CN105509678A - 一种坐标测量机 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种坐标测量机,包括:水平面板、支架、多个第一传感器、悬臂、和第二传感器,所述水平面板上设有多个第一传感器,所述支架设置成U字型,且固定连接在所述水平面板上,所述支架的中心处设有一个悬臂,所述悬臂的下端设有第二传感器,所述第二传感器与所述第一传感器相配合。通过上述方式,本发明坐标测量机通过第二传感器与多个第一传感器或多个第三传感器的配合,能够较为准确的测知被测物体的坐标,精度较高,使用效果较好。
Description
技术领域
本发明涉及检测设备领域,特别是涉及一种坐标测量机。
背景技术
解析几何的基本思想是构建坐标系,将点与实数联系起来,进而可以将平面上的曲线用代数方程表示,坐标的概念应用到工业生产中解决了大量实际问题,而且绝大部分现代测量仪器都是在坐标测量原理的基础上建立的。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种精度更高、使用效果较好的坐标测量机。
为解决上述技术问题,本发明提供一种坐标测量机,包括:水平面板、支架、多个第一传感器、悬臂、和第二传感器,所述水平面板上设有多个第一传感器,所述支架设置成U字型,且固定连接在所述水平面板上,所述支架的中心处设有一个悬臂,所述悬臂的下端设有第二传感器,所述第二传感器与所述第一传感器相配合。
在本发明一个较佳实施例中,所述测量机还包括竖直面板,所述竖直面板与所述水平面板相垂直,且固定连接在所述水平面板上。
在本发明一个较佳实施例中,所述测量机还包括多个第三传感器,所述第三传感器固定连接在所述竖直面板上,且所述第三传感器与第一传感器、第二传感器皆电性连接。
本发明的有益效果是:本发明坐标测量机通过第二传感器与多个第一传感器或多个第三传感器的配合,能够较为准确的测知被测物体的坐标,精度较高,使用效果较好。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图,其中:
图1是本发明的坐标测量机一较佳实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1,本发明实施例包括:
一种坐标测量机,包括:水平面板1、支架2、多个第一传感器3、悬臂4、和第二传感器5,所述水平面板1上设有多个第一传感器3,所述支架2设置成U字型,且固定连接在所述水平面板1上,所述支架2的中心处设有一个悬臂4,所述悬臂4的下端设有第二传感器5,所述第二传感器5与所述第一传感器3相配合。
所述测量机还包括竖直面板6,所述竖直面板6与所述水平面板1相垂直,且固定连接在所述水平面板1上。
所述测量机还包括多个第三传感器7,所述第三传感器7固定连接在所述竖直面板6上,且所述第三传感器7与第一传感器3、第二传感器5皆电性连接。
区别于现有技术,本发明坐标测量机通过第二传感器与多个第一传感器或多个第三传感器的配合,能够较为准确的测知被测物体的坐标,精度较高,使用效果较好。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其它相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (3)
1.一种坐标测量机,其特征在于,包括:水平面板、支架、多个第一传感器、悬臂、和第二传感器,所述水平面板上设有多个第一传感器,所述支架设置成U字型,且固定连接在所述水平面板上,所述支架的中心处设有一个悬臂,所述悬臂的下端设有第二传感器,所述第二传感器与所述第一传感器相配合。
2.根据权利要求1所述的坐标测量机,其特征在于,所述测量机还包括竖直面板,所述竖直面板与所述水平面板相垂直,且固定连接在所述水平面板上。
3.根据权利要求2所述的坐标测量机,其特征在于,所述测量机还包括多个第三传感器,所述第三传感器固定连接在所述竖直面板上,且所述第三传感器与第一传感器、第二传感器皆电性连接。
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Publications (1)
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Family
ID=55717837
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2016
- 2016-02-18 CN CN201610090449.0A patent/CN105509678A/zh active Pending
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160420 |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |