CN105824465A - 触控判定方法和装置以及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种触控判定方法及装置和显示装置,包括:确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;根据第一触控区域输出触控信号,其中,N个时间段中的每个时间段等于触控面板的扫描周期。根据本发明实施例的技术方案,可以在连续的N个扫描周期内扫描触控面板的所有触控区域,然后将在连续的N个扫描周期中电容变化值均大于或等于预设值的第一触控区域确定为用户触控的区域,并以此输出触控信号,而不会将仅在某几个扫描周期中电容变化值大于或等于预设值的触控区域确定为用户触控的区域,从而提高触控事件判定的准确率,避免外界噪声引起触控面板出现误触发触控事件。
Description
技术领域
本发明涉及触控技术领域,具体而言,涉及一种触控判定方法和一种触控判定装置以及一种显示装置。
背景技术
电容传感器一般位于保护盖板下方,其中的电极A和电极B通过一定的图案设计形成相互交叉的二维矩阵,矩阵中每个触控区域(如图1所示)都对应一个特征电容,两电极之间需设计一定的间隙才能防止发生短路,并且会在电极A和电极B之间插入一些悬浮块P来提升视觉效果。
手指触控触摸设备后,手指会与A、B电极分别产生电容C1&C2,此电容会改变电极A、B之间的特征电容Cm(如图2所示,在6乘6触控区域中,每个触控区域的Cm值),使其变为Cm’(如图3所示),触摸前后节点特征电容的变化量ΔC=Cm-Cm’(如图4所示),手指触摸引起的电容变化量ΔC约100(此数值为经过模拟数字转换后的无单位量纲,如无特殊说明,本发明中的电容单位与此相同)。
然而,在现实生活中触控装置面对的噪声情景却及其复杂;包括电源噪声、LCD噪声、系统噪声和外界环境噪声等,这些噪声的叠加会存在一定几率使两个电极之间的特征电容变化量超过触发阈值。现有技术中是在一个扫描周期的时间,配合相应滤除噪声的算法,进行是否为触控事件的判断,但是滤除噪声的算法复杂程度较高,而且滤除噪声的效果并不理想。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提高触控事件判定的准确率,避免外界噪声引起触控面板出现误触发触控事件。
为此目的,本发明提出了一种触控判定方法,用于触控面板,所述触控面板包括多个触控区域,所述方法包括:
确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;
根据所述第一触控区域输出触控信号,
其中,所述N个时间段中的每个时间段等于所述触控面板的扫描周期。
优选地,所述N个时间段的总时长为5ms至10ms。
优选地,所述N个时间段的总时长为10ms。
优选地,3≤N≤5。
优选地,上述方法还包括:
确定连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域,n<N;
记录所述第二触控区域的位置。
本发明还提出了一种触控判定装置,用于触控面板,包括:
判断单元,用于确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;
输出单元,用于根据所述第一触控区域输出触控信号,
其中,所述N个时间段中的每个时间段等于所述触控面板中所有触控区域扫描周期。
优选地,所述N个时间段的总时长为5ms至10ms。
优选地,所述N个时间段的总时长为10ms。
优选地,3≤N≤5。
优选地,所述判断单元还用于确定连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域,n<N;
所述装置还包括:
记录单元,用于记录所述第二触控区域的位置。
本发明还提出了一种显示装置,包括上述触控判定装置。
通过上述实施例,可以在连续的N个扫描周期内扫描触控面板的所有触控区域,触控面板触控区域然后将在连续的N个扫描周期中电容变化值均大于或等于预设值的第一触控区域确定为用户触控的区域,并以此输出触控信号,而不会将仅在某几个扫描周期中电容变化值大于或等于预设值的触控区域确定为用户触控的区域,从而提高触控事件判定的准确率,避免外界噪声引起触控面板出现误触发触控事件。
附图说明
通过参考附图会更加清楚的理解本发明的特征和优点,附图是示意性的而不应理解为对本发明进行任何限制,在附图中:
图1至图5示出了触控区域电容变化的示意图;
图6示出了本发明一个实施例的触控判定方法的示意流程图;
图7示出了本发明一个实施例的第一帧扫描后得到的触控面板每个触控区域的电容变化值;
图8示出了本发明一个实施例的第二帧扫描后得到的触控面板每个触控区域的电容变化值;
图9示出了本发明一个实施例的第三帧扫描后得到的触控面板每个触控区域的电容变化值;
图10示出了本发明一个实施例的触控判定装置的示意框图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是,本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
如图2所示,将触控装置各触控区域的特征电容Cm预先存储在第一寄存器中,记为Basedata;
如图3所示,触控装置实时采集各触控区域的特征电容Cm’,并将其存储在第二寄存器中,记为Rawdata;
如图4所示,计算Diffdata(ΔC)=Basedata-Rawdata,并将计算后的Diffdata二维矩阵结果存储在第三寄存器中;
如图5所示,在一个扫描周期内,在多重噪声的共同影响下,部分触控区域(2,3)和(5,5)电容变化量超过触摸阈值的现象,将会出现自动触发触控事件的问题。噪声的存在影响了触控装置的正常触控功能(如触摸不灵、触摸不准,自动触摸等),降低了用户体验。
如图6所示,根据本发明一个实施例的触控判定方法,用于触控面板,触控面板包括多个触控区域,该方法包括:
S1,确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;
S2,根据第一触控区域输出触控信号,其中,N个时间段中的每个时间段等于触控面板的扫描周期。
由于用户的触控操作一般会持续一段时间,因此由用户触控操作引发的触控事件,会使得N个时间段的每个时间段中第一触控区域的电容变化值大于或等于预设值;而噪声持续时间则较短,所以只会使得N个时间段的某个时间段中第一触控区域的电容变化值大于或等于预设值。
根据本实施例,可以在连续的N个扫描周期内扫描触控面板的所有触控区域,然后将在连续的N个扫描周期中电容变化值均大于或等于预设值的第一触控区域确定为用户触控的区域,并以此输出触控信号,而不会将仅在某几个扫描周期中电容变化值大于或等于预设值的触控区域确定为用户触控的区域,从而提高触控事件判定的准确率,避免外界噪声引起触控面板出现误触发触控事件。为了简化描述,以下将触控面板的扫描周期称为一帧。由于本实施例中每个时间段等于一帧(例如一帧的时长为2ms),因此可以保证在每个时间段内都能完整地扫描触控面板的所有触控区域一次,不会遗漏触控面板中的触控区域,以保证确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域的准确性。
在一种优选的实施例中,N个时间段的总时长为5ms至10ms。
由于用户的触控操作(例如点击、滑动)持续时长一般最短为10ms,将N个时间段的总时长设置为小于10ms(例如N=4,一个时间段的时长为2ms,那么N个时间段的总时长为8ms),可以保证用户的触控操作能够保持N个时间段的每个时间段中第一触控区域的电容变化值大于或等于预设值,以便准确判定触控事件。
并且噪声在每个扫描周期内的数值随机,则噪声在不同扫描周期内对同一节点的影响不同,而如果是用户触控对该节点引起的电容变化,则会在连续的N个扫描周期内电容值基本无变化,从而在确定触控事件时能够方便地将用户的触控引发的电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,与噪声引发的电容变化值大于或等于预设值的区域区分开来,保证识别触控操作的准确度。
在一种优选的实施例中,N个时间段的总时长为10ms。
根据本实施例,可以将N个时间段的总时长设置为固定值,以省去确定第一区域过程中选取合适的总时长的过程。
在一种优选的实施例中,3≤N≤5。也即在N个时间段扫描触控面板的所有触控区域3至5次。以下以N=3为例进行示例性说明。
第一帧扫描后得到的触控面板每个触控区域的电容变化值如图7所示,其中坐标为(3,3)的触控区域及其周围的5个触控区域的电容变化值大于50,坐标为(5,5)的触控区域电容变化值大于50。
第二帧扫描后得到的触控面板每个触控区域的电容变化值如图8所示,其中坐标为(3,3)的触控区域及其周围的5个触控区域的电容变化值大于50。
第三帧扫描后得到的触控面板每个触控区域的电容变化值如图9所示,其中坐标为(3,3)的触控区域及其周围的5个触控区域的电容变化值大于50,坐标为(1,1)的触控区域电容变化值大于50。
因此可以确定第一触控区域是坐标为(3,3)的触控区域及其周围的5个触控区域,进一步可以根据重心算法对上述5个触控区域进行计算,从而确定触控事件的坐标并上传。
根据本实施例,一方面可以保证在N个时间段内扫描触控面板多次,以保证能够良好地识别用户的触控操作;另一方面可以避免在N个时间段内扫描触控面板过多次数,便于降低对扫描电路的性能要求。
在一种优选的实施例中,上述方法还包括:
确定连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域,n<N;
记录第二触控区域的位置。
根据上述实施例,可以确定N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域为用户触控操作的区域。进而可以得出,连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域为噪声引发电容变化较大的区域,通过记录第二触控区域的位置,便于对出现噪声的位置进行统计和维修。
如图10所示,根据本发明一个实施例的触控判定装置10,用于触控面板,包括:
判断单元11,用于确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;
输出单元12,用于根据第一触控区域输出触控信号,
其中,N个时间段中的每个时间段等于触控面板的扫描周期。
在一种优选的实施例中,N个时间段的总时长为5ms至10ms。
在一种优选的实施例中,N个时间段的总时长为10ms。
在一种优选的实施例中,3≤N≤5。
在一种优选的实施例中,判断单元11还用于确定连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域,n<N;
触控判定装置装置10还包括:
记录单元13,用于记录第二触控区域的位置。
本发明还提出了一种显示装置,包括上述触控判定装置。
需要说明的是,本实施例中的显示装置可以为:电子纸、手机、平板电脑、电视机、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
以上结合附图详细说明了本发明的技术方案,考虑到现有技术中,难以在判定触控事件过程中有效地消除噪声的影响。通过本发明实施例的技术方案,可以在连续的N个扫描周期内扫描触控面板的所有触控区域,然后将在连续的N个扫描周期中电容变化值均大于或等于预设值的第一触控区域确定为用户触控的区域,并以此输出触控信号,而不会将仅在某几个扫描周期中电容变化值大于或等于预设值的触控区域确定为用户触控的区域,从而提高触控事件判定的准确率,避免外界噪声引起触控面板出现误触发触控事件。
在本发明中,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。术语“多个”指两个或两个以上,除非另有明确的限定。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种触控判定方法,用于触控面板,所述触控面板包括多个触控区域,其特征在于,所述方法包括:
确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;
根据所述第一触控区域输出触控信号,
其中,所述N个时间段中的每个时间段等于所述触控面板的扫描周期。
2.根据权利要求1所述的触控判定方法,其特征在于,所述N个时间段的总时长为5ms至10ms。
3.根据权利要求2所述的触控判定方法,其特征在于,所述N个时间段的总时长为10ms。
4.根据权利要求2所述的触控判定方法,其特征在于,3≤N≤5。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的触控判定方法,其特征在于,还包括:
确定连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域,n<N;
记录所述第二触控区域的位置。
6.一种触控判定装置,用于触控面板,其特征在于,包括:
判断单元,用于确定连续的N个时间段的每个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第一触控区域,N≥2;
输出单元,用于根据所述第一触控区域输出触控信号,
其中,所述N个时间段中的每个时间段等于所述触控面板中所有触控区域扫描周期。
7.根据权利要求6所述的触控判定装置,其特征在于,所述N个时间段的总时长为5ms至10ms。
8.根据权利要求7所述的触控判定装置,其特征在于,所述N个时间段的总时长为10ms。
9.根据权利要求7所述的触控判定装置,其特征在于,3≤N≤5。
10.根据权利要求6至9所述的触控判定装置,其特征在于,所述判断单元还用于确定连续的N个时间段的n个时间段中,触控面板中电容变化值大于或等于预设值的第二触控区域,n<N;
所述装置还包括:
记录单元,用于记录所述第二触控区域的位置。
11.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求6至10中任一项所述的触控判定装置。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160803 |