CN105527298A - 片状制品的检查系统、片状制品的检查方法及用于在这样的检查中使用的偏振片 - Google Patents
片状制品的检查系统、片状制品的检查方法及用于在这样的检查中使用的偏振片 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105527298A CN105527298A CN201510665960.4A CN201510665960A CN105527298A CN 105527298 A CN105527298 A CN 105527298A CN 201510665960 A CN201510665960 A CN 201510665960A CN 105527298 A CN105527298 A CN 105527298A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mentioned
- sheet
- article
- polaroid
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/8921—Streaks
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H43/00—Use of control, checking, or safety devices, e.g. automatic devices comprising an element for sensing a variable
- B65H43/04—Use of control, checking, or safety devices, e.g. automatic devices comprising an element for sensing a variable detecting, or responding to, presence of faulty articles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2553/00—Sensing or detecting means
- B65H2553/40—Sensing or detecting means using optical, e.g. photographic, elements
- B65H2553/42—Cameras
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2701/00—Handled material; Storage means
- B65H2701/10—Handled articles or webs
- B65H2701/17—Nature of material
- B65H2701/175—Plastic
- B65H2701/1752—Polymer film
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2801/00—Application field
- B65H2801/61—Display device manufacture, e.g. liquid crystal displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9511—Optical elements other than lenses, e.g. mirrors
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明公开了片状制品的检查系统和方法,而且公开了用于在这样的片状制品的检查中使用的偏振片。根据本发明的一实施例的片状制品的检查系统,其特征在于,作为包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品的检查系统,包含:具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片;从包含上述片状制品和上述检查用偏振片的偏光部的一侧向上述偏光部照射光的光源;和从上述偏光部的另一侧对上述偏光部摄像的摄像设备,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为7゜以下。
Description
技术领域
本发明涉及用于片状制品的检查的系统和方法,而且还涉及用于在这样的检查中使用的偏振片。
背景技术
偏振片已在液晶显示装置(LCD)、电致发光(EL)显示装置、等离子体显示装置(PDP)、场致发射显示装置(FED)等各种光学显示装置中广泛地使用。例如,在形成液晶显示装置的液晶面板的过程中,有时在液晶单元的各表面使偏振片压粘。为了将偏振片和液晶单元接合,使用包含丙烯酸系组合物和/或其他适合的组合物的压敏粘合剂,为了这样的接合,一般地在偏振片的一表面形成了压敏粘合剂的层。压敏粘合层在直至与液晶单元实际地接合前,为了不因露出而被污染,用脱模膜(SeparatorFilm)覆盖。此外,在偏振片的相反侧的表面,经由压敏粘合剂附着用于防止损伤、污染的保护膜(ProtectionFilm)。
完成各种检查而出库的偏振片的脱模膜,在液晶显示装置的制造工序中为了偏振片与液晶单元的接合,最终从偏振片剥离。但是,在偏振片的两表面中将使脱模膜附着的表面和使保护膜附着的表面在制造工序途中区分并不是那么地高效率。另一方面,如果代替脱模膜而误将保护膜从偏振片剥离,有时对制造工序带来莫大的障碍。因此,在实际使用偏振片的工序中,为了尽可能减少将脱模膜与保护膜区分的负担,同时进一步确实地保障脱模膜的剥离,有必要在偏振片的出库前进行新的方式的检查。
韩国公开专利公报第2014-0012764号公开了检查具有光学膜的片状制品的缺点的装置和使用了该装置的制造系统,但对于上述的要求事项的解决对策没有提及。
现有技术文献
专利文献
专利文献:韩国公开专利公报第2014-0012764号
发明内容
发明要解决的课题
本发明的目的在于提供适合包含偏振片的片状制品的最终检查的系统和检查方法。
本发明的目的在于提供用于在这样的片状制品的检查中使用的偏振片。
用于解决课题的手段
1.片状制品的检查系统,作为包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品的检查系统,其包含:具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片;从包含上述片状制品和上述检查用偏振片的偏光部的一侧向上述偏光部照射光的光源;和从上述偏光部的另一侧对上述偏光部摄像而获得上述偏光部的图像的摄像设备,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
2.上述1的片状制品的检查系统,其中,上述角度为7゜以下。
3.上述1的片状制品的检查系统,其中,还包含对获得的上述图像进行分析而判定上述脱模膜与上述光源和上述摄像设备中的任一个是否相对的检查部。
4.上述1的片状制品的检查系统,其中,还包含在对上述片状制品的一侧表面摄像的另一图像中识别在上述片状制品中表示的标记来判定上述一侧表面是否为上述片状制品的两表面中的任一表面的检查部。
5.上述4的片状制品的检查系统,其中,将上述片状制品和上述检查用偏振片以从捕捉上述另一图像的方向重合而看不到的方式配置。
6.上述4的片状制品的检查系统,其中,上述检查部在上述另一图像中识别上述标记的位置和形状中的至少一个。
7.片状制品的检查方法,其包含:
将包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品配置在光源和摄像设备之间的阶段;
用上述光源对包含在上述光源和上述摄像设备之间配置、具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片和上述片状制品的偏光部进行照明的阶段;和
使用上述摄像设备获得上述偏光部的图像的阶段,
上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
8.上述7的片状制品的检查方法,其中,上述角度为7゜以下。
9.上述7的片状制品的检查方法,其中,还包含对获得的上述图像进行分析来判定上述脱模膜与上述光源和上述摄像设备中的任一个是否相对的阶段。
10.上述7的片状制品的检查方法,其中,还包含在对上述片状制品的一侧表面摄像的另一图像中识别在上述片状制品中表示的标记来判定上述一侧表面是否为上述片状制品的两表面中的任一表面的阶段。
11.上述10的片状制品的检查方法,其中,还包含将上述片状制品和上述检查用偏振片以从捕捉上述另一图像的方向重合而看不到的方式配置的阶段。
12.上述10的片状制品的检查方法,其中,上述判定的阶段包含在上述另一图像中识别上述标记的位置和形状中的至少一个的阶段。
13.偏振片,在该偏振片中包含:起偏器;和附着于上述起偏器的至少一个表面的起偏器保护层,在上述偏振片的一侧表面附着有脱模膜,在上述偏振片的另一侧表面附着有保护膜,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
14.上述13的偏振片,其中,上述角度为7゜以下。
15.上述13的偏振片,其中,在上述起偏器、上述起偏器保护层、上述脱模膜和上述保护膜中的至少一个表示有标记。
16.上述15的偏振片,其中,在上述一侧表面中上述标记具有的相对位置与上述另一侧表面中上述标记具有的相对位置不同。
17.上述15的偏振片,其中,在上述一侧表面中上述标记具有的形状与上述另一侧表面中上述标记具有的形状不同。
18.上述15的偏振片,其中,上述标记表示在上述偏振片的制造工序中检测的缺陷候补的位置。
发明的效果
根据本发明的偏振片和使用了其的片材上的检查系统和方法适合多张片状制品出库前的各片状制品的最终检查,对于出库后实际的使用偏振片的过程中防止替代脱模膜而误将保护膜剥离有用。
附图说明
图1是表示根据本发明的一实施例的偏振片的图。
图2是表示根据本发明的一实施例的片状制品的检查系统的图。
图3和图4为用于对使用根据本发明的一实施例的片状制品的检查系统检查使具有不同的特性的脱模膜附着的偏振片的反转的有无的结果进行说明的图。
图5为根据本发明的一实施例表示有标记的片状制品的上面图。
具体实施方式
本发明与检查片状制品的“反转”关联。本说明书中,片状制品“反转”的表达意味着从特定方向(例如,从片状制品的上部)注视片状制品时片状制品的两表面中所要求的表面看不到。具体地,本发明涉及包含在两表面分别附着脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品的检查,着眼于如下这点:如果一律地成为从偏振片各自的特定表面向相反侧表面的方向(例如,从使脱模膜附着的表面向使保护膜附着的表面的方向)而使偏振片出库,在偏振片的实际的使用中对于保障脱模膜的剥离相当有用。换言之,如果通过本发明将没有反转的片状制品和反转的片状制品分类,则将多张片状制品出库前使片状制品在没有反转的正常的状态下(例如,使脱模膜附着的侧面在上方)堆积的作业容易。
以下参照附图对本发明的具体的实施例进行说明。但是,这只不过是例示,本发明并不受其限制。
本发明的实施例的说明中,对于与本发明关联的公知的技术的具体的说明判断为不必要地可使本发明的主旨模糊不清的情况下省略其详细的说明。而且,后述的用语是考虑本发明中的功能而定义的用语,其有时因用户、运用者的意图或惯例等而变化。因此,其定义必须基于本说明书的全部内容。
根据本发明的一实施例的片状制品的检查系统,作为包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品的检查系统,其包含:具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片;在包含上述片状制品和上述检查用偏振片的偏光部的一侧对上述偏光部照射光的光源;和在上述偏光部的另一侧对上述偏光部摄像的摄像设备,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下,因此特别适合多张片状制品出库前的各片状制品的最终检查,对于出库后实际使用偏振片的过程中防止替代脱模膜而误将保护膜剥离有用。
作为根据本发明的实施例的反转检查的对象体的片状制品,只要包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片,则对其种类并无特别限制。根据本发明的一实施例,片状制品的偏振片,为了使这样的反转检查容易,可以如图1中图示那样构成。
图1的偏振片(100)包含起偏器(110)。起偏器(110)是将非偏光或任意偏光的自然光变为直线偏光的光学元件,例如,可以是在聚乙烯醇系(polyvinylalcohol:PVA)膜这样的透明基材膜使碘系化合物这样的二色性色素(dichroicdye)吸附取向而成的。
构成起偏器(110)的透明基材膜只要是能用碘这样的二色性偏光物质染色的膜,对其种类并无特别限制。作为这样的基材膜的具体的例子,能够列举聚乙烯醇系膜、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物膜、乙烯-乙烯醇共聚物膜、纤维素膜、这些的部分地皂化的膜等亲水性高分子膜;或者脱水处理过的聚乙烯醇系膜、脱盐酸处理过的聚乙烯醇系膜等这样的多烯取向膜等。例如,聚乙烯醇系膜不仅在面内增强偏光度的均一性的效果优异,而且对于二色性物质的染色亲和性优异。此外,聚乙烯醇系膜能够通过将聚醋酸乙烯酯系树脂皂化而制造,作为聚醋酸乙烯酯系树脂的例子,除了作为醋酸乙烯酯的均聚物的聚醋酸乙烯酯以外,能够列举醋酸乙烯酯和可与其共聚的其他的单体的共聚物等。作为可与醋酸乙烯酯共聚的其他的单体,能够列举不饱和羧酸系、不饱和磺酸系、烯烃系、乙烯基醚系、具有铵基的丙烯酰胺系单体等。此外,聚乙烯醇系树脂可以是改性的产物,例如,改性为醛类的聚乙烯醇缩甲醛、乙烯醇缩乙醛等也能够使用。
在起偏器(110)的至少一个表面可附着起偏器保护层。例如,如图1中图示那样,偏振片(100)能够还包含在起偏器(110)的两表面形成的起偏器保护层(120、130)。对于起偏器保护层(120、130),可使用三乙酰纤维素(triacetylcellulose:TAC)膜这样的适合的透明膜。起偏器保护层(120、130)可经由在起偏器(110)的表面涂布的粘合剂而在起偏器(110)上层叠。不过,对用于起偏器(110)和起偏器保护层(120、130)的附着的方法并无特别限定。
在与起偏器(110)的至少一面接合的起偏器保护层中使用的膜,只要透明性、机械强度、热稳定性、水分屏蔽性、各向同性等优异,则对其种类并无特别限制。作为这样的膜的具体的例子,能够列举聚(甲基)丙烯酸甲酯、聚(甲基)丙烯酸乙酯等丙烯酸系树脂膜;聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚间苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚对苯二甲酸丁二醇酯等聚酯系树脂膜;二乙酰纤维素、三乙酰纤维素等纤维素系树脂膜;聚乙烯、聚丙烯、具有环系或降冰片烯结构的聚烯烃系、乙烯-丙烯共聚物等聚烯烃系树脂膜等,但并不限定于此。
此外,可在偏振片(100)的一表面形成脱模膜(SeparatorFilm)(140),可在偏振片(100)的相反侧的表面形成保护膜(ProtectionFilm)(150)。如图1中图示那样,脱模膜(140)能够经由压敏粘合剂而附着于起偏器保护层(120)的上部表面,保护膜(150)能够经由压敏粘合剂而附着于起偏器保护层(130)的下部表面。使脱模膜(140)和保护膜(150)附着于偏振片(100)的两表面所使用的压敏粘合剂有时不同。
根据本发明的一实施例,脱模膜(140)能够具备可使通过脱模膜(140)的偏光的轴在规定的角度以下弯曲(反れる)的光学功能。例如,脱模膜(140)的延伸方向与偏振片(100)的吸收轴之间的角度可为13゜以下,优选地可为7゜以下。另一方面,保护膜(150)能够具有使通常入射于保护膜(150)的光双折射这样的不能忽视的相当大的相位差特性。
可将包含上述的偏振片(100)的片状制品每1张在运送手段(例如输送带)上运送。特别地,如果在偏振片(100)的两表面分别附着脱模膜(140)和保护膜(150),则使包含这样的偏振片(100)的片状制品最终出库前,图2的系统(200)为了检查片状制品的有无反转,能够使用运送手段将片状制品提供到预先设定的检查位置。
图2为表示根据本发明的一实施例的片状制品的检查系统的图。如图2中图示那样,例示的片状制品的检查系统(200)包含:检查用偏振片(220);从包含检查对象体的片状制品(210)和检查用偏振片(220)的偏光部(230)的一侧(图2中,偏光部(230)的下侧)向偏光部(230)照射光(245)的光源(240);从偏光部(230)的另一侧(图2中,偏光部(230)的上侧)对偏光部(230)摄像的摄像设备(250)和使用由摄像设备(250)捕捉的图像检查片状制品(210)有无反转的检查部(260)。此外,片状制品的检查系统(200)能够还包含用于将片状制品(210)如图2中图示那样配置的运送手段(未图示)。
片状制品(210)包含如图1中例示那样在两表面分别形成了脱模膜(140)和保护膜(150)的偏振片(100)。检查用偏振片(220)作为无缺陷的正常的偏振片,被配置在光源(240)与摄像设备(250)之间。检查用偏振片(220)除了起偏器以外,能够包含在起偏器的至少一面附着的起偏器保护膜,优选不与脱模膜、保护膜接合。
片状制品的检查系统(200)能够使用运送手段使这样的片状制品(210)位于光源(240)与摄像设备(250)之间。特别地,片状制品的检查系统(200)能够以成为片状制品(210)的偏振片(100)的偏光轴(例如,偏光吸收轴)与检查用偏振片(220)的偏光轴(例如,偏光吸收轴)正交的状态(即,正交尼科耳状态)的方式提供片状制品(210)。
另一方面,图2以从光源(240)发射的光(245)到达片状制品(210)后到达检查用偏振片(220)的方式图示,但片状制品(210)与检查用偏振片(220)的配置并不限定于此。作为另一例子,可以以从光源(240)发射的光(245)先到达检查用偏振片(220)的方式配置片状制品(210)和检查用偏振片(220)。
光源(240)以向偏光部(230)照射光(245)的方式构成。因此,为了摄像设备(250)的摄像,片状制品的检查系统(200)能够使用光源(240)来对偏光部(230)照明。例如,片状制品的检查系统(200)能够还包含控制部(未图示),该控制部使得光源(240)向偏光部(230)提供光。在几个实施例中,这样的控制部为了光源(240)的光量的调节、光源(240)的光照射角度的调节等,能够提供与用于控制光源(240)的用户输入的接收相适合的用户界面。光源(240),为了适合片状制品(210)的反转检查,可以以能够照射光(245)的方式配置,对其配置并无特别限定。图2中,单纯地,作为一例,作为光源(240)将光(245)垂直地照射于偏光部(230)的实例而图示。
关联领域中在偏光膜的检查中使用的光源,可无特别限制地作为光源(240)使用。例如,LED灯(LightEmittingDiodeLamp)、金属卤化物灯(MetalHalideLamp)这样的卤素灯、荧光灯、白炽电灯泡等可作为光源(240)使用。此外,对于从光源(240)发射的光(245)的种类并无特别限定,作为例子,能够列举白色光、绿光、青色光、红色光、红外线、这些的适当的组合等。进而,光源(240)可以是长边或短边具有片状制品的宽度以上的长度或者一边具有片状制品的宽度以上的长度的四边形形态。另一方面,可按照片状制品(210)的运送速度来调节光(245)照射的时间区间。
摄像设备(250)以捕捉偏光部(230)的图像的方式构成。因此,片状制品的检查系统(200)能够使用摄像设备(250)获得偏光部(230)的图像。例如,片状制品的检查系统(200)的控制部能够使摄像设备(250)对偏光部(230)摄像而获得偏光部(230)的图像。在几个实施例中,上述的控制部为了摄像设备(250)的摄像时间和/或摄像角度的调节等,能够提供与用于控制摄像设备(250)的用户输入的接收相适合的用户界面。例如,如图2中图示那样,摄像设备(250)能够相对于片状制品(210)的表面和检查用偏振片(220)的表面垂直地对偏光部(230)摄像。
摄像设备(250),只要具有经过偏光部(230)入射的光,就能够将其接收而捕捉偏光部(230)的图像,对其种类并无特别限定。例如,摄像设备(250)能够包含照相机(例如CCD(Charge-CoupledDevice)照相机)、光传感器等。
片状制品的检查系统(200)的检查部(260)对摄像设备(250)经由偏光部(230)的摄像而获得的图像进行分析,检查片状制品(210)的反转的有无。检查部(260)可体现为包含多种硬件模块和软件模块的计算机装置。
通常,从以正交尼科耳状态配置的2张偏振片的一侧入射的光不能透过该偏振片。因此,对该偏振片摄影的图像表示为黑色。与其关联,必须留意如下这点:片状制品(210)中所含的偏振片(100)在一表面附着有脱模膜(140),在另一表面附着有保护膜(150)。如前所述,脱模膜(140)的延伸方向与偏振片(100)的吸收轴所成的角度为规定的角度以下(例如,13゜以下,优选地7゜以下),保护膜(150)具有不能忽视的相位差特性。因此,根据脱模膜(140)和保护膜(150)分别与光源(240)和摄像设备(250)中的任一个是否相对,也有时由摄像设备(250)捕捉的图像显示暗状态,也有时不是这样。换言之,根据该图像的全体的亮度是否超过预先设定的临界值,检查部(260)能够判定从脱模膜(140)到保护膜(150)的方向是否为所要求的方向(例如,图2中下侧方向)。
具体地,即使片状制品(210)为透明,脱模膜(140)和保护膜(150)分别与摄像设备(250)和光源(240)相对的情形(即,图2中使脱模膜(140)附着于偏振片(100)的上侧表面,使保护膜(150)附着于偏振片(100)的下侧表面的情形)下,根据脱模膜(140)的特性,摄像设备(250)捕捉全体地黑的图像。因此,检查部(260)能够判定脱模膜(140)与摄像设备(250)相对。另一方面,脱模膜(140)和保护膜(150)分别与光源(240)和摄像设备(250)相对的情形(即,图2中使脱模膜(140)附着于偏振片(100)的下侧表面,使保护膜(150)附着于偏振片(100)的上侧表面的情形)下,透过片状制品(210)的光(245)在片状制品(210)与检查用偏振片(220)之间由于保护膜(150)而相位差变化。结果,光(245)的一部成分透过检查用偏振片(220),因此在由摄像设备(250)捕捉的图像中有时出现条纹模样形态的洇渗这样的明亮的部分。据此,检查部(260)能够判定脱模膜(140)与光源(240)相对。
图3和图4是用于对使用根据本发明的一实施例的片状制品的检查系统检查使具有不同的特性的脱模膜附着的偏振片的反转的有无的结果进行说明的图。
作为片状制品,使用了在两表面分别使脱模膜和保护膜附着的偏振片。为了实验,使用了具有与偏振片的吸收轴分别具有7゜以下的差、7゜~13゜的差和比13゜大的差的延伸方向的脱模膜。如图2中图示那样,将偏振片配置在光源与摄像设备(在线扫描照相机)之间,在偏振片与摄像设备之间配置了正常的检查用偏振片。此外,使偏振片与检查用偏振片彼此相距35mm而以正交尼科耳状态配置。
使用在距离照明表面10mm的地点测定的照度为100万lux以上的LED作为光源,以与偏振片相隔5mm的距离使光垂直地照射偏振片。在偏振片的光照射区域中,在宽度方向上的照度差没有另外测定。光源与摄像设备之间的距离为690mm。
图3图示以在上述的实验条件下附着于偏振片的脱模膜面向摄像设备、附着于偏振片的保护膜面向光源的方式使偏振片定位的情形下捕捉的图像。
图4图示以在上述的实验条件下附着于偏振片的脱模膜面向光源、附着于偏振片的保护膜面向摄像设备的方式使偏振片定位的情形下捕捉的图像。
参照图3和图4,能够确认如下这点:偏振片的吸收轴与脱模膜的延伸方向之间的角度为13゜以下时,图3的图像与图4的图像之间的全体的亮度之差明显,特别地偏振片的吸收轴与脱模膜的延伸方向之间的角度为7゜以下时,图3的图像与图4的图像之间的全体的亮度之差更为显著。
此外,参照图2,片状制品的检查系统(200),能够在基于上述的正交尼科耳配置的检查上追加进行使用片状制品(210)中表示的标记的反转检查。不过,对于在先以判定为反转的片状制品(210),也有时不进行基于标记的反转检查。
片状制品(210)可边经过多个制造工序,边在片状制品(210)中表示多种形态的标记(例如,用可擦除的油墨或者以没有被擦除的方式)。这样的标记在片状制品(210)的两表面中的任一表面都能够检测的情形下,该标记能够在片状制品(210)的反转的有无的检查中利用。
图5是根据本发明的一实施例表示有标记的片状制品的上面图。在图5的纸面中,以上侧方向为基准,假定在片状制品(210)的偏振片(100)的上侧表面附着有脱模膜(140),在偏振片(100)的下侧表面附着有保护膜(150)。如图5中图示那样,有时在片状制品(210)的预先设定的区域(例如,不包括中心部、宽度方向的中心线和长度方向的中心线的周边区域)刻有特定的序号这样的标记(510)和/或用于表示制造工序中检测的缺陷候补(520)的位置的预先设定的形状的标记(530)。例如,在偏振片(100)的制造工序中,可在起偏器(110)、起偏器保护层(120、130)、脱模膜(140)和保护膜(150)中的至少一个中表示有图5中图示的标记(510、530)这样的标记。由图5可知,标记(510)在片状制品(210)的一侧表面中具有的相对位置有时与标记(510)在片状制品(210)的另一侧表面中具有的相对位置不同。此外,如果标记(510)为非对称,则标记(510)在片状制品(210)的一侧表面中具有的形状与标记(510)在片状制品(210)的另一侧表面中具有的形状不同。同样地,标记(530)在片状制品(210)的一侧表面中具有的形状与标记(530)在片状制品(210)的另一侧表面中具有的形状不同。
据此,检查部(260)能够对表示有上述的标记(例如,标记(510)和/或标记(530))的片状制品(210)的图像进行分析,检查片状制品(210)有无反转。具体地,检查部(260)在片状制品(210)的图像中识别标记的位置和/或形状后,能够判定从用于捕捉其图像的摄像方向是能够看到使脱模膜(140)附着的表面侧还是能够看到使保护膜(150)附着的表面侧。例如,在片状制品(210)的图像中检测的标记的位置与预先设定的位置不同的情形或该标记的形状与预先设定的形状不匹配的情形下,检查部(260)能够判定使片状制品(210)反转(例如,图5中脱模膜(140)位于保护膜(150)的下侧)。
因此,片状制品的检查系统(200)能够还包含图2中图示的光源(270)和摄像设备(280)。不过,光源(270)的种类、摄像设备(280)的种类、光源(270)的配置、摄像设备(280)的配置、光源(270)的光照射角度和摄像设备(280)的摄像角度只要能够对于片状制品(210)进行适当的光照射和适当的摄像,则并无特别限制。
例如,如图5中图示那样,为了获得表示有标记(510、530)的片状制品(210)的图像,片状制品的检查系统(200)能够使用完成了采用了正交尼科耳配置的反转检查的运送手段使片状制品(210)如图2中图示那样向右侧移动。然后,片状制品的检查系统(200)能够使用摄像设备(280)来捕捉片状制品(210)的一表面的图像。片状制品(210)由于已以在捕捉上面的图像的方向与检查用偏振片(220)重合看不到地而另外可看到的方式配置,因此不必担心在利用摄像设备(280)获得的图像中产生暗状态。为了这样的摄像,光源(270)能够向摄像设备(280)提供光(275)而对片状制品(210)照明。接着,检查部(260)能够从片状制品(210)的图像识别标记(510、530),判定是否片状制品(210)的两表面中的任一表面在该图像中被摄像。进而,检查部(260)也能够判定缺陷候补(520)是否为与片状制品(210)的不良相当的缺陷。
另一方面,以上参照图5对检查部(260)全部进行基于正交尼科耳配置的反转检查和基于标记的反转检查进行了说明,但能够采用另外的部件分别进行二种方式的反转检查。此外,图5中图示的反转检查方式的顺序只是简单地例示,也可在进行了基于标记的反转检查后,进行采用正交尼科耳配置的反转检查。
如上所述实施了反转检查后,将片状制品(210)根据反转有无判定各自分类,为最终出库做准备。
此外,根据本发明的另一实施例,提供片状制品的检查方法,其包含:将包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品配置在光源与摄像设备之间的阶段;用上述光源对包含在上述光源与上述摄像设备之间配置、具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片和上述片状制品的偏光部照明的阶段;和使用上述摄像设备来获得上述偏光部的图像的阶段,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
以上对本发明的代表性的实施例进行了详细说明,但本发明所属技术领域中具有通常的知识的人能够理解:对于上述的实施例,在不脱离本发明的范畴的限度内能够进行多种变形。因此,本发明的权利范围并不限于说明的实施例来确定,不仅由后述的专利权利要求,而且必须由与该专利权利要求等同的范围等确定。
附图标记的说明
100:偏振片
110:起偏器
120、130:起偏器保护层
140:脱模膜
150:保护膜
200:片状制品的检查系统
210:片状制品
220:检查用偏振片
230:偏光部
240、270:光源
245、275:光
250、280:摄像设备
260:检查部
510、530:标记
520:缺陷候补
Claims (18)
1.一种片状制品的检查系统,作为包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品的检查系统,其包含:具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片;从包含上述片状制品和上述检查用偏振片的偏光部的一侧向上述偏光部照射光的光源;和从上述偏光部的另一侧对上述偏光部摄像而获得上述偏光部的图像的摄像设备,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
2.根据权利要求1所述的片状制品的检查系统,其特征在于,上述角度为7゜以下。
3.根据权利要求1所述的片状制品的检查系统,其特征在于,还包含对获得的上述图像分析来判定上述脱模膜与上述光源和上述摄像设备中的任一个是否相对的检查部。
4.根据权利要求1所述的片状制品的检查系统,其特征在于,还包含在对上述片状制品的一侧表面摄像的另一图像中识别上述片状制品中表示的标记而判定上述一侧表面是否为上述片状制品的两表面中的任一表面的检查部。
5.根据权利要求4所述的片状制品的检查系统,其特征在于,将上述片状制品和上述检查用偏振片以从捕捉上述另一图像的方向重叠而看不到的方式配置。
6.根据权利要求4所述的片状制品的检查系统,其特征在于,上述检查部用上述另一图像识别上述标记的位置和形状中的至少一个。
7.一种片状制品的检查方法,其包含:
将包含在两表面分别附着有脱模膜和保护膜的偏振片的片状制品配置在光源与摄像设备之间的阶段;
用上述光源照射包含在上述光源与上述摄像设备之间配置、具有与上述偏振片的吸收轴正交的吸收轴的检查用偏振片和上述片状制品的偏光部的阶段;和
使用上述摄像设备获得上述偏光部的图像的阶段,
上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
8.根据权利要求7所述的片状制品的检查方法,其特征在于,上述角度为7゜以下。
9.根据权利要求7所述的片状制品的检查方法,其特征在于,还包含对获得的上述图像分析来判定上述脱模膜与上述光源和上述摄像设备中的任一个是否相对的阶段。
10.根据权利要求7所述的片状制品的检查方法,其特征在于,还包含在对上述片状制品的一侧表面摄像的另一图像中识别上述片状制品中表示的标记来判定上述一侧表面是否为上述片状制品的两表面中的任一表面的阶段。
11.根据权利要求10所述的片状制品的检查方法,其特征在于,还包含将上述片状制品和上述检查用偏振片以从捕捉上述另一图像的方向重合而看不到的方式配置的阶段。
12.根据权利要求10所述的片状制品的检查方法,其特征在于,上述判定的阶段包含在上述另一图像中识别上述标记的位置和形状中的至少一个的阶段。
13.一种偏振片,在该偏振片中包含起偏器;和在上述起偏器的至少一个表面附着的起偏器保护层,在上述偏振片的一侧表面附着有脱模膜,在上述偏振片的另一侧表面附着有保护膜,上述脱模膜的延伸方向与上述偏振片的吸收轴之间的角度为13゜以下。
14.根据权利要求13所述的偏振片,其特征在于,上述角度为7゜以下。
15.根据权利要求13所述的偏振片,其特征在于,在上述起偏器、上述起偏器保护层、上述脱模膜和上述保护膜中的至少一个表示有标记。
16.根据权利要求15所述的偏振片,其特征在于,在上述一侧表面中上述标记具有的相对位置与上述另一侧表面中上述标记具有的相对位置不同。
17.根据权利要求15所述的偏振片,其特征在于,在上述一侧表面中上述标记具有的形状与上述另一侧表面中上述标记具有的形状不同。
18.根据权利要求15所述的偏振片,其特征在于,上述标记表示在上述偏振片的制造工序中检测的缺陷候补的位置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140139727A KR20160044802A (ko) | 2014-10-16 | 2014-10-16 | 시트상 제품 검사 시스템, 시트상 제품 검사 방법 및 그러한 검사에서 사용하기 위한 편광판 |
KR10-2014-0139727 | 2014-10-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105527298A true CN105527298A (zh) | 2016-04-27 |
Family
ID=55769654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201510665960.4A Pending CN105527298A (zh) | 2014-10-16 | 2015-10-15 | 片状制品的检查系统、片状制品的检查方法及用于在这样的检查中使用的偏振片 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016081062A (zh) |
KR (1) | KR20160044802A (zh) |
CN (1) | CN105527298A (zh) |
TW (1) | TW201621298A (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108267453A (zh) * | 2017-12-20 | 2018-07-10 | 张家港康得新光电材料有限公司 | 可切换式3d模组的不良检测方法 |
CN108955579A (zh) * | 2018-08-06 | 2018-12-07 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 一种高精度光学膜吸收轴测量装置 |
CN109313302A (zh) * | 2016-06-08 | 2019-02-05 | 三星Sdi株式会社 | 用来处理薄膜的装置以及方法 |
CN109696440A (zh) * | 2017-10-20 | 2019-04-30 | 丰田自动车株式会社 | 检查装置、检查设施和检查装置故障确认方法 |
CN113933296A (zh) * | 2021-03-15 | 2022-01-14 | 住华科技股份有限公司 | 一种检测光学膜的方法、装置及系统 |
-
2014
- 2014-10-16 KR KR1020140139727A patent/KR20160044802A/ko not_active Application Discontinuation
-
2015
- 2015-09-09 TW TW104129840A patent/TW201621298A/zh unknown
- 2015-10-13 JP JP2015202213A patent/JP2016081062A/ja active Pending
- 2015-10-15 CN CN201510665960.4A patent/CN105527298A/zh active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109313302A (zh) * | 2016-06-08 | 2019-02-05 | 三星Sdi株式会社 | 用来处理薄膜的装置以及方法 |
CN109696440A (zh) * | 2017-10-20 | 2019-04-30 | 丰田自动车株式会社 | 检查装置、检查设施和检查装置故障确认方法 |
CN109696440B (zh) * | 2017-10-20 | 2021-08-24 | 丰田自动车株式会社 | 检查装置、检查设施和检查装置故障确认方法 |
CN108267453A (zh) * | 2017-12-20 | 2018-07-10 | 张家港康得新光电材料有限公司 | 可切换式3d模组的不良检测方法 |
CN108955579A (zh) * | 2018-08-06 | 2018-12-07 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 一种高精度光学膜吸收轴测量装置 |
CN108955579B (zh) * | 2018-08-06 | 2024-05-24 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 一种高精度光学膜吸收轴测量装置 |
CN113933296A (zh) * | 2021-03-15 | 2022-01-14 | 住华科技股份有限公司 | 一种检测光学膜的方法、装置及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160044802A (ko) | 2016-04-26 |
TW201621298A (zh) | 2016-06-16 |
JP2016081062A (ja) | 2016-05-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105527298A (zh) | 片状制品的检查系统、片状制品的检查方法及用于在这样的检查中使用的偏振片 | |
JP5051874B2 (ja) | 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置 | |
CN105738380B (zh) | 显示装置的检查装置以及显示装置的检查方法 | |
US8018442B2 (en) | Calibration of an optical touch-sensitive display device | |
JP5274622B2 (ja) | 欠陥検査装置及び方法 | |
TW201534886A (zh) | 光學膜之檢查裝置及方法 | |
CN104280407A (zh) | 偏光板的检查方法 | |
JP2007212442A (ja) | 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 | |
JP2011226957A (ja) | 偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
CN105372257A (zh) | 光学膜检查装置 | |
WO2015182541A1 (ja) | 積層偏光フィルムの欠陥検査方法、製造方法および製造装置 | |
US9430976B2 (en) | Detection system and method for automatically adjusting gray scale | |
CN102741684A (zh) | 贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法 | |
JP2011112431A (ja) | カラーフィルタ表裏欠陥の分別方法、及び分別装置 | |
CN102753960A (zh) | 贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法 | |
KR20200047266A (ko) | 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치 | |
US11150201B2 (en) | System and method of detecting defect of optical film | |
CN204287068U (zh) | 用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置 | |
TW201727219A (zh) | 薄膜檢查裝置及薄膜檢查方法 | |
JP2005241586A (ja) | 光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法 | |
KR20160005445A (ko) | 편광판의 결함 검사 장치 및 방법 | |
US11906442B2 (en) | Foreign material inspection system of display unit | |
TW200839222A (en) | Mark detecting method | |
TWI676797B (zh) | 光學膜檢測裝置及光學膜的檢測方法 | |
KR20180016757A (ko) | 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20160427 |