CN105679723A - 一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统，本申请热界面材料包括锆金属箔和碳纳米管阵列，所述锆金属箔具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面，所述碳纳米管阵列中碳纳米管分布在所述第一表面和所述第二表面，所述锆金属箔的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属。本申请实施例降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。

Description

一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统
技术领域
本发明涉及材料技术领域，特别涉及一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统。
背景技术
电子设备中芯片等发热元件工作时产生的热量通常需借助散热器件实现热量向外部的扩散。从微观角度看，发热元件与散热器件之间的接触界面都存在很多的凹凸不平，需使用热界面材料(ThermalInterfaceMaterials，TIM)填充发热元件与散热器件的接触界面，降低接触热阻。随着电子设备的微型化、轻量化和高密度化的发展。
目前，业界导热效果比较好的热界面材料是通过在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管阵列而形成的。但由于该热界面材料内锆金属箔的界面热阻较大，所以导致该热界面材料的导热性能相对较差。
发明内容
本申请提供了一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
第一方面，本申请实施例提供一种热界面材料，包括锆金属箔和碳纳米管阵列，所述锆金属箔具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面，所述碳纳米管阵列中碳纳米管分布在所述第一表面和所述第二表面，所述锆金属箔的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属。
本申请实施例中，由于锆金属箔的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实施方式下，所述锆金属箔的第一表面和第二表面均为裸露的锆金属，在锆金属箔两面均为裸露的锆金属时，进一步降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式，在第一方面的第二种可能的实施方式下，所述碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面，需要说明的是，此处碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面，实际生产中，并不存在绝对百分百的碳纳米管均垂直于所述第一表面和所述第二表面，可以理解为，满足本领域现有技术中误差百分比，即认为碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面，此时，碳纳米管阵列中的碳纳米管密度即相对均匀，不会碳纳米管方向均偏向某一边而造成密度差异。
结合第一方面、第一方面的第一种可能的实施方式或第一方面的第二种可能的实施方式，在第一方面的第三种可能的实施方式下，所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙中填充有树脂，例如可以是硅树脂。由于热界面材料界面热阻主要是由于界面处金属基材表面的金属氧化物和碳纳米管之间的空气导致的，而且，即使是高密度的碳纳米管阵列，在碳纳米管之间依然存在空气，因此，为了降低热界面材料的界面热阻，可以采用更高热导率的材料替代碳纳米管之间的空气填充。
结合第一方面的第三种可能的实施方式，在第一方面的第四种可能的实施方式下，所述树脂的热导率大于0.1W/m.k，可以保证热界面材料的导热性能。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式至第一方面的第四种可能的实施方式中任一种可能的实施方式，在第一方面的第五种可能的实施方式下，所述碳纳米管阵列中纳米管分布在所述第一表面的碳纳米管阵列的密度与分布在所述第二表面的碳纳米管阵列的密度相等。
由于所述碳纳米管阵列中碳纳米管均匀分布在锆金属箔的第一表面和第二表面，从而使得在使用本实施例中热界面材料时，热界面材料和散热器界面之间可以实现更好的接触，提高导热性能。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式至第一方面的第五种可能的实施方式中任一种可能的实施方式，在第一方面的第六种可能的实施方式下，所述热界面材料中碳纳米管的质量密度为0.16～0.5g/cm3，
热界面材料中碳纳米管的质量密度高，则热界面材料的导热效果更好，本申请中由于热界面材料中碳纳米管的质量密度达到0.16～0.5g/cm3，这个密度可以达到常规生长工艺生产的热界面材料中碳纳米管的质量密度的10倍左右，极大的提升了热界面材料的导热性能。
结合第一方面或第一种可能的实施方式至第六种可能的实施方式中任一种可能的实施方式，在第七种可能的实施方式下，所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙在10～100nm，碳纳米管之间这个空隙越小，使得碳纳米管的密度更大，导热效果更好，更小间隙的碳纳米管生长困难，有的甚至无法生长，碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙在10～100nm，既保证了碳纳米管阵列的导热效果，又不会增加碳纳米管阵列生长实现的难度。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式至第一方面的第七种可能的实施方式中任一种可能的实施方式，在第一方面的第八种可能的实施方式下，所述锆金属箔厚度为10～100μm。由于本申请中碳纳米管的高密度，因此锆金属箔需要有一定厚度保证，不然即使均匀分布，可能也容易造成锆金属箔变形，所以所述锆金属箔厚度可以为10～100μm。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实施方式或第一方面的第八种可能的实施方式中任一种可能的实施方式，在第一方面的第九种可能的实施方式下，所述碳纳米管可以为多壁碳纳米管，直径可以为10～20nm，长度可以为30～100μm。
第二方面，本申请实施例提供一种热界面材料的制备方法，包括：
在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管，以在所述锆金属箔的两个表面均形成碳纳米管阵列；
在所述锆金属箔的两个表面均形成所述碳纳米管阵列之后，对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，以得到所述热界面材料，所述热界面材料中锆金属箔的两个表面包括裸露的锆金属。
由于在所述锆金属箔的两个表面均形成所述碳纳米管阵列之后，对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，使得得到的界面材料中锆金属箔的两个表面包括裸露的锆金属，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
结合第二方面，在第一方面的第一种可能的实施方式下，所述热界面材料中锆金属箔的两个表面均为裸露的锆金属，在锆金属箔两面均为裸露的锆金属时，进一步降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
结合第二方面或第二方面的第一种可能的实施方式，在第二方面的第二种可能的实施方式下，所述对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，包括：
将两个表面生长有所述碳纳米管阵列的锆金属箔放在H2气氛中进行退火还原处理
由于H2可以的与锆金属箔表面氧化物中的O原子进行还原反应，生成H2O，还原效果好，可以有效降低了热界面材料的界面热阻。
结合第二方面的第二种可能的实施方式，在第二方面的第三种可能的实施方式下，发明人经过实际测试论证，在所述H2气氛中进行退火还原处理过程中，H2流量为5～100SCCM，气压为0.005～0.5MPa，退火处理温度为350～650℃，退火处理时间为5～30min时，H2与锆金属箔表面氧化物中的O原子进行还原反应的效果最佳。
结合第二方面或第二方面的第一种可能的实施方式至第二方面的的第三种可能的实施方式中任一可能的实施方式，在第二方面的第四种可能的实施方式下，所述在对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应之后，所述方法还包括：
在真空中采用蒸渡工艺，在所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间填充树脂，得到热界面材料。
由于热界面材料界面热阻主要是由于界面处金属基材表面的金属氧化物和碳纳米管之间的空气导致的，而且，即使是高密度的碳纳米管阵列，在碳纳米管之间依然存在空气，因此，为了降低热界面材料的界面热阻，可以采用更高热导率的材料替代碳纳米管之间的空气填充。
结合第二方面的第四种可能的实施方式，在第二方面的第五种可能的实施方式下，所述蒸渡工艺条件：温度为100～300℃，工作气压为5～50Torr。
结合第二方面或第二方面的第一种可能的实施方式至第二方面的的第五种可能的实施方式中任一可能的实施方式，在第二方面的第六种可能的实施方式下，所述在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管，以在所述锆金属箔的两个表面均形成碳纳米管阵列，包括：
在锆金属箔的两个表面分布金属颗粒催化剂后，将两个表面分布有催化剂的所述锆金属箔放入真空反应腔中，所述真空反应腔内还放置有气流扩散控制装置，所述气流扩散控制装置包括第一气流扩散控制片和第二气流扩散控制片，所述第一气流扩散控制片位于所述锆金属箔的一个表面侧，所述第二气流扩散控制片位于所述锆金属箔的另一表面侧；
在真空反应腔中控制均匀通入C2H2和Ar混合气源，所述混合气源通过所述第一气流扩散控制片吹到所述锆金属箔的一个表面，所述混合气源通过所述第二气流扩散控制片吹到所述锆金属箔的另一个表面，在所述锆金属箔的两个表面生长碳纳米管5～20min，形成所述碳纳米管阵列，其中，所述真空反应腔中总气压在10～100Torr,生长温度为500～900℃。
结合第二方面的第六种可能的实施方式，在第二方面的第七种可能的实施方式下，所述第一气流扩散控制片与锆金属箔的一个表面的距离0.1mm～20mm,所述第一气流扩散控制片上的通孔的尺寸0.1mm～10.0mm，通孔的数量1～100个/cm2，此种条件下，真空腔在极小范围的混合气源的通过气流可以保证相对均匀稳定，从而确保碳纳米管阵列均匀生长。
结合第二方面的第七种可能的实施方式，在第二方面的第八种可能的实施方式下，所述混合气源中，C2H2占2～50％，Ar占50～98％，此比例范围的混合气源可以有效保证碳纳米管生长高密度的碳纳米管阵列。
第三方面，本申请实施例提供一种导热片，所述导热片由如第一方面或第一方面中任一可能的实施方式所述的热界面材料制成。
第四方面，本申请实施例提供一种散热系统，包括发热件、散热器以及导热片，所述导热片由如第一方面或第一方面中任一可能的实施方式所述的热界面材料制成，所述发热件位于所述散热器一侧，所述导热片贴置于所述发热件与所述散热器之间，以使所述发热件通过所述导热片将热量传递至所述散热器来进行散热。
在本申请实施例中，由于锆金属箔的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
附图说明
图1是本申请中热界面材料的一个实施例示意图；
图2是本申请中热界面材料的另一个实施例示意图；
图3是本申请中散热系统的一个实施例示意图；
图4是本申请中热界面材料的制备方法的一个实施例示意图。
具体实施方式
本申请提供了本申请提供了一种热界面材料及其制备方法、导热片和散热系统，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本申请中的附图，对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
下面首先简单介绍本申请实施例中涉及的基础概念。
碳纳米管，又名巴基管，是一种具有特殊结构(径向尺寸为纳米量级，轴向尺寸为微米量级，管子两端基本上都封口)的一维量子材料。碳纳米管主要由呈六边形排列的碳原子构成数层到数十层的同轴圆管。层与层之间保持固定的距离，约0.34nm，直径一般为2～20nm，并且根据碳六边形沿轴向的不同取向可以将其分成锯齿形、扶手椅型和螺旋型三种。其中螺旋型的碳纳米管具有手性，而锯齿形和扶手椅型碳纳米管没有手性，碳纳米管独特的分子结构使它具有显著的电子特性,广泛纳米电子学和光电子学，场发射电子源，高强度复合材料，传感器与致动器，热导材料，光学材料，导电薄膜，纳米级的模版与孔洞等。
乙炔：分子式C2H2，俗称风煤和电石气，是炔烃化合物系列中体积最小的一员，主要作工业用途，例如碳纳米管生长等。乙炔在室温下是一种无色、极易燃的气体。
氩：非金属元素，元素符号Ar，氩是单原子分子，单质为无色、无臭和无味的气体，是稀有气体中在空气中含量最多的一个，由于在自然界中含量很多，氩是目前最早发现的稀有气体。化学性极不活泼，但是已制得其化合物——氟氩化氢。氩不能燃烧，也不能助燃，常用作保护气体。
蒸渡工艺：在真空室中把欲镀金属、合金或化合物加热融化，使其呈分子或原子状态逸出，沉积到被渡材料表面而形成固态薄膜或涂层的方法。
SCCM：体积流量单位，英文全称standard-statecubiccentimeterperminute，中文全称标准状况下毫升每分钟，常用于化学反应中。
Torr：中文称“托”，压强单位，原本的1Torr是指“将幼细直管内的水银顶高一毫米之压力”，而正常之大气压力可以将水银升高760mm，故此将1Torr定为大气压力的1/760倍。
下面介绍本申请实施例中热界面材料的实施例。
如图1所示，本申请中热界面材料一个实施例包括锆金属箔1和碳纳米管阵列2，所述锆金属箔1具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面，所述碳纳米管阵列2中碳纳米管分布在所述第一表面和所述第二表面，所述锆金属箔1的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属。
本实施例中，由于锆金属箔的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
本申请实施例中，为了进一步降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能，所述锆金属箔的第一表面和第二表面可以均为裸露的锆金属。
可选的，所述碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面，需要说明的是，此处碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面，实际生产中，并不存在绝对百分百的碳纳米管均垂直于所述第一表面和所述第二表面，可以理解为，满足本领域现有技术中误差百分比，即认为碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面，此时，碳纳米管阵列中的碳纳米管密度即相对均匀，不会导致碳纳米管方向均偏向某一边而造成密度差异。
由于热界面材料界面热阻主要是由于界面处金属基材表面的金属氧化物和碳纳米管之间的空气导致的，而且，即使是高密度的碳纳米管阵列，在碳纳米管之间依然存在空气，因此，为了降低热界面材料的界面热阻，可以采用更高热导率的材料替代碳纳米管之间的空气填充，可选的，如图2所示，所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙中填充有树脂，例如可以是硅树脂。
在碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙中填充树脂的情况下，进一步优选的，所述树脂的热导率大于0.1W/m.k，此时可以保证热界面材料的导热性能。
在本申请的一些实施例中，所述碳纳米管阵列中纳米管分布在所述第一表面的碳纳米管阵列的密度与分布在所述第二表面的碳纳米管阵列的密度相等，可以理解的是，此处描述的密度相等并不是指绝对相等，而是本领域技术中，满足密度差异百分比，使分布在所述第一表面的碳纳米管阵列的密度与分布在所述第二表面的碳纳米管阵列的密度均匀，不会有明显的影响效果的差异。
由于所述碳纳米管阵列中碳纳米管均匀分布在锆金属箔的第一表面和第二表面，从而使得在使用本实施例中热界面材料时，热界面材料和散热器界面之间可以实现更好的接触，提高导热性能。
在碳纳米管组成的热界面材料中，热界面材料中碳纳米管的质量密度高，则热界面材料的导热效果更好，本申请中热界面材料中碳纳米管的质量密度达到0.16～0.5g/cm3，这个密度可以达到常规生长工艺生产的热界面材料中碳纳米管的质量密度的10倍左右，极大的提升了热界面材料的导热性能，优选的，热界面材料中碳纳米管的质量密度为0.3～0.5g/cm3。
由于本申请中碳纳米管的高密度，因此锆金属箔需要有一定厚度保证，不然即使均匀分布，可能也容易造成锆金属箔变形，所以所述锆金属箔厚度可以为10～100μm，优选30～60μm。
可选的，本申请中，所述碳纳米管可以为多壁碳纳米管，直径可以为10～20nm，长度可以为30～100μm。
可选的，所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙在10～100nm，碳纳米管之间这个空隙越小，使得碳纳米管的密度更大，导热效果更好，当然由于碳纳米管间距过小，虽然可以进一步增大碳纳米管的密度，但碳纳米管碳管间距小到一定程度后，在碳纳米管生长时，由于密度过大，容易降低碳纳米管的生长质量和碳纳米管的生长难度，这主要是因为碳源气体(例如C2H2)流速的限制(就是说碳纳米管太密集气体无法很顺畅地通过，从而无法提供充足稳定的碳源，会使部分碳纳米管停止生长，所以碳纳米管之间空隙应该是一个适当的距离，本申请实施例中，碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙在10～100nm，既保证了碳纳米管阵列的导热效果，又不会增加碳纳米管阵列生长实现的难度，进一步优选的，碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙在30～70nm。
本申请实施例中，还提供一种导热片，该导热片由上述热界面材料制作而成。
本申请实施例中，还提供一种散热系统，如图3所示，该散热系统包括发热件31、散热器32以及导热片33，所述导热片33为如上所述的导热片，该导热片由上述热界面材料制作而成，所述发热件31位于所述散热器32一侧，所述导热片33贴置于所述发热件31与所述散热器之间，以使所述发热件31通过所述导热片33将热量传递至所述散热器32来进行散热。
下面介绍本申请实施例中热界面材料的制备方法的实施例。
请参阅图4，本申请实施例中热界面材料的制备方法的一个实施例包括：
401、在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管，以在所述锆金属箔的两个表面均形成碳纳米管阵列；
402、在所述锆金属箔的两个表面均形成所述碳纳米管阵列之后，对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，以得到所述热界面材料；
其中，所述热界面材料中锆金属箔的两个表面包括裸露的锆金属。
本实施例中，由于在所述锆金属箔的两个表面均形成所述碳纳米管阵列之后，对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，使得得到的界面材料中锆金属箔的两个表面包括裸露的锆金属，降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
可选的，所述热界面材料中锆金属箔的两个表面均为裸露的锆金属，，在锆金属箔两面均为裸露的锆金属时，进一步降低了热界面材料的界面热阻，提高了热界面材料的导热性能。
可选的，所述对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，包括：
将两个表面生长有所述碳纳米管阵列的锆金属箔放在H2气氛中进行退火还原处理
由于H2可以的与锆金属箔表面氧化物中的O原子进行还原反应，生成H2O，还原效果好，可以有效降低了热界面材料的界面热阻。
可选的，发明人经过实际测试论证，在所述H2气氛中进行退火还原处理过程中，H2流量为5～100SCCM，气压为0.005～0.5MPa，退火处理温度为350～650℃，退火处理时间为5～30min时，H2与锆金属箔表面氧化物中的O原子进行还原反应的效果最佳。
由于热界面材料界面热阻主要是由于界面处金属基材表面的金属氧化物和碳纳米管之间的空气导致的，而且，即使是高密度的碳纳米管阵列，在碳纳米管之间依然存在空气，因此，为了降低热界面材料的界面热阻，可以采用更高热导率的材料替代碳纳米管之间的空气填充，可选的，所述在对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应之后，所述方法还包括：
在真空中采用蒸渡工艺，在所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间填充树脂，得到热界面材料。
可选的，所述蒸渡工艺条件：温度为100～300℃，工作气压为5～50Torr。
可选的，所述在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管，以在所述锆金属箔的两个表面均形成碳纳米管阵列，包括：
在锆金属箔的两个表面分布金属颗粒催化剂后，将两个表面分布有催化剂的所述锆金属箔放入真空反应腔中，所述真空反应腔内还放置有气流扩散控制装置，所述气流扩散控制装置包括第一气流扩散控制片和第二气流扩散控制片，所述第一气流扩散控制片位于所述锆金属箔的一个表面侧，所述第二气流扩散控制片位于所述锆金属箔的另一表面侧；
在真空反应腔中控制均匀通入C2H2和Ar混合气源，所述混合气源通过所述第一气流扩散控制片吹到所述锆金属箔的一个表面，所述混合气源通过所述第二气流扩散控制片吹到所述锆金属箔的另一个表面，在所述锆金属箔的两个表面生长碳纳米管5～20min，形成所述碳纳米管阵列，其中，所述真空反应腔中总气压在10～100Torr,生长温度为500～900℃。
可选的，所述第一气流扩散控制片与锆金属箔的一个表面的距离0.1mm～20mm,所述第一气流扩散控制片上的通孔的尺寸0.1mm～10.0mm，通孔的数量1～100个/cm2，此种条件下，真空腔在极小范围的混合气源的通过气流可以保证相对均匀稳定，从而确保碳纳米管阵列均匀生长。
可选的，所述混合气源中，C2H2占2～50％，Ar占50～98％，此比例范围的混合气源可以有效保证碳纳米管生长高密度的碳纳米管阵列。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。
以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (20)

1.一种热界面材料，其特征在于，包括锆金属箔和碳纳米管阵列，所述锆金属箔具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面，所述碳纳米管阵列中碳纳米管分布在所述第一表面和所述第二表面，所述锆金属箔的第一表面和第二表面包括裸露的锆金属。
2.根据权利要求1所述的材料，其特征在于，所述锆金属箔的第一表面和第二表面均为裸露的锆金属。
3.根据权利要求1或2所述的材料，其特征在于，所述碳纳米阵列中碳纳米管垂直于所述第一表面和所述第二表面。
4.根据权利要求1至3中任一所述的材料，其特征在于，所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙中填充有树脂。
5.根据权利要求4所述的材料，其特征在于，所述树脂的热导率大于0.1W/m.k。
6.根据权利要求1至5中任一所述的材料，其特征在于，所述碳纳米管阵列中纳米管分布在所述第一表面的碳纳米管阵列的密度与分布在所述第二表面的碳纳米管阵列的密度相等。
7.根据权利要求1至6中任一所述的材料，其特征在于，
所述热界面材料中碳纳米管的质量密度为0.16～0.5g/cm3。
8.根据权利要求1至7中任一所述的材料，其特征在于，
所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间的空隙在10～100nm。
9.根据权利要求1至8中任一所述的材料，其特征在于，
所述锆金属箔厚度为10～100μm。
10.一种热界面材料的制备方法，其特征在于，包括：
在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管，以在所述锆金属箔的两个表面均形成碳纳米管阵列；
在所述锆金属箔的两个表面均形成所述碳纳米管阵列之后，对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，以得到所述热界面材料，所述热界面材料中锆金属箔的两个表面包括裸露的锆金属。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述热界面材料中锆金属箔的两个表面均为裸露的锆金属。
12.根据权利要求10或11所述的方法，其特征在于，
所述对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应，包括：
将两个表面生长有所述碳纳米管阵列的锆金属箔放在H2气氛中进行退火还原处理。
13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，在所述H2气氛中进行退火还原处理过程中，H2流量为5～100SCCM，气压为0.005～0.5MPa，退火处理温度为350～650℃，退火处理时间为5～30min。
14.根据权利要求10至13中任一所述的方法，其特征在于，所述在对所述锆金属箔的两个表面进行还原反应之后，所述方法还包括：
在真空中采用蒸渡工艺，在所述碳纳米管阵列中相邻两个碳纳米管之间填充树脂，得到热界面材料。
15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述蒸渡工艺条件：
温度为100～300℃，工作气压为5～50Torr。
16.根据权利要求10至15中任一所述的方法，其特征在于，
所述在锆金属箔的两个表面生长碳纳米管，以在所述锆金属箔的两个表面均形成碳纳米管阵列，包括：
在锆金属箔的两个表面分布金属颗粒催化剂后，将两个表面分布有催化剂的所述锆金属箔放入真空反应腔中，所述真空反应腔内还放置有气流扩散控制装置，所述气流扩散控制装置包括第一气流扩散控制片和第二气流扩散控制片，所述第一气流扩散控制片位于所述锆金属箔的一个表面侧，所述第二气流扩散控制片位于所述锆金属箔的另一表面侧；
在真空反应腔中控制均匀通入C2H2和Ar混合气源，所述混合气源通过所述第一气流扩散控制片吹到所述锆金属箔的一个表面，所述混合气源通过所述第二气流扩散控制片吹到所述锆金属箔的另一个表面，在所述锆金属箔的两个表面生长碳纳米管5～20min，形成所述碳纳米管阵列，其中，所述真空反应腔中总气压在10～100Torr,生长温度为500～900℃。
17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述第一气流扩散控制片与锆金属箔的一个表面的距离0.1mm～20mm,所述第一气流扩散控制片上的通孔的尺寸0.1mm～10.0mm，通孔的数量1～100个/cm2。
18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，所述第二气流扩散控制片与锆金属箔的另一个表面的距离0.1mm～20mm,所述第二气流扩散控制片上的通孔的尺寸0.1mm～10.0mm，通孔的数量1～100个/cm2。
19.根据权利要求16至18中任一所述的方法，其特征在于，
所述混合气源中，C2H2占2～50％，Ar占50～98％。
20.一种散热系统，其特征在于，包括发热件、散热器以及导热片，所述导热片由如权利要求1至9中任一所述的热界面材料制成，所述发热件位于所述散热器一侧，所述导热片贴置于所述发热件与所述散热器之间，以使所述发热件通过所述导热片将热量传递至所述散热器来进行散热。
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