CN104678287A - 芯片uid映射写入方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种芯片UID映射写入方法，包括以下步骤：在探针台上对晶圆进行初步测量，获取所述晶圆上被测芯片的个数，以及每个所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息；根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，将所有所述被测芯片的UID信息写入到一测试文件中；对所述晶圆进行测试；当被测芯片通过所述测试时，根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，读取所述测试文件中所述被测芯片的UID信息，将所述UID信息写入到所述被测芯片上。避免了多进制之间的转换，代码简单，可读性强，从而使得后期维护容易，可追溯性强。

Description

芯片UID映射写入方法
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其是一种芯片UID映射写入方法。
背景技术
晶圆测试过程中对某些有特殊要求的芯片需写入唯一的UID(UserIdentification，用户身份证明)号，在晶圆测试中为所述芯片的序列号，且所述芯片的序列号是唯一的，不重复的，可追溯的。UID信息包括：序号、批号、片号、所述芯片在所述晶圆上的坐标信息、设计公司信息、流片公司信息、测试公司信息、时间信息。
在测试完成后，所有通过测试的芯片，都需要写入UID信息，再通过封装厂封装测试通过的所述芯片为成品，然后再进行成品测试，如果成品测试通过的话，该成品芯片即可进入市场进行销售。在此过程中，技术人员可以通过所述成品芯片的UID信息，追溯所述成品芯片的所有相关信息，为后期的及时改进，工艺升级，有无缺陷等提供了详尽的数据，便于技术人员进行分析。
因此UID信息的写入的正确性及可追溯性至关重要。现有的UID写入方法为，在测试过程中，通过测试机台读取被测芯片的X、Y坐标(所述被测芯片在晶圆上的横坐标、纵坐标)、批号、片号等UID信息，读取出来的数据为十进制或者十六进制的数据，需要通过程序代码将十进制或者十六进制的数据转换为二进制，然后再将二进制的UID信息直接写入的所述被测芯片上。
因为是在测试过程中直接写入，并且需要将十进制或者十六进制的数据转换为二进制后再写入，因此，程序的编码比较长，容易出错，不安全，同时降低了代码的可阅读性，增加了后期维护的难度，降低了所述UID的可追溯性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种芯片UID映射写入方法，以解决现有技术中程序代码冗长，后期维护难度大，可追溯性低的问题。
为了达到上述目的，本发明提供了一种芯片UID映射写入方法，包括以下步骤：
在探针台上对晶圆进行初步测量，获取所述晶圆上被测芯片的个数，以及每个所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息；
根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，将所有所述被测芯片的UID信息写入到一测试文件中；
对所述晶圆进行测试；
当所述被测芯片通过所述测试时，根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，读取所述测试文件中所述被测芯片的UID信息，将所述UID信息写入到所述被测芯片上。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，所述被测芯片的UID信息以二进制的形式写入到所述测试文件中。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，所述被测芯片的UID信息包括：序号、批号、片号、坐标信息、设计公司信息、流片公司信息、测试公司信息、时间信息。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，所述坐标信息包括所述被测芯片在所述晶圆上的横坐标和纵坐标。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，所述时间信息包括被测芯片测试时的年、月、日。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，所述测试文件为XLS格式。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，所述测试文件为TXT格式。
优选的，在上述的芯片UID映射写入方法中，对所述被测芯片进行的所述测试包括：直流测试和功能测试。
在本发明提供的芯片UID映射写入方法中，按照所述被测芯片在晶圆上的坐标信息，先将所述晶圆上的所有的被测芯片的UID信息以二进制形式分别写入到一个测试文件中，然后再对所述晶圆进行测试，当所述被测芯片通过测试后，再根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，读取所述被测芯片的上述测试文件，将所述测试文件中存储的所述UID信息写入到所述被测芯片上，避免了多进制之间的转换，代码简单，可读性强，从而使得后期维护容易，可追溯性强。
附图说明
图1为本发明实施例中芯片UID映射写入方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
如图1所示，本发明提供了一种芯片UID映射写入方法，包括以下步骤：
S1：在探针台上对晶圆进行初步测量，获取所述晶圆上被测芯片的个数，以及每个所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息。
具体的，在探针台上无需对所述晶圆进行测试，只需在所述探针台上对所述晶圆预先跑一遍，获取所述晶圆上被测芯片的个数，以及每个所述被测芯片在所述晶圆上的横坐标和纵坐标，每个所述被测芯片在所述晶圆上的横坐标和纵坐标也是每个所述被测芯片的UID信息的一部分。
S2：根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，将所有所述被测芯片的UID信息写入到一测试文件中。
在步骤S2中，假设所述晶圆上的所有被测芯片均能通过测试，预先写出每个所述被测芯片的UID信息。
具体的，所述被测芯片的UID信息包括：序号、批号、片号、坐标信息、设计公司信息、流片公司信息、测试公司信息、时间信息。所述坐标信息包括所述被测芯片在所述晶圆上的横坐标和纵坐标。所述时间信息包括被测芯片测试时的年、月、日。技术人员可以通过所述UID信息获取所述被测芯片的所有信息数据。
进一步的，所述UID信息是以二进制直接写入到所述测试文件中，所述测试文件在所述测试机台上，所述测试文件可以是XLS格式，也可以是TXT格式。
所有所述被测芯片的UID信息形成一个所述测试文件，且每个所述被测芯片的UID信息按照所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息存储在所述测试文件中。
S3：对所述晶圆进行测试。
对所述晶圆进行测试，也就是对所述晶圆上的所有所述被测芯片进行测试。所述测试包括直流测试和功能测试。
S4：当所述被测芯片通过所述测试时，根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，读取所述测试文件中所述被测芯片的UID信息，将所述UID信息写入到所述被测芯片上。
当所述被测芯片通过所述直流测试和功能测试后，根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，即，根据所述被测芯片在所述晶圆上的横坐标和纵坐标，在所述测试文件中查询并读取所述被测芯片的UID信息，所述UID信息是以二进制的形式存储在所述测试文件中。然后将所述被测芯片的二进制UID信息写入到所述被测芯片上。
在这个过程中，因为所述被测芯片的UID信息以二进制的形式存储在所述测试文件中，在向所述被测芯片写入所述UID信息的时候，只需要读取所述二进制的UID信息，然后再将所述二进制的UID信息写入到所述被测芯片上即可，不需要进行多进制的转换，使得程序代码简单，出错率低，节省测试时间，提高测试效率；同时代码的可读性高，提高了技术人员阅读代码的速度，使得后期维护更加简单方便，也增强了所述UID信息的可追溯性。
综上，在本发明实施例提供的芯片UID映射写入方法中，按照所述被测芯片在晶圆上的坐标信息，先将所述晶圆上的所有的被测芯片的UID信息以二进制形式分别写入到一个测试文件中，然后再对所述晶圆进行测试，当所述被测芯片通过测试后，再根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，读取所述被测芯片的上述测试文件，将所述测试文件中存储的所述UID信息写入到所述被测芯片上，避免了多进制之间的转换，代码简单，可读性强，从而使得后期维护容易，可追溯性强。
上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种芯片UID映射写入方法，其特征在于，包括以下步骤：
在探针台上对晶圆进行初步测量，获取所述晶圆上被测芯片的个数，以及每个所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息；
根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，将所有所述被测芯片的UID信息写入到一测试文件中；
对所述晶圆进行测试；
当所述被测芯片通过所述测试时，根据所述被测芯片在所述晶圆上的坐标信息，读取所述测试文件中所述被测芯片的UID信息，将所述UID信息写入到所述被测芯片上。
2.如权利要求1所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，所述被测芯片的UID信息以二进制的形式写入到所述测试文件中。
3.如权利要求1所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，所述被测芯片的UID信息包括：序号、批号、片号、坐标信息、设计公司信息、流片公司信息、测试公司信息、时间信息。
4.如权利要求3所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，所述坐标信息包括所述被测芯片在所述晶圆上的横坐标和纵坐标。
5.如权利要求3所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，所述时间信息包括被测芯片测试时的年、月、日。
6.如权利要求1所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，所述测试文件为XLS格式。
7.如权利要求1所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，所述测试文件为TXT格式。
8.如权利要求1所述的芯片UID映射写入方法，其特征在于，对所述被测芯片进行的所述测试包括：直流测试和功能测试。
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