CN105865512A - 双头字符视觉检测系统 - Google Patents

双头字符视觉检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN105865512A
CN105865512A CN201610334433.XA CN201610334433A CN105865512A CN 105865512 A CN105865512 A CN 105865512A CN 201610334433 A CN201610334433 A CN 201610334433A CN 105865512 A CN105865512 A CN 105865512A
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
light source
furthers
products
end character
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610334433.XA
Other languages
English (en)
Inventor
郑飞
林贵成
李林林
张祥明
刘义
闫锋
黄东超
万求
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HEFEI TUXUN ELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
HEFEI TUXUN ELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HEFEI TUXUN ELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical HEFEI TUXUN ELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201610334433.XA priority Critical patent/CN105865512A/zh
Publication of CN105865512A publication Critical patent/CN105865512A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明公开了一种双头字符视觉检测系统，包括有带镜头的相机、光源，光源设在镜头的前方光路上，其特征在于：两个待测产品置于光源的正前方，所述镜头与光源之间设有拉近模块，两个待测产品的图像由拉近模块反射后，再由镜头采集；所述拉近模块包括有四个45°倾斜设置的反射镜，两个待测产品的图像分别经过拉近模块的上、下两个反射镜反射在拉近模块的中间的两个反射镜上，镜头从拉近模块的中间的两个反射镜上采集到两个待测产品的图像。本发明利用光的反射原理将分布在两端的物品聚集到一起并拉近至相机的镜头前，使一个相机看清两颗产品，排除在图像边缘位置引起的变形，检测数据更精确，并且节约成本、便于安装操作。

Description

双头字符视觉检测系统
技术领域
本发明主要涉及半导体/电子器件领域，尤其涉及一种双头字符视觉检测系统。
背景技术
单头系统包括硬件和软件部分，如图1，硬件包含：固定支架、相机1、接圈、镜头2、光源3、光源触发装置等，产品5设在镜座4上并位于光源前方。
硬件安装调试好，软件准备就绪后，等待控制系统发生信号；控制系统发出开始信号并等待结束信号，软件接收到信号后，触发光源，抓取图像，对图像进行处理，得到结果，发送给控制系统，并发生结束信号；控制系统接收到结束信号之后，对分析结果信号，对产品进行分料，并移动下一颗产品到检测位，再次发出开始信号，等待结束信号。
该系统每次只能检测单颗产品，效率不高，不能满足日益扩大的半导体封装检测行业的要求，需要提高效率，所以研发了双头检测系统。
发明内容
本发明目的就是为了弥补已有技术的缺陷，提供一种双头字符视觉检测系统，用于同时检测两个电子器件，并将检测结果分别反馈给控制系统；解决原有系统每次只能单颗检测产品的不足，可以一次检测两颗，也可单独检测一颗，增加生产效率和灵活性。
本发明是通过以下技术方案实现的：
双头字符视觉检测系统，其特征在于：包括有带镜头的相机、光源，光源设在镜头的前方光路上，其特征在于：两个待测产品置于光源的正前方，所述镜头与光源之间设有拉近模块，两个待测产品的图像由拉近模块反射后，再由镜头采集；所述拉近模块包括有四个45°倾斜设置的反射镜，两个待测产品的图像分别经过拉近模块的上、下两个反射镜反射在拉近模块的中间的两个反射镜上，镜头从拉近模块的中间的两个反射镜上采集到两个待测产品的图像。
所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述光源采用两个一体设置的LED环形光源，两个待测产品置于光源的两个孔的正前方。
所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述拉近模块的四个反射镜的表面分别覆有一层偏光膜。
所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述镜头前设有偏光镜。
所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述拉近模块、光源分别固定在一个安装座的两端。
本发明的原理是：
光源装置由单孔改为双孔，并且在光源结构上增加拉近模块，使得单个相机能同时看清两个产品，拉近模块是由4块45度反光镜构成，可以通过调节安装的角度来查看不同的区域。
本发明的优点是：
本发明利用光的反射原理将分布在两端的物品聚集到一起并拉近至相机的镜头前，使一个相机看清两颗产品，排除在图像边缘位置引起的变形，检测数据更精确，并且节约成本、便于安装操作。
附图说明
图1为单头系统的结构示意图。
图2为本发明的结构示意图。
图3为拉近模块的结构示意图。
具体实施方式
如图2、3所示，双头字符视觉检测系统，包括有带镜头2的相机1、光源3，光源3设在镜头2的前方光路上，两个待测产品5置于光源3的正前方，所述镜头2与光源3之间设有拉近模块4，两个待测产品5的图像由拉近模块4反射后，再由镜头2采集；所述拉近模块4包括有四个45°倾斜设置的反射镜，两个待测产品5的图像分别经过拉近模块4的上、下两个反射镜7、8反射在拉近模块的中间的两个反射镜8、9上，镜头2从拉近模块4的中间的两个反射镜9、10上采集到两个待测产品5的图像。
光源3采用两个一体设置的LED环形光源，两个待测产品5置于光源3的两个孔的正前方。拉近模块4的四个反射镜的表面分别覆有一层偏光膜。镜头2前设有偏光镜。拉近模块4、光源3分别固定在一个安装座6的两端。

Claims (5)

1.双头字符视觉检测系统，其特征在于：包括有带镜头的相机、光源，光源设在镜头的前方光路上，其特征在于：两个待测产品置于光源的正前方，所述镜头与光源之间设有拉近模块，两个待测产品的图像由拉近模块反射后，再由镜头采集；所述拉近模块包括有四个45°倾斜设置的反射镜，两个待测产品的图像分别经过拉近模块的上、下两个反射镜反射在拉近模块的中间的两个反射镜上，镜头从拉近模块的中间的两个反射镜上采集到两个待测产品的图像。
2.根据权利要求1所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述光源采用两个一体设置的LED环形光源，两个待测产品置于光源的两个孔的正前方。
3.根据权利要求1或2所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述拉近模块的四个反射镜的表面分别覆有一层偏光膜。
4.根据权利要求3所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述镜头前设有偏光镜。
5.根据权利要求4所述的双头字符视觉检测系统，其特征在于：所述拉近模块、光源分别固定在一个安装座的两端。
CN201610334433.XA 2016-05-18 2016-05-18 双头字符视觉检测系统 Pending CN105865512A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610334433.XA CN105865512A (zh) 2016-05-18 2016-05-18 双头字符视觉检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610334433.XA CN105865512A (zh) 2016-05-18 2016-05-18 双头字符视觉检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105865512A true CN105865512A (zh) 2016-08-17

Family

ID=56635246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610334433.XA Pending CN105865512A (zh) 2016-05-18 2016-05-18 双头字符视觉检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105865512A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106932006A (zh) * 2017-04-12 2017-07-07 浙江硕和机器人科技有限公司 一种基于机器视觉的产品质量检测设备
CN113433068A (zh) * 2021-07-02 2021-09-24 合肥图迅电子科技有限公司 一种用于检测盖膜后的芯片字符的检测装置
CN116612476A (zh) * 2023-07-20 2023-08-18 合肥图迅电子科技有限公司 一种芯片字符检测方法、装置、计算机设备及存储介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200976635Y (zh) * 2006-11-30 2007-11-14 华南理工大学 一种用于全自动锡膏印刷机的l型单镜头图像采集装置
CN201058521Y (zh) * 2007-07-10 2008-05-14 东莞康视达自动化科技有限公司 用于基准对准和检测的单镜头图像采集装置
CN201569840U (zh) * 2009-09-24 2010-09-01 刘子琨 利用普通相机拍摄立体相片的辅助装置
CN102095736A (zh) * 2010-10-29 2011-06-15 华南理工大学 双光学放大倍率图像采集装置及图像采集控制处理系统
CN202631442U (zh) * 2012-03-31 2012-12-26 苏州千兆自动化科技有限公司 一种视觉检测系统
CN103308007A (zh) * 2013-05-24 2013-09-18 华南理工大学 多级反射与光栅成像的ic引脚共面度测量系统与方法
CN103808280A (zh) * 2014-01-28 2014-05-21 华中科技大学 一种基于相机的对心检测方法及装置
CN205861090U (zh) * 2016-05-18 2017-01-04 合肥图迅电子科技有限公司 双头字符视觉检测系统

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN200976635Y (zh) * 2006-11-30 2007-11-14 华南理工大学 一种用于全自动锡膏印刷机的l型单镜头图像采集装置
CN201058521Y (zh) * 2007-07-10 2008-05-14 东莞康视达自动化科技有限公司 用于基准对准和检测的单镜头图像采集装置
CN201569840U (zh) * 2009-09-24 2010-09-01 刘子琨 利用普通相机拍摄立体相片的辅助装置
CN102095736A (zh) * 2010-10-29 2011-06-15 华南理工大学 双光学放大倍率图像采集装置及图像采集控制处理系统
CN202631442U (zh) * 2012-03-31 2012-12-26 苏州千兆自动化科技有限公司 一种视觉检测系统
CN103308007A (zh) * 2013-05-24 2013-09-18 华南理工大学 多级反射与光栅成像的ic引脚共面度测量系统与方法
CN103808280A (zh) * 2014-01-28 2014-05-21 华中科技大学 一种基于相机的对心检测方法及装置
CN205861090U (zh) * 2016-05-18 2017-01-04 合肥图迅电子科技有限公司 双头字符视觉检测系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106932006A (zh) * 2017-04-12 2017-07-07 浙江硕和机器人科技有限公司 一种基于机器视觉的产品质量检测设备
CN113433068A (zh) * 2021-07-02 2021-09-24 合肥图迅电子科技有限公司 一种用于检测盖膜后的芯片字符的检测装置
CN116612476A (zh) * 2023-07-20 2023-08-18 合肥图迅电子科技有限公司 一种芯片字符检测方法、装置、计算机设备及存储介质
CN116612476B (zh) * 2023-07-20 2023-09-22 合肥图迅电子科技有限公司 一种芯片字符检测方法、装置、计算机设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101999260B (zh) 光学检测设备和检测部件表面的方法
CN101124453A (zh) 用于二维和三维图像检测的系统
CN203824928U (zh) 一种基于机器视觉的产品外表面缺陷图像采集装置
CN105865512A (zh) 双头字符视觉检测系统
CN1979091A (zh) 光学测量系统
JP5481484B2 (ja) ３次元物体を２次元平面画像に光学的に変換する装置および方法
KR102229651B1 (ko) 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법
CN103076337A (zh) 一种多光源检测装置
KR20140103027A (ko) 패턴 검사 장치 및 패턴 검사 방법
CN106030283B (zh) 用于检验半导体封装的装置与方法
KR20190027042A (ko) 검사대상체 표면 검사를 위한 듀얼 라인 광학 검사 시스템
CN101681862B (zh) 利用重复图像的fpd基板及半导体晶片检查系统
JPWO2008149712A1 (ja) 歪検査装置、及び歪検査方法
CN104655646A (zh) 玻璃基板内部缺陷检查系统及所处高度位置的检查方法
TWM467872U (zh) 光學檢查設備的取像系統
TW201825886A (zh) 用於表面異物檢測的自動光學檢測系統
CN205861090U (zh) 双头字符视觉检测系统
US10955311B2 (en) Apparatus and methods to determine stresses in cover glass of handheld devices
KR20160010226A (ko) 표면 검사 광학장치 및 표면 검사방법
CN204924960U (zh) 一种软质包装识别码检测系统
CN108613691B (zh) 一种分离反光式元件背光成像方法及装置
CN202533374U (zh) 铝箔片表面缺陷检测系统
KR20110109576A (ko) 디스플레이 패널 글라스 표면의 결함 검사 방법
MY151606A (en) Slant vision system
CN205861526U (zh) 双头方向视觉检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20160817