CN105548094A - 基于双透镜的微量重金属检测的libs系统 - Google Patents

基于双透镜的微量重金属检测的libs系统 Download PDF

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宋阳
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Abstract

本发明涉及一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统,包括样品台、激光器、聚焦透镜组、光纤、多通道光谱仪以及数据处理器;所示聚焦透镜组用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,并获取聚焦等离子体辐射光线,以使所述多通道光谱仪通过所述光纤获取所述待测样品的光谱数据,并使所述数据处理器根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。本发明通过在等离子体辐射光收集光路上设置数值孔径大于光纤的聚焦透镜组,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。

Description

基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统
技术领域
本发明涉及微量重金属检测领域,尤其涉及一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统。
背景技术
一般工业生产和生活中,重金属往往特指铜Cu、汞Hg、锡Sn、铅Pb、锌Zn、镉Cd等10余种金属。这些重金属随着工业生产的飞速发展,富集在我们生活的环境中,随食物、呼吸、直接接触等多种方式进入人体,产生多种毒副作用;或是在土壤、水体中迁移沉积,使当地环境中的重金属含量大大超越自然界的净化能力,危害动植物的生长,对生态环境造成极大的破坏,特别是对耕地的污染,更是直接威胁农业生产和粮食安全。因此,对人类生活环境中的重金属含量进行检测对保障农业生产和粮食安全均具有十分重要的意义。
目前,我国现有的重金属含量检测方法主要包括石墨炉加热原子吸收光谱法(GraphiteFurnaceAtomicAbsorptionSpectroscopy,GFAAS)、火焰加热原子吸收光谱法(FlameAtomicAbsorptionSpectroscopy,FAAS)、原子荧光光谱法(AtomicFluorescenceSpectroscopy,AFS)等,还有近些年在微量物质检测中普遍使用的电感耦合等离子体原子发光光谱法(InductivelyCoupledPlasma-AtomicEmissionSpectroscopy,ICP-AES)。尽管这些方法都有很高的检出率,但普遍需要复杂的样品预处理消解过程,检测周期长,而且检测设备昂贵、操作复杂,更不可能进行可移动实时测量。
应用于微量重金属检测的激光诱导击穿光谱(LaserInducedBreakdownSpectroscopy,LIBS)技术是一项以原子发射光谱分析为核心的检测技术,依靠高能激光脉冲,完成对被测样品的原子化和原子激发,然后使用高分辨多通道光谱仪测量原子发射光谱,分析得到被测样品中目标元素的种类和含量。LIBS具有样品制备简便、测量过程迅速、低成本可移动等优势。而由于蔬菜中目标元素浓度常常比土壤中低2个数量级,检测难度大,现有技术中使用LIBS对蔬菜中的铜Cu、铅Pb、镉Cd、铬Cr等元素重金属进行测量还处在定性分析的初级阶段。此外,现有的应用LIBS技术进行土壤和蔬菜的重金属检测的方案中,每次检测所收集到的光谱都存在强度差异,特别当目标元素含量低时,特征谱线的信噪比极不理想,因而影响了微量重金属LIBS检测的准确性、稳定性和实用性,一定程度上限制了LIBS技术得到进一步的发展和应用。而辐射光收集效率是影响上述问题的重要因素之一。因此,现有的亟待解决的技术问题为:如何通过提高辐射光收集效率,进而提高微量重金属LIBS检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到进一步的发展和应用。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提出了一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统,该系统包括:
样品台,用于固定微量重金属的待测样品;
激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;
聚焦透镜组,用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,以获取聚焦等离子体辐射光线;
光纤,用于将所述聚焦等离子体辐射光线进行耦合,以获取耦合等离子体辐射光线;
多通道光谱仪用于根据所述耦合等离子体辐射光线获取所述待测样品的光谱数据;
数据处理器,用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。
优选地,所述多通道光谱仪为双通道光谱仪;
相应地,所述光纤包括第一纤芯和第二纤芯。
优选地,所述聚焦透镜组包括:
按照所述等离子体辐射光入射的次序设置的短焦透镜和长焦透镜。
优选地,短焦透镜301的焦距为40mm,数值孔径为0.44,通光孔径为25.4mm;
所述长焦透镜的焦距为75mm,数值孔径为0.24,通光孔径为25.4mm。
优选地,所述样品台进一步用于固定所述待测样品,并根据所述待测样品的预设检测点的位置调节所述待测样品的空间位置,使待测样品的预设检测点的位置与激光的聚焦点位置重合。
优选地,所述系统还包括:
底座,用于承载并固定所述系统中的各个部件。
优选地,所述样品台包括样品架、平移台及样品座;
所述样品架固定于所述平移台上;
所述样品架的、沿激光入射的侧面上开设有矩形的通孔,所述通孔内部用于容纳所述待测样品;
所述样品架的、与所述多通道光谱仪相对的侧面上开设有透射孔,所述透射孔用于使所述等离子体辐射光透出;
所述平移台固定于所述样品座上,所述平移台用于使所述样品架在第一预设平面内进行平移,所述第一预设平面为与所述通孔的矩形开口所在平面平行的平面;
所述样品座通过连接部件固定于所述底座上;所述样品座用于通过所述平移台使所述样品架在第二预设平面内进行平移,所述第二预设平面为与所述底座所在平面平行的平面。
优选地,所述样品台包括:
垫片,用于将所述待测样品从所述通孔内部固定于所述样品架上。
优选地,所述系统还包括:
机箱,用于安装承载所述激光器、所述多通道光谱仪以及所述样品台,覆盖各部件以阻隔激光对外界操作人员的伤害。
优选地,所述机箱分为固定机箱部分和移动机箱部分;
所述固定机箱部分的内部用于安装所述激光器和所述多通道光谱仪,且所述固定机箱部分的箱体上设有所述光纤的出口;
所述移动机箱部分用于覆盖所述样品台,且所述移动机箱部分的结构为可拆卸结构。
本发明通过在等离子体辐射光收集光路上设置数值孔径大于光纤的聚焦透镜组,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明一个实施例的基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统的结构框图;
图2示出了本发明另一个实施例的光纤入射端面的放大结构的示意图;
图3示出了本发明另一个实施例的双透镜结构原理示意图;
图4示出了本发明另一个实施例的样品台的结构示意图;
图5示出了本发明一个实施例的机箱的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1示出了本发明一个实施例的基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统的结构框图;如图1所示,该系统包括激光器100、样品台200、聚焦透镜组300、光纤400、多通道光谱仪500以及数据处理器600;
样品台200用于固定微量重金属的待测样品(图中未示出);
激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;
聚焦透镜组,用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,以获取聚焦等离子体辐射光线;
光纤,用于将所述聚焦等离子体辐射光线进行耦合,以获取耦合等离子体辐射光线;
多通道光谱仪用于根据所述耦合等离子体辐射光线获取所述待测样品的光谱数据;
数据处理器,用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。
现有的LIBS系统所使用的收集结构是由一根固定在五维调节结构上的光纤,将等离子体辐射光直接耦合进入多通道光谱仪。这种结构可以使得光纤在很靠近等离子体火焰的位置收集,减少辐射光中紫外波长分量在空气中的衰减(在200-400nm波段分布有丰富的重金属特征谱线),且能够精确调节收集角度。但在实际实验中常常出现收集到的光谱整体强度低的现象,且最佳收集位置相对难以调整。
进一步地,由于现有技术中多通道光谱仪一般与多纤芯的光纤配套使用,而光纤对轴向角度非常敏感,同一样品在不同光纤轴向角度下收集到的光谱的各个通道的特征谱线存在明显强度差异。此外,由于纤芯的角度受到其接口的限制而无法完全固定,因而导致严重影响了光谱稳定度。
因此,在等离子体辐射光收集光路(即从等离子体辐射光产生到收集的光路)上设置聚焦透镜组,以增大收集等离子体辐射光的数值孔径(从光纤的数值孔径变为聚焦透镜组的数值孔径),即起到了提高辐射光收集效率的作用,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性。
特别地,本实施例中可选择土壤和蔬菜作为待测样品,一方面因为土壤是重金属最初的富集源,而蔬菜是从土壤到人体最快捷的重金属富集通道;另一方面从蔬菜可以快速过渡到植物对土壤中重金属的吸附性研究,为重金属污染的治理寻找新的途径。
本实施例通过在等离子体辐射光收集光路上设置数值孔径大于光纤的聚焦透镜组,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。
作为本实施例的优选,上述多通道光谱仪500可以为双通道光谱仪。相应地,图2示出了本发明另一个实施例的光纤入射端面的放大结构的示意图;如图2所示,光纤400包括第一纤芯410和第二纤芯420。
图3示出了本发明另一个实施例的双透镜结构原理示意图;如图3所示,本实施例的聚焦透镜组300可进一步包括按照所述等离子体辐射光入射的次序设置的短焦透镜301和长焦透镜302。右方的红色火焰303表示等离子体辐射光,左侧的蓝色双线表示第一纤芯410和第二纤芯420组成的光纤双纤芯结构。优选地,两个透镜均为熔融石英平凸透镜,短焦透镜301的焦距为40mm,数值孔径为0.44,通光孔径为25.4mm;长焦透镜302的焦距为75mm,数值孔径为0.24,通光孔径为25.4mm。相同通光孔径下,短焦透镜301的数值孔径较大,长焦透镜302的数值孔径较小,但正好和光纤400的数值孔径(0.22)接近,可提高耦合效率。这样,对于等离子体火焰而言,整个收集光路的数值孔径由原来的0.22变成了0.44,增加了光谱收集效率。
作为本实施例的优选,样品台200进一步用于固定所述待测样品,并根据所述待测样品的预设检测点的位置调节所述待测样品的空间位置,使待测样品的预设检测点的位置与激光的聚焦点位置(图中未示出)重合。
可选地,该系统还可以包括底座600,其用于承载并固定所述系统中的各个部件。
图4示出了本发明另一个实施例的样品台的结构示意图。如图4所述,上述样品台200包括样品架210、平移台220及样品座230;
样品架210固定于平移台220上,且该样品架210的沿激光入射的侧面上开设有矩形的通孔211,该通孔内部用于容纳所述待测样品;
样品架210的与多通道光谱仪500(图4中未示出)相对的侧面上开设有透射孔212,该透射孔212用于使所述等离子体辐射光透出;进一步地,平移台220固定于样品座230上,该平移台220用于使样品架210在第一预设平面内进行平移,所述第一预设平面为与通孔211的矩形开口所在平面平行的平面;样品座230通过连接部件(图中未示出)固定于底座600上;样品座230用于通过平移台220使样品架210在第二预设平面内进行平移,所述第二预设平面即为与所述底座所在平面平行的平面。
在此基础上,样品台200还可以包括垫片240(图4中未示出),用于将待测样品从通孔211内部固定于样品架210上。
图5示出了本发明一个实施例的机箱的结构示意图;如图5所示,所述系统还可以包括机箱800,用于安装激光器100、多通道光谱仪500以及所述样品台200,并覆盖各个部件以阻隔激光对外界操作人员的伤害。
作为优选,本实施例的机箱800可分为固定机箱部分810和移动机箱部分820——固定机箱部分810的内部用于安装激光器100和多通道光谱仪500,且固定机箱部分810的箱体上设有光纤400的出口;
其中,移动机箱部分820用于覆盖样品台200,且移动机箱部分820的结构为可拆卸结构。
可选地,上述系统还可包括激光器电源110,用于为激光器100供电。
此外,本实施例的LIBS系统的结构可以设计为水平箱式结构,同时将光路结构由垂直改为水平,即使上述所有核心部件(激光器100、样品台200、聚焦透镜组300、光纤400、多通道光谱仪500以及数据处理器600)处于同一水平面,可保证这一平面的刚性、平整度、加工精度等参数,进而可以保证系统在硬件结构上的稳定。另外,还可以充分利用一些剩余空间,例如放置计算机的搁板等。
本发明通过在等离子体辐射光收集光路上设置数值孔径大于光纤的聚焦透镜组,提高了辐射光收集效率,进而提高了系统检测的准确性、稳定性和实用性,使LIBS技术得到了进一步的发展和应用。
以上实施例仅用于说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种基于双透镜的微量重金属检测的LIBS系统,其特征在于,包括:
样品台,用于固定微量重金属的待测样品;
激光器,用于根据所述待测样品的预设检测点的位置产生检测所述待测样品中所含微量重金属含量的激光;
聚焦透镜组,用于将所述待测样品经过所述激光照射后产生的等离子体辐射光进行聚焦,以获取聚焦等离子体辐射光线;
光纤,用于将所述聚焦等离子体辐射光线进行耦合,以获取耦合等离子体辐射光线;
多通道光谱仪用于根据所述耦合等离子体辐射光线获取所述待测样品的光谱数据;
数据处理器,用于根据所述光谱数据确定所述待测样品的重金属含量。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述多通道光谱仪为双通道光谱仪;
相应地,所述光纤包括第一纤芯和第二纤芯。
3.如权利要求2所述的系统,其特征在于,所述聚焦透镜组包括:
按照所述等离子体辐射光入射的次序设置的短焦透镜和长焦透镜。
4.如权利要求3所述的系统,其特征在于,所述短焦透镜的焦距为40mm,数值孔径为0.44,通光孔径为25.4mm;
所述长焦透镜的焦距为75mm,数值孔径为0.24,通光孔径为25.4mm。
5.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述样品台进一步用于固定所述待测样品,并根据所述待测样品的预设检测点的位置调节所述待测样品的空间位置,使待测样品的预设检测点的位置与激光的聚焦点位置重合。
6.如权利要求5所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
底座,用于承载并固定所述系统中的各个部件。
7.如权利要求6所述的系统,其特征在于,所述样品台包括样品架、平移台及样品座;
所述样品架固定于所述平移台上;
所述样品架的、沿激光入射的侧面上开设有矩形的通孔,所述通孔内部用于容纳所述待测样品;
所述样品架的、与所述多通道光谱仪相对的侧面上开设有透射孔,所述透射孔用于使所述等离子体辐射光透出;
所述平移台固定于所述样品座上,所述平移台用于使所述样品架在第一预设平面内进行平移,所述第一预设平面为与所述通孔的矩形开口所在平面平行的平面;
所述样品座通过连接部件固定于所述底座上;所述样品座用于通过所述平移台使所述样品架在第二预设平面内进行平移,所述第二预设平面为与所述底座所在平面平行的平面。
8.如权利要求7所述的系统,其特征在于,所述样品台包括:
垫片,用于将所述待测样品从所述通孔内部固定于所述样品架上。
9.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
机箱,用于安装承载所述激光器、所述多通道光谱仪以及所述样品台,覆盖各部件以阻隔激光对外界操作人员的伤害。
10.如权利要求9所述的系统,其特征在于,所述机箱分为固定机箱部分和移动机箱部分;
所述固定机箱部分的内部用于安装所述激光器和所述多通道光谱仪,且所述固定机箱部分的箱体上设有所述光纤的出口;
所述移动机箱部分用于覆盖所述样品台,且所述移动机箱部分的结构为可拆卸结构。
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