CN105891265A - 线路检测装置及方法及其所应用的线路 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种线路检测装置，包含一交流电源、一阻抗测量装置以及一缺损判断单元。交流电源用以提供交流电至一待测线路。阻抗测量装置用以测量待测线路的阻抗。缺损判断单元用以根据标准线路的阻抗作为基准值，当待测线路的阻抗的虚部阻抗小于标准线路的阻抗的虚部阻抗时，判定待测线路具有至少一缺损。本发明利用电子特性的方式检测较细微的电路上的缺损，可提供较光学检测更为准确的结果。

Description

线路检测装置及方法及其所应用的线路

技术领域

本发明涉及一种线路检测技术，特别涉及一种检测线路缺损的技术方案。

背景技术

随着科技日新月异的进步，触控面板已广泛成为各式电子装置的输入接口。举凡智能型手机、平板计算机等电子装置均装设有触控面板，以供使用者操作。触控面板包含位于中央的导电图案以及位于周边的线路。线路电性连接导电图案，以将导电图案所感测到的触控讯号传递给讯号处理IC，而利于得到用户的触碰位置。

为了确保触控面板能够正常工作，制造者在制造完成触控面板后，会检测触控面板的导电图案及线路是否缺损。一般来说，在检测触控面板的线路时，部份制造者采用非接触式自动光学检测机(Automated Optical Inspection；AOI)来观察线路是否缺损。部份制造者对线路施加直流电，并采用接触式探针来侦测线路的电阻，再通过侦测到的电阻来判断线路是否缺损。

近年来，触控面板的边框设计得越来越窄，使得线路宽度越来越小。然而，当线路窄到一定程度时，上述非接触式自动光学检测机容易将线路的粗糙表面误判为缺损。此外，当线路窄到一定程度时，无缺损线路与有缺损线路在施加直流电的情况下，测量到的电阻并无明显差异，故也难以判断线路是否缺损。因此，当线路窄到一定程度时，并不容易判断线路是否缺损。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于帮助判断窄线路是否具有缺损。

为了达到上述目的，依据本发明的一实施方式，一种线路检测装置其特征在于包含一交流电源、一阻抗测量装置以及一缺损判断单元。交流电源用以提供交流电至一待测线路。阻抗测量装置用以测量待测线路的阻抗。缺损判断单元用以根据标准线路的阻抗作为基准值，当待测线路的阻抗的虚部小于标准线路的阻抗的虚部时，判定待测线路具有至少一缺损。

依据本发明的一或多个实施方式，上述标准线路的阻抗的虚部大于或等于0。

依据本发明的一或多个实施方式，上述交流电的电压大于或等于0.5伏特。

依据本发明的一或多个实施方式，上述交流电的电压小于或等于2伏特。

依据本发明的一或多个实施方式，上述交流电的频率大于或等于100赫兹。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测装置可还包含第一缺损分析单元。其中交流电的频率是固定的，其中第一缺损分析单元用以根据交流电的频率，于第一统计关系图中查找并比对与待测线路的阻抗的虚部的数值邻近者，以分析缺损的尺寸或形状。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测装置可还包含第二缺损分析单元。其中交流电的频率是变化的，且第二缺损分析单元用以根据待测线路的阻抗的虚部下降时所对应的交流电的频率，分析缺损的尺寸或形状。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测装置可还包含第三缺损分析单元。其中交流电的频率是变化的，其中第三缺损分析单元用以根据对应频率下待测线路的虚部阻抗与标准线路的虚部阻抗之间相对的差值计算标准偏差，查找并比对第二统计关系图中与标准偏差的数值邻近者，以分析缺损的尺寸或形状。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测装置还包含辅助电源，用以提供直流电至待测线路。

依据本发明的另一实施方式，一种线路检测方法其特征在于包含以下步骤。提供交流电至一待测线路。测量待测线路的阻抗。根据标准线路的阻抗作为基准值，在待测线路的阻抗的虚部小于标准线路的阻抗的虚部时，判定待测线路具有至少一缺损。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测方法可还包含测量待测线路被施加固定频率的交流电时，待测线路的阻抗；以及根据待测线路的阻抗的虚部的数值查找并比对第一统计关系图中数值邻近者，分析缺损的尺寸或形状。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测方法可还包含测量待测线路被施加不同频率的交流电时，待测线路的阻抗；以及根据待测线路的阻抗的虚部下降时所对应的交流电的频率，分析缺损的尺寸或形状。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测方法可还包含记录待测线路被施加不同频率的交流电时，待测线路的阻抗；以及根据对应频率下标准线路的阻抗的虚部与待测线路的阻抗的虚部之间相对的差值计算标准偏差，查找并比对第二统计关系图中与标准偏差数值邻近者，以分析缺损的尺寸或形状。

依据本发明的一或多个实施方式，上述线路检测方法可还包含提供直流电至待测线路。

于上述实施方式中，由于施加交流电的线路会基于电流的变化而产生虚部阻抗，且经实验发现，具有缺损的线路的虚部阻抗小于无缺损的线路的虚部阻抗。因此，上述实施方式可通过比对虚部阻抗的变化，来判断线路是否具有缺损。

依据本发明的另一实施方式，一种线路其特征在于包含一走线部以及一连接垫。连接垫位于走线部的一端。连接垫的宽度大于走线部的宽度。当连接垫被施加交流电时，连接垫的阻抗的虚部为正值。

依据本发明的一或多个实施方式，上述走线部包含至少一侧面。连接垫具有至少一邻接面。邻接面邻接于侧面，且邻接面与侧面定义一夹角，夹角为钝角。

依据本发明的一或多个实施方式，上述邻接面是平直的或弯曲的。

依据本发明的一或多个实施方式，上述走线部的宽度小于或等于30微米。

于上述实施方式中，由于连接垫与走线部的宽度不同，故可能产生电容效应而造成负值的虚部阻抗，从而被误判误判为缺损。因此，上述实施方式可通过将连接垫的虚部阻抗控制为正值，来防止连接垫被误判为缺损。

以上所述仅用以阐述本发明所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本发明的具体细节将在下文的实施方式及相关图式中详细介绍。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：

图1所示为依据本发明一实施方式的线路检测装置的操作示意图；

图2所示为无缺损的线路的局部俯视图；

图3所示为图2所示无缺损的线路的等效电路图；

图4所示为具有缺损的线路的局部俯视图；

图5所示为图4所示具有缺损的线路的等效电路图；

图6所示为依据本发明一实施方式的无缺损线路所量到的虚部阻抗与交流电频率的实验数据图；

图7所示为依据本发明一实施方式的有缺损线路所量到的虚部阻抗与交流电频率的实验数据图；

图8所示为依据本发明一实施方式的线路的局部俯视图；

图9所示为依据本发明另一实施方式的线路的局部俯视图；

图10所示为依据本发明另一实施方式的线路的局部俯视图；

图11所示为依据本发明另一实施方式的线路的局部俯视图；

图12所示为依据本发明另一实施方式的线路的局部俯视图；

图13所示为依据本发明另一实施方式的线路检测装置的操作示意图；

图14所示为依据本发明另一实施方式的线路检测装置的操作示意图；以及

图15所示为依据本发明另一实施方式的线路检测装置的操作示意图；

图16所示为依据本发明多个实施方式中多种具有不同尺寸的缺损的线路与阻抗测量装置所测量到的虚部阻抗的关系图；

图17所示为依据本发明多个实施方式中无缺损的线路以及多种具有不同尺寸的缺损的线路，与阻抗测量装置所测量到的虚部阻抗的关系图；

图18为依据图17中多种具有不同尺寸的缺损的线路的虚部阻抗与作为基准的无缺损的线路的虚部阻抗于对应的频段经部分撷取而所示为的关系图；

图19A至图19C分别所示为多种具有不同尺寸的缺损的线路的剖面示意图。

主要元件符号说明

110：交流电源

120、120a：阻抗测量装置

121：探针

130：缺损判断单元

140：缺损分析单元

150：辅助电源

200、200a、200b、200c、200d：线路

210：走线部

211：侧面

212：缺损

2121：底面

2122、2123：内侧面

220、220a、220b、220c、220d：连接垫

221、221a、221b、221c、221d：邻接面

300：基板

400/420/440/460：数列

500：基准数列

520/540/560：撷取数列

600A/600B/600C：线路

620A/620B/620C：缺陷

C：电容

G1/G2/G3：群聚

L：电感

R：电阻

W1、W2：宽度

θ：夹角

具体实施方式

以下将以图式揭露本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，本领域普通技术人员应当了解到，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节并非必要的，因此不应用以限制本发明。此外，为简化附图起见，一些公知惯用的结构与元件在图式中将以简单示意的方式绘制。另外，为了便于读者观看，图式中各元件的尺寸并非依实际比例绘制。

图1所示为依据本发明一实施方式的线路检测装置的操作示意图。如图1所示，线路检测装置包含交流电源110、阻抗测量装置120以及缺损判断单元130。线路200包含走线部210以及连接垫220。连接垫220位于走线部210的一端。交流电源110电性接触连接垫220，以提供交流电至线路200。于部份实施方式中，阻抗测量装置120具有两探针121，这两探针121电性接触不同连接垫220，以测量线路200的阻抗。每一探针121均兼具提供电压与测量电流的功能。举例来说，其中一探针121用以提供正电压与测量对应电流，另一探针121用以提供负电压与测量对应电流，以共同测量线路200的阻抗。缺损判断单元130电性连接于阻抗测量装置120，以得到线路200的阻抗，且缺损判断单元130根据线路200阻抗的虚部阻抗，来判断线路200是否具有缺损，具体原理如下。

本文所述的具有缺损的线路200与无缺损的线路可分别参阅图2及图4所示，其中图2所示为无缺损的线路200的局部俯视图，图4所示为具有缺损212的线路200的局部俯视图。如第2及4图所示，走线部210具有侧面211。在图2所示的线路200中，走线部210的侧面211是平顺的，而无形成缺损。在多个实施方式中，图2中无缺损的线路200可作为标准线路，经阻抗测量装置120测量后的阻抗可作为缺损判断单元130的基准。相对地，在图4所示的线路200中，侧面211是局部凹陷的，而形成一缺损212。在多个实施方式中，缺损判断单元130可通过图2中无缺损的线路200的阻抗作为基准，比对图4的线路200经阻抗测量装置120测量后的阻抗，以得到关于缺损212的相关信息，如尺寸、深度以及形状等，将如后详述。

图3所示为图2所示无缺损的线路200的等效电路图。如图3所示，当无缺损的线路200被施加交流电时，由于线路200的电流改变，故线路200会产生电感效应，使得线路200的等效电路包含电阻R以及电感L。因此，被施加交流电的线路200的阻抗包含实部阻抗及虚部阻抗，其中实部阻抗为线路200材料本身所产生的电阻R，虚部阻抗包含电感L所产生的感抗。经实验发现，当无缺损的线路200被施加交流电时，虚部阻抗(亦即，感抗)为正值。举例来说，如图6所示的虚部阻抗与交流电频率的实验数据图所示，于此图中，在每一个交流电频率下，虚部阻抗均为正值。

图5所示为图4所示具有缺损212的线路200的等效电路图。如图5所示，当具有缺损212的线路200被施加交流电时，线路200不仅会产生电感效应，还会产生电容效应，且电容效应在交流电的频率越高时，越为明显。进一步来说，如图4所示，于部份实施方式中，若将缺损212视为凹陷于侧面211的缺口，其可包含底面2121以及两内侧面2122以及2123。底面2121连接内侧面2122与2123。内侧面2122与2123彼此分隔且互相面对的。由于内侧面2122与2123是相分隔的，故内侧面2122旁与内侧面2123旁会累积电荷，因此，根据平行板电容的原理，位于内侧面2122旁的电荷与位于内侧面2123旁的电荷会产生电容效应。故具有缺损212的线路200在被施加交流电时，其等效电路不仅包含电阻R以及电感L，还还包含电容C。因此，被施加交流电的线路200的虚部阻抗不仅包含电感L所产生的感抗，还包含电容C所产生的容抗。经实验发现，当具有缺损212的线路200被施加交流电时，虚部阻抗(亦即，感抗及容抗的和)较无缺损的线路200为低。甚或，当缺损212的尺寸较大时，虚部阻抗可能降低为负值。举例来说，如图7所示的虚部阻抗与交流电频率的实验数据图所示，于此图中，在每一个交流电频率下，虚部阻抗均为负值。

由此可知，当被施加交流电的线路200不具有缺损212时，线路200会产生电感效应但不会产生电容效应，电感效应会产生正值的感抗，使得无缺损的线路200本身的虚部阻抗为正值；相对地，当被施加交流电的线路200具有缺损212时，线路200不仅会产生电感效应，且缺损212周遭会产生电容效应，因此，电容效应所产生的容抗会使得具有缺损212的线路200的虚部阻抗下降而低于无缺损的线路200的虚部阻抗。甚或，具有缺损212的线路200的虚部阻抗可为负值。亦即，在部分的实施方式中，无缺损的线路200的虚部阻抗大于或等于0。此时，当线路200经测量后具有负值的虚部阻抗，则代表线路200具有缺损212。

值得注意的是，此处所述的无缺损的线路200与具有缺损212的线路200仅为示例，其并非用以限制本发明。举例来说，在其他的实施方式中，与无缺损的线路200电性连接的其他的电性元件，如连接垫等，也可能让无缺损的线路200的阻抗在与其他电性元件加总后，呈现负值。举例来说，在其他的实施方式中，若缺损212的尺寸较小，所形成的电容效应相对较小，则具有缺损212的线路200的阻抗可能仍为正值。应了解到，本领域普通技术人员，当可视实际需求，在不脱离本揭露的精神与范围的情况下，做同等的改动与修饰，只要缺损判断单元130可通过无缺损的线路200的虚部阻抗作为基准，判断虚部阻抗小于无缺损的线路200者为具有缺损212的线路200即可。

如此一来，缺损判断单元130只要将待测的线路200经阻抗测量装置120测量到的虚部阻抗的数值与作为基准的无缺损的线路200的虚部阻抗的数值互相比对，即可判断线路200是否具有缺损212。进一步来说，当阻抗测量装置120测量到待测的线路200的虚部阻抗小于作为标准线路的线路200的虚部阻抗时，缺损判断单元130即可判定待测的线路200具有缺损212。相对地，当阻抗测量装置120测量到的线路200的虚部阻抗与作为标准线路的线路200的虚部阻抗实质上相等或接近时，缺损判断单元130即可判定待测的线路200不具有缺损212。于部份实施方式中，缺损判断单元130可由写在集成电路或计算装置的软件或韧体来实现。

于部份实施方式中，如图2所示，走线部210具有宽度W1。宽度W1小于或等于30微米(μm)，以利应用于窄边框的触控面板。于部份实施方式中，当宽度W1小于30微米时，交流电源110所提供的交流电的电压大于或等于0.5伏特。当交流电的电压至少为0.5伏特时，阻抗测量装置120即可测量到此相对窄的线路200的虚部阻抗。于部份实施方式中，当宽度W1小于30微米时，交流电源110所提供的交流电的电压小于或等于2伏特。当交流电的电压大于或等于0.5伏特，且小于或等于2伏特时，阻抗测量装置120即可测量到此相对窄的线路200的虚部阻抗，而无须提供高电压的交流电至线路200，如此可在省电的情况下，实现检测缺损212的效果。

于部份实施方式中，交流电源110所提供的交流电的频率大于或等于100赫兹。换句话说，施加于线路200的交流电的频率至少为100赫兹，以增加电容阻抗，并扩大电容阻抗与电感阻抗的差距，使得线路检测装置可更准确地根据虚部阻抗的数值来判断是否具有缺损212。

于部份实施方式中，如图1所示，线路200设置于基板300上。基板300可为玻璃基板或塑料基板，但本发明并不以此为限。于部份实施方式中，线路200的材质可为透光导电材料，如氧化铟锡(ITO)、氧化铟锌(IZO)、奈米银线(AgNW)、导电高分子材料(PEDOT)或奈米碳管(CNT)，但本发明并不以此为限。于部份实施方式中，线路200的材质可为不透光导电材料，如铜(Cu)、铬(Cr)、银(Ag)、铝(Al)或复合金属，但本发明并不以此为限。

图8所示为依据本发明一实施方式的线路200的局部俯视图。如图8所示，连接垫220具有宽度W2。连接垫220的宽度W2大于走线部210的宽度W1，以利连接其他电子元件(例如：在连接垫220上设置可挠性电路板，但本发明并不以此为限)。于本实施方式中，连接垫220具有邻接面221。邻接面221邻接于侧面211。邻接面221与侧面211定义夹角θ。换句话说，夹角θ相夹于邻接面221与侧面211之间的角。当夹角θ为直角时，邻接面221垂直地邻接于侧面211，故可能造成电荷传递的阻塞，使得电荷累积于邻接面221旁，而产生电容效应。由于电容效应的产生会导致虚部阻抗包含容抗，而可能导致虚部阻抗为负值，故即使线路200无缺损212(可参阅图4)，阻抗测量装置120(可参阅图1)也可能会测量到电容效应产生的虚部阻抗，而导致缺损判断单元130(可参阅图1)将线路200误判为因缺损212所产生的电容效应。

因此，本发明提出以下技术方案来防止误判。于此可参阅图9，本图所示为依据本发明另一实施方式的线路200a的局部俯视图。如图9所示，线路200a与前述线路200之间的主要差异在于：连接垫220a的形状与前述连接垫220的形状不同，使得连接垫220a被施加交流电时，具有正值的虚部阻抗。如此一来，当线路200a无缺损时，可确保阻抗测量装置120(可参阅图1)不会测量到电容效应产生的虚部阻抗，而防止缺损判断单元130(可参阅图1)将线路200a误判成有缺损。

具体来说，如图9所示，于部份实施方式中，连接垫220a的邻接面221a与走线部210的侧面211定义夹角θ，夹角θ为钝角，藉此可防止电荷在连接垫220a与走线部210之间传递时发生阻塞的状况，从而防止电容效应的产生，使得连接垫220a被施加交流电时，虚部阻抗不包含容抗，进而减少或避免影响缺损判断单元130对缺损所产生的电容效应的判定。

于部份实施方式中，如图9所示，邻接面221a为平直的，另由于夹角θ为钝角，故邻接面221a是由侧面211所延伸并向外倾斜的。换句话说，连接垫220a的宽度W2是沿着远离走线部210的方向渐增的。再换句话说，连接垫220a的上表面为梯形状，且此梯形状上表面的底边是远离走线部210的。

图10所示为依据本发明另一实施方式的线路200b的局部俯视图。如图10所示，线路200b与前述线路200a之间的主要差异在于：连接垫220b的形状与前述连接垫220a的形状不同。具体来说，邻接面221b是弯曲的，而非平直的。更具体地说，邻接面221b是以向外凸出的形式弯曲的，以更进一步地防止电荷在连接垫220b与走线部210之间传递时发生阻塞的状况。

图11所示为依据本发明另一实施方式的线路200c的局部俯视图。如图11所示，线路200c与前述线路200b之间的主要差异在于：连接垫220c的形状与前述连接垫220b的形状不同。具体来说，邻接面221c是以向内凹陷的形式弯曲的，而非向外凸出的。

图12所示为依据本发明另一实施方式的线路200d的局部俯视图。如图12所示，线路200d与前述线路200a、200b及200c之间的主要差异在于：连接垫220d的形状与前述连接垫220a、220b及220c的形状不同。具体来说，连接垫220d的上表面是呈圆形或椭圆形的。亦即，由俯视观看连接垫220d时，邻接面221d是弯曲成圆形或椭圆形的轮廓线。

图13所示为依据本发明另一实施方式的线路检测装置的操作示意图。本实施方式与前述实施方式之间的主要差异在于：本实施方式的线路检测装置还包含缺损分析单元140，用以分析缺损212(可参阅图4)的尺寸或形状。进一步来说，由于不同尺寸或形状的缺损212会对应产生不同的电容阻抗。因此，当线路200被施加不同频率的交流电时，不同尺寸或形状的缺损212与线路200共同产生的等效RLC电路(参照图5)，会因RLC电路特性而在不同频率的交流电下发生虚部阻抗下降的现象。举例来说，由矩形的缺损212所造成的容抗可能会让线路200在频率1000赫兹的交流电下出现虚部阻抗下降的现象。举例来说，半圆形的缺损212所造成的容抗可能会让线路200在5000赫兹的交流电下出现虚部阻抗下降的现象，上述缺损212的形状与交流电频率仅为用来帮助读者理解的范例，而非限制本发明。

基于上述原理，在部分的实施方式中，可通过交流电源110提供频率变化的交流电，而让缺损分析单元140可根据线路200的虚部阻抗下降时所对应的交流电频率，分析缺损212的尺寸或形状。具体来说，交流电源110可施加不同频率的交流电至线路200。阻抗测量装置120可在线路200被施加每一频率的交流电时，均测量线路200的阻抗，而得到线路200被施加每一频率的交流电时的虚部阻抗。缺损分析单元140可比较每一交流电频率时的虚部阻抗，而得到虚部阻抗是在哪一交流电频率时下降的，接着，缺损分析单元140可根据虚部阻抗下降时所对应的交流电频率，分析缺损212的尺寸或形状。

如此一来，本实施方式的线路检测装置不仅可检测线路200是否有缺损212，还可分析缺损212的尺寸或形状。于部份实施方式中，缺损分析单元140可由写在集成电路或计算装置的软件或韧体来实现。于部份实施方式中，缺损分析单元140与缺损判断单元130可写在同一集成电路或计算装置上，但本发明并不以此为限。

图14所示为依据本发明另一实施方式的线路检测装置的操作示意图。本实施方式与前述实施方式之间的主要差异在于：本实施方式的线路检测装置还包含辅助电源150。辅助电源150用以提供直流电至线路200，以增加电荷流量，从而增加缺损212(可参阅图4)的电容效应。如此一来，即使缺损212的尺寸较小，其电容效应所产生的容抗亦足以使阻抗测量装置120测量的虚部阻抗降低或产生趋势变化，从而帮助缺损判断单元130判定线路200具有缺损212。

图15所示为依据本发明另一实施方式的线路检测装置的操作示意图。本实施方式与前述实施方式之间的主要差异在于：本实施方式的阻抗测量装置120a包含四探针121，而非如同前述阻抗测量装置120仅包含两探针121。在本实施方式中，这四个探针121是分别用以提供正电压、测量正电压所对应的电流、提供负电压、与测量负电压所对应的电流。应了解到，基于本实施方式与前述实施方式的揭露内容可知，只要阻抗测量装置能够测量到线路的阻抗，探针的数量并不以上述实施方式为限。

图16为依据本发明多个实施方式中多种具有不同尺寸的缺损212的线路200与阻抗测量装置120所测量到的虚部阻抗所示为的关系图。横轴代表线路200的缺损212(参照图4)占线路200的比例，其单位为百分比。纵轴代表具缺损212的线路200经阻抗测量装置120测量所得到的虚部阻抗，其单位为奥姆(ohm,Ω)。参照图13与图16，在多个实施方式中，可以交流电源110施加固定频率的交流电于具有多种不同缺损212的线路200，并以阻抗测量装置120分别测量每一线路200的虚部阻抗，而得到如图16中所所示为的统计关系图。

若以图16为例，当施加100Hz的交流电，而经阻抗测量装置120测量时，明显发见，具缺损212的线路200的虚部阻抗的数值，可依缺损212占线路200的比例与分布情形而简略分做三个差距较大的群聚，如虚线框中所分别框限的群聚G1、群聚G2以及群聚G3。举例来说，当缺损212所占线路200的比例小于30％时，如群聚G1，线路200的虚部阻抗实质上可大于0。又举例来说，当缺损212所占线路200的比例实质上约介于30％～50％之间时，如群聚G2，线路200的虚部阻抗实质上可介于0～-4.55之间。又举例来说，当缺损212所占线路200的比例实质上约介于50％～90％之间时，如群聚G3，线路200的虚部阻抗实质上可大于-4.55。

如此一来，可通过归纳缺损212所占线路200的比例与线路200的虚部阻抗间的对应关系产生统计关系图，并可将统计关系图进一步地应用于其他待测的线路200中缺损212的对照。举例来说，当待测的线路200的虚部阻抗大于0时，与统计关系图的群聚G1对照，则可判断此待测的线路200中的缺损212占线路200的比例实质上可能小于30％。举例来说，若待测的线路200的虚部阻抗介于0至-4.55之间时，与统计关系图的群聚G2对照，则可判断此待测的线路200中的缺损212占线路200的比例实质上可能介于30％至50％之间。举例来说，若待测的线路200的虚部阻抗小于-4.55时，与统计关系图的群聚G3对照，则可判断此一待测的线路200中的缺损212占线路200的比例实质上可能介于50％至90％之间。但不限于此，在多个实施方式中，统计关系图的对应关是也可包含与缺损212的尺寸或形状等其他特征相关的统计关系图。于部份实施方式中，缺损判断单元130可由写在集成电路或计算装置的软件或韧体来实现。

值得注意的是，此处所述根据缺损212占线路200的比例与线路200的虚部阻抗的对应关系所归纳的统计关系图，仅为示例，其并非用以限制本发明。举例来说，也可施加200Hz或其他合适频率的交流电，而得到具有不同缺损212的线路200的虚部阻抗的训练子集，并产生对应的统计关系图。举例来说，也可针对缺损212的尺寸、形状或深度等其他特征产生对应的统计关系图。应了解到，本领域普通技术人员，当可视实际需求，在不脱离本揭露的精神与范围的情况下，做同等的改动与修饰，只要在固定的交流电110的频率下，记录具相异的缺损212的线路200经阻抗测量装置120测量到的虚部阻抗作为训练子集，同时对应地获取每一线路200的缺损212的尺寸、形状或占线路200的比例等相关信息，经分析与归纳，而得到缺损212的尺寸、形状与占线路200的比例等与虚部阻抗的对应关系，并对照产生统计关系图即可。其中，统计关系图可更用于比对其他待测的线路200，以获得待测的线路200的缺损212的尺寸、形状与占线路200的比例等相关信息。

换句话说，在多个实施方式中，可记录待测的线路200被施加固定频率的交流电时对应的阻抗；接续地，根据前述分析与归纳在同一固定频率的交流电下所得到的统计关系图，查找并比对与待测的线路200的虚部阻抗的数值邻近者。由于统计关系图中经分类后，数值邻近者的线路200所具有的缺损212的形状、尺寸或占线路200的比例等实质上相似，故可用以比对并判断虚部阻抗也具有类似数值的待测的线路200的缺损212的形状、尺寸或占线路200的比例等的相关信息。在其他的多个实施方式中，可进一步地获取待测的线路200中缺损212的尺寸、形状或占线路200的比例等的相关信息，以作为反馈改进判断的准确度。在部分的实施方式中，可通过统计归纳的方式整理训练子集中的对应关系，而得到统计关系图。在部分的实施方式中，也可通过大数据(bigdata)、机器学习(machine learning)等方式整理训练子集中的对应关系，而得到统计关系图，但不限于此。

图17为依据本发明多个实施方式中无缺损的线路200以及多种具有不同尺寸的缺损620A、620B、620C的线路600A、600B、600C，与阻抗测量装置120所测量到的虚部阻抗所示为的关系图。图18为依据图17中具有多种不同尺寸的缺损620A、620B、620C的线路600A、600B、600C的虚部阻抗与作为基准的无缺损的线路200的虚部阻抗于对应的频段经部分撷取而所示为的关系图。横轴代表输入线路200的交流电源110(参照图13)的频率，其单位为赫兹(Hz)，且横轴经对数处理。纵轴代表经阻抗测量装置120测量所得到多种不同的线路200的虚部阻抗，其单位为奥姆(ohm,Ω)。图19A至图19C分别所示为多种具有不同尺寸的缺损的线路600A、600B、600C的剖面示意图。参照图13与图17所示，缺损判断单元130可在交流电110的频率变化时，于对应的交流电110频率分别记录无缺损的线路200的虚部阻抗变化以及多种具有不同尺寸的缺损212的线路200的虚部阻抗变化。于部份实施方式中，缺损判断单元130可由写在集成电路或计算装置的软件或韧体来实现。

具体而言，数列400可代表于交流电110的不同频率下分别测量无缺损的线路200的虚部阻抗的数值。而其余的数列，如数列420、数列440以及数列460等，可分别代表于交流电110的不同频率下测量如图19A至图19C所所示为的线路600A、600B、600C的虚部阻抗的数值。其中参照图19A至图19C，线路600A、600B、600C可分别具有不同的缺损620A、620B、620C形成于其上，其中缺损620A、620B、620C的尺寸、形状、深度或占线路200的比例皆相异。举例来说，参照图19A，由于缺损620A占线路600A的比例较小，因此对应产生较小的电容效应。是故，当无缺损的线路200的虚部阻抗大于0时，具有缺损620A的线路600A其总合的虚部阻抗仍大于0。同样地，举例来说，参照图19B，由于缺损620B占线路600B的比例为中等，因此，缺损620B所产生的电容效应让具有缺损620B的线路600B总合的虚部阻抗实质上仅略小于0。又举例来说，参照图19C，由于缺损620C占线路600C的极大比例，因此，缺损620C所产生的电容效应可让具有缺损620C的线路600C总合的虚部阻抗实质上小于0。

此外，由图17可见，随着交流电110的频率上升，造成无缺损的线路200的虚部阻抗与其他具有不同尺寸的缺损620A、620B、620C的线路600A、600B、600C的虚部阻抗之间的上升趋势有所差异，甚至因容抗与感抗随频率的变化而逐渐扩大。是故，可挑选较高频段的交流电110，以获得较明显的差异，如获得相对较大的差值等。

参照图18，以图17中的线路600A、600B、600C的虚部阻抗分别对应的数列420、440、460与作为基准的无缺损的线路200的虚部阻抗对应的数列400于对应的频段经撷取而分别得到撷取的基准数列500与撷取数列520、540、560。进一步地，可利用撷取数列520、540、560依照标准偏差s的公式：

$s=\sqrt{\frac{\mathrm{\Σ}{(x_i-\stackrel{\‾}{x})}^2}{n-1}}$

分别计算撷取数列520、540、560相对基准数列500而得到的标准偏差s。举例来说，撷取数列520与基准数列500的标准偏差s为0.94。又举例来说，撷取数列540与基准数列500的标准偏差s为3.16。又举例来说，撷取数列560与基准数列500的标准偏差s为8.54。而由标准偏差s以及参照图17至图19C可知，随着标准偏差s越大，则缺损620A、620B、620C占据线路600A、600B、600C的比例越大，但并不限于此。在多个实施方式中，标准偏差s的数值邻近者，其线路200的缺损212的尺寸、形状、深度或占线路200的比例等相关信息也实质上相似。是故，可进一步地根据不同线路200中相异的缺损212的尺寸、形状、深度或占线路200的比例等相关条件与对应的标准偏差s，产生对照的统计关系图。

由于统计关系图中，当不同的线路200具有相近的标准偏差s时，在缺损212的尺寸、形状、深度或占线路200的比例等相关信息会实质上相似，让缺损判断单元130可进一步地根据待测的线路200的标准偏差s，于统计关系图上去查找与比对数值邻近者所具有的缺损212的尺寸、形状、深度或占线路200的比例等相关信息，以与待测的线路200相对照。举例来说，首先，可通过交流电110施加不同频率的电流，并对应不同频率记录待测的线路200的虚部阻抗。接续地，计算每一频率下待测的线路200的虚部阻抗与无缺损的线路200的虚部阻抗之间的差值，并按照标准偏差s的公式计算待测的线路200的虚部阻抗与无缺损的线路200的虚部阻抗之间的标准偏差s。接续地，查找并比对统计关系图中与待测的线路200的标准偏差s的数值邻近者，以分析待测的线路200的缺损212的尺寸、形状、深度或占线路200的比例等相关信息。举例来说，统计关系图中可包含如线路600A、600B、600C等的标准偏差s，而当待测的线路200的标准偏差s为8.54时，待测的线路200所具有的缺损212的尺寸、形状、深度或占线路200的比例等，与图19C的缺陷600C实质上相似，但并不限于此。

值得注意的是，此实施例虽将交流电110的频率限制在较高的100000Hz至1000000Hz的区间，以较大化虚部阻抗间的差异，但并不限于此。应了解到，本领域普通技术人员，当可视实际需求，在不脱离本揭露的精神与范围的情况下，做同等的改动与修饰，只要缺损判断单元130可通过无缺损的线路200的虚部阻抗作为基准，判断虚部阻抗小于无缺损的线路200者为具有缺损212的线路200，且可进一步通过比对已知缺损比例的线路的标准偏差或数值等，而得到缺损212的相关信息即可。其中缺损212的相关信息可包含尺寸、形状、深度以及占线路200的比例等。

虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉该技术的人，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的变更与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求书限定的为准。

Claims (18)

1.一种线路检测装置，其特征在于，包含：

一交流电源，用以提供一交流电至一待测线路；

一阻抗测量装置，用以测量该待测线路的阻抗；以及

一缺损判断单元，用以根据一标准线路的阻抗作为基准，当该待测线路的阻抗的虚部小于该标准线路的阻抗的虚部时，判定该待测线路具有至少一缺损。

2.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，其中该标准线路的阻抗的虚部大于或等于0。

3.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，其中该交流电的电压大于或等于0.5伏特。

4.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，其中该交流电的电压小于或等于2伏特。

5.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，其中该交流电的频率大于或等于100赫兹。

6.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，还包含一第一缺损分析单元，其中该交流电的频率是固定的，其中该第一缺损分析单元用以根据该交流电的频率，于一第一统计关系图中查找并比对与该待测线路的阻抗的虚部的数值邻近者，以分析该缺损的尺寸或形状。

7.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，还包含一第二缺损分析单元，其中该交流电的频率是变化的，且该第二缺损分析单元用以根据该待测线路的阻抗的虚部下降时所对应的该交流电的频率，分析该缺损的尺寸或形状。

8.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，还包含一第三缺损分析单元，其中该交流电的频率是变化的，其中该第三缺损分析单元用以根据对应频率下该待测线路的虚部阻抗与该标准线路的虚部阻抗之间相对的差值计算一标准偏差，查找并比对一第二统计关系图中与该标准偏差的数值邻近者，以分析该缺损的尺寸或形状。

9.如权利要求1所述的线路检测装置，其特征在于，还包含一辅助电源，用以提供直流电至该待测线路。

10.一种线路检测方法，其特征在于，包含：

提供交流电至一待测线路；

测量该待测线路的阻抗；以及

根据一标准线路的阻抗作为基准，在该待测线路的阻抗的虚部小于该标准线路的阻抗的虚部时，判定该待测线路具有至少一缺损。

11.如权利要求10所述的线路检测方法，其特征在于，还包含：

测量该待测线路被施加固定频率的交流电时，该待测线路的阻抗；以及

根据该待测线路的阻抗的虚部的数值查找并比对一第一统计关系图中数值邻近者，分析该缺损的尺寸或形状。

12.如权利要求10所述的线路检测方法，其特征在于，还包含：

测量该待测线路被施加不同频率的交流电时，该待测线路的阻抗；以及

根据该待测线路的阻抗的虚部下降时所对应的该交流电的频率，分析该缺损的尺寸或形状。

13.如权利要求10所述的线路检测方法，其特征在于，还包含：

记录该待测线路被施加不同频率的交流电时，该待测线路的阻抗；以及

根据对应频率下该标准线路的阻抗的虚部与该待测线路的阻抗的虚部之间相对的差值计算一标准偏差，查找并比对一第二统计关系图中与该标准偏差数值邻近者，以分析该缺损的尺寸或形状。

14.如权利要求10所述的线路检测方法，其特征在于，还包含提供直流电至该线路。

15.一种线路，其特征在于，包含：

一走线部；以及

一连接垫，位于该走线部的一端，该连接垫的宽度大于该走线部的宽度，当该连接垫被施加交流电时，该连接垫的阻抗的虚部实质上为正值。

16.如权利要求15所述的线路，其特征在于，其中该走线部包含至少一侧面，该连接垫具有至少一邻接面，该邻接面邻接于该侧面，且该邻接面与该侧面定义一夹角，该夹角为钝角。

17.如权利要求16所述的线路，其特征在于，其中该邻接面是平直的或弯曲的。

18.如权利要求15所述的线路，其特征在于，其中该走线部的宽度小于或等于30微米。