CN105510343A - 一种表面检测装置 - Google Patents

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张智海
易永祥
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Abstract

本发明涉及一种表面检测装置，包括聚光单元组，所述聚光单元组包括第一聚光单元组和第二聚光单元组，以及与所述聚光单元组配合使用的一检测相机，所述第一聚光单元组射出的光线与所述第二聚光单元组射出的光线垂直；所述第一聚光单元组和第二聚光单元组中射出的光线与所述第一聚光单元组和第二聚光单元组中光源的方向具有夹角。本发明通过两个带角度线光源相对平行放置，且之间的出射光相互垂直，可以将平面内各方向的缺陷都很好的显现出来。

Description

一种表面检测装置
技术领域
本发明涉及一种表面检测装置。
背景技术
目前线扫描相机所用重要光源是线光源，由于线光源的出射角度比较固定。如图1所示，第一线光源1包括，光源11以及聚光单元12，光源11将光线垂直射入聚光单元12，使得现有的线光源具有一定的局限性。如图2所示，为利用现有线光源检测表面的装置，包括第一线光源1，以及用于检测的检测相机7，第一线光源1在待检测表面3上形成第一光带4，同时检测相机7形成扫描线6，若划痕或异物与扫描线6平行，扫描相机7并不能检测到异物。如果添加一个与第一线光源1垂直入射的第二线光源2，但是此第二线光源2无法将线扫描相机的成像范围全部照明，所以实际中无法使用。
有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的表面检测装置，使其更具有产业上的利用价值。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种通过两个线光源能够快速检测表面的装置。
本发明的技术方案如下：
一种表面检测装置，包括聚光单元组，所述聚光单元组包括第一聚光单元组和第二聚光单元组，以及与所述聚光单元组配合使用的一检测相机，其特征在于：所述第一聚光单元组射出的光线与所述第二聚光单元组射出的光线垂直；所述第一聚光单元组和第二聚光单元组中射出的光线与所述第一聚光单元组和第二聚光单元组中光源的方向具有夹角。
进一步的，所述聚光单元组包括多个聚光单元和外壳组成，所述聚光单元包括光源和聚光Lens，所述光源和所述聚光Lens均倾斜放置在所述外壳内。
进一步的，所述聚光Lens优选为圆柱体。
进一步的，所述聚光Lens优选与所述光源接触的一半为立方体结构，另一半为半圆柱体结构。
进一步的，所述检测装置还包括固定装置，用于固定所述聚光单元和检测相机。
进一步的，所述聚光单元的外壳优选为金属件。
进一步的，所述光源为LED光源。
进一步的，第一聚光单元组射出的光线与所述第二聚光单元组射出的光线的方向在被测表面的投影夹角范围为60～120度。借由上述方案，本发明至少具有以下优点：
本发明通过两个带角度线光源相对平行放置，且之间的出射光相互垂直，可以将平面内各方向的缺陷都很好的显现出来。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
图1是本发明背景技术中线光源结构示意图；
图2是本发明背景技术中检测装置结构示意图；
图3是本发明聚光单元组结构示意图；
图4是本发明聚光单元组内部结构第一实施例结构示意图；
图5是本发明聚光单元组内部结构第二实施例结构示意图；
图6是本发明检测装置结构示意图；
图7是本发明检测装置上视结构示意图；
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
参见图6和图7，本发明包括聚光单元组，其中聚光单元组包括第一聚光单元组10和第二聚光单元组20，以及与聚光单元组配合使用的一个检测相机40，其中第一聚光单元组10和第二聚光单元组20为相同的聚光单元组，平行放置。参见图3，为本发明聚光单元组，其中包括外壳21和多个聚光单元组成，每一个聚光单元均包括光源22和聚光Lens23，聚光Lens可根据需要设置成多种形状，如图4，聚光Lens231为圆柱体，如图5，聚光Lens232与光源接触的一般为立方体结构，另一半为半圆柱体结构。本发明还包括连接单元，用于连接聚光单元和检测相机，以及一固定装置(图中未标出)用于固定聚光单元和检测相机，聚光单元的外壳一般优选为金属件。本发明中光源为LED光源。
本发明原理如下，第一聚光单元组10中光源的主光线出射方向与聚光单元组的排列方向成一定角度，检测相机40在待检测物30上形成扫描线31，聚光单元组的光线会以一定的角度照射到扫描线31上，而第二聚光单元组20中射出的光线与第一聚光单元组中射出的光线垂直，相互垂直的光线弥补了光照的不足，通过两个带角度线光源相对平行放置，且之间的出射光相互垂直，就可以将待检测物平面内各方向的缺陷都很好的显现出来。光带32为第一聚光组合第二聚光组照射形成的。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，并不用于限制本发明，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种表面检测装置，包括聚光单元组，所述聚光单元组包括第一聚光单元组和第二聚光单元组，以及与所述聚光单元组配合使用的一检测相机，其特征在于：所述第一聚光单元组射出的光线与所述第二聚光单元组射出的光线的方向在被测表面的投影垂直；所述第一聚光单元组和第二聚光单元组中射出的光线与所述第一聚光单元组和第二聚光单元组中光源的方向具有夹角。
2.根据权利要求1所述的一种表面检测装置，其特征在于：所述聚光单元组包括多个聚光单元和外壳组成，所述聚光单元包括光源和聚光Lens，所述光源和所述聚光Lens均倾斜放置在所述外壳内。
3.根据权利要求2所述的一种表面检测装置，其特征在于：所述聚光Lens优选为圆柱体。
4.根据权利要求2所述的一种表面检测装置，其特征在于：所述聚光Lens优选与所述光源接触的一半为立方体结构，另一半为半圆柱体结构。
5.根据权利要求1所述的一种表面检测装置，其特征在于：所述检测装置还包括固定装置，用于固定所述聚光单元和检测相机。
6.根据权利要求5所述的一种表面检测装置，其特征在于：所述聚光单元的外壳优选为金属件。
7.根据权利要求1所述的一种表面检测装置，其特征在于：所述光源为LED光源。
8.根据权利要求1所述的一种表面检测装置，其特征在于：第一聚光单元组射出的光线与所述第二聚光单元组射出的光线的方向在被测表面的投影夹角范围为60～120度。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109323164A (zh) * 2018-08-29 2019-02-12 冯平 用于高反光曲面金属检测的光源结构

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1197511A (zh) * 1995-06-16 1998-10-28 联合金属公司 检测金属产品表面上开口缺陷的方法和装置
CN101887025A (zh) * 2009-05-12 2010-11-17 宰体有限公司 视觉检测装置及其视觉检测方法
EP2280270A1 (en) * 2009-07-29 2011-02-02 UTPVision S.r.l. Optical detection system of surface defects, in particular of an O-ring.
CN102621149A (zh) * 2012-03-21 2012-08-01 深圳市华星光电技术有限公司 基板检测装置及方法
CN202614687U (zh) * 2011-12-30 2012-12-19 安徽鑫昊等离子显示器件有限公司 一种等离子显示器pdp的障壁扫描装置
CN202938088U (zh) * 2012-10-31 2013-05-15 上海创波光电科技有限公司 线性光源及其包含该线性光源的线性同轴光源
CN203273460U (zh) * 2013-03-04 2013-11-06 上海广茂达光艺科技股份有限公司 一种led线条灯
CN103399018A (zh) * 2011-08-18 2013-11-20 三星康宁精密素材株式会社 用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备和方法
CN103412421A (zh) * 2013-07-31 2013-11-27 京东方科技集团股份有限公司 检测系统
CN205426804U (zh) * 2015-11-05 2016-08-03 苏州威盛视信息科技有限公司 一种表面检测装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1197511A (zh) * 1995-06-16 1998-10-28 联合金属公司 检测金属产品表面上开口缺陷的方法和装置
CN101887025A (zh) * 2009-05-12 2010-11-17 宰体有限公司 视觉检测装置及其视觉检测方法
EP2280270A1 (en) * 2009-07-29 2011-02-02 UTPVision S.r.l. Optical detection system of surface defects, in particular of an O-ring.
CN103399018A (zh) * 2011-08-18 2013-11-20 三星康宁精密素材株式会社 用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备和方法
CN202614687U (zh) * 2011-12-30 2012-12-19 安徽鑫昊等离子显示器件有限公司 一种等离子显示器pdp的障壁扫描装置
CN102621149A (zh) * 2012-03-21 2012-08-01 深圳市华星光电技术有限公司 基板检测装置及方法
CN202938088U (zh) * 2012-10-31 2013-05-15 上海创波光电科技有限公司 线性光源及其包含该线性光源的线性同轴光源
CN203273460U (zh) * 2013-03-04 2013-11-06 上海广茂达光艺科技股份有限公司 一种led线条灯
CN103412421A (zh) * 2013-07-31 2013-11-27 京东方科技集团股份有限公司 检测系统
CN205426804U (zh) * 2015-11-05 2016-08-03 苏州威盛视信息科技有限公司 一种表面检测装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109323164A (zh) * 2018-08-29 2019-02-12 冯平 用于高反光曲面金属检测的光源结构

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