CN105499147A - 一种测试分选机用的器件定位座 - Google Patents

一种测试分选机用的器件定位座 Download PDF

Info

Publication number
CN105499147A
CN105499147A CN201511021814.4A CN201511021814A CN105499147A CN 105499147 A CN105499147 A CN 105499147A CN 201511021814 A CN201511021814 A CN 201511021814A CN 105499147 A CN105499147 A CN 105499147A
Authority
CN
China
Prior art keywords
plate
width
semiconductor devices
center
positioning seat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201511021814.4A
Other languages
English (en)
Inventor
邹锋
李勇昌
彭顺刚
朱金华
邹波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Strong Guilin Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Strong Guilin Microelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Strong Guilin Microelectronics Co Ltd filed Critical Strong Guilin Microelectronics Co Ltd
Priority to CN201511021814.4A priority Critical patent/CN105499147A/zh
Publication of CN105499147A publication Critical patent/CN105499147A/zh
Priority to CN201610791205.5A priority patent/CN106269547A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/02—Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C2301/00—Sorting according to destination
    • B07C2301/0008—Electronic Devices, e.g. keyboard, displays

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

本发明公开一种测试分选机用的器件定位座，包括定位杆，所述定位杆的上方设有定位凸台，所述定位凸台中心线上沿着其中心对称设有两块长度导入板，所述两块长度导入板相对定位凸台中心向外倾斜设置，所述两块长度导入板的两侧均设有与其倾斜方向一致、且相对定位凸台中心对称设置的宽度导入板，所述长度导入板的高度高于宽度导入板的高度。本发明结构简单、易于制造，有效矫正半导体器件的中心偏移吸嘴中心的现象，从而实现器件精确定位，避免半导体器件管脚的变形和分选机报警停机的现象，既减少员工的劳动量，同时提高半导体器件的生产效率。

Description

一种测试分选机用的器件定位座
技术领域
本发明涉及半导体电子封装技术领域，具体涉及一种测试分选机用的器件定位座。
背景技术
半导体器件制造完成后，需要对其进行检测、打标、分选、编带包装多种不同工作，传统的技术中，上述个工作过程是独立进行的，其检测分选速度慢，设备多且杂，劳动量大且生产效率底下。
中国申请号为2009200362083的实用新型，公开了一种半导体器件测试分选机，包括安装在立轴上端的旋转工作台，旋转工作台外周围上均布有若干可升降的吸嘴，旋转工作台周围沿顺时针或逆时针方向依次布置有与吸嘴位置相对应的分离台、检测头、第一旋转定位装置、测试座、副转盘、打标机、图像摄像头、第二旋转定位装置、下料机构和编带机构，所述分离台与上料机构连接，第一旋转定位装置、第二旋转定位装置各包括一个与被检测器件相适配的模腔，模腔位于相应工位的吸嘴下方；副转盘周边均布有若干可容纳被检测器件的凹腔，副转盘侧面设有与凹腔对应的打标激光头。该测试分选机可实现检测、打标、分选、编带包装，结构紧凑，大大降低劳动量、生产效率高。由于半导体器件从上料机构进入到吸嘴相对应的分离台的过程中，要经过定位爪和分离爪，导致半导体器件无法精确到达分离台的定位端，从而导致吸嘴无法精确地吸取半导体器件，当器件运送器件到达第一旋转定位装置的模腔上方时，器件的位置与模腔的位置有偏差，吸嘴做下压动作时会引起卡料，一方面造成半导体器件的管脚变形，损坏产品，另一方面造成测试分选机报警而停机，增加员工的劳动量和降低生产效率。
发明内容
针对现有技术存在的不足，本发明提供一种结构简单、易于制造的半导体器件测试分选机用的器件定位座，定位座置于模腔内，有效矫正吸嘴吸取器件的位置，同时保证分选机的正常运行，减少员工工作量和提高生产效率。
为了达到上述目的，本发明采取的技术方案：
一种测试分选机用的器件定位座，包括定位杆，所述定位杆的上方设有定位凸台，所述定位凸台中心线上沿着其中心对称设有两块长度导入板，所述两块长度导入板相对定位凸台中心向外倾斜设置，所述两块长度导入板的两侧均设有与其倾斜方向一致、且相对定位凸台中心对称设置的宽度导入板，所述长度导入板的高度高于宽度导入板的高度。
作为优选技术方案，为了保证长度导入板可矫正产品位于吸嘴的位置，有效避免损坏半导体器件和分选机报警停机，所述两块长度导入板之间的入口宽度为半导体器件长度的1～1.9倍。
作为优选技术方案，为了保证宽度导入板可矫正产品位于吸嘴的位置，有效避免损坏半导体器件和分选机报警停机，两块宽度导入板之间的入口宽度为半导体器件宽度的1～2倍。
作为优选技术方案，为了进一步保证长度导入板精确矫正产品位于吸嘴的位置，有效避免损坏半导体器件和分选机报警停机，所述两块长度导入板之间的入口宽度为半导体器件长度的1.45倍。
作为优选技术方案，为了进一步保证宽度导入板精确矫正产品位于吸嘴的位置，有效避免损坏半导体器件和分选机报警停机，两块宽度导入板之间的入口宽度为半导体器件宽度的1.5倍。
作为优选技术方案，为了避免半导体器件的溢角碰到长度导入板，从而影响矫正和损坏半导体器件，所述两块长度导入板的中心处均设有半圆柱形凹槽。
作为优选技术方案，为了保证器件定位座方便安装于模腔中，同时保证定位凸台制作工艺简单，所述定位凸台设置成短圆柱形结构。
作为优选技术方案，为了保证保证器件定位座方便安装于模腔中，同时保证定位杆制作工艺简单，所述定位杆设置成长圆柱形结构。
与现有技术相比，本发明具有的有益效果：
1、设置安装与模腔内的定位座，结构简单、易于制造，有效矫正半导体器件的中心偏移吸嘴中心的现象，从而实现器件精确定位，避免半导体器件管脚的变形和分选机报警停机的现象，既减少员工的劳动量，同时提高半导体器件的生产效率。
2、长度导入板与长度导入板之间、宽度导入板与宽度导入板之间的入口宽度设置科学合理，进一步精确保证器件的中心位于吸嘴的中心，从而确保半导体器件精确地定位在设置的位置。
3、长度导入板的中心处设有半圆柱形凹槽，有效避免半导体器件的溢角碰到长度导入板，有利于提高器件定位座的矫正性能。
4、定位凸台和定位杆均设置成圆柱形结构，保证器件定位座方便安装于模腔中，同时保证制作工艺简单。
附图说明
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步地详细说明。
图1为本发明的结构示意图；
图2为本发明的主视图；
图3为本发明的左视图；
附图标号：1、定位杆，2、定位凸台，3、长度导入板，3-1、半圆柱形凹槽，4、宽度导入板。
具体实施方式
如图1所示提出本发明一种具体实施例，一种测试分选机用的器件定位座，包括定位杆1，所述定位杆1的上方设有定位凸台2，所述定位凸台2中心线上沿着其中心对称设有两块长度导入板3，所述两块长度导入板3相对定位凸台1中心向外倾斜设置，所述两块长度导入板3的两侧均设有与其倾斜方向一致、且相对定位凸台1中心对称设置的宽度导入板4，考虑到吸嘴吸住器件时大都是器件的长度方向的中心与吸嘴发生偏移，长度导入板3的高度高于宽度导入板4的高度。
所述两块长度导入板3之间的入口宽度为半导体器件长度的1～1.9倍，若两块长度导入板3之间的入口宽度比半导体器件的长度过大，导致半导体器件的端部直接接触长度导入板3斜面的起始段，从而半导体器件长度方向的中心与吸嘴中心有很大的偏移，器件随着吸嘴下降过程中会受力失去平衡，长度导入板3就无法对半导体器件在吸嘴位置的矫正，两块长度导入板3之间的入口宽度最好设置为半导体器件长度的1.45倍，有效保证长度导入板可矫正以至于半导体器件的中心位于吸嘴的中心，有效避免损坏半导体器件和分选机报警停机。
两块宽度导入板4之间的入口宽度为半导体器件宽度的1～2倍，半导体器件在吸嘴上行、抬起和下压的过程中，器件随着吸嘴有一定角度的转动，两块宽度导入板4之间的入口宽度最好设置为半导体器件宽度的1.5倍，有效保证宽度导入板4可矫正产品位于吸嘴的位置，有效避免损坏半导体器件和分选机报警停机。
所述两块长度导入板3的中心处均设有半圆柱形凹槽3-1，半导体器件在制造时，由于加工不精确等等原因会导致半导体器件边缘处有溢角，会影响长度导入板3对器件在吸嘴中位置的矫正，设置半圆柱形凹槽3-1可以有效防止溢角的卡滞。
所述定位凸台2设置成短圆柱形结构，保证器件定位座方便安装于模腔中，同时保证定位凸台制作工艺简单。
所述定位杆1设置成长圆柱形结构，保证保证器件定位座方便安装于模腔中，同时保证定位杆制作工艺简单。
本发明使用时：将定位座安装于半导体器件测试分选机的模腔中，吸嘴将位置已吸取偏移的器件下压至模腔时，若器件在长度方向的中心偏移吸嘴中心，器件随着吸嘴下压进入产品座的过程中其端部首先与器件定位座的长度导入板3的入槽壁接触，吸嘴继续下压，器件端部沿着长度导入板3滑动，将器件的长度中心导向吸嘴中心，即完成器件长度方向的初步矫正；若半导体器件器件在宽度方向的中心与吸嘴中心有偏移，半导体器件随着吸嘴的进一步下压，器件进入到器件定位座的宽度导入板4，与长度导入板3矫正相类似，器件随着器件定位座下压达到宽度导入板4的底部时，器件的长度及宽度中心的偏移都得到精确的矫正。
当然，上面只是结合附图对本发明优选的具体实施方式作了详细描述，并非以此限制本发明的实施范围，凡依本发明的原理、构造以及结构所作的等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：包括定位杆(1)，所述定位杆(1)的上方设有定位凸台(2)，所述定位凸台(2)中心线上沿着其中心对称设有两块长度导入板(3)，所述两块长度导入板(3)相对定位凸台(2)中心向外倾斜设置，所述两块长度导入板(3)的两侧均设有与其倾斜方向一致、且相对定位凸台(2)中心对称设置的宽度导入板(4)，所述长度导入板(3)的高度均高于宽度导入板(4)的高度。
2.根据权利要求1所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：所述两块长度导入板(3)之间的入口宽度为半导体器件长度的1～1.9倍。
3.根据权利要求1所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：两块宽度导入板(4)之间的入口宽度为半导体器件宽度的1～2倍。
4.根据权利要求2所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：所述两块长度导入板(3)之间的入口宽度为半导体器件长度的1.45倍。
5.根据权利要求3所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：两块宽度导入板(4)之间的入口宽度为半导体器件宽度的1.5倍。
6.根据权利要求1～5任意一项所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：所述两块长度导入板(3)的中心处均设有半圆柱形凹槽(3-1)。
7.根据权利要求6所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：所述定位凸台(2)设置成短圆柱形结构。
8.根据权利要求7所述一种测试分选机用的器件定位座，其特征在于：所述定位杆(1)设置成长圆柱形结构。
CN201511021814.4A 2015-12-31 2015-12-31 一种测试分选机用的器件定位座 Pending CN105499147A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201511021814.4A CN105499147A (zh) 2015-12-31 2015-12-31 一种测试分选机用的器件定位座
CN201610791205.5A CN106269547A (zh) 2015-12-31 2016-08-31 一种测试分选机用的器件定位座

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201511021814.4A CN105499147A (zh) 2015-12-31 2015-12-31 一种测试分选机用的器件定位座

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105499147A true CN105499147A (zh) 2016-04-20

Family

ID=55707676

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201511021814.4A Pending CN105499147A (zh) 2015-12-31 2015-12-31 一种测试分选机用的器件定位座
CN201610791205.5A Pending CN106269547A (zh) 2015-12-31 2016-08-31 一种测试分选机用的器件定位座

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610791205.5A Pending CN106269547A (zh) 2015-12-31 2016-08-31 一种测试分选机用的器件定位座

Country Status (1)

Country Link
CN (2) CN105499147A (zh)

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100243049B1 (ko) * 1997-04-04 2000-03-02 윤종용 반도체 디바이스 테스트용 핸들러 시스템의 픽 앤 플레이스 및 이를 사용하여 반도체 디바이스를 프리사이징하는 방법
CN2518217Y (zh) * 2001-11-14 2002-10-23 廖木山 电子元件检测定位装置
KR101051498B1 (ko) * 2002-09-30 2011-07-22 소니 주식회사 전자 부품 위치 맞춤 방법 및 그 장치
CN101577393B (zh) * 2008-05-07 2011-01-12 京元电子股份有限公司 晶片插座与检测晶片水平定位的方法
CN202742825U (zh) * 2012-08-17 2013-02-20 江苏格朗瑞科技有限公司 小转盘打印凹槽
CN202839572U (zh) * 2012-09-07 2013-03-27 苏州日月新半导体有限公司 半导体封装构造的定位装置
CN204651299U (zh) * 2015-05-11 2015-09-16 深圳市复德科技有限公司 半导体器件校正装置
CN206046496U (zh) * 2015-12-31 2017-03-29 桂林斯壮微电子有限责任公司 一种测试分选机用的器件定位座

Also Published As

Publication number Publication date
CN106269547A (zh) 2017-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201399436Y (zh) 半导体器件测试分选机
CN201754075U (zh) 可检测位置深度距离的综合检具
CN205008926U (zh) 夹具
CN203774265U (zh) 石墨舟片卡点更换工装桌
CN104773482A (zh) 一种自动定位流水线机构
CN104669167A (zh) 一种定位机构
CN204487419U (zh) 一种定位机构
CN209867079U (zh) 一种高性能电机铁芯用钢片的冲压装置
CN206046496U (zh) 一种测试分选机用的器件定位座
CN105499147A (zh) 一种测试分选机用的器件定位座
CN203304952U (zh) 不对称侧边的铣削夹具
CN205175271U (zh) 检测模具
CN101504266A (zh) 硅片检测工具及检测方法
CN204466149U (zh) 一种自动定位流水线机构
US11370136B2 (en) Device for machining distinctive marks on line
CN204789649U (zh) Zif连接器下针测试板
CN207180530U (zh) 缸盖燃烧室探测点检测检具
CN204195861U (zh) 一种用于模切机的监控调节装置
CN209955313U (zh) 一种快速的多穴贴膜治具
CN102862180B (zh) 激光打印机胶辊两端自动切齐机
CN203812859U (zh) 一种引线框架废品标记工装
CN203085645U (zh) 一种固晶机夹具
CN102506631B (zh) 排气管侧面及端面位置度检具
CN203418847U (zh) 一种用于移印设备的新型移印模板
CN201824218U (zh) 等高套夹具

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20160420