CN105628006B - 准直装置以及射线检查装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种准直装置和射线检查装置。准直装置包括:导束筒和安装在导束筒入口端的第一准直器和安装在导束筒出口端的第二准直器。还包括导束筒调节装置,用于调节导束筒的朝向以便第一准直器对准第一方向。导束筒出口端被固定在机架上并且第二准直器对准辐射束要照射的目标,并且导束筒具有挠性允许导束筒调节装置能够沿第一方向的横向方向调整导束筒入口端的朝向。本发明仅需调整第一准直器即完成准直调节。
Description
技术领域
本发明涉及射线检查领域,具体地,涉及准直装置和射线检查装置。
背景技术
现有的射线检查装置都包括准直装置,这些准直装置一般都包括几级准直。为了对准这些准直装置,现有的射线束流准直方法一般为先用激光笔准直第二准直器和探测器准直器,固定好位置后再将第一准直器安装好,利用激光笔准直第二准直器、第一准直器以及探测器准直器。最后将X光机安装好,利用射线剂量调整光机靶点和第一准直器、第二准直器、探测器准直器的准直。也可以从射线源一侧开始对准。然而,这样逐级对准调节的方式操作起来麻烦,耗时费力;而且,每次检查过程中由于设备的震动、移动等原因,需要重新调整对准,因而准直调整将会花费大量的时间,降低检查过程的效率。
发明内容
鉴于此,本发明的目的在于提供一种准直装置和射线检查装置,其具有结构简单,对准便捷迅速,检查效率高的优点。
根据本发明的一方面,提供一种准直装置,包括导束筒,沿第一方向延伸,并且辐射束沿第一方向从导束筒入口进入沿导束筒传递并从导束筒出口射出;第一准直器,安装在导束筒入口端;第二准直器,安装在导束筒出口端;导束筒调节装置,配置在导束筒入口附近用于调节导束筒的朝向以便第一准直器对准第一方向;其中,导束筒出口端被固定在机架上并且第二准直器对准辐射束要照射的目标,并且导束筒具有挠性允许导束筒调节装置能够沿第一方向的横向方向调整导束筒入口端的朝向。
根据本发明的一方面,提供一种射线检查装置,包括机架,其中射线检查装置还可以包括安装在机架上的下列部件:射线源,产生射线;检查区,用于放置被检物体或允许被检物体通过;探测装置,用于探测穿过被检物体的射线信号;和如前述的准直装置。
附图说明
图1示出根据本发明的一个实施例的准直装置;
图2示出根据本发明的一个实施例的射线检查装置。
具体实施方式
现在对本发明的实施例提供详细参考,其范例在附图中说明,图中相同的数字全部代表相同的元件。为解释本发明下述实施例将参考附图被描述。
根据本发明的实施例,提供一种准直装置,安装在机架10上用于准直来自源的辐射束。如图所示,准直装置包括:导束筒13,沿第一方向延伸,并且辐射束沿如箭头所示的第一方向从导束筒13入口进入导束筒13,并沿导束筒13传递,从导束筒13出口射出;第一准直器11,安装在导束筒13入口端;第二准直器12,安装在导束筒13出口端;导束筒调节装置40,配置在导束筒13入口附近用于调节导束筒13以便第一准直器11对准第一方向。在本实施例中,导束筒13出口端被固定在机架10上,并且第二准直器12对准辐射束要照射的目标,例如接收辐射的探测器,并且导束筒13具有挠性以允许导束筒13变形,这样调节装置能够沿第一方向的横向方向调整导束筒13入口端的朝向。
在本实施例中,机架10可以由金属材料、塑料材料等任一种材料形成,优选使用能够吸震的材料形成,使得外界的震动对机架10产生尽可能小的影响。在本实施例中,第一准直器11和第二准直器12由金属形成,第一准直器11和第二准直器12中包括窄的狭缝允许射线通过以便准直射线。应该理解,本领域常用的准直器都可以在此使用。在本实施例中,导束筒13由具有挠性的材料形成,例如金属材料,射线在导束筒13内传播并且不会传播至导束筒13外部。任何合适的材料都可以用来形成导束筒13。
在本实施例中,导束筒调节装置40包括可伸缩调整杆42,配置成沿第一方向的横向方向延伸并能够伸缩移动,从而调整导束筒13入口端的朝向。在一个实施例中,可伸缩调整杆42可以是两个,例如如图1所示,两个可伸缩调整杆42分别接触导束筒13的入口端,两个伸缩调整杆配合上下伸缩移动可以使得导束筒13入口端在上下方向上移动。
在本实施例中,导束筒调节装置40还可以包括导束筒调节螺钉43,配置用于通过螺旋沿第一方向的横向方向移动可伸缩调整杆42。可伸缩调整杆42的上下移动通过导束筒调节螺钉43的螺旋运动实现。
在本实施例中,导束筒调节装置40还可以包括固定板41,用于固定导束筒13入口端,在第一方向的横向平面内延伸。第一方向的横向平面也可以理解成垂直于第一方向的平面。当完成通过可伸缩调整杆42调整导束筒13的入口端的取向之后,通过固定板41固定导束筒13入口端,以便进行下一步的例如射线照射操作。固定板41是条形板,或长方形板,也可以是其他形式的板。固定板的两端固定在机架10上,整个固定板41不能够移动。为了固定导束筒13入口端,可以将导束筒13入口端可松开地固定至固定板41。
在本实施例中,导束筒调节装置40还可以包括连接至导束筒13入口端的法兰板46,所述法兰板46包括沿固定板41的平面延伸的部分和连接至导束筒13入口端的部分;和紧定螺钉45,安装在法兰板46上的螺纹孔内,通过将紧定螺钉45旋入螺纹孔,紧定螺钉45接触并压紧固定板41,从而通过紧定螺钉45与固定板41之间由于压紧产生的摩擦力,将法兰板46以及与法兰板46连接的导束筒13入口端固定在固定板41的一个位置处,从而固定导束筒13入口端的朝向。松开紧定螺钉45,导束筒13入口端可以在第一方向的横向平面内上下移动。
在本发明的一个实施例中,可伸缩调整杆42可以是四个,用于在垂直第一方向的横向平面内沿上下左右四个方向伸缩移动以便调节导束筒入口端的朝向。为了可以沿上下和垂直纸面的前后方向调整导束筒13入口端的朝向,可以设置四个可伸缩调整杆42。图1示出上下配合的两个可伸缩调整杆42。沿纸面的垂直方向上还设置两个配合的可调整伸缩杆(未示出)。在本实施例中,固定板41和紧定螺钉45的配置可以不作改变。在本实施例中,在沿第一方向的横向平面(即,垂直纸面的平面)内,可以沿任意方向调整导束筒13入口端的朝向。换句话说,在沿第一方向的横向方向上或在第一方向的横向平面内沿上下左右调整导束筒13入口端的朝向。这里第一方向的横向方向包括第一方向的横向平面内任一方向。根据本实施例的准直器,仅需要调整第一准直器的对准即完成了准直装置的准直调整,在实际使用中非常便捷,大大节省不断调整准直的时间。
在本发明的一个实施例中,导束筒还包括准直增强件51、52。准直增强件沿第一方向延伸,例如沿如图1和2所示的轴线O延伸。准直增强件可以是两个。例如,第一准直增强件51设置在第一准直器11,第二准直增强件52设置在第二准直器12。第一和第二准直增强件51、52的尺寸被设计为使得通过第一准直器11和/或第二准直器12的散射射线的大部分被准直增强件51、52阻挡。在一个实施例中,准直增强件51、52由能够吸收射线的第二材料形成或准直增强件51、52的面向所述导束筒的中心轴线的一侧上涂覆有能够吸收射线的第二材料,用于吸收通过第一准直器和/或第二准直器的散射射线。准直增强件51、52的每一个包括连接在第一准直器和/或第二准直器上的第一部分和平行于所述导束筒的中心轴线O延伸的第二部分。准直增强件51、52分别包括第一挡板51a、52a和第二挡板51b、52b,并且所述第一挡板51a、52a和所述第二挡板51b、52b相对于所述导束筒的中心轴线O对称设置。
在一个实施例中,第一准直增强件51或第二准直增强件52由位于所述导束筒的中心轴线一侧的一个挡板构成。
本发明的一个实施例还提供一种射线检查装置,其包括机架10。射线检查装置还包括其他,这些部件或装置安装在机架10上。机架10有利地由吸震材料形成,这样外界的震动可以尽可能少地影响对准装置的对准。机架10也可以由其他材料形成,机架10本身设置吸震装置,例如设置吸震空气座等,以便减小外界的震动对对准带来的干扰。
在本发明的一个实施例中,射线检查装置还可以包括安装在机架10上的下列组件:射线源,产生射线;检查区,用于放置被检物体或允许被检物体通过;探测装置,用于探测穿过被检物体的射线信号;和上述的实施例中的准直装置。
在本发明的一个实施例中,射线源可以是例如X射线源。检查区可以是通道形式,也可以设有轨道,例如主动运输带等,或其他形式。待检物品在检查区内通过,射线源射出的射线穿透待检物品,通过检测透射射线可以观察待检物品。检查区设置在准直装置出口端的一定距离处,具体形式可以根据机架10的结构或待检物品的体积设置。
在本发明的一个实施例中,探测装置包括探测器,用以探测透射待检物品的射线。探测器可以是单个探测器,可以是多个探测器,例如一排或多排探测器的阵列。探测装置还包括探测器准直器14,允许透射通过待检物品的射线入射到探测器。在本实施例中,探测器准直器14与准直装置的第二准直器12对准并固定在机架10上。
在本实施例中,探测器准直器14和准直装置的第二准直器12都固定在机架10上,并且两者对准。通过这样的配置,准直装置的第二准直器12和探测器准直器14之间的对准是固定的,在后续检查过程中不需要进行调整,简化了检查过程。
在本实施例中,射线检查装置的X射线源,例如X光机可以固定在固定板41上。这样整个射线检查装置都固定在机架10上,除了导束筒13的入口端可以活动以便调节。
在本实施例中,可以将射线检查装置的X射线源、第一准直器11入口端以及导束筒13调整装置看做第一部分,而将射线检查装置的第二准直器12和探测装置以及检查区看做第二部分。根据本实施例,在使用射线检查装置检查待检物品之前,使用一般光源调整准直装置。使用一般光源,例如灯泡,让光射入第一准直器11,调整导束筒13调整装置调节导束筒13入口端,使得通过第一准直器11的光对准第二准直器12,进而对准探测器准直器14。随后启动X光源进行照射。由于本实施例的结构设置,仅需要调整导束筒13入口端实现射线检查装置的第一部分的对准即可以完成射线检查装置的对准。本实施例的射线检查装置比现有的装置操作简单,效率更高。
尽管已经参考本发明的典型实施例,具体示出和描述了本发明,但本领域普通技术人员应当理解,在不脱离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下,可以对这些实施例进行形式和细节上的多种改变。
Claims (13)
1.一种准直装置,安装在机架上用于准直来自源的辐射束,包括:
导束筒,沿第一方向延伸,并且辐射束沿第一方向从导束筒入口进入沿导束筒传递并从导束筒出口射出;
第一准直器,安装在导束筒入口端;
第二准直器,安装在导束筒出口端;
导束筒调节装置,配置在导束筒入口附近用于调节导束筒的朝向以便第一准直器对准第一方向;
其中,导束筒出口端被固定在机架上并且第二准直器对准辐射束要照射的目标,辐射束从导束筒出口端射出照射所述目标,并且导束筒具有挠性允许导束筒调节装置能够沿第一方向的横向方向调整导束筒入口端的朝向;
其中第一准直器包括用以阻挡散射射线的部分的第一准直增强件,第二准直器包括用以阻挡散射射线的部分的第二准直增强件,第一准直增强件和第二准直增强件沿导束筒的轴线延伸。
2.如权利要求1所述的准直装置,其中导束筒调节装置包括可伸缩调整杆,配置成在垂直第一方向的横向平面内延伸并能够伸缩移动,从而调节导束筒入口端的朝向。
3.如权利要求2所述的准直装置,其中导束筒调节装置包括4根可伸缩调整杆,用于在垂直第一方向的横向平面内沿上下左右四个方向伸缩移动以便调节导束筒入口端的朝向。
4.如权利要求2所述的准直装置,其中导束筒调节装置还包括导束筒调节螺钉,配置用于通过螺旋以沿第一方向的横向方向移动可伸缩调整杆。
5.如权利要求1所述的准直装置,其中导束筒调节装置还包括固定板,用于固定导束筒入口端并配置成在第一方向的横向平面内延伸。
6.如权利要求5所述的准直装置,其中导束筒调节装置还包括:连接至导束筒入口端的法兰板,所述法兰板包括沿固定板的平面延伸的部分和连接至导束筒入口端的部分;和紧定螺钉,安装在法兰板上,通过旋入法兰板上的螺纹孔接触并压紧固定板,从而固定导束筒入口端的朝向。
7.如权利要求1所述的准直装置,还包括吸震装置,用以吸收外界机架外部的震动。
8.如权利要求7所述的准直装置,其中第一准直增强件和第二准直增强件由能够吸收射线的材料形成或第一准直增强件和第二准直增强件的面向所述导束筒的中心轴线的一侧上涂覆有能够吸收射线的材料,用于吸收通过第一准直器和/或第二准直器的散射射线。
9.如权利要求7所述的准直装置,其中第一准直增强件和第二准直增强件的每一个包括连接在第一准直器和/或第二准直器上的第一部分和平行于所述导束筒的中心轴线延伸的第二部分。
10.如权利要求7所述的准直装置,其中第一准直增强件和第二准直增强件的每一个包括第一挡板和第二挡板,并且所述第一挡板和所述第二挡板相对于所述导束筒的中心轴线对称设置。
11.如权利要求7所述的准直装置,其中第一准直增强件和第二准直增强件的每一个由位于所述导束筒的中心轴线一侧的一个挡板构成。
12.一种射线检查装置,包括机架,其中射线检查装置还包括安装在机架上的下列部件:
射线源,产生射线;
检查区,用于放置被检物体或允许被检物体通过;
探测装置,用于探测穿过被检物体的射线信号;和
如权利要求1-11中任一项所述的准直装置。
13.如权利要求12所述的射线检查装置,其中探测装置包括探测器准直器,允许射线入射到探测器,所述探测器准直器与准直装置的第二准直器对准并固定在机架上。
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN105223625A (zh) * | 2015-11-06 | 2016-01-06 | 同方威视技术股份有限公司 | 导束装置以及包括该导束装置的辐射检查设备 |
US11471117B2 (en) * | 2017-03-20 | 2022-10-18 | Dentsply Sirona Inc. | Multiposition collimation device and x-ray imaging systems |
EP3992619B1 (en) * | 2020-10-27 | 2024-09-04 | Due2Lab S.R.L. | X-ray collimator and related x-ray inspection apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN206057217U (zh) * | 2015-11-06 | 2017-03-29 | 同方威视技术股份有限公司 | 准直装置以及射线检查装置 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2831977A (en) | 1954-03-11 | 1958-04-22 | California Inst Of Techn | Low angle x-ray diffraction |
US3327114A (en) | 1964-06-23 | 1967-06-20 | Alfred F Diorio | Low-angle x-ray diffraction camera comprising releasably connected sections and adjustable beam apertures and stops |
US5367552A (en) * | 1991-10-03 | 1994-11-22 | In Vision Technologies, Inc. | Automatic concealed object detection system having a pre-scan stage |
GB2284612B (en) * | 1993-12-03 | 1998-03-11 | Amtico Company Limited The | Colourants, coloured articles and methods of making them |
CN2489331Y (zh) * | 2001-08-10 | 2002-05-01 | 清华大学 | 射线源的带翼屏蔽体 |
US7085348B2 (en) | 2003-12-15 | 2006-08-01 | The University Of Florida Research Foundation, Inc. | Leaf sequencing method and system |
GB2420683B (en) * | 2004-11-26 | 2009-03-18 | Univ Tsinghua | A computer tomography method and apparatus for identifying a liquid article based on the density of the liquid article |
CN100460852C (zh) | 2005-09-22 | 2009-02-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种利用射线源对液体物品进行ct安全检查的设备 |
CN100454039C (zh) * | 2005-09-22 | 2009-01-21 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种射线发生器、导束盒和前、后准直器一体化结构 |
CN101114534B (zh) | 2006-07-28 | 2010-05-12 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种整体式屏蔽准直器 |
CN201142237Y (zh) | 2008-01-11 | 2008-10-29 | 同方威视技术股份有限公司 | 准直器调节系统 |
CN101482653B (zh) | 2008-01-11 | 2011-07-27 | 同方威视技术股份有限公司 | 准直器调节系统和用于调节准直器系统的方法 |
US8213571B2 (en) | 2010-03-29 | 2012-07-03 | The Boeing Company | Small diameter X-ray tube |
US8223925B2 (en) * | 2010-04-15 | 2012-07-17 | Bruker Axs Handheld, Inc. | Compact collimating device |
CN201886195U (zh) | 2010-12-09 | 2011-06-29 | 福州高意通讯有限公司 | 一种光学器件装配装置 |
KR101242731B1 (ko) | 2012-09-10 | 2013-03-13 | 주식회사 지.티.에스 | 방사선 차폐판이 구비된 방사선원 전송관 |
CN103823275B (zh) | 2014-03-26 | 2015-12-09 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 基于柔性铰链的自适应光纤准直器 |
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Patent Citations (1)
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