CN102590689A - 一种检测小型可插拔式sfp光模块在位的装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及通信技术领域,为了解决现有技术中通过软件检测光模块是否在位时,判断起来比较慢的问题,提供一种检测小型可插拔式光模块在位的装置,该装置的SFP光模块插座200的在位检测管脚206通过电阻300与工作电源端400相连接,且SFP光模块100没有插入SFP光模块插座200时,SFP光模块插座200的在位检测管脚206与数字工作地断接,SFP光模块插座200的在位检测管脚206为与SFP光模块100内部与数字工作地相短接的管脚106相对应的SFP光模块插座200管脚,检测SFP光模块在位的装置由硬件实现响应速度快,在SFP光模块插上或拔出的瞬间,即可给出光模块的在位信息。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种检测小型可插拔式SFP光模块在位的装置。
背景技术
在现代通讯系统中,光的应用越来越广泛。随着FTTX光纤接入技术的发展与建设,光纤通讯已进入到我们工作与生活中的各个领域,光通讯在通讯中的作用越来越重要。
光模块是光收发一体模块的简称。光模块主要完成光信号的接收与发送,完成光信号与电信号的相互转换,光信号的相关检测与诊断等功能。由于光信号与电信号的转换是由光模块完成,因此,在光通讯中,光收发模块是必不可少的,且光模块本身的工作状态,将直接影响整条光链路的通讯质量。随着数字电路与光电技术的发展,光收发模块的集成度越来越高,封装越来越小,传送的速率更高。早期的光模块封装多是SFF(Small Form Factor,小型化),为固定安装的,生产时直接焊接在单板上。具有成本低,稳定度高的特点,但存在配置不灵活的问题,单板光口数量固定,无论是否需要,均要配置光模块。为此,各光模块厂家又推出了SFP(Small Form-factor Pluggable,小型可插拔式)封装的光收发模块。SFP封装因可插拔,配置灵活,目前已成为光模块的主流。
SFP光模块与单板的连接,主要是通过其金手指插头与单板的插座相连。插头有20根信号线。由于光模块接口的信号定义中,没有单独的光模块在位信号,要检测光模块是否在位,需要通过其I2C接口,读写其ID号,以此来判断光模块是否在位。
现有技术中存在问题如下,通过光模块ID号的检测光模块在位的办法,需要CPU及软件参与,判断起来比较慢。
发明内容
为了解决现有技术中通过软件检测光模块是否在位时,判断起来比较慢的问题,本发明提供了一种检测小型可插拔式光模块在位的装置。
本发明实施例提供的一种检测小型可插拔式SFP光模块在位的装置,其特征在于,包括:SFP光模块100、SFP光模块插座200、电阻300和工作电源端400,SFP光模块插座200的在位检测管脚206通过电阻300与工作电源端400相连接,且SFP光模块100没有插入SFP光模块插座200时,SFP光模块插座200的在位检测管脚206与数字工作地断接,SFP光模块插座200的在位检测管脚206为与SFP光模块100内部与数字工作地相短接的管脚106相对应的SFP光模块插座200管脚。
本发明实施例提供的方案,检测SFP光模块在位的装置由硬件实现响应速度快,在SFP光模块插上或拔出的瞬间,根据在位检测管脚的电平高低,即可给出光模块的在位信息。
附图说明
图1为本发明实施例提供检测SFP光模块在位的装置结构图;
图2a为本发明实施例提供包括二极管的检测SFP光模块在位的一种装置结构图;
图2b为本发明实施例提供包括二极管的检测SFP光模块在位的另一种装置结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例的技术方案进行详细说明。
本发明实施例提供了一种检测SFP光模块100在位情况的硬件装置,可快速有效地检测到SFP光模块100的在位信息。该装置,包括SFP光模块100,SFP光模块插座200、电阻300,发光二极管500、工作电源端400和可编程逻辑器件CPLD600。
在检测SFP光模块在位的装置中,SFP光模块100要求附合SFP多厂家协议MSA(MultiSource Agreement)。在只提供SFP光模块100在位信号指示时,上拉电阻300的阻值选取为4.75K欧姆,在需要SFP光模块100在位信号灯时,上拉电阻300的阻值选取为330欧姆。
本发明实施例提供的检测SFP光模块在位的装置完全由硬件实现,响应速度快,在SFP光模块100插上或拔出的瞬间,即可给出SFP光模块100的在位信息。SFP光模块100与SFP光模块插座200接口有20根信号线,信号线定义中,没有光模块在位信号。本发明实施例的方案中,利用SFP光模块100接口管脚中的第6脚的信号MOD_DEF(0),如表1所示,
管脚定义 | 符号 | 功能描述 |
1 | VeeT NC | 发送端地 |
2 | Tx_Fault | 发送端激光器失效指示 |
3 | Tx_Disable | 发送端激光器关断 |
4 | MOD_DEF(2) | 模块定义信号2 |
5 | MOD_DEF(1) | 模块定义信号1 |
6 | MOD_DEF(0) | 模块定义信号0,模块内部接地 |
7 | Reset | 接收端复位信号 |
8 | SD | 信号检测 |
9 | RSSI Triger | RSSI触发信号 |
10 | VeeR | 接收端地 |
11 | VeeR | 接收端地 |
12 | RD- | 反向数据输出 |
13 | RD+ | 数据输出 |
14 | VeeR | 接收端地 |
15 | VccR | 接收端电源 |
16 | VccT | 发送端电源 |
17 | VeeT | 发送端地 |
18 | TD+ | 发送端数据输入 |
19 | TD- | 发送端反向数据输入 |
20 | VeeT | 发送端地 |
表1
该管脚106在光模块100内部是与数字工作地相短接。在以往的单板设计中,该管脚106对应的光模块插座200第6脚在单板上直接接地,而在本发明实施例的方案中,单板设计时光模块插座200的第6脚作为在位检测管脚206在单板上,在SFP光模块100没有插入光模块插座200时,在位检测管脚206与数字工作地断接,SFP光模块插座200的在位检测管脚206通过电阻300与工作电源端400相连接,将信号MOD_DEF(0)进行上拉,并将MOD_DEF(0)引入CPLD600。这样,当光模块100不在位时,MOD_DEF(0)信号因被上拉,输出为高电平“1”;当光模块100在位时,由于光模块100内部MOD_DEF(0)信号与数字工作地相连,MOD_DEF(0)信号被拉低,输出低电平“0”。CPLD600或其它检测仪表如电压表通过对MOD_DEF(0)信号“0”、“1”的状态,确认SFP光模块100是否在位,如图1所示。进一步在在位检测管脚206与上拉电阻300之间,增加一个发光二极管500,则可以根据发光二极管500的点亮与熄灭来指示光模块100是否在位。当光模块100不在位时,发光二极管500灯不亮;光模块100在位时,发光二极管500被点亮。这种情况下,光模块100在位信号,由电阻300与发光二极管500之间引出,送给CPLD或其它检测仪表判断。
其中,工作电源可以为正例如3.3V,MOD_DEF(0)信号在光模块内部接地,为低电平。在单板上,将光模块插座200的在位检测管脚206接发光二极管500的负端502,发光二极管500的正端501接电阻300的一端,电阻200的另一端接3.3V工作电源端400,光模块100在位信号,通过电阻300与发光二极管500的连接端输出送入CPLD 600输入端601,其中电阻300与发光二极管500的连接端与CPLD 600输入端601连接,当光模块100插上时,MOD_DEF(0)信号被拉低,发光二极管500导通并发光,光模块500在位信号被拉低,送出“0”信号给CPLD 600,表明光模块100在位。当光模块100拔出时,MOD_DEF(0)信号变高,发光二极管500熄灭,光模块100在位信号变高,送出“1”信号给CPLD 600,表明光模块100不在位,包括发光二极管500且光模块100在位的装置结构如图2a所示。CPLD 600通过对光模块100在位信号的“0”、“1”变化,判断光模块100是否在位。
类似的,工作电源也可以为负例如-3.3V,不同之处在于,在单板上,将光模块插座200的在位检测管脚206接发光二极管500的正端501,发光二极管500的负端502接电阻300的一端,包括发光二极管500且光模块100在位的装置结构如图2b所示。无论工作电源是正还是负,都要保证电路为SFP光模块插座200的在位检测管脚206通过发光二极管500与电阻300连接,当SFP光模块100插入SFP光模块插座200在位时,发光二极管500被点亮。
本发明实施例的方案巧妙的利用了SFP光模块100接口中,MOD_DEF(0)信号,简便快捷的解决了SFP光模块在位检测的问题,该装置完全由硬件实现,无需软件参与,具有检测快速,稳定可靠,成本低的优点。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种检测小型可插拔式SFP光模块在位的装置,其特征在于,包括:SFP光模块(100)、SFP光模块插座(200)、电阻(300)和工作电源端(400),SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)通过电阻(300)与工作电源端(400)相连接,且SFP光模块(100)没有插入SFP光模块插座(200)时,SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)与数字工作地断接,SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)为与SFP光模块(100)内部与数字工作地相短接的管脚(106)相对应的SFP光模块插座(200)管脚。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,SFP光模块插座(200)在位检测管脚(206)通过发光二极管(500)与电阻(300)连接,当SFP光模块(100)插入SFP光模块插座(200)在位时,发光二极管(500)被点亮。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,SFP光模块插座(200)在位检测管脚(206)通过发光二极管(500)与电阻(300)连接,工作电源为负,发光二极管(500)的正端(501)和SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)连接。
4.如权利要求2所述的装置,其特征在于,SFP光模块插座(200)在位检测管脚(206)通过发光二极管(500)与电阻(300)连接,工作电源为正,发光二极管(500)的负端(502)和SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)连接。
5.如权利要求2所述的装置,其特征在于,发光二极管(500)与电阻(300)连接端与可编程逻辑器件CPLD(600)输入端(601)相连接。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)通过发光二极管(500)与阻值为330欧姆的电阻(300)连接。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,SFP光模块插座(200)在位检测管脚(206)与CPLD(600)输入端(601)相连接。
8.如权利要求8所述的装置,其特征在于,SFP光模块插座(200)的在位检测管脚(206)通过阻值为4.75k欧姆的电阻(300)与工作电源端(400)相连接。
9.如权利要求1所述的装置,其特征在于,SFP光模块(100)有20个管脚,依次定义如下:
VeeT NC 发送端地;
Tx_Fault 发送端激光器失效指示;
Tx_Disable 发送端激光器关断;
MOD_DEF(2) 模块定义信号2;
MOD_DEF(1) 模块定义信号1;
MOD_DEF(0) 模块定义信号0,模块内部接地;
Reset 接收端复位信号;
SD 信号检测;
RSSI Triger RSSI触发信号;
VeeR 接收端地;
VeeR 接收端地;
RD- 反向数据输出;
RD+ 数据输出;
VeeR 接收端地;
VccR 接收端电源;
VccT 发送端电源;
VeeT 发送端地;
TD+ 发送端数据输入;
TD- 发送端反向数据输入;
VeeT 发送端地。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120718 |