CN105630232A - 输入装置、输入装置的控制方法以及程序 - Google Patents

Abstract

本发明涉及输入装置、输入装置的控制方法以及程序，能够降低因噪声引起的检测错误的影响。通过传感器部(10)对检测面的多个位置处的物体的接近程度周期性进行检测，按每个周期生成表示该检测结果的一组检测数据。传感器部(10)中生成的一组检测数据被检测数据取得部(22)按每个周期取得。在错误判定部(23)中，根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，按每个周期判定有无因噪声引起的检测动作的错误。当通过错误判定部(23)判定为在一个周期的检测动作中有错误的情况下，检测数据取得部(22)跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

Description

输入装置、输入装置的控制方法以及程序

技术领域

本发明涉及利用静电电容的变化等来输入与物体的接近状态对应的信息的输入装置及其控制方法及程序，尤其涉及在计算机等各种信息设备中输入与手指或笔等的操作对应的信息的输入装置。

背景技术

检测静电电容的变化的传感器由于能够以简易的构成检测出物体(手指或笔等)的接近，所以在笔记本型计算机的触摸板、智能电话的触摸面板等各种电子设备的用户接口装置中被广泛使用。

在下述的专利文献1中，记载了一种具备配置有多个电极的触摸面板部的触摸面板装置。通过从触摸面板部的多个电极中决定扫描电极，并针对该决定出的扫描电极操作触摸面板部，能够取得反映了各电极的静电电容的变化的计测值，并基于该取得的计测值来检测有无对触摸面板部的触摸。

专利文献1：国际公开第2012/117437号

然而，这样的输入装置由于构成为能够高灵敏度地检测接近传感器的检测面的物体，所以尤其存在在传感器中容易受到来自外部的电磁噪声影响这一问题。例如在上述的静电电容式的传感器的情况下，由于会将与物体的接近相伴的电极的静电电容的变化检测为微小的电荷量的变化，所以存在因噪声的影响而容易发生物体的坐标、接触状态的误检测这一问题。

发明内容

本发明鉴于该情况而提出，其目的在于，提供一种能够降低因噪声引起的检测错误的影响的输入装置、该输入装置的控制方法以及程序。

本发明的第一个观点涉及一种输入与物体对检测面的接近状态对应的信息的输入装置。该输入装置具有：传感器部，检测所述检测面的多个位置处的物体的接近程度，针对所述多个位置的每个位置生成表示该检测结果的检测数据；传感器控制部，对所述传感器部进行控制，以使其进行按每个周期生成所述多个位置处的所述检测数据的周期性的检测动作；检测数据取得部，按所述检测动作的每个周期，取得针对所述多个位置生成的多个所述检测数据；以及错误判定部，根据所述检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，按每个周期判定有无因噪声引起的所述检测动作的错误。所述检测数据取得部在通过所述错误判定部判定为一个周期的检测动作有错误的情况下，跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

根据上述的构成，由所述传感器部周期性生成表示所述检测面的多个位置处的物体的接近程度的多个检测数据。按所述传感器部的周期性的检测动作的每个周期，由所述检测数据取得部取得针对所述多个位置生成的所述多个检测数据。另外，在所述错误判定部中，根据所述检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，按每个周期判定有无因噪声引起的所述检测动作的错误。在所述错误判定部判定为一个周期的检测动作中有错误的情况下，所述检测数据取得部跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

因此，能够根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，来准确地判定有无因噪声引起的检测动作的错误。另外，由于在判定为有因噪声引起的检测动作的错误的周期中生成的检测数据的取得处理被跳过，所以能够有效地降低因噪声引起的检测错误的影响。

优选所述错误判定部按所述检测动作的每个周期，计算出与所述检测数据的时间性变化的程度进一步在位置上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

该情况下，所述错误判定部可以针对所述多个位置的至少一部分计算所述评价值，所述评价值与所述检测动作的连续的多个周期中的所述检测数据的时间性变化量之差、即所述检测面的一个位置处的所述时间性变化量和该一个位置所相邻的位置处的所述时间性变化量之差相对应。

优选所述错误判定部按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的位置性变化的程度进一步在时间上发生变化的程度对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

该情况下，所述错误判定部针对所述多个位置的至少一部分计算与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差在所述检测动作的连续的多个周期中发生变化的量相对应的所述评价值。

优选所述错误判定部将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值之和与规定的阈值进行比较，根据该比较结果来判定所述检测动作的错误的有无。

由此，能够容易地掌握因噪声而局部产生的检测数据的变化。

优选所述错误判定部将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值与规定的阈值分别进行比较，在该比较结果满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到了规定的数量的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

由此，仅非常小的区域的检测数据因噪声而大幅变化的情况难以被判定为所述检测动作的错误。

优选所述错误判定部按所述检测动作的每个周期，针对所述多个位置的至少一部分计算与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差相对应的第一评价值、以及与所述检测动作的连续的两个周期中的所述检测数据的时间性变化量相对应的第二评价值，在该计算出的第一评价值以及第二评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

该情况下，所述错误判定部根据将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第一评价值之和与第一阈值进行比较的结果、以及将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第二评价值之和与第二阈值进行比较的结果，来判定所述检测动作的错误的有无。

或者，所述错误判定部以将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第一评价值与第一阈值分别进行比较的结果中满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量、以及/或者将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第二评价值与规定的第二阈值分别进行比较的结果中满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量为条件，来判定为有所述检测动作的错误。

本发明的第二观点涉及一种计算机控制输入装置的方法，所述输入装置具备在检测面的多个位置进行物体的接近程度检测并针对所述多个位置的每个生成表示该检测结果的检测数据的传感器部，该输入装置用于输入与所述物体对检测面的接近状态对应的信息。该输入装置的控制方法具有：对所述传感器部进行控制，以使其进行按每个周期生成所述多个位置处的所述检测数据的周期性的检测动作的步骤；按所述检测动作的每个周期，取得针对所述多个位置生成的多个所述检测数据的步骤；以及按所述检测动作的每个周期，根据所述检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，来判定有无因噪声引起的所述检测动作的错误的步骤。取得所述检测数据的步骤在判定所述错误的步骤中判定为在一个周期的检测动作中存在错误的情况下，跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

优选判定所述错误的步骤按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的时间性变化的程度进一步在位置上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

该情况下，判定所述错误的步骤可以针对所述多个位置的至少一部分计算所述评价值，所述评价值与所述检测动作的连续的多个周期中的所述检测数据的时间性变化量之差、即所述检测面的一个位置处的所述时间性变化量与该一个位置所相邻的位置处的所述时间性变化量之差相对应。

优选判定所述错误的步骤按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的位置性变化的程度进一步在时间上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

该情况下，判定所述错误的步骤可以针对所述多个位置的至少一部分计算与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差在所述检测动作的连续的多个周期中发生变化的量相对应的所述评价值。

优选判定所述错误的步骤将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值之和与规定的阈值进行比较，根据该比较结果来判定所述检测动作的错误的有无。

优选判定所述错误的步骤将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值与规定的阈值分别进行比较，在该比较结果满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

优选判定所述错误的步骤按所述检测动作的每个周期，针对所述多个位置的至少一部分计算与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差相对应的第一评价值、以及与所述检测动作的连续的两个周期中的所述检测数据的时间性变化量相对应的第二评价值，在该计算出的第一评价值以及第二评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

本发明的第三观点涉及一种用于使计算机执行本发明的第二观点涉及的上述输入装置的控制方法的程序。

根据本发明，能够降低因噪声引起的检测错误的影响。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式涉及的输入装置的构成的一个例子的图。

图2A和图2B是表示按检测动作的每个周期从传感器部输入的检测数据组的一个例子的图。图2A表示在最近的周期中输入的检测数据组。图2B表示在比图2A所示的检测数据组靠前的一个周期中输入的检测数据组。

图3A和图3B是用于对检测数据的时间性变化量的位置的分布在因噪声而引起的情况与在因物体的近接而引起的情况下不同进行说明的图。图3A表示因噪声的影响而出现的检测数据的时间性变化量的分布，图3B表示因物体的接近而出现的检测数据的时间性变化量的分布。

图4是用于对第一实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。

图5是用于对第二实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。

图6是用于对第三实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。

图7是用于对第四实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的第一流程图。

图8是用于对第四实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的第二流程图。

图9是用于对第五实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的第一流程图。

图10是用于对第五实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的第二流程图。

具体实施方式

＜第一实施方式＞

图1是表示本发明的实施方式涉及的输入装置的构成的一个例子的图。

图1所示的输入装置具有传感器部10、处理部20、存储部30、和接口部40。本实施方式涉及的输入装置是通过使手指或笔等物体接近设有传感器的检测面，来输入与该接近状态对应的信息的装置。其中，本说明书中的“接近”包括以接触的状态处于附近和以不接触的状态处于附近这两者。

[传感器部10]

传感器部10在分布于检测面的多个检测位置分别检测手指或笔等物体的近接的程度。例如传感器部10具有：传感器矩阵11，以矩阵状形成有静电电容根据物体的接近而变化的电容性传感器元件(电容器)12；检测数据生成部13，生成与电容性传感器元件12的静电电容对应的检测数据；和驱动部14，对电容性传感器元件12施加驱动电压。

传感器矩阵11具备沿纵向(Y方向)延伸的多个驱动电极Lx、和沿横向(X方向)延伸的多个检测电极Ly。多个驱动电极Lx沿横向(X方向)平行排列，多个检测电极Ly沿纵向(Y方向)平行排列。多个驱动电极Lx与多个检测电极Ly以栅格状交叉，并相互绝缘。在驱动电极Lx与检测电极Ly的交叉部附近形成有电容性传感器元件12。此外，在图1的例子中电极(Lx，Ly)的形状被描绘成长方形，但也可以是其他的任意形状(菱形图案等)。

驱动部14对传感器矩阵11的各电容性传感器元件12施加驱动电压。具体而言，驱动部14根据处理部20的控制，从多个驱动电极Lx中按顺序选择一个驱动电极Lx，使该选择出的一个驱动电极Lx的电位周期性变化。通过驱动电极Lx的电位在规定的范围发生变化，对在该驱动电极Lx与检测电极Ly的交叉点附近形成的电容性传感器元件12施加的驱动电压在规定的范围变化，由此在电容性传感器元件12中发生充电或放电。

检测数据生成部13生成与在电容性传感器元件12伴随着驱动部14对驱动电压的施加而进行充电或者放电之际在各检测电极Ly中传输的电荷对应的检测数据。即，检测数据生成部13在与驱动部14的驱动电压的周期性性变化同步的定时，对在各检测电极Ly中传输的电荷进行取样，生成与该取样的结果对应的检测数据。

例如，检测数据生成部13具有：静电电容－电压转换电路(CV转换电路)，输出与电容性传感器元件12的静电电容对应的电压；和模拟－数字转换电路(AD转换电路)，将CV转换电路的输出信号转换成数字信号，并作为检测数据而输出。

每当驱动部14的驱动电压周期性变化而电容性传感器元件12进行充电或者放电时，CV转换电路便根据处理部20的控制，对在检测电极Ly中传输的电荷进行取样。具体而言，CV转换电路每当在检测电极Ly中传输正或者负的电荷时，便将该电荷或者与该电荷成比例的电荷移送至参照用的电容器，输出与参照用的电容器所产生的电压对应的信号。例如，CV转换回路输出与在检测电极Ly中周期性传输的电荷或者和在检测电极Ly中周期性传输的电荷成比例的电荷的累计值、平均值对应的信号。AD转换电路根据处理部20的控制，将CV转换电路的输出信号以规定的周期转换成数字信号，并作为检测数据而输出。

此外，上述的例子中表示的传感器部10是根据电极间(Lx，Ly)所产生的静电电容(互电容)的变化来检测物体的接近的部件，但并不局限于该例，也可以通过其他各种方式来检测物体的接近。例如，传感器部10也可以是对因物体的接近而在电极与接地之间产生的静电电容(自电容)进行检测的方式。在检测自电容的方式的情况下，检测电极被施加驱动电压。另外，传感器部10并不限定于静电电容方式，例如也可以是电阻膜方式或电磁引导式等。

[处理部20]

处理部20是对输入装置的整体的动作进行控制的电路，例如构成为包括根据存储部30中储存的程序的指令码来进行处理的计算机、实现特定的功能的逻辑电路。处理部20的处理可以全部由计算机和程序实现，也可以由专用的逻辑电路实现其一部分或者全部。

在图1的例子中，处理部20具有传感器控制部21、检测数据取得部22、错误判定部23、和检测数据处理部24。

传感器控制部21对传感器部10进行控制，以使其进行按每个周期生成检测面的多个检测位置(传感器矩阵11的各电容性传感器元件12)处的检测数据的周期性的检测动作。具体而言，传感器控制部21以驱动部14中的驱动电极的选择和脉冲电压的产生、以及检测数据生成部13中的检测电极的选择和检测数据的生成被周期性地以适当的定时进行的方式，来控制这些电路。

检测数据取得部22按传感器部10的检测动作的每个周期，从传感器部10取得针对检测面的多个检测位置生成的多个检测数据(检测数据组)。其中，当在后述的错误判定部23中判定为一个周期的检测动作中存在错误时，检测数据取得部22跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

例如，检测数据取得部22按检测动作的每个周期被从传感器部10输入检测数据组，将该检测数据组作为输入数据DI保存于存储部30。检测数据取得部22对于在被错误判定部23判定为没有错误的周期中生成的输入数据DI，将其作为输出数据DO保存于存储部30。另一方面，检测数据取得部22对于在判定为有错误的周期中生成的输入数据DI，不将其作为输出数据DO而不保存于存储部30。对于因错误判定而存储部30的输出数据DO不被更新的周期，例如视为与上次的周期取得了同一值的检测数据组(输出数据DO)的周期而进行后级逻辑块(检测数据处理部24等)的处理。

错误判定部23根据在传感器部10中生成的检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，按每个周期判定有无因噪声引起的检测动作的错误。

例如，错误判定部23按传感器部10的检测动作的每个周期，计算出与检测数据的时间性变化的程度进一步在位置上发生变化的程度对应的评价值E，在该计算出的评价值E满足规定的错误判定条件的情况下，判定为传感器部10的检测动作有错误。

具体而言，错误判定部23计算出与在连续的多个周期中生成的检测数据的时间性变化量之差对应的评价值E。

这里“时间性变化量”是在连续的多个周期中生成的同一检测位置的检测数据的变化量。例如，将连续的两个周期中的检测数据之差、或与连续的3个以上周期中的检测数据的变化的大小相关的值(最大值与最小值之差、方差、标准偏差等)作为“时间性变化量”。

另外，“检测数据的时间性变化量之差”是检测面的一个检测位置处的时间性变化量、与和该一个检测位置相邻的检测位置处的时间性变化量之差。“相邻的检测位置”可以是一个，也可以是多个。在“相邻的检测位置”为多个的情况下，例如可以将一个检测位置中的时间性变化量、与和该一个检测位置相邻的多个检测位置处的时间性变化量的平均值之差作为“检测数据的时间性变化量之差”。

错误判定部23针对检测面的多个检测位置处的至少一部分的检测位置计算与“检测数据的时间性变化量之差”对应的评价值E，并求出这些评价值E的和S。错误判定部23将计算出的评价值E的和S与规定的阈值TH1进行比较，根据该比较结果来判定检测动作的错误的有无。

例如错误判定部23使用由检测数据取得部22从传感器部10按每个周期输入的检测数据组(输入数据DI、输入数据OLD)，来进行评价值E的计算。

图2A和图2B是表示按检测动作的每个周期从传感器部10输入的检测数据组(输入数据DI)的一个例子的图。图2A表示在最近的周期中被输入的检测数据组(输入数据DI)，图2B表示在比输入数据DI靠前的一个周期中被输入的检测数据组(输入数据OLD)。

图2A和图2B的例子所示的检测数据组(输入数据DI、OLD)形成行列状的二维数据。“DI[n][m]”表示输入数据DI中的m行n列的行列要素，“OLD[n][m]”表示输入数据OLD中的m行n列的行列要素。

该二维数据的各行列要素表示针对在检测面中被配置成行列状的M×N个检测位置的每个生成的检测数据。若将检测位置的行列状的配置中的行方向设为X方向、将列方向设为Y方向，则二维数据的行编号与列编号分别表示检测位置的X坐标和Y坐标。即，二维数据中的m行n列的要素表示针对检测面中的X坐标为“n”、Y坐标为“m”的检测位置(以下记作“检测位置P(n，m)”)生成的检测数据。

检测位置P(n，m)处的评价值E(n，m)例如由下式表示。

【数学式1】

$E(n,m)={\{\frac{dDI}{dt}(n+1,m)-\frac{dDI}{dt}(n,m)\}}^2\mathrm{...}\left(1\right)$

式(1)中的“dDI(n，m)/dt”表示针对检测位置P(n，m)生成的检测数据的时间性变化量。另外“dDI(n+1，m)/dt”表示针对检测位置P(n+1，m)生成的检测数据的时间性变化量。这些时间性变化量例如由下式表示。

【数学式2】

$\frac{dDI}{dt}(n+1,m)=DI\[n+1\]\[m\]-OLD\[n+1\]\[m\]\mathrm{...}(2-1)$

$\frac{dDI}{dt}(n,m)=DI\[n\]\[m\]-OLD\[n\]\[m\]\mathrm{...}(2-2)$

错误判定部23例如通过下式来计算检测面的整体中的评价值E(n，m)之和S。

【数学式3】

$S=\underset{m=0}{\overset{M-1}{\Σ}}\underset{n=0}{\overset{N-2}{\Σ}}E(n,m)\mathrm{...}\left(3\right)$

错误判定部23在该和S大于规定的阈值TH1的情况下，判定为存在因噪声引起的检测动作的错误。

检测数据处理部24基于在检测数据取得部22中按每个周期取得的输出数据DO，来进行计算物体接近的位置的坐标的处理、判定物体的种类的处理等。

例如，检测数据处理部24运算由检测数据取得部22取得的行列形式的输出数据DO与存储部30的其他存储区域(基(base)值存储器)中预先储存的行列形式的基值之差，并将这些运算结果作为行列形式的二维数据储存于存储部30。在基值存储器中存储有物体不接近检测面的状态下的成为检测数据的基准的值(基值)。

检测数据处理部24基于表示从该基值起的变化量的二维数据，来确定检测面上的物体的接近区域，并根据确定出的接近区域的形状、该接近区域内的数据值的分布等来计算物体的坐标。另外，检测数据处理部24基于被计算出坐标的物体在检测面中的接近区域的面积、接近区域内的数据值的大小等，来判定物体的接触的有无、物体的种类(手指/手掌)。

[存储部30]

存储部30存储在处理部20中处理所使用的常量数据、变量数据。在处理部20包括计算机的情况下，存储部30也可以存储在该计算机中执行的程序。存储部30例如构成为包括DRAM或SRAM等易失性存储器、闪存等非易失性存储器、硬盘等。

[接口部40]

接口部40是用于输入装置与其他控制装置(搭载输入装置的信息设备的控制用IC等)之间交换数据的电路。处理部20将存储部30中存储的信息(物体的坐标信息、物体数等)从接口部40输出至未图示的控制装置。另外，接口部40也可以从未图示的盘驱动装置(读取在非暂时性记录介质中记录的程序的装置)、服务器等取得在处理部20的计算机中执行的程序，并装载到存储部30。

接下来，对具有上述的构成的输入装置中的检测动作的错误判定和与之对应的检测数据的取得进行说明。

图3A和图3B是用于对检测数据的时间性变化量的位置分布在因噪声引起的情况下和因物体的接近引起的情况下不同进行说明的图。图3A表示因噪声的影响而出现的检测数据的时间性变化量的分布，图3B表示因物体(手指等)的接近而出现的检测数据的时间性变化量的分布。

在检测数据因手指等物体的接近而变化的情况下，其时间性变化量如图3B中所示那样比较小，另外，时间性变化量的位置性变化比较缓慢地出现。与此相对，在检测数据因噪声的影响而变化的情况下，其时间性变化量如在图3A中所示那样变大，时间性变化量的位置性变化陡峭地出现。

因此，在检测数据因噪声的影响而变化的情况下，由于式(2－1)、(2－2)所示的时间性变化量变大，将这些时间性变化量之差乘方而得到的式(1)的评价值E(n，m)也变大，所以将评价值E(n，m)相加的式(3)的和S成为大的值。因此，在和S超过规定的阈值TH1的情况下，能够判定为存在因噪声引起的检测动作的错误。

图4是用于对第一实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。

ST100：

在开始动作时，处理部20对存储部30中存储的输入数据DI、OLD以及输出数据DO进行初始化。

ST110：

检测数据取得部22被从传感器部10输入1个周期量的检测数据组(与检测面中的N×M个检测位置对应的N×M个检测数据)，将其作为输入数据DI而储存于存储部30。

ST120：

错误判定部23将表示检测位置的Y坐标的“m”与表示评价值E之和的“S”初始化为零。

ST130：

错误判定部23将表示检测位置的X坐标的“n”初始化为零。

ST140：

错误判定部23参照存储部30中存储的最近的输入数据DI和上次的输入数据OLD，计算出检测位置P(n，m)处的评价值E(n，m)。此外，基于输入数据DI与上次的输入数据OLD的评价值E的计算并不限定于式(1)所示那样的平方的运算。例如，也可以取代式(1)中的平方的运算而计算绝对值，还可以进行二分之一次方(平方根)的运算或四次方的运算。

ST150：

错误判定部23将在步骤ST140中计算出的评价值E(n，m)与和S相加。

ST240、ST250：

错误判定部23对表示检测位置的X坐标的“n”加上“1”，并判定该“n”是否为“N－1”以上。在“n”小于“N－1”的情况下，错误判定部23返回到步骤ST140，反复进行上述的评价值E(n，m)的计算与和S的更新。在“n”为“N－1”以上的情况下，错误判定部23移至接下来的步骤ST310。

ST310、ST320：

错误判定部23对表示检测位置的Y坐标的“m”加上“1”，并判定该“m”是否为“M”以上。在“m”小于“M”的情况下，错误判定部23返回到步骤ST130，反复进行步骤ST130～ST250的处理。在“m”为“M”以上的情况下，错误判定部23移至接下来的步骤ST330。

ST330：

错误判定部23将检测面的整体的评价值E相加后的结果即和S与阈值TH1进行比较。在和S小于阈值TH1的情况下，错误判定部23判定为没有传感器部10的检测动作的错误。在和S为阈值TH1以上的情况下，错误判定部23判定为有检测动作的错误。

ST350：

当在错误判定部23中判定为没有错误的情况下，检测数据取得部22将在最近的周期中从传感器部10输入的输入数据DI作为输出数据DO储存于存储部30(检测数据取得处理)。另一方面，当在错误判定部23中判定为有错误的情况下，检测数据取得部22跳过该检测数据取得处理。在检测数据取得处理被跳过的周期中，存储部30中储存的输出数据DO不被更新。

ST360：

错误判定部23将存储部30中存储的输入数据DI代入到输入数据OLD，并返回至步骤ST110。由此，在最近的周期的输入数据DI作为上次的周期的输入数据OLD被保存于存储部30的基础上，输入数据DI被更新为最新的值。

如以上说明那样，根据本实施方式涉及的输入装置，能够根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，来可靠地判定因噪声引起的检测动作的错误的有无。另外，由于通过在判定为存在因噪声引起的检测动作的错误的周期中生成的检测数据的取得处理被跳过，能够防止基于错误的检测数据进行坐标的计算等，所以能够有效地降低因噪声引起的检测错误的影响。

另外，根据本实施方式涉及的输入装置，由于基于将检测面的各检测位置处的评价值E相加而得到的和S来判定检测动作的错误的有无，所以能够容易地掌握因噪声的影响而局部产生的检测数据的变化，可更加准确地判定错误的有无。

＜第二实施方式＞

接下来，对本发明的第二实施方式进行说明。

第二实施方式涉及的输入装置是变更了第一实施方式涉及的输入装置中的错误判定部23的判定动作的输入装置，其他构成与第一实施方式涉及的输入装置相同。

第二实施方式中的错误判定部23按传感器部10的检测动作的每个周期，计算出与检测数据的位置性变化的程度进一步在时间上发生变化的程度对应的评价值EA。错误判定部23在评价值EA满足规定的错误判定条件的情况下，判定为存在传感器部10的检测动作的错误。

具体而言，错误判定部23在检测动作的连续的多个周期中，计算出与检测数据的位置性变化量进一步在时间上发生了变化的量对应的评价值EA。

这里“位置性变化量”是检测面的一个位置处的检测数据、与和该一个位置相邻的位置处的检测数据之差。“相邻的检测位置”可以是一个，也可以是多个。在“相邻的检测位置”为多个的情况下，例如可以将一个检测位置处的检测数据、与和该一个检测位置相邻的多个检测位置处的检测数据的平均值之差作为“位置性变化量”。

另外，“位置性变化量进一步在时间上发生了变化的量”是同一检测位置的位置性变化量在连续的多个周期中发生了变化的量。例如，可以将连续的两个周期中的位置性变化量之差、或与连续的3个以上周期中的位置性变化量的变化的大小相关的值(最大值与最小值之差、方差、标准偏差等)作为“位置性变化量进一步在时间上发生了变化的量”。

错误判定部23针对检测面的多个检测位置处的至少一部分的检测位置计算与“位置性变化量进一步在时间上发生了变化的量”对应的评价值EA，并求出它们的和SA。错误判定部23将计算出的评价值EA的和SA与规定的阈值TH1进行比较，基于该比较结果来判定检测动作的错误的有无。

检测位置P(n，m)处的评价值EA(n，m)例如由下式表示。

【数学式4】

$EA(n,m)={\{\frac{dDI}{dx}(n,m)-\frac{dOLD}{dx}(n,m)\}}^2\mathrm{...}\left(4\right)$

式(4)中的“dDI(n，m)/dx”表示针对检测位置P(n，m)计算的输入数据DI的检测数据的位置性变化量。另外“dOLD(n，m)/dx”表示针对检测位置P(n，m)计算的输入数据OLD的检测数据的位置性变化量。这些位置性变化量例如由下式表示。

【数学式5】

$\frac{dDI}{dx}(n,m)=DI\[n+1\]\[m\]-DI\[n\]\[m\]\mathrm{...}\left(5\right)$

$\frac{dOLD}{dx}(n,m)=OLD\[n+1\]\[m\]-OLD\[n\]\[m\]\mathrm{...}\left(5\right)$

错误判定部23例如通过下式来计算检测面的整体中的评价值EA(n，m)之和SA。

【数学式6】

$SA=\underset{m=0}{\overset{M-1}{\Σ}}\underset{n=0}{\overset{N-2}{\Σ}}EA(n,m)\mathrm{...}\left(6\right)$

错误判定部23在该和SA大于规定的阈值TH1的情况下，判定为有因噪声引起的检测动作的错误。

图5是用于对第二实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。图5所示的流程图将图4所示的流程图中的步骤ST120变更为步骤ST120A、将步骤ST140、ST150变更为步骤ST140A、ST150A，将步骤ST330变更为步骤ST330A，其他步骤与图4所示的流程图相同。这里，仅对变更了的步骤进行说明。

ST120A：

错误判定部23将表示检测位置的Y坐标的“m”和表示评价值EA的和的“SA”初始化为零。

ST140A：

错误判定部23参照存储部30中存储的最近的输入数据DI和上次的输入数据OLD，来计算检测位置P(n，m)处的评价值EA(n，m)。

ST150A：

错误判定部23将在步骤ST140A中计算出的评价值EA(n，m)与和SA相加。

ST330A：

错误判定部23将检测面的整体的评价值EA相加而得到的结果即和SA与阈值TH1进行比较。在和SA小于阈值TH1的情况下，错误判定部23判定为没有传感器部10的检测动作的错误。在和SA大于阈值TH1的情况下，错误判定部23判定为有检测动作的错误。

在以上说明的第二实施方式涉及的输入装置中，也能够起到与第一实施方式涉及的输入装置同样的效果。即，能够根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度来准确地判定因噪声引起的检测动作的错误的有无。另外，由于在判定为有因噪声引起的检测动作的错误的周期中生成的检测数据的取得处理被跳过，所以能够有效地降低因噪声引起的检测错误的影响。

＜第三实施方式＞

接下来，对本发明的第三实施方式进行说明。

第三实施方式涉及的输入装置是变更了第一实施方式涉及的输入装置中的错误判定部23的判定动作的输入装置，其他构成与第一实施方式涉及的输入装置相同。

第三实施方式中的错误判定部23针对检测面中的多个检测位置的至少一部分计算表示检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度的评价值E(例如式(1))，将该计算出的评价值E与规定的阈值TH2分别进行比较。而且，数出该比较结果满足规定的大小关系(例如“E≥TH2”)的条件的检测位置的数量“K”，在该计数值K达到了规定的阈值TH3的情况下，判定为有检测动作的错误。

图6是用于对第三实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。图6所示的流程图将图4所示的流程图中的步骤ST120变更为步骤ST120B、将步骤ST150置换为步骤ST160以及ST170、将步骤ST330置换为步骤ST340，其他步骤与图4所示的流程图相同。这里，仅对变更或者置换后的步骤进行说明。

ST120B：

错误判定部23将表示检测位置的Y坐标的“m”和计数值K初始化为零。

ST160、ST170：

错误判定部23将在步骤ST140中计算出的评价值E与阈值TH2进行比较，在评价值E大于阈值TH2的情况下对计数值K加“1”。在评价值E小于阈值TH2的情况下，错误判定部23维持计数值K的值。

ST340：

错误判定部23将评价值E大于阈值TH2的检测位置的数量即计数值K与规定的阈值TH3进行比较。在计数值K小于阈值TH3的情况下，错误判定部23判定为没有传感器部10的检测动作的错误。在计数值K大于阈值TH3的情况下，错误判定部23判定为有检测动作的错误。

此外，在上述的流程图的例子中，错误判定部23将式(1)的评价值E与阈值TH2进行比较，但也可以取代评价值E而将式(4)的评价值EA与阈值TH2进行比较。

在以上说明的第三实施方式涉及的输入装置中，也能够起到与第一实施方式涉及的输入装置同样的效果。即，能够根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度来准确地判定因噪声引起的检测动作的错误的有无。另外，由于在判定为有因噪声引起的检测动作的错误的周期中生成的检测数据的取得处理被跳过，所以能够有效地降低因噪声引起的检测错误的影响。

并且，在本实施方式的输入装置中，即使评价值E、评价值EA因噪声而局部成为极大的值，在该区域非常小的情况，也能够不判定为检测面整体的检测动作的错误。由于在非常小的区域中产生的检测数据的错误有可能被后级的滤波处理除去，所以通过在这样的情况下不判定为检测面整体的检测动作的错误，能够抑制因检测数据的取得处理被暂时停止而引起物体的检测性能降低。

＜第四实施方式＞

接下来，对本发明的第四实施方式进行说明。

第四实施方式涉及的输入装置是变更了第一实施方式涉及的输入装置中的错误判定部23的判定动作的输入装置，其他构成与第一实施方式涉及的输入装置相同。

第四实施方式中的错误判定部23针对检测面中的多个检测位置的至少一部分计算与检测数据的位置性变化量对应的第一评价值E1、以及与检测数据的时间性变化量对应的第二评价值E2，在该计算出的第一评价值E1以及第2评价值E2满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有传感器部10的检测动作的错误。

这里，“位置性变化量”是检测面的一个位置处的检测数据与和该一个位置相邻的位置处的检测数据之差。“相邻的检测位置”可以是一个，也可以是多个。在“相邻的检测位置”为多个的情况下，例如可以将一个检测位置处的检测数据与和该一个检测位置相邻的多个检测位置处的检测数据的平均值之差作为“位置性变化量”。

另外，“时间性变化量”是在连续的多个周期中生成的同一检测位置的检测数据的变化量。例如，可以将连续的两个周期中的检测数据之差、或与连续的3个以上周期中的检测数据的变化的大小相关的值(最大值与最小值之差、方差、标准偏差等)作为“时间性变化量”。

检测位置P(n，m)处的与“位置性变化量”对应的第一评价值E1例如由下式表示。

【数学式7】

$E1(n,m)={\left\{\frac{dDI}{dx}(n,m)\right\}}^2={\{DI\[n+1\]\[m\]-DI\[n\]\[m\]\}}^2\mathrm{...}\left(7\right)$

另外，检测位置P(n，m)处的与“时间性变化量”对应的第二评价值E2例如由下式表示。

【数学式8】

$E2(n,m)={\left\{\frac{dDI}{dt}(n,m)\right\}}^2={\{DI\[n\]\[m\]-OLD\[n\]\[m\]\}}^2\mathrm{...}\left(8\right)$

错误判定部23例如通过下式来计算检测面的整体中的第一评价值E1(n，m)之和S1以及第2评价值E2(n，m)之和S2。

【数学式9】

$S1=\underset{m=0}{\overset{M-1}{\Σ}}\underset{n=0}{\overset{N-2}{\Σ}}E1(n,m)\mathrm{...}(9-1)$

$S2=\underset{m=0}{\overset{M-1}{\Σ}}\underset{n=0}{\overset{N-1}{\Σ}}E2(n,m)\mathrm{...}(9-2)$

错误判定部23在该和S1大于规定的阈值TH4并且和S2大于规定的阈值TH5的情况下，判定为有因噪声引起的检测动作的错误。

图7以及图8是用于对第四实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。图7以及图8所示的流程图将图4所示的流程图中的步骤ST120变更为步骤ST120C、将步骤ST140置换成步骤ST140C、ST140D、将步骤ST150置换成步骤ST150C、ST150D，将步骤ST330变更为步骤ST330C，其他步骤与图4所示的流程图相同。这里，仅对变更或者置换后的步骤进行说明。

ST120C：

错误判定部23将表示检测位置的Y坐标的“m”、表示第一评价值E1的和的“S1”、以及表示第二评价值E2的和的“S2”分别初始化为零。

ST140C、ST140D：

错误判定部23参照存储部30中存储的最近的输入数据DI和上次的输入数据OLD，来计算检测位置P(n，m)处的第一评价值E1(n，m)和第二评价值E2(n，m)。

ST150C、ST150D：

错误判定部23将在步骤ST140C中计算出的第一评价值E1(n，m)与和S1相加，将在步骤ST140D中计算出的第二评价值E2(n，m)与和S2相加。

ST330C：

错误判定部23将检测面的整体的第一评价值E1相加而得到的结果即和S1与阈值TH4进行比较，并且，将检测面的整体的第二评价值E2相加而得到的结果即和S2与阈值TH5进行比较。在和S1小于阈值TH4、并且和S2小于阈值TH5的情况下，错误判定部23判定为没有传感器部10的检测动作的错误。另一方面，在和S1大于阈值TH4、或者和S2大于阈值TH5的情况下，错误判定部23判定为有检测动作的错误。

此外，在其他的变形例中，错误判定部23可以在和S1小于阈值TH4、或者和S2小于阈值TH5的情况下，判定为没有传感器部10的检测动作的错误，在和S1大于阈值TH4并且和S2大于阈值TH5的情况下，判定为有传感器部10的检测动作的错误。

在以上说明的第四实施方式涉及的输入装置中，也能够起到与第一实施方式涉及的输入装置同样的效果。即，能够根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度来准确地判定因噪声引起的检测动作的错误的有无。另外，由于在判定为有因噪声引起的检测动作的错误的周期中生成的检测数据的取得处理被跳过，所以能够有效地降低因噪声引起的检测错误的影响。

＜第五实施方式＞

接下来，对本发明的第五实施方式进行说明。

第五实施方式涉及的输入装置是变更了第一实施方式涉及的输入装置中的错误判定部23的判定动作的输入装置，其他构成与第一实施方式涉及的输入装置相同。

第五实施方式中的错误判定部23针对检测面中的多个检测位置的至少一部分计算与检测数据的位置性变化量对应的第一评价值E1(例如式(7))、以及与检测数据的时间性变化量对应的第二评价值E2(例如式(8))。

错误判定部23将计算出的第一评价值E1与规定的阈值TH6分别进行比较，数出该比较结果满足规定的大小关系(例如“E1≥TH6”)的条件的检测位置的数量“K1”。另外，错误判定部23将计算出的第二评价值E2与规定的阈值TH7分别进行比较，数出该比较结果满足规定的大小关系(例如“E2≥TH7”)的条件的检测位置的数量“K2”。

而且，错误判定部23在计数值K1达到了规定的阈值TH8并且计数值K2达到了规定的阈值TH9的情况下，判定为有检测动作的错误。

图9以及图10是用于对第五实施方式涉及的输入装置中的检测动作的错误判定和检测数据的取得所涉及的处理进行说明的流程图。图9以及图10所示的流程图将已经说明了的图7以及图8所示的流程图中的步骤ST120C变更为步骤ST120E、将步骤ST150C置换成步骤ST160E以及ST170E、将步骤ST150D置换成步骤ST160F以及ST170F、将步骤ST330C置换成步骤ST340E，其他步骤与图7以及图8所示的流程图相同。这里，仅对变更或者置换后的步骤进行说明。

ST120E：

错误判定部23将表示检测位置的Y坐标的“m”和计数值K1、K2分别初始化为零。

ST160E、ST170E：

错误判定部23将在步骤ST140C中计算出的第一评价值E1与阈值TH6进行比较，在第一评价值E1大于阈值TH6的情况下对计数值K1加“1”。在第一评价值E1小于阈值TH6的情况下，错误判定部23维持计数值K1的值。

ST160F、ST170F：

错误判定部23将在步骤ST140D中计算出的第二评价值E2与阈值TH7进行比较，在第二评价值E2大于阈值TH7的情况下对计数值K2加“1”。在第二评价值E2小于阈值TH7的情况下，错误判定部23维持计数值K2的值。

ST340E：

错误判定部23将第一评价值E1大于阈值TH6的检测位置的数量即计数值K1与规定的阈值TH8进行比较，并且，将第二评价值E2大于阈值TH7的检测位置的数量即计数值K2与规定的阈值TH9进行比较。在计数值K1小于阈值TH8、并且计数值K2小于阈值TH9的情况下，错误判定部23判定为没有传感器部10的检测动作的错误。在计数值K1大于阈值TH8、或者计数值K2大于阈值TH9的情况下，错误判定部23判定为有检测动作的错误。

此外，在其他变形例中，错误判定部23可以在计数值K1小于阈值TH8、或者计数值K2小于阈值TH9的情况下，判定为没有传感器部10的检测动作的错误，在计数值K1大于阈值TH8、并且计数值K2大于阈值TH9的情况下，判定为有传感器部10的检测动作的错误。

在以上说明的第五实施方式涉及的输入装置中，也能够起到与第一实施方式涉及的输入装置同样的效果。即，能够根据检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度来准确地判定因噪声引起的检测动作的错误的有无。另外，由于在判定为有因噪声引起的检测动作的错误的周期中生成的检测数据的取得处理被跳过，所以能够有效地降低因噪声引起的检测错误的影响。

以上，对本发明的各种实施方式进行了说明，但本发明不限定于上述的实施方式，还包括各种的变更。

例如，上述的各实施方式中的处理部20的各处理模块也可以由计算机和程序构成，还可以使用专用的硬件来构成。

另外，在上述的各实施方式的错误判定部23中，评价值的计算所使用的“检测数据的位置性变化量”是仅X方向的变化量，但该位置性变化量也可以是仅Y方向的变化量，还可以是关于X方向和Y方向这两方(或者3个以上的多个方向)的变化量。

本发明的输入装置并不限定于通过手指等的操作来输入信息的用户接口装置。即，本发明的输入装置能够广泛应用于输入与不限定于人体的各种物体向检测面的接近状态对应的信息的装置。

附图标记说明

10…传感器部，11…传感器矩阵，13…检测数据生成部，14…驱动部，20…处理部，21…传感器控制部，22…检测数据取得部，23…错误判定部，24…检测数据处理部，30…存储部，40…接口部。

Claims (19)

1.一种输入装置，是用于输入与物体对检测面的接近状态相对应的信息的输入装置，其特征在于，具有：

传感器部，检测所述检测面的多个位置处的物体的接近程度，针对所述多个位置中的每个位置生成表示该检测结果的检测数据；

传感器控制部，对所述传感器部进行控制，以便进行按每个周期生成所述多个位置处的所述检测数据的周期性的检测动作；

检测数据取得部，按所述检测动作的每个周期，取得针对所述多个位置生成的多个所述检测数据；以及

错误判定部，根据所述检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，按每个周期判定有无因噪声引起的所述检测动作的错误，

当所述错误判定部判定为在一个周期的检测动作中有错误的情况下，所述检测数据取得部跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

2.根据权利要求1所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的时间性变化的程度进一步在位置上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

3.根据权利要求2所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部针对所述多个位置的至少一部分计算所述评价值，所述评价值与所述检测动作的连续多个周期中的所述检测数据的时间性变化量之差、即所述检测面的一个位置处的所述时间性变化量与该一个位置所相邻的位置处的所述时间性变化量之差相对应。

4.根据权利要求1所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的位置性变化的程度进一步在时间上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

5.根据权利要求4所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部针对所述多个位置的至少一部分计算所述评价值，所述评价值与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差在所述检测动作的连续多个周期中发生变化的量相对应。

6.根据权利要求3所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值之和与规定的阈值进行比较，根据该比较结果来判定有无所述检测动作的错误。

7.根据权利要求3所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值与规定的阈值分别进行比较，在该比较结果满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

8.根据权利要求1所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部按所述检测动作的每个周期，针对所述多个位置的至少一部分计算与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差相对应的第一评价值、以及与所述检测动作的连续两个周期中的所述检测数据的时间性变化量相对应的第二评价值，在该计算出的第一评价值以及第二评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

9.根据权利要求8所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部根据将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第一评价值之和与第一阈值进行比较的结果、以及将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第二评价值之和与第二阈值进行比较的结果，判定有无所述检测动作的错误。

10.根据权利要求8所述的输入装置，其特征在于，

所述错误判定部以将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第一评价值与第一阈值分别进行比较的结果中满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量、以及/或者、将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述第二评价值与规定的第二阈值分别进行比较的结果中满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量为条件，判定为有所述检测动作的错误。

11.一种输入装置的控制方法，是计算机控制输入装置的方法，所述输入装置具备在检测面的多个位置进行物体的接近程度检测并针对所述多个位置中的每个位置生成表示该检测结果的检测数据的传感器部，所述输入装置用于输入与所述物体对检测面的接近状态相对应的信息，所述输入装置的控制方法的特征在于，具有：

对所述传感器部进行控制，以便进行按每个周期生成所述多个位置处的所述检测数据的周期性的检测动作的步骤；

按所述检测动作的每个周期，取得针对所述多个位置生成的多个所述检测数据的步骤；以及

按所述检测动作的每个周期，根据所述检测数据的时间性变化的程度以及位置性变化的程度，判定有无因噪声引起的所述检测动作的错误的步骤，

当在判定所述错误的步骤中判定为在一个周期的检测动作中有错误的情况下，在取得所述检测数据的步骤中跳过在该一个周期中生成的检测数据的取得处理。

12.根据权利要求11所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的时间性变化的程度进一步在位置上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

13.根据权利要求12所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，针对所述多个位置的至少一部分计算所述评价值，所述评价值与所述检测动作的连续多个周期中的所述检测数据的时间性变化量之差、即所述检测面的一个位置处的所述时间性变化量与该一个位置所相邻的位置处的所述时间性变化量之差相对应。

14.根据权利要求11所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，按所述检测动作的每个周期，计算与所述检测数据的位置性变化的程度进一步在时间上发生变化的程度相对应的评价值，在该计算出的评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

15.根据权利要求14所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，针对所述多个位置的至少一部分计算所述评价值，所述评价值与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差在所述检测动作的连续多个周期中发生变化的量相对应。

16.根据权利要求13所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值之和与规定的阈值进行比较，根据该比较结果来判定有无所述检测动作的错误。

17.根据权利要求13所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，将针对所述多个位置的至少一部分计算出的所述评价值与规定的阈值分别进行比较，在该比较结果满足规定的大小关系的条件的所述位置的数量达到规定的数量的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

18.根据权利要求11所述的输入装置的控制方法，其特征在于，

在判定所述错误的步骤中，按所述检测动作的每个周期，针对所述多个位置的至少一部分计算与所述检测面的一个位置处的所述检测数据和该一个位置所相邻的位置处的所述检测数据之差相对应的第一评价值、以及与所述检测动作的连续两个周期中的所述检测数据的时间性变化量相对应的第二评价值，在该计算出的第一评价值以及第二评价值满足规定的错误判定条件的情况下，判定为有所述检测动作的错误。

19.一种程序，其特征在于，

使计算机执行权利要求11所述的输入装置的控制方法。