KR102229651B1 - 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법 - Google Patents

디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 디스플레이 패널 검사 장치는 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 장치로서, 상기 디스플레이 패널을 지지하는 지지부; 상기 디스플레이 패널의 정면부를 향하도록 배치된 곡면형 반사경; 상기 곡면부에 대응하도록 배치된 적어도 하나의 제2 반사경; 및 상기 곡면형 반사경과 상기 디스플레이 패널의 사이에 배치되고, 상기 곡면형 반사경에 맺히는 상을 촬상하는 제1 촬상 소자를 포함한다.

Description

디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법{DISPLAY PANEL INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD}
본 발명은 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 곡면형 반사경을 포함하는 디스플레이 패널 검사 장치에 관한 것이다.
디스플레이 패널에 이물이 부착되어 있거나 표면 불량이 있는 경우에는 디스플레이 패널에 구현되는 화상의 품질이 떨어지게 된다.
표면 불량이란 표면 조도(roughness)가 유한한 상태를 의미하며, 대표적인 표면 불량으로 크랙(crack), 스크래치(scratch), 덴트(dent), 범프(bump), 험프(hump) 등이 있다.
따라서 디스플레이 패널을 제조하는 과정에서 이를 검출해내는 과정이 필요하다. 하지만 휘어진 형태의 플렉서블 디스플레이 패널(flexible display panel) 또는 커브드 디스플레이 패널(curved display panel) 등의 비평면 디스플레이 패널을 검사함에 있어서 아래와 같은 문제점이 있다.
도 1은 종래의 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면 종래의 비평면 디스플레이 패널(10)의 검사 장치는 지지부(20) 및 복수의 촬상 소자(31, 32, 33)를 포함한다.
촬상 소자(31, 32, 33)는 비평면 디스플레이 패널(10)의 각 부분을 촬상하기 위해서 복수 개가 필요하다. 하지만 이러한 구조는 디스플레이 패널 검사 장치의 부피를 커지게 하므로 공간확보 측면에서 바람직하지 못하다.
도시되지 않았지만, 촬상 소자(31, 32, 33)의 숫자를 줄이고자, 기계적인 로터리 장치를 사용하여 디스플레이 패널(10)의 위치 또는 방향을 변경시키거나 촬상 소자(31, 32, 33)의 위치 또는 방향을 변경시킬 수도 있다.
하지만 이러한 방법은 순차적으로 로터리 장치를 제어함으로써 검사 시간의 증가를 초래하므로 바람직하지 못하다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 표면 불량의 검사 시간을 유지하면서 촬상 소자의 개수를 최소화하는 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 장치로서, 상기 디스플레이 패널을 지지하는 지지부; 상기 디스플레이 패널의 정면부를 향하도록 배치된 곡면형 반사경; 상기 곡면부에 대응하도록 배치된 적어도 하나의 제2 반사경; 및 상기 곡면형 반사경과 상기 디스플레이 패널의 사이에 배치되고, 상기 곡면형 반사경에 맺히는 상을 촬상하는 제1 촬상 소자를 포함한다.
상기 제2 반사경은 상기 곡면부의 형상을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 배치될 수 있다.
상기 디스플레이 패널을 조사하는 적어도 하나의 외부 광원을 더 포함할 수 있다.
상기 제2 반사경은 상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부로부터 출사되는 광을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성될 수 있다.
상기 디스플레이 패널과 전기적으로 연결되어 화상 패턴을 제공하는 패턴 제너레이터를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 촬상 소자는 상기 곡면형 반사경을 향하도록 배치될 수 있다.
상기 제1 촬상 소자와 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하고, 상기 디스플레이 패널의 상기 정면부를 향하도록 배치되는 제2 촬상 소자를 더 포함할 수 있다.
상기 제2 촬상 소자는 상기 제1 촬상 소자의 사각 영역을 촬상할 수 있다.
상기 제1 촬상 소자의 상기 디스플레이 패널에 대한 사각 영역을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성되는 제3 반사경을 더 포함할 수 있다.
상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부 및 상기 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 위치 조절부를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 촬상 소자에서 촬상된 화상을 처리하여 검사 결과를 출력하는 불량 검출부를 더 포함하고, 상기 불량 검출부는 상기 곡면부에 대응되는 상기 화상의 제1 영역과 상기 정면부에 대응되는 상기 화상의 제2 영역을 구분하여 검사할 수 있다.
상기 불량 검출부는 상기 제2 반사경의 각도 및 위치에 따라 상기 화상의 제1 영역과 상기 제2 영역을 구분할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 방법은 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 방법으로서, 제2 반사경을 통해 맺힌 상기 곡면부의 상을 포함하는 상기 디스플레이 패널의 상이 곡면형 반사경에 맺히는 단계; 제1 촬상 소자로 상기 곡면형 반사경에 맺힌 상기 디스플레이 패널의 상을 촬상하는 단계; 및 상기 디스플레이 패널의 상에서 상기 곡면부에 대응되는 제1 영역과 상기 디스플레이 패널의 정면부에 대응되는 제2 영역을 구분하여 검사하는 단계를 포함한다.
상기 디스플레이 패널의 곡면부 및 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면 표면 불량의 검사 시간을 유지하면서 촬상 소자의 개수를 최소화하는 디스플레이 패널 검사 장치 및 검사 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 종래의 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치의 블록도이다.
도 6은 촬상 소자로 촬상된 화상의 영역을 구분하여 도시한 도면이다.
이하 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 다만, 하기의 설명 및 첨부된 도면에서 본 발명의 요지를 흐릴 수 있는 공지 기능 또는 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다. 또한, 도면 전체에 걸쳐 동일한 구성 요소들은 가능한 한 동일한 도면 부호로 나타내고 있음에 유의하여야 한다.
이하에서 설명되는 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위한 용어의 개념으로 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시 예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다. 또한 제 1, 제 2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하기 위해 사용하는 것으로, 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용될 뿐, 상기 구성요소들을 한정하기 위해 사용되지 않는다.
본 발명에서 반사경이라 함은, 빛을 반사시켜 거울 역할을 하는 소자를 일컫는다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 2를 참조하면 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는 지지부(200), 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420) 및 제1 촬상 소자(510)를 포함한다.
비평면 디스플레이 패널(100)은 양쪽 단부에 곡면부(110, 120)를 포함하고, 중간에 편평한 정면부(130)를 포함할 수 있다.
다만, 도시되지 않았지만, 비평면 디스플레이 패널(100)은 한쪽 단부에만 곡면부를 포함하고, 나머지 부분은 편평한 정면부(130)로 구성될 수 있다.
또한, 비평면 디스플레이 패널(100)은 편평한 부분 없이, 전면이 곡면 형태로 구성될 수도 있다.
지지부(200)는 디스플레이 패널(100)을 지지한다. 지지부(200)는 지그(jig)라고 불리기도 한다. 지지부(200)는 별도의 구동 장치를 포함하여 디스플레이 패널(100)을 조립 라인으로 운반하도록 구성될 수 있다.
곡면형 반사경(300)은 디스플레이 패널(100)의 정면부(130)를 향하도록 배치되어 있다. 따라서 곡면형 반사경(300)은 자체적으로 디스플레이 패널(100)의 정면부(130)의 형태를 반사시킬 수 있다.
곡면형 반사경(300)은 구형 또는 비구형일 수 있다. 곡면형 반사경(300)의 형태는 디스플레이 패널(100)의 크기 및 각 소자 간의 거리에 따라 달라질 수 있다.
제2 반사경(410, 420)은 곡면부(110, 120)에 대응하도록 배치된다. 도시되지 않은 예에서, 비평면 디스플레이 패널(100)이 한쪽 단부에만 곡면부(110)를 포함하고, 나머지 부분은 편평한 정면부(130)로 구성되는 경우에는, 디스플레이 패널 검사 장치는 제2 반사경(410)만 포함할 수 있다.
도 2에서는 디스플레이 패널(100)의 양쪽 단부에 두 개의 곡면부(110, 120)를 포함하므로, 제2 반사경(410)이 곡면부(110)에 대응하도록 배치되고, 제2 반사경(420)이 곡면부(120)에 대응하도록 배치된다.
제2 반사경(410, 420)은 각각 곡면부(110, 120)의 형상을 곡면형 반사경(300)으로 반사시키도록 배치될 수 있다.
따라서 제2 반사경(410, 420)을 통해 맺힌 곡면부(110, 120)의 상이 곡면형 반사경(300)에 맺힐 수 있다.
결과적으로 곡면형 반사경(300)에는 곡면부(110, 120) 및 정면부(130)의 상이 동시에 맺히게 되어, 비평면인 디스플레이 패널(100)의 전체 상이 맺히게 된다.
제1 촬상 소자(510)는 곡면형 반사경(300)과 디스플레이 패널(100)의 사이에 배치되고, 곡면형 반사경(300)에 맺히는 상(image)을 촬상한다. 제1 촬상 소자(510)는 곡면형 반사경(300)을 향하도록 배치될 수 있다.
제1 촬상 소자(510)는 디스플레이 패널 검사용 카메라일 수 있다.
전술한 바와 같이, 곡면형 반사경(300)에는 비평면인 디스플레이 패널(100)의 전체 상이 맺히게 되므로, 결과적으로 제1 촬상 소자(510)는 디스플레이 패널(100) 전체를 촬상하게 된다.
따라서 제1 촬상 소자(510) 하나로 디스플레이 패널(100) 전체를 촬상할 수 있으므로, 디스플레이 패널 검사 장치의 부피를 작게 하여 공간확보 측면에서 유리하며, 로터리 장치 등이 필요없게 되므로 검사 시간의 최소화가 가능하다.
디스플레이 패널(100)은 점등 모드 또는 비점등 모드로 검사될 수 있다.
비점등 모드에서 디스플레이 패널(100)을 조사하는 적어도 하나의 외부 광원을 더 포함할 수 있다. 외부 광원은 촬상 소자와 같은 축을 형성하는 동축 조명(coaxial lighting) 또는 비동축 조명의 배치일 수 있다. 외부 광원의 개수 및 위치는 본 발명을 한정하지 않으며, 검사 모드에 따라 달라질 수 있지만, 검사하고자 하는 디스플레이 패널(100)에 광이 충분히 조사된다면 외부 광원으로서 요건이 충분하다.
점등 모드에서 디스플레이 패널(100)에 패턴 제너레이터(pattern generator)를 전기적으로 연결하여 화상 패턴을 제공할 수 있다.
패턴 제너레이터는 디스플레이 패널(100)의 검사를 위해 패턴별 영상 신호를 출력할 수 있다, 패턴 제너레이터는 디스플레이 패널(100)에 접촉되는 프로브를 포함할 수 있다.
점등 모드에서, 제2 반사경(410, 420)은 디스플레이 패널(100)의 곡면부(110, 120)로부터 출사되는 광을 곡면형 반사경(300)으로 반사시키도록 위치 및 방향이 결정될 수 있다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 3을 참조하면 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는 지지부(200), 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 제1 촬상 소자(510) 및 제2 촬상 소자(520)를 포함한다.
제2 촬상 소자(520)는 디스플레이 패널 검사용 카메라일 수 있다.
제2 촬상 소자(520)는 제1 촬상 소자(510)와 디스플레이 패널(100) 사이에 위치하고, 디스플레이 패널(100)의 정면부(130)를 향하도록 배치될 수 있다.
제1 촬상 소자(510)가 곡면형 반사경(300)을 향하도록 배치되어 있으므로, 제1 촬상 소자(510)의 크기 및 위치에 따라 일부 사각 영역(blind spot)이 있을 수 있다.
다만, 제1 촬상 소자(510)에게 사각 영역이 반드시 존재하는 것은 아니며, 곡면형 반사경(300)이 제1 촬상 소자(510)에 비해 충분히 크게 구성되어 있는 경우, 사각 영역을 없앨 수 있다.
또한 제2 반사경(410, 420)이 곡면부(110, 120)에 비해 충분히 크게 형성되는 경우, 정면부(130)의 일부를 반사하게 됨으로써 사각 영역이 없어질 수 있다.
곡면형 반사경(300) 또는 제2 반사경(410, 420)이 크게 구성되어 상(image)의 일부가 중복되는 경우, 이미지 프로세싱으로 중복되는 부분을 제거하거나, 오히려 더 정확히 구현해낼 수 있다.
또한, 표면 불량 검출 측면에서 유리하다.
예를 들어, 외부 광원인 콜리메이티드 조명(collimated lighting)의 방향과 수평 방향으로 표면 불량이 있는 경우, 반사된 빛의 경로가 촬상 소자의 범위를 벗어날 수 있어 표면 불량을 검출하지 못할 수 있다.
하지만, 다양한 방향의 반사경과 동축으로 외부 광원이 배치되는 경우 이러한 표면 불량을 검출해낼 수 있는 장점이 있다.
디스플레이 패널 검사 장치의 구조상 제1 촬상 소자(510)가 촬상할 수 없는 사각 영역이 있는 경우, 제2 촬상 소자(520)는 제1 촬상 소자(510)의 사각 영역을 촬상함으로써, 제1 촬상 소자(510)를 기능적으로 보완할 수 있다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 4를 참조하면 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치는 지지부(200), 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 제1 촬상 소자(510) 및 제3 반사경(430)을 포함한다.
제3 반사경(430)을 제외한 구성은 도 2의 실시예와 같으므로 설명을 생략한다.
제3 반사경(430)은 제1 촬상 소자(510)의 디스플레이 패널(100)에 대한 사각 영역(150)을 곡면형 반사경(300)으로 반사시키도록 구성될 수 있다.
따라서 곡면형 반사경(300)에 제1 촬상 소자(510)의 형상이 투영되어 촬상되는 것이 아니라, 제1 촬상 소자(510)의 형상이 투영될 부분에 사각 영역(150)의 형상을 중첩시킴으로서 디스플레이 패널(100)을 완전히 촬상할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 비평면 디스플레이 패널의 검사 장치의 블록도이다. 도 6은 촬상 소자로 촬상된 화상의 영역을 구분하여 도시한 도면이다.
도 5를 참조하면 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 검사 장치는 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 촬상 소자(510, 520), 위치 조절부(600) 및 불량 검출부(700)를 포함한다.
위치 조절부(600)는 우선 촬상 소자(510, 520)를 통해 디스플레이 패널(100)을 촬상하여 곡면부(110, 120) 및 정면부(130)가 완전히 표시되는 지 확인할 수 있다.
위의 단계는 패널 검사 시작 시에 최초 1회 수행될 수 있다.
위치 조절부(600)는 디스플레이 패널(100)의 곡면부(110, 120) 및 전면부(130)가 제1 촬상 소자(510)로 촬상될 수 있도록, 곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 촬상 소자(510, 520) 및 디스플레이 패널(100) 중 적어도 하나의 위치를 조절할 수 있다.
위치 조절부(600)는 복수의 액츄에이터(actuator)를 포함할 수 있다. 액츄에이터란 전계, 자계, 열, 압력 등의 가동 에너지를 사용하여 기계적인 변위를 일으키는 소자를 총칭한다.
기어와 마이크로 모터를 이용한 기계적인 액츄에이터가 사용될 수 있고, 형상기억폴리머를 활용하여 전기적, 자성적 신호를 이용하여 형상을 변화시키는 액츄에이터 또한 사용될 수 있다.
곡면형 반사경(300), 제2 반사경(410, 420), 촬상 소자(510, 520) 및 디스플레이 패널(100) 중 적어도 하나에 액츄에이터가 연결되어 위치 및 방향을 변경할 수 있다.
따라서, 곡면부(110, 120) 및 정면부(130)가 완전히 표시되지 않는 경우 소자 간의 간격 및 방향을 수정하여, 완전히 표시되도록 한다.
또한 도 4의 실시예에 따라 제3 반사경(430)이 디스플레이 패널의 검사 장치에 추가되는 경우, 위치 조절부(600)는 제3 반사경(430)의 위치를 조절할 수 있다.
불량 검출부(700)는 촬상 소자(510, 520)에서 촬상된 화상(800)을 처리하여 검사 결과를 출력한다. 즉, 디스플레이 패널(100)에 크랙, 스크래치, 덴트, 범프, 험프 등이 있는 지를 출력할 수 있다.
불량 검출부(700)는 곡면부(110, 120)에 대응되는 화상(800)의 제1 영역(810, 820)과 정면부(130)에 대응되는 화상(800)의 제2 영역(830)을 구분하여 검사할 수 있다.
도 6을 참조하면 곡면부(110)에 대응되는 제1 영역(810), 정면부(130)에 대응되는 제2 영역(830) 및 곡면부(120)에 대응되는 제1 영역(820)으로 구성된 화상(800)을 확인할 수 있다.
불량 검출부(700)는 제2 반사경(410, 420)의 각도 및 위치에 따라 화상(800)의 제1 영역(810, 820)과 제2 영역(830)을 구분하고, 이미지 프로세싱 할 수 있다.
즉, 제2 반사경(410, 520)의 각도 및 위치에 따라 제1 영역(810, 820)과 제2 영역(830)이 화상(800)을 구성하는 비율이 달라질 수 있으므로, 이를 반영할 수 있다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 디스플레이 패널
110, 120: 곡면부
130: 정면부
150: 사각 영역
200: 지지부
300: 곡면형 반사경
410, 420: 제2 반사경
430: 제3 반사경
510: 제1 촬상 소자
520: 제2 촬상 소자
600: 위치 조절부
700: 불량 검출부

Claims (14)

  1. 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 장치로서,
    상기 디스플레이 패널을 지지하는 지지부;
    상기 디스플레이 패널의 정면부를 향하도록 배치된 곡면형 반사경;
    상기 곡면부에 대응하도록 배치된 적어도 하나의 제2 반사경; 및
    상기 곡면형 반사경과 상기 디스플레이 패널의 사이에 배치되고, 상기 곡면형 반사경에 맺히는 상을 촬상하는 제1 촬상 소자를 포함하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제2 반사경은 상기 곡면부의 형상을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 배치되는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널을 조사하는 적어도 하나의 외부 광원을 더 포함하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 제2 반사경은 상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부로부터 출사되는 광을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성되는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널과 전기적으로 연결되어 화상 패턴을 제공하는 패턴 제너레이터를 더 포함하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 촬상 소자는 상기 곡면형 반사경을 향하도록 배치되는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 촬상 소자와 상기 디스플레이 패널 사이에 위치하고, 상기 디스플레이 패널의 상기 정면부를 향하도록 배치되는 제2 촬상 소자를 더 포함하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 제2 촬상 소자는 상기 제1 촬상 소자의 사각 영역을 촬상하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 촬상 소자의 상기 디스플레이 패널에 대한 사각 영역을 상기 곡면형 반사경으로 반사시키도록 구성되는 제3 반사경을 더 포함하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 상기 곡면부 및 상기 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 위치 조절부를 더 포함하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  11. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 촬상 소자에서 촬상된 화상을 처리하여 검사 결과를 출력하는 불량 검출부를 더 포함하고,
    상기 불량 검출부는 상기 곡면부에 대응되는 상기 화상의 제1 영역과 상기 정면부에 대응되는 상기 화상의 제2 영역을 구분하여 검사하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 불량 검출부는 상기 제2 반사경의 각도 및 위치에 따라 상기 화상의 제1 영역과 상기 제2 영역을 구분하는
    디스플레이 패널 검사 장치.
  13. 곡면부를 포함하는 디스플레이 패널을 검사하는 디스플레이 패널 검사 방법으로서,
    제2 반사경을 통해 맺힌 상기 곡면부의 상을 포함하는 상기 디스플레이 패널의 상이 곡면형 반사경에 맺히는 단계;
    제1 촬상 소자로 상기 곡면형 반사경에 맺힌 상기 디스플레이 패널의 상을 촬상하는 단계; 및
    상기 디스플레이 패널의 상에서 상기 곡면부에 대응되는 제1 영역과 상기 디스플레이 패널의 정면부에 대응되는 제2 영역을 구분하여 검사하는 단계를 포함하는
    디스플레이 패널 검사 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 곡면부 및 정면부가 상기 제1 촬상 소자로 촬상될 수 있도록, 상기 곡면형 반사경, 상기 제2 반사경, 상기 제1 촬상 소자 및 상기 디스플레이 패널 중 적어도 하나의 위치를 조절하는 단계를 더 포함하는
    디스플레이 패널 검사 방법.
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