CN105824139B - 光学膜片耐磨测试治具 - Google Patents

光学膜片耐磨测试治具 Download PDF

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Abstract

一种光学膜片耐磨测试治具，包括多个由透明材料制成的承载基板，待测的光学膜片固定于每一所述承载基板上，多个所述承载基板层叠固定于一体。该光学膜片耐磨测试治具能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况，对光学膜片的耐磨性能进行检测，且节约了成本，并提升了效率。

Description

光学膜片耐磨测试治具
技术领域
本发明涉及液晶显示器的品质检测领域，尤其是一种光学膜片耐磨测试治具。
背景技术
液晶显示器已经广泛的应用于生活中，液晶显示器内包括导光板、上扩散片、下扩散片等多种光学膜片，在使用时，由于震动等原因，各光学膜片之间会发生相对移动，继而产生摩擦，为了保证液晶显示器的品质，各光学膜片需要具有一定的耐磨性能，因此，在生产时，需要进行光学膜片之间耐磨性能的检测。
图1为现有技术中检测光学膜片耐磨性能的结构示意图，如图1所示，在现有技术中，进行光学膜片11之间耐磨性能检测时，首先将两个或多个光学膜片11叠放在一起，然后在光学膜片11上放置砝码12，拉动其中一个光学膜片11，使光学膜片11之间发生滑动，然后将此光学膜片11进行点灯测试，以观察光学膜片11的受损情况。此种方法首先较为复杂，其次受砝码12表面平整度的影响较大，且因该方法不能模拟光学膜片11在液晶显示器中的运动情况，因此只能进行定性分析，不能验证光学膜片11在液晶显示器中的耐磨性能是否符合规定，另外此种方法也容易受外界影响，当光学膜片11吸附了微小颗粒时，会对耐磨性能的测定造成影响。当需要验证光学膜片11在液晶显示器中的耐磨性能是否符合规定时，需要将液晶显示器装配好，然后再做点灯测试，这样做不仅降低了检测效率，同时也浪费了其他的部材。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光学膜片耐磨测试治具，该光学膜片耐磨测试治具能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况，对光学膜片的耐磨性能进行检测，且节约了成本，并提升了效率。
本发明提供一种光学膜片耐磨测试治具，包括多个由透明材料制成的承载基板，待测的光学膜片固定于每一所述承载基板上，多个所述承载基板层叠固定于一体。
进一步地，所述光学膜片耐磨测试治具还包括固定柱，所述承载基板的周边上设有第一固定孔，每一所述承载基板上的所述第一固定孔与其他承载基板上所述第一固定孔的位置相适应，所述固定柱穿过所述第一固定孔，并通过螺栓将所述承载基板层叠固定于一体。
进一步地，所述承载基板的端部设有把手，相邻的两个所述承载基板上把手的位置不同。
进一步地，所述光学膜片耐磨测试治具还包括由透明材料制成的固定箱体，所述固定箱体的一侧形成有开口，所述固定箱体的侧壁上沿所述固定箱体的高度方向形成有多个固定架，每一所述承载基板从所述开口侧插入所述固定箱体内并固定于相应的所述固定架上。
进一步地，所述固定架包括支撑部及位于两个所述支撑部之间的固定凹槽，所述承载基板的边缘形成有与所述固定凹槽相适应的固定板，所述固定板插入所述固定凹槽中，继而使所述承载基板固定于所述固定箱体内。
进一步地，所述承载基板的上表面向下凹陷形成有放置穴，在所述放置穴的上方设有由透明材料制成的盖板，所述盖板与所述放置穴组成一容置空间，所述光学膜片放置于所述容置空间中。
进一步地，所述放置穴的周边设有第一挡圈及第二挡圈，所述第一挡圈相比于所述第二挡圈更靠近所述放置穴，所述第一挡圈的上表面的高度低于所述第二挡圈上表面的高度，所述盖板的下表面与所述第一挡圈的上表面及所述光学膜片的上表面接触，所述盖板的上表面的高度低于或等于所述第二挡圈上表面的高度。
进一步地，所述第一挡圈及所述第二挡圈与所述承载基板之间还设有第一垫片。
进一步地，所述放置穴的周边设有第一挡圈，所述盖板包括第一盖板及第二盖板，所述第二盖板相比于所述第一盖板更靠近所述光学膜片，所述第一盖板的端部抵靠于所述第二挡圈上，所述第二盖板的端部抵靠于所述放置穴的侧壁上，所述光学膜片固定于所述放置穴与所述第二盖板之间。
进一步地，所述承载基板上设置有挡板，所述挡板包括第一挡板、第二挡板及第三挡板，所述第一挡板、所述第二挡板及所述第三挡板围成放置穴，所述承载基板的上表面或位于该承载基板上方的所述承载基板的下表面还设置有由透明材料制成的第二垫片，所述光学膜片放置于所述放置穴中。
综上所述，本发明通过将光学膜片放置于透明的承载基板上，并使承载基板层叠固定在一起，能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况，对光学膜片的耐磨性能进行检测，且节约了成本，并提升了效率。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1为现有技术中检测光学膜片耐磨性能的结构示意图。
图2为本发明第一实施例提供的光学膜片耐磨测试治具的结构示意图。
图3为图2中沿光学膜片耐磨测试治具高度方向的剖面结构示意图。
图4为图3中的局部结构放大示意图。
图5为图2中承载基板的结构示意图。
图6为图5中VI-VI方向的截面示意图。
图7为图6中添加第一垫片后的截面示意图。
图8为本发明第二实施例中承载基板的截面示意图。
图9为图8中添加第二盖板后的截面示意图。
图10为本发明第三实施例中光学膜片耐磨测试治具的结构示意图。
图11为图10中XI-XI方向的截面示意图。
图12为图10中箱体的结构示意图。
图13为图10中承载基板的结构示意图。
图14为图10中承载基板另一视角的结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对本发明进行详细说明如下。
本发明提供一种光学膜片耐磨测试治具，能够模拟在液晶显示器内光学膜片之间的相对滑动，检测光学膜片的耐磨性能。图2为本发明第一实施例提供的光学膜片耐磨测试治具的结构示意图，图3为图2中沿光学膜片耐磨测试治具高度方向的剖面结构示意图，图4为图3中的局部结构放大示意图，图5为图2中承载基板的结构示意图，图6为图5中VI-VI方向的截面示意图，如图2至图6所示，本发明第一实施例提供的光学膜片耐磨测试治具包括若干个由透明材料制成的承载基板20，透明材料优选为抗静电且耐磨的透明材料，每一待测的光学膜片30固定于每一个承载基板20上，若干承载基板20层叠固定于一体。
具体地，如图2、图3及图5所示，在本实施例中，承载基板20的周边设有第一固定孔21(见图5)，每一个承载基板20上的第一固定孔21与其它承载基板20上的第一固定孔21的位置相适应，固定柱40穿过承载基板20的第一固定孔21，并通过螺栓将若干承载基板20层叠固定于一体。在承载基板20的端部设有便于拿取的把手22，为了便于拿取承载基板20，相邻的两个承载基板20上把手22的位置不同，即当承载基板20层叠固定于一体时，把手22在光学膜片耐磨测试治具上的位置是相互错开的。
每一承载基板20的上表面上均向下凹陷形成有放置穴23，在放置穴23的上方还设置有由透明材料制成的盖板24，盖板24与放置穴23组成一容置空间，光学膜片30固定于该容置空间中。为了便于拿取盖板24，在盖板24的顶点部设置有豁口241。在放置穴23的周边还设有由橡胶或硅胶等材料制成的第一挡圈251及第二挡圈252，第一挡圈251相比于第二挡圈252更靠近放置穴23，第一挡圈251上表面的高度低于第二挡圈252上表面的高度，第一挡圈251用于固定光学膜片30，第二挡圈252用于固定盖板24。当光学膜片30放置于放置穴23内时，光学膜片30的上表面与第一挡圈251的上表面平齐，即在此情况下，第一挡圈251的高度等于光学膜片30的高度，当盖板24放置于放置穴23上时，盖板24的端部抵靠于第二挡圈252的侧壁上，盖板24的上表面与第二挡圈252的上表面平齐或略低于第二挡圈252的上表面，由于第二挡圈252具有一定的弹性，当多个承载基板20层叠固定时，上层的承载基板20的下表面会与盖板24的上表面接触，使得光学膜片30固定于承载基板20上。
图7为图6中添加第一垫片后的截面示意图，如图7所示，更为具体地，为了调节由盖板24及放置穴23组成的容置空间的高度以适应更多的情况，在第一挡圈251及第二挡圈252的下部还可以加装第一垫片253，即容置空间的高度等于第一挡圈251的高度加上第一垫片253的高度。
在测试光学膜片30的耐磨性能时，先将需要测量的光学膜片30放置于放置穴23内，盖上盖板24，然后将多个承载基板20固定在一起，并将组装好的光学膜片耐磨测试治具放到动力装置上进行晃动，同一个放置穴23内的光学膜片30会因晃动而相互摩擦，最后将光学膜片耐磨测试治具放置于点灯装置上，并对光学膜片30进行观察，判断光学膜片30的耐磨性能。在本发明中，由于光学膜片30是放置于容置空间内，模拟光学膜片30安装于显示器内的情况，因此可以模拟光学膜片30在液晶显示器中的运动情况；因为容置空间为封闭的空间，因此可以防止外界的微小颗粒粘附于光学膜片30上；进一步地，由于承载基板20及盖板24均由透明材料制成，因此不需将光学膜片30从光学膜片耐磨测试治具中拿出，即可通过点灯治具来检测光学膜片30的耐磨性能，节约了检测成本，提升了检测效率。
图8为本发明第二实施例中承载基板的截面示意图，图9为图8中添加第二盖板后的截面示意图，如图8及图9所示，本发明的第二实施例与第一实施例的不同在于，在本发明的第二实施例中，放置穴23的周边仅设有用于盖板24的第二挡圈252。在承载基板20上向内凹陷形成有卡槽254，卡槽254环设于放置穴23的周边，第二挡圈252固定于卡槽254内。当盖板24放置于放置穴23上时，盖板24的端部抵靠于第二挡圈252上，盖板24的下表面与光学膜片30的上表面接触。为了能够进行多种不同的光学膜片30的耐磨性能的测试，盖板24包括第一盖板242及第二盖板243，第一盖板242的尺寸与第二挡圈252的尺寸相适应，即第一盖板242的端部抵靠于第二挡圈252上，第二盖板243的尺寸与放置穴23的尺寸相适应，即第二盖板243的端部抵靠于放置穴23的侧壁上，光学膜片30固定于放置穴23及第二盖板243之间。
图10为本发明第三实施例中光学膜片耐磨测试治具的结构示意图，图11为图10中XI-XI方向的截面示意图，图12为图10中固定箱体的结构示意图，图13为图10中承载基板的结构示意图，图14为图10中承载基板另一视角的结构示意图，如图10至图14所示，在本发明的第三实施例中，光学膜片耐磨测试治具还包括由透明材料制成的固定箱体50，该固定箱体50的一侧形成有开口，在固定箱体50的侧壁上沿固定箱体50的高度方向形成有多个固定架51，每一承载基板20从开口侧插入固定箱体50并固定于相应的固定架51上。
具体地，固定架51包括支撑部511及位于两个支撑部511之间的固定凹槽512，承载基板20的边缘伸入固定凹槽512中，从而固定于固定箱体50上。在承载基板20的上表面设置有挡板26，放置光学膜片30的放置穴23由挡板26围成。在本实施例中，挡板26包括第一挡板261、第二挡板262及第三挡板263，第一挡板261、第二挡板262及第三挡板263分别位于承载基板20的三个相邻的边缘上，第二挡板262位于第一挡板261与第三挡板263之间，且第一挡板261及第三挡板263的延伸方向与第二挡板262垂直。第一挡板261及第三挡板263与承载基板20相应的边缘的端部之间形成有固定板27，固定板27插入固定凹槽512中，从而将承载基板20固定于固定箱体50上。
进一步地，在支撑部511的端部设置有第二固定孔513，在第二挡板262上与第二固定孔513相对应的位置设置有第三固定孔264，当承载基板20插入固定箱体50内时，固定螺栓穿入第二固定孔513及第三固定孔264中，将承载基板20固定于固定箱体50上。
容置空间由承载基板20的上表面及放置穴23围成，光学膜片30固定于容置空间中。为了更好地固定光学膜片30，在承载基板20上还设有由透明材料制成的第二垫片265，用来调整容置空间的高度。在本实施例中，第二垫片265设于位于该承载基板20上方的承载基板20的下表面，在其他实施例中，第二垫片265也可以固定于该承载基板20的上表面。
可以理解地，在本发明中，固定于固定箱体50上的承载基板20并不限定于第三实施例中的结构，第一实施例及第二实施例中的承载基板20也可以适应于第三实施例中的固定箱体50上。
在组装时，先将光学膜片30放置于承载基板20的放置穴23内，然后依次放入固定箱体50中，即可完成光学膜片30的固定。在本实施例中，光学膜片30的振动方法及检测方法与第一实施例相同，在此不再赘述。
综上所述，本发明通过将光学膜片放置于透明的承载基板上，并使承载基板层叠固定在一起，能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况，对光学膜片的耐磨性能进行检测，且节约了成本，并提升了效率。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种光学膜片耐磨测试治具，用于放置到动力装置上进行晃动以判断待测的光学膜片(30)之间的耐磨性能，其特征在于：包括多个由透明材料制成的承载基板(20)，所述承载基板(20)设有容置空间，多个所述光学膜片(30)放置在所述承载基板(20)的容置空间中，多个所述承载基板(20)层叠固定于一体。
2.根据权利要求1所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述光学膜片耐磨测试治具还包括固定柱(40)，所述承载基板(20)的周边上设有第一固定孔(21)，每一所述承载基板(20)上的所述第一固定孔(21)与其他承载基板(20)上所述第一固定孔(21)的位置相适应，所述固定柱(40)穿过所述第一固定孔(21)，并通过螺栓将所述承载基板(20)层叠固定于一体。
3.根据权利要求2所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述承载基板(20)的端部设有把手(22)，相邻的两个所述承载基板(20)上把手(22)的位置不同。
4.根据权利要求1所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述光学膜片耐磨测试治具还包括由透明材料制成的固定箱体(50)，所述固定箱体(50)的一侧形成有开口，所述固定箱体(50)的侧壁上沿所述固定箱体(50)的高度方向形成有多个固定架(51)，每一所述承载基板(20)从所述开口侧插入所述固定箱体(50)内并固定于相应的所述固定架(51)上。
5.根据权利要求4所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述固定架(51)包括支撑部(511)及位于两个所述支撑部(511)之间的固定凹槽(512)，所述承载基板(20)的边缘形成有与所述固定凹槽(512)相适应的固定板(27)，所述固定板(27)插入所述固定凹槽(512)中，继而使所述承载基板(20)固定于所述固定箱体(50)内。
6.根据权利要求1所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述承载基板(20)的上表面向下凹陷形成有放置穴(23)，在所述放置穴(23)的上方设有由透明材料制成的盖板(24)，所述盖板(24)与所述放置穴(23)组成所述容置空间。
7.根据权利要求6所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述放置穴(23)的周边设有第一挡圈(251)及第二挡圈(252)，所述第一挡圈(251)相比于所述第二挡圈(252)更靠近所述放置穴(23)，所述第一挡圈(251)的上表面的高度低于所述第二挡圈(252)上表面的高度，所述盖板(24)的下表面与所述第一挡圈(251)的上表面及所述光学膜片(30)的上表面接触，所述盖板(24)的上表面的高度低于或等于所述第二挡圈(252)上表面的高度。
8.根据权利要求7所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述第一挡圈(251)及所述第二挡圈(252)与所述承载基板(20)之间还设有第一垫片(253)。
9.根据权利要求6所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述放置穴(23)的周边设有第二挡圈(252)，所述盖板(24)包括第一盖板(242)及第二盖板(243)，所述第二盖板(243)相比于所述第一盖板(242)更靠近所述光学膜片(30)，所述第一盖板(242)的端部抵靠于所述第二挡圈(252)上，所述第二盖板(243)的端部抵靠于所述放置穴(23)的侧壁上，所述光学膜片(30)固定于所述放置穴(23)与所述第二盖板(243)之间。
10.根据权利要求1所述的光学膜片耐磨测试治具，其特征在于：所述承载基板(20)上设置有挡板(26)，所述挡板(26)包括第一挡板(261)、第二挡板(262)及第三挡板(263)，所述第一挡板(261)、所述第二挡板(262)及所述第三挡板(263)围成放置穴(23)，所述承载基板(20)的上表面与所述放置穴(23)形成所述容置空间，所述承载基板(20)的上表面或位于该承载基板(20)上方的所述承载基板(20)的下表面还设置有由透明材料制成的第二垫片(265)，所述光学膜片(30)放置于所述放置穴(23)中。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112504889A (zh) * 2020-11-05 2021-03-16 Oppo广东移动通信有限公司 耐磨性能测试装置
CN115290488B (zh) * 2022-09-28 2023-01-10 海安浩驰科技有限公司 一种全方位运动的光学膜片耐磨测试治具

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1196505A (zh) * 1997-04-14 1998-10-21 佳能株式会社 光接收部件、图象形成设备以及图象形成方法
US6577151B1 (en) * 2002-03-13 2003-06-10 Orient Semiconductor Electronics Limited Inspection device for wiring of an integrated circuit
CN101762904A (zh) * 2009-10-27 2010-06-30 长兴化学工业股份有限公司 光学膜复合物
JP2011060877A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Shin Etsu Polymer Co Ltd 基板用支持体及び基板収納容器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1196505A (zh) * 1997-04-14 1998-10-21 佳能株式会社 光接收部件、图象形成设备以及图象形成方法
US6577151B1 (en) * 2002-03-13 2003-06-10 Orient Semiconductor Electronics Limited Inspection device for wiring of an integrated circuit
JP2011060877A (ja) * 2009-09-08 2011-03-24 Shin Etsu Polymer Co Ltd 基板用支持体及び基板収納容器
CN101762904A (zh) * 2009-10-27 2010-06-30 长兴化学工业股份有限公司 光学膜复合物

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