中为了保护芯片，每一个管脚都设计了一个保护电路，该保护电路是两个首尾相连的二极管，集成电路的管脚置于两个二极管之间，其中一个二极管接地，另一个二极管接电源。开路/短路测试实质上就是测试这两个二极管的特性。
然而不管是在中测还是成测中，待测集成电路的测试中不只是测试管脚的开/短路，还需要通过该管脚对待测集成电路的功能进行测试，在上述的待测电路中加入功能测试逻辑模块则可完成待测集成电路的功能测试。
结合图1和图2，传统测试模块包括测试电压工具、功能测试逻辑模块、第一供电开关K1及第二供电开关K2，所述功能测试逻辑模块包括功能测试逻辑及开关K3，所述第一供电开关K1与待测管脚相连并为待测管脚提供100uA的电流，所述第二供电开关K2与待测管脚相连并为待测管脚提供-100uA的电流，所述开关控制所述功能测试逻辑的通断。
传统的测试方法如下：
1、测试与电源相连的二极管的压降，给集成电路待测管脚输入100uA电流，其它的管脚全部给零电位或者直接接地，所述与电源相连的二极管导通后，用所述测量电压工具测试所述集成电路待测管脚的电压，如果该管脚的电压值在0.2V～1.5V之间，则该管脚是正常的，测试通过，如果该管脚的电压值大于1.5V，则该管脚是开路，测试不通过，如果该管脚的电压值小于0.2V，则该管脚短路，测试不通过。
2、测试与地相连的二极管的压降，给所述待测集成电路管脚输入-100uA电流，其他的管脚全部给零电位或者直接接地，所述与地相连的二极管导通后，用所述测量电压工具来测试所述集成电路待测管脚的电压，如果该管脚的电压值在-1.5V～（-0.2V）之间，则该管脚是正常的，测试通过，如果该管脚的电压值小于-1.5V，则该管脚是开路，测试不通过，如果该管脚的电压值大于-0.2V，则该管脚短路，测试不通过。
传统的测试方法中，每一个管脚都有一个完整的测试电路，每一个测试电路都需要2-3个开关，待测集成电路有N个管脚就会有N个完整的测试电路，则整个待测集成电路的测试电路就会有2N-3N个开关，有N个待测管脚就需要测试2N次，同时模拟信号的切换只能用继电器，继电器的缺点是寿命短、体积大、成本高，且有继电器矩阵的测试系统其稳定性和可维护性都不高。继电器的寿命只有10万次左右，继电器矩阵的更换不方便，这大大降低了测试效率。
发明内容
本发明的目的是提供一种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。
为实现上述目的，本发明提供一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管之间，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连；
较佳的，所述电压测量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N≥2；
较佳的，所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的二极管的阳极及所述接地的二极管的阴极与功能测试逻辑不短路；
较佳的，所述第一供电接口及所述第二供电接口为选择开关，当测试所述接电源的二极管时，所述第一供电接口及所述第二供电接口均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的二极管导通，所述接地的二极管不导通；
较佳的，所述第一供电接口及所述第二供电接口为选择开关，当测试所述接地的二极管时，所述第一供电接口及所述第二供电接口均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的二极管导通，所述接电源的二极管不导通。
较佳的，所述第一供电接口的电压范围大于与其相连的所述接电源的二极管的压降范围，所述第二供电接口的电压范围大于与其相连的所述接地的二极管的压降范围，且所述第一供电接口和所述第二供电接口的电源电压相同。
较佳的，所述第一供电接口和所述第二供电接口的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。
较佳的，所述接电源的二极管和所述接地的二极管的压降范围为0.2V～1.5V。
本发明还提供了一种开/短路测试方法，具体步骤如下：
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接地；
所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的二极管的阳极，使得所述接电源的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过；
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接电源；
所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管的阴极，使得所述接地的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
较佳的，所述步骤还可如下：
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接电源；
所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管的阴极，使得所述接地的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过;
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接地；
所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的二极管的阳极，使得所述接电源的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
与现有技术相比，本发明技术方案中只需要两个继电器，并且只需要测试两次即可测完所有的待测管脚大大降低了成本，提高了系统的稳定性和可维护性。同时不管是测试接电源的二极管还是测试接地的二极管，待测管脚上的电压都是正电压，降低了测量电压工具的要求。
以下结合附图进行描述，以下附图用于解释本发明。
附图说明
图1为背景技术传统开/短路测试系统框图
图2为背景技术传统开/短路测试电路图
图3为本发明技术方案系统框图
图4为本发明技术方案电路图
图5为本发明技术方案流程图
图6为本发明技术方案另一流程图
具体实施方式
现结合附图描述本发明，如上所述本发明提供了一种开/短路测试系统及方法，本发明的实施可以很大程度上降低成本，同时可以提高系统的稳定性和可维护性。
结合图3和图4，如图所示，本发明实施例提供一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具ADC阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口K1及第二供电接口K2，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管D1和一个接地的二极管D2组成，所述接电源的二极管D1和所述接地的保护二极管D2首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的二极管D1和所述接地的保护二极管D2之间，所述第一供电接口K1与所述接电源的二极管D1的阴极相连，所述第二供电接口K2与所述接地的二极管D2的阳极相连；
较佳的，所述电压测量工具ADC阵列中的电压测量工具ADC的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N≥2
较佳的，所述功能测试逻辑模块包括限流电阻R及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻R保护所述接电源的二极管D1的阳极及所述接地的二极管D2的阴极与所述功能测试逻辑不短路；
较佳的，所述第一供电接口K1及所述第二供电接口K2为选择开关，当测试所述接电源的二极管D1时，所述第一供电接口K1及所述第二供电接口K2均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的二极管D1导通，所述接地的二极管D2不导通；
较佳的，所述第一供电接口K1及所述第二供电接口K2为选择开关，当测试所述接地的二极管D2时，所述第一供电接口K1及所述第二供电接口K2均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的二极管D2导通，所述接电源的二极管D1不导通。
较佳的，所述第一供电接口K1的电压范围大于与其相连的所述接电源的二极管D1的压降范围，所述第二供电接口K2的电压范围大于与其相连的所述接地的二极管D2的压降范围，且所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2的电源电压相同。
较佳的，所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。
较佳的，所述接电源的二极管D1和所述接地的二极管D2的压降范围为0.2V～1.5V。
结合图5，本发明实施例还提供了一种开/短路测试方法，具体步骤如下：
将所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2同时接地；
所述功能测试逻辑模块输出高电压3.3V至所述接电源的二极管D1的阳极，使得所述接电源的二极管D1导通；
所述电压测量工具ADC测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管D1的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过；
将所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2同时接电源；
所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管D2的阴极，使得所述接地的二极管D2导通；
所述电压测量工具ADC测量待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管D2的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
较佳的，所述步骤还可如下：
将所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2同时接电源；
所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管D2的阴极，使得所述接地的二极管D2；
所述电压测量工具ADC测量待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管D2的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过；
将所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2同时接地；
所述功能测试逻辑模块输出高电压3.3V至所述接电源的二极管D1的阳极，使得所述接电源的二极管D1导通；
所述电压测量工具ADC测量待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管D2的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
本发明实施例的工作原理如下,参看图4，测试所述接电源的二极管D1时，所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2同时接地，也就是说所述接地的二极管D2的阳极接地，所以所述接地的二极管D2永远都不会导通，这样就不会对测试所述接电源的二极管D1产生影响，所述功能测试逻辑输出3.3V的高电压经限流电阻R至所述接电源的二极管D1的阳极，由于所述接电源的二极管D1的阳极被所述功能测试逻辑输出的3.3V高电压驱动为高电压了，所以所述接电源的二极管D1导通，一般的普通二极管的导通压降为0.65V左右，故所述接电源的二极管的阳极即待测集成电路管脚的电压就会被钳定在0.65V左右，有些二极管的压降为0.2V，有些二极管的压降会高于0.65V但低于1.5V，所以设定所述待测管脚的正常电压在0.2V～1.5V之间，如果所述电压测量工具ADC测量待测集成电路管脚的电压在0.2V～1.5V之间，则测试通过，如果不在0.2V～1.5V之间，则测试不通过。测试所述接地的二极管D2时，所述第一供电接口K1和所述第二供电接口K2同时接电源，也就是说所述接电源的二极管D1的阴极接电源，所以所述接电源的二极管D1永远都不会导通，这样就不会对测试所述接地的二极管D2产生影响，所述功能测试逻辑输出0电压经所述限流电阻R至所述接地的二极管D2的阴极，此时所述接地的二极管D2的阴阳极存在压差，所以所述接地的二极管D2导通，此时待测管脚上的电压就会被钳定在（VDD-0.65V）左右，有些二极管的压降为0.2V，有些二极管的压降会高于0.65V但低于1.5V，所以设定所述待测管脚的正常电压在0.2V～1.5V之间，如果所述电压测量工具ADC测量待测集成电路管脚的电压在（VDD-1.5V）～（VDD-0.2V）之间，则测试通过，如果不在（VDD-1.5V）～（VDD-0.2V）之间，则测试不通过。
与现有技术相比，本发明技术方案中只需要两个继电器，并且只需要测试两次即可测完所有的待测管脚大大降低了成本，提高了系统的稳定性和可维护性。同时不管是测试接电源的二极管还是测试接地的二极管，待测管脚上的电压都是正电压，降低了测量电压工具的要求。
以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。
Claims (10)
1.一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管之间，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。
2.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述电压测量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N≥2。
3.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的二极管的阳极及所述接地的二极管的阴极与功能测试逻辑不短路。
4.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口及所述第二供电接口为选择开关，当测试所述接电源的二极管时，所述第一供电接口及所述第二供电接口均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的二极管导通，所述接地的二极管不导通。
5.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口及所述第二供电接口为选择开关，当测试所述接地的二极管时，所述第一供电接口及所述第二供电接口均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的二极管导通，所述接电源的二极管不导通。
6.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口的电压范围大于与其相连的所述接电源的二极管的压降范围，所述第二供 电接口的电压范围大于与其相连的所述接地的二极管的压降范围，且所述第一供电接口和所述第二供电接口的电源电压相同。
7.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口和所述第二供电接口的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。
8.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述接电源的二极管和所述接地的二极管的压降范围为0.2V～1.5V。
9.一种开/短路测试方法，具体步骤如下：
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接地；
所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的二极管的阳极，使得所述接电源的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过；
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接电源；
所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管的阴极，使得所述接地的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
10.根据权利要求8所述的开/短路测试方法，其具体步骤还可以如下：
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接电源；
所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管的阴极，使得所述接地的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过;
将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接地；
所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的二极管的阳极，使得 所述接电源的二极管导通；
所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2012105783827A CN103063975A (zh) | 2012-12-26 | 2012-12-26 | 一种开/短路测试系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2012105783827A CN103063975A (zh) | 2012-12-26 | 2012-12-26 | 一种开/短路测试系统及方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103063975A true CN103063975A (zh) | 2013-04-24 |
Family
ID=48106681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2012105783827A Pending CN103063975A (zh) | 2012-12-26 | 2012-12-26 | 一种开/短路测试系统及方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103063975A (zh) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103675583A (zh) * | 2013-09-10 | 2014-03-26 | 镇江华印电路板有限公司 | 单面印刷电路板开路和短路测试装置 |
| CN103869209A (zh) * | 2014-03-19 | 2014-06-18 | 成都市中州半导体科技有限公司 | 一种集成电路管脚的测试方法 |
| CN105911459A (zh) * | 2016-07-05 | 2016-08-31 | 江苏奥雷光电有限公司 | To管插件方向的检测方法 |
| WO2016165248A1 (zh) * | 2015-04-16 | 2016-10-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置 |
| CN108519541A (zh) * | 2018-04-23 | 2018-09-11 | 珠海深圳清华大学研究院创新中心 | 一种检测电路及检测设备 |
| WO2019051838A1 (zh) * | 2017-09-18 | 2019-03-21 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 芯片开短路测试装置、方法及系统 |
| CN112130089A (zh) * | 2020-08-27 | 2020-12-25 | 深圳市广和通无线股份有限公司 | 模块管脚连通性测试装置及系统 |
| CN112462243A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-03-09 | 南京宏泰半导体科技有限公司 | 一种开短路测试系统自动编程方法 |
| CN113241111A (zh) * | 2021-05-18 | 2021-08-10 | 北京轩宇空间科技有限公司 | 一种prom芯片管脚与管座接触性检测方法 |
| CN118112397A (zh) * | 2024-04-30 | 2024-05-31 | 杭州芯云半导体技术有限公司 | 一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1530662A (zh) * | 2003-03-10 | 2004-09-22 | 盛群半导体股份有限公司 | 集成电路的检测方法 |
| US20080180038A1 (en) * | 2007-01-26 | 2008-07-31 | Innocom Technology (Shenzhen) Co., Ltd. | Backlight control circuit with micro controller feeding operating state of load circuit back to pulse width modulation integrated circuit |
| CN201812014U (zh) * | 2010-08-06 | 2011-04-27 | 上海宏测半导体科技有限公司 | 集成电路开短路自动测试系统 |
| CN202119855U (zh) * | 2011-05-26 | 2012-01-18 | 深圳市矽格半导体科技有限公司 | 集成电路开短路测试系统 |
| CN202494750U (zh) * | 2012-03-22 | 2012-10-17 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 一种集成电路引脚开短路的测试装置 |
| CN203012068U (zh) * | 2012-12-26 | 2013-06-19 | 成都市中州半导体科技有限公司 | 一种开/短路测试系统 |
-
2012
- 2012-12-26 CN CN2012105783827A patent/CN103063975A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1530662A (zh) * | 2003-03-10 | 2004-09-22 | 盛群半导体股份有限公司 | 集成电路的检测方法 |
| US20080180038A1 (en) * | 2007-01-26 | 2008-07-31 | Innocom Technology (Shenzhen) Co., Ltd. | Backlight control circuit with micro controller feeding operating state of load circuit back to pulse width modulation integrated circuit |
| CN201812014U (zh) * | 2010-08-06 | 2011-04-27 | 上海宏测半导体科技有限公司 | 集成电路开短路自动测试系统 |
| CN202119855U (zh) * | 2011-05-26 | 2012-01-18 | 深圳市矽格半导体科技有限公司 | 集成电路开短路测试系统 |
| CN202494750U (zh) * | 2012-03-22 | 2012-10-17 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 一种集成电路引脚开短路的测试装置 |
| CN203012068U (zh) * | 2012-12-26 | 2013-06-19 | 成都市中州半导体科技有限公司 | 一种开/短路测试系统 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 杨卫: "一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法", 《电工电气》 * |
| 顾晨: "大规模集成电路中开闭路测试的优化与改进", 《电子与封装》 * |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103675583A (zh) * | 2013-09-10 | 2014-03-26 | 镇江华印电路板有限公司 | 单面印刷电路板开路和短路测试装置 |
| CN103869209A (zh) * | 2014-03-19 | 2014-06-18 | 成都市中州半导体科技有限公司 | 一种集成电路管脚的测试方法 |
| WO2016165248A1 (zh) * | 2015-04-16 | 2016-10-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置 |
| US9810932B2 (en) | 2015-04-16 | 2017-11-07 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Driver chip, driver board and test method thereof, and display device |
| CN105911459A (zh) * | 2016-07-05 | 2016-08-31 | 江苏奥雷光电有限公司 | To管插件方向的检测方法 |
| WO2019051838A1 (zh) * | 2017-09-18 | 2019-03-21 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 芯片开短路测试装置、方法及系统 |
| CN108519541A (zh) * | 2018-04-23 | 2018-09-11 | 珠海深圳清华大学研究院创新中心 | 一种检测电路及检测设备 |
| CN112130089A (zh) * | 2020-08-27 | 2020-12-25 | 深圳市广和通无线股份有限公司 | 模块管脚连通性测试装置及系统 |
| CN112462243A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-03-09 | 南京宏泰半导体科技有限公司 | 一种开短路测试系统自动编程方法 |
| CN112462243B (zh) * | 2021-02-01 | 2021-04-27 | 南京宏泰半导体科技有限公司 | 一种开短路测试系统自动编程方法 |
| CN113241111A (zh) * | 2021-05-18 | 2021-08-10 | 北京轩宇空间科技有限公司 | 一种prom芯片管脚与管座接触性检测方法 |
| CN118112397A (zh) * | 2024-04-30 | 2024-05-31 | 杭州芯云半导体技术有限公司 | 一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103063975A (zh) | 一种开/短路测试系统及方法 | |
| CN203012068U (zh) | 一种开/短路测试系统 | |
| CN101839936B (zh) | 一种电流测量装置 | |
| CN103913695B (zh) | 一种测试系统 | |
| CN106058837A (zh) | 一种无隔离器件的线路避雷器漏电流检测装置 | |
| CN102055033B (zh) | 电池组的模拟装置 | |
| CN104569772A (zh) | 电动高压直流电绝缘检测电路及方法 | |
| CN107422153A (zh) | 一种开关矩阵及其自检方法 | |
| CN201392362Y (zh) | 一种电流测量装置 | |
| CN207717931U (zh) | 一种锂电池保护板测试仪 | |
| CN103245869A (zh) | 一种集成电路电源管脚短路判定检测方法 | |
| CN207263841U (zh) | 一种锂电池保护板放电过流保护测试装置 | |
| CN202267725U (zh) | 一种静电放电发生器 | |
| CN104090205A (zh) | 一种电缆连接测试电路 | |
| CN103399207A (zh) | 二次电压核相装置及核相系统 | |
| CN201600435U (zh) | 一种锂离子电池保护ic线路板测试装置 | |
| CN103178499A (zh) | 具有零伏充电功能的可充电电池保护电路 | |
| CN103743942B (zh) | 一种含固体继电器的配电模件的火工品漏电流检测方法 | |
| CN205844436U (zh) | 智能机顶盒电源适配器性能检测仪 | |
| CN103123373A (zh) | 电气参数测试装置 | |
| CN102508066A (zh) | 一种静电放电发生器 | |
| CN201637838U (zh) | 基于gpib口控制的雷达电源测试系统 | |
| CN202330668U (zh) | 多路复用的电池包测压装置 | |
| CN204389637U (zh) | 电动高压直流电绝缘检测电路 | |
| CN106291195A (zh) | 一种智能化启动功能变压器综合测试装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| AD01 | Patent right deemed abandoned |
Effective date of abandoning: 20160817 |
|
| C20 | Patent right or utility model deemed to be abandoned or is abandoned |