CN105629099A - 一种非接触智能卡测试装置 - Google Patents

一种非接触智能卡测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN105629099A
CN105629099A CN201510967077.0A CN201510967077A CN105629099A CN 105629099 A CN105629099 A CN 105629099A CN 201510967077 A CN201510967077 A CN 201510967077A CN 105629099 A CN105629099 A CN 105629099A
Authority
CN
China
Prior art keywords
card
contactless smart
smart card
test
noncontact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510967077.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105629099B (zh
Inventor
刘硕
雷黎丽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Datang Microelectronics Technology Co Ltd
Datang Semiconductor Design Co Ltd
Original Assignee
Datang Microelectronics Technology Co Ltd
Datang Semiconductor Design Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Datang Microelectronics Technology Co Ltd, Datang Semiconductor Design Co Ltd filed Critical Datang Microelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201510967077.0A priority Critical patent/CN105629099B/zh
Publication of CN105629099A publication Critical patent/CN105629099A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105629099B publication Critical patent/CN105629099B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明公开了一种非接触智能卡测试装置，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接读卡器和双界面读卡器以及支持非接智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。本发明能够涵盖非接触智能卡的功能及性能测试，通过角度、高度、进场速度等方面控制，实现非接触智能卡的多维度测试，提高非接触智能卡产品的测试覆盖率。

Description

一种非接触智能卡测试装置
技术领域
本发明涉及测试技术领域，尤指一种非接触智能卡测试装置。
背景技术
非接触智能卡产品，具有传输速度快，交易时间短等特点，特别适用于使用环境恶劣，要求响应速度快、安全性高、功能需求复杂的场合。集成电路在生产中为了保证质量，需要尽可能的提高测试覆盖率。
现有的非接触智能卡测试需要涉及到下面几方面问题：
非接触智能卡的实场RF性能测试不能支持模块状态，必须封装为卡状态；
非接触智能卡的RF性能测试不能够支持多种读卡器类型，多模块，多频次，多角度，多距离，多速度等组合同测；
非接触智能卡产品的兼容性测试；
自动化测试。
目前市场上的非接触智能卡产品测试设备，一部分针对模块形式的产品测试，一部分针对卡片形式的产品测试，且测试功能主要集中在产品电性能及产品本身特点测试，不能模拟实场使用环境，且测试装置不能兼容模块及卡片形式的非接触智能卡产品同测。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种非接触智能卡测试装置，能够涵盖非接触智能卡的功能及性能测试，通过角度、高度、进场速度等方面控制，实现非接触智能卡的多维度测试，提高非接触智能卡产品的测试覆盖率。
为了达到本发明目的，本发明提供了一种非接触智能卡测试装置，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；所述读卡器组合，包括纯非接读卡器或双界面读卡器或支持非接触智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。
进一步地，所述成品台，通过更换台面来支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试。
进一步地，通过单独控制或组合控制所述速度调节装置、角度调节装置和高度调节装置，实现对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节。
进一步地，所述非接读卡器是纯非接读卡器或双界面读卡器或专用非接产品测试设备。
进一步地，所述非接触智能卡测试装置采用丝扛传动、齿轮齿条传动，通过多轴联动、以及程控装置，实现可编程控制的自动测试。
与现有技术相比，本发明的测试方案可支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试，可兼容两种形态的产品测试；可模拟实场使用环境进行测试，例如模拟刷卡高度、角度以及进场速度；并可以组合上述条件进行产品功能测试；此外，还可以扩展工作站，支持非接触智能卡产品小批量自动化测试。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1是本发明的一实施例中非接触智能卡测试装置的结构示意图。
图2是本发明的一实施例中非接触测试工作站的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
图1是本发明的一实施例中非接触智能卡测试装置的结构示意图。如图1所示，该装置包括：非接触测试工作站1、接触测试工作站2、物料传输导轨3、上下物料盘4和摇轮计数器5。其中，
非接触测试工作站1，用于支持非接触智能卡的产品测试。
接触测试工作站2，用于支持接触智能卡的产品测试。
物料传输导轨3，用于传输测试产品。
上下物料盘4，用于将测试产品进行上下操作。
摇轮计数器5，可以采用手摇轮的摇轮计数器，用于对测试产品进行计数。
图2是本发明的一实施例中非接触测试工作站的结构示意图。如图2所示，非接触测试工作站包括成品台11、速度调节装置12、角度调节装置13、高度调节装置14和读卡器组合15，其中，
成品台11可更换台面，支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试。
速度调节装置12、角度调节装置13、高度调节装置14分别可以将成品台进行相对于读卡器的距离、角度和/或进场离场速度调节，即可以将成品台进行相对于读卡器的距离、角度或进场离场速度的单独控制或组合控制。
读卡器组合15包括多种类非接读卡器，例如模块形态和/或卡片形态的非接读卡器，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡，非接读卡器可以是单面非接读卡器或双面非接读卡器。
基于图1和图2所示的非接触智能卡测试装置，下面将具体介绍测试工作流程。
实施例一
针对模块类非接触智能卡产品进行测试。
1、将卷带状的IC卡模块放置在本工装上，支持32个模块同测头；
2、测试头另一端连接标准天线板，天线板放置在成品台上，成品台下方放置各型号或各类非接读卡器；
3、通过上位机软件与PLC通信，控制三组伺服电机传动，实现成品台相对于读卡器的距离、角度、进场离场速度调节及控制，或多种条件组合使用；
4、通过调用上位机测试脚本控制读卡器与模块类非接触产品进行功能测试；
5、通过使用3、4两种方式的组合，及上位机软件设置实现RF性能的多模块、多频次、多角度，多距离，多速度自动测试。
实施例二
针对卡片类非接触智能卡产品进行测试。
1、将卡片类非接触产品放置在成品台上，成品台下方放置各型号或各类非接读卡器；
2、通过上位机软件与PLC通信，控制三组伺服电机传动。实现成品台相对于读卡器的距离、角度、进场离场速度调节及控制，或多种条件组合使用；
3、通过调用上位机测试脚本控制读卡器与模块类非接触产品进行功能测试；
4、通过使用2、3两种方式的组合，及上位机软件设置实现RF性能的多模块、多频次、多角度，多距离，多速度自动测试。
本发明提供的非接触智能卡测试装置，测试工装支持多模块、测试头可拆卸、测试工装可扩展；工装测试包括距离、角度、速度并可实现软件自行配置；该工装支持非接触智能卡及纯非接模块和双界面模块测试；兼容通用读卡器，可实现对非接触智能卡产品的兼容性测试；本工装采用丝扛传动、齿轮齿条传动，通过多轴联动、以及程控装置，实现可编程控制的自动测试；实现小批量自动化，多条件组合测试。测试效能明显提高。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (5)

1.一种非接触智能卡测试装置，其特征在于，包括：成品台、速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置和读卡器组合，其中，
所述成品台，用于支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试；
所述速度调节装置、角度调节装置、高度调节装置，分别用于对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节；
所述读卡器组合，包括纯非接和/或双界面读卡器和/或支持非接触智能卡读取的机具，用于读取模块形态和/或卡片形态的非接触智能卡。
2.根据权利要求1所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述成品台，通过更换台面来支持非接触智能卡产品的模块形态及卡片形态的产品测试。
3.根据权利要求1所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，通过单独控制或组合控制所述速度调节装置、角度调节装置和高度调节装置，实现对所述成品台进行相对于所述读卡器组合的距离、角度和/或进场离场速度调节。
4.根据权利要求1所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述非接读卡器是纯非接读卡器或双界面读卡器或支持非接触智能卡读取的机具。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的非接触智能卡测试装置，其特征在于，所述非接触智能卡测试装置采用丝扛传动、齿轮齿条传动，通过多轴联动、以及程控装置，实现可编程控制的自动测试。
CN201510967077.0A 2015-12-21 2015-12-21 一种非接触智能卡测试装置 Active CN105629099B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510967077.0A CN105629099B (zh) 2015-12-21 2015-12-21 一种非接触智能卡测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510967077.0A CN105629099B (zh) 2015-12-21 2015-12-21 一种非接触智能卡测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105629099A true CN105629099A (zh) 2016-06-01
CN105629099B CN105629099B (zh) 2019-06-07

Family

ID=56044221

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510967077.0A Active CN105629099B (zh) 2015-12-21 2015-12-21 一种非接触智能卡测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105629099B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106405281A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 北京中电华大电子设计有限责任公司 非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置
CN107632248A (zh) * 2016-07-19 2018-01-26 上海华虹集成电路有限责任公司 非接触式智能卡整套兼容性测试系统
CN108931701A (zh) * 2018-05-25 2018-12-04 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种非接触智能卡自适应稳定性测试的自动化装置及测试方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63262848A (ja) * 1987-04-21 1988-10-31 Tokyo Electron Ltd Ｉｃチツプの試験測定方法
CN202494741U (zh) * 2012-03-29 2012-10-17 北京城建设计研究总院有限责任公司 多功能非接触式13.56mhz的ic卡及读卡器的测试装置
CN202693695U (zh) * 2012-05-09 2013-01-23 北京工业大学 智能卡自动测试转台
CN103698626A (zh) * 2013-11-30 2014-04-02 成都天志大行信息科技有限公司 一种rfid卡片稳定性测试装置
CN103954873A (zh) * 2014-05-21 2014-07-30 东信和平科技股份有限公司 非接触式智能卡挥卡测试方法及装置
CN104503878A (zh) * 2015-01-08 2015-04-08 大唐微电子技术有限公司 智能卡兼容性测试装置及方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63262848A (ja) * 1987-04-21 1988-10-31 Tokyo Electron Ltd Ｉｃチツプの試験測定方法
CN202494741U (zh) * 2012-03-29 2012-10-17 北京城建设计研究总院有限责任公司 多功能非接触式13.56mhz的ic卡及读卡器的测试装置
CN202693695U (zh) * 2012-05-09 2013-01-23 北京工业大学 智能卡自动测试转台
CN103698626A (zh) * 2013-11-30 2014-04-02 成都天志大行信息科技有限公司 一种rfid卡片稳定性测试装置
CN103954873A (zh) * 2014-05-21 2014-07-30 东信和平科技股份有限公司 非接触式智能卡挥卡测试方法及装置
CN104503878A (zh) * 2015-01-08 2015-04-08 大唐微电子技术有限公司 智能卡兼容性测试装置及方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107632248A (zh) * 2016-07-19 2018-01-26 上海华虹集成电路有限责任公司 非接触式智能卡整套兼容性测试系统
CN106405281A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 北京中电华大电子设计有限责任公司 非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置
CN108931701A (zh) * 2018-05-25 2018-12-04 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种非接触智能卡自适应稳定性测试的自动化装置及测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105629099B (zh) 2019-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106778952B (zh) 一种仓库物资全生命周期管理方法及系统
CN105629099A (zh) 一种非接触智能卡测试装置
CN104902347A (zh) 一种基于rfid电子信息化管理的光配线架
US20150113180A1 (en) Method for Servicing a Field Device
CN114029196B (zh) 一种rfid系统应用于胶水管控的方法及系统
CN104678287A (zh) 芯片uid映射写入方法
CN208853149U (zh) 同步双阀自动调节装置
CN110989525A (zh) 一种基于fpga的产品智能装配生产线监控系统及方法
CN104078168A (zh) 一种电缆用植入rfid装置
CN202331178U (zh) 生产线rfid应用可视化监控系统
CN107632248A (zh) 非接触式智能卡整套兼容性测试系统
CN103679235A (zh) 物品定点定位管理的监测装置及其监测方法
CN106526350A (zh) 一种卡片测试方法和系统
CN105652804A (zh) 一种基于rfid射频卡的数控机床加工生产线
CN106200689B (zh) 一种非接触式智能卡自动测试方法与装置
CN104750084B (zh) 集散式自动换梭芯智能控制系统
CN209199202U (zh) 自动售货机智能显示控制单元
CN103792877A (zh) 机械加工生产线用产品加工信息自动记录系统
CN202904316U (zh) 机械加工生产线用产品加工信息自动记录系统
CN112560513A (zh) Nfc测试系统及方法
CN204536883U (zh) 集散式自动换梭芯智能控制系统
CN206618399U (zh) 自动测工件高度仪
CN104219074A (zh) 数据中心动态可视化系统
CN103792882A (zh) 一种机械加工生产线
CN105652802A (zh) 一种基于数控机床的机械产品加工生产线

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant