CN105469497A - 介质厚度检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种介质厚度检测装置。该介质厚度检测装置包括：基准辊(123)；测厚辊(124)，与基准辊(123)相对设置，基准辊(123)与测厚辊(124)之间形成介质输送通道；被测元件(131)，随测厚辊(124)同步移动；第一检测元件(132)，用于对被测元件(131)进行检测，输出第一电信号；第二检测元件(133)，设置在被测元件(131)的第二移动方向上，输出第二电信号；控制单元(11)，用于通过第一电信号和第二电信号对基准辊(123)与测厚辊(124)之间的介质厚度进行检测。通过本发明，提高了介质厚度检测的准确性。

Description

介质厚度检测装置

技术领域

本发明涉及厚度检测领域，具体而言，涉及一种介质厚度检测装置。

背景技术

检票机、点钞机、纸币清分机等薄片类介质处理装置中设有介质厚度检测装置，用于判断票纸、纸币等薄片类介质是否出现粘贴、重张等问题。当介质厚度检测装置检测到的薄片类介质的厚度超过预定的单张介质的厚度值时，判定出现粘贴、重张等错误。

在现有技术中提供了一种纸币厚度检测装置，如图1所示，该检测装置包括下测厚辊1'与上测厚辊2'，上测厚辊2'位置固定，下测厚辊1'可相对上测厚辊2'上下移动。磁片9'与下测厚辊1'连动，霍尔器件10'与磁片9'相对设置，磁片9'与霍尔器件10'构成磁电路装置。正常情况下，下测厚辊1'与上测厚辊2'之间的间隙允许通过一张纸币，当有粘贴或重张的纸币通过时，由于粘贴或重张的纸币的厚度大于单张纸币的厚度，因此，粘贴或重张的纸币驱动下测厚辊1'向下移动，并带动磁片9'移动，霍尔器件10'检测出此位移，从而可检测出纸币的厚度，用于判定纸币是否粘贴或重张。

上述介质厚度检测装置通过相对设置的磁片9'和霍尔器件10'构成磁电路装置，磁片9'产生磁场，当磁片9'和霍尔器件10'之间的相对距离发生变化时，霍尔器件10'所处的磁场发生变化，霍尔器件10'通过检测其所处的磁场的变化检测其与磁片9'之间的距离的变化，从而实现薄片类介质的厚度检测。然而，由于薄片类介质处理装置中通常设置有多种金属零件，当金属零件处于磁片9'产生的磁场中时金属零件就会被磁化，金属零件被磁化后其产生的磁场会对磁片9'产生的磁场存在一定的干扰，由于受磁场间干扰的影响，霍尔器件10'对薄片类介质的厚度检测就会出现检测不准确的问题。

针对现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题，目前尚未提出有效的解决方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种介质厚度检测装置，以解决现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种介质厚度检测装置。该介质厚度检测装置包括：基准辊；测厚辊，与基准辊相对设置，基准辊与测厚辊之间形成介质输送通道，测厚辊根据被输送的介质厚度向远离或靠近基准辊的方向移动；被测元件，随测厚辊同步移动；第一检测元件，设置在被测元件的第一移动方向上，当测厚辊向远离基准辊的方向移动时，被测元件向靠近第一检测元件的方向移动，用于对被测元件进行检测，输出第一电信号，第一电信号随被测元件和第一检测元件之间的距离变化而变化；第二检测元件，设置在被测元件的第二移动方向上，当测厚辊向远离基准辊的方向移动时，被测元件向远离第二检测元件的方向移动，用于对被测元件进行检测，输出第二电信号，第二电信号随被测元件和第二检测元件之间的距离变化而变化；控制单元，用于通过第一电信号和第二电信号对基准辊与测厚辊之间的介质厚度进行检测。

进一步地，被测元件具有初始位置，当基准辊与测厚辊之间无介质穿过时，被测元件位于初始位置，在初始位置，被测元件的中心位于第一检测元件和第二检测元件的连线的中心线上。

进一步地，被测元件位于初始位置时，检测得到的第一电信号的值和第二电信号的值相等。

进一步地，介质厚度检测装置还包括：传感器，设置于介质输送通道上，并且沿介质输送方向位于基准辊和测厚辊的上游，用于检测是否有介质从基准辊和测厚辊之间穿过；信号处理电路，包括第一运算放大器和第二运算放大器，第一运算放大器的反相输入端连接至第一检测元件输出端，第一运算放大器的同相输入端连接至第二检测元件的输出端并且连接至动态偏置电压，第一运算放大器的输出端连接至第二运算放大器的同相输入端，第二运算放大器的反相输入端连接至参考电压，第二运算放大器的输出端连接至控制单元。

进一步地，控制单元用于在传感器检测到没有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，读取第二运算放大器的第一输出值，在传感器检测到有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，读取第二运算放大器的第二输出值，并根据第一输出值和第二输出值对基准辊与测厚辊之间的介质厚度进行检测。

进一步地，控制单元还用于在所述介质厚度检测装置上电时对所述动态偏置电压进行校正以使所述信号处理电路的输出值满足预设要求。

进一步地，控制单元用于计算第一电信号和第二电信号的差值，并根据第一电信号和第二电信号的差值计算基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度和/或判断基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度是否正常。

进一步地，控制单元用于通过以下方式计算基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度：计算第一电信号和第二电信号的差值；通过查表方式获取与差值对应的厚度值，控制单元用于通过以下方式判断基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度是否正常：计算第一电信号和第二电信号的差值；判断差值是否小于预设阈值；如果差值小于预设阈值，则确定基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度正常；如果差值大于预设阈值，则确定基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度不正常。

进一步地，介质厚度检测装置还包括：机架，基准辊设置在机架上；第一支架，通过枢接轴与机架枢接，测厚辊设置在第一支架的第一端部，被测元件设置在第一支架的第二端部；弹性元件，用于向第一支架提供弹性力，以使测厚辊具有向靠近基准辊方向移动的趋势；第二支架，与机架固定连接，第一检测元件和第二检测元件固定设置在第二支架上。

进一步地，被测元件为金属元件，第一检测元件为第一电感传感器，第一电感传感器用于检测金属元件，输出第一电信号，第二检测元件为第二电感传感器，第二电感传感器用于检测金属元件，输出第二电信号，或者，被测元件为磁性元件，第一检测元件为第一霍尔传感器，用于检测磁性元件，输出第一电信号，第二检测元件为第二霍尔传感器，用于检测磁性元件，输出第二电信号。

通过本发明，由于通过两个检测元件的检测结果对介质的厚度进行检测，可以消除由于干扰因素引起的单个检测元件的检测误差，解决了现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题，进而达到了提高介质厚度检测准确性的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是现有技术的介质厚度检测装置的结构示意图；

图2是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的模块示意图；

图3是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的结构示意图；

图4是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置中磁性元件的磁场分布与第一霍尔传感器和第二霍尔传感器的位置分布的关系的示意图；

图5是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的厚度检测方法的流程图；

图6是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的模块示意图；

图7是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的信号处理电路的示意图；以及

图8是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的厚度检测方法的流程图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

图2是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的模块示意图，如图所示，介质厚度检测装置100包括控制单元11、检测辊组件12和检测电路装置13。

控制单元11，用于控制其他各模块执行工作，比如，控制单元11控制检测辊组件12驱动介质在介质厚度检测装置100的输送通道中移动，控制单元11根据检测电路装置13的第一检测元件输出的电信号和第二检测元件输出的电信号计算薄片类介质(以下简称介质)的厚度等。

检测辊组件12，用于驱动介质在输送通道中移动。检测辊组件12包括电机驱动器121、输送电机122、基准辊123和测厚辊124。电机驱动器121用于根据控制单元11输出的控制信号输出输送电机122的输出轴转动所需要的电流，输送电机122的输出轴与基准辊123传动连接，当输送电机122的输出轴转动时，基准辊123随之转动，测厚辊124为基准辊123的从动辊，二者相对设置并形成输送介质的输送通道，基准辊123转动时，测厚辊124随之转动，从而驱动位于基准辊123和测厚辊124之间的介质在输送通道中移动。当基准辊123和测厚辊124之间的介质的厚度发生变化时，测厚辊124可以向远离或靠近基准辊123的方向移动。

检测电路装置13，用于与检测辊组件12配合检测介质的厚度。检测电路装置13包括被测元件131、第一检测元件132和第二检测元件133。被测元件131，设置为随测厚辊124同步移动，当测厚辊124向远离或者靠近基准辊123的方向移动时，被测元件131向靠近第一检测元件132或第二检测元件133的方向移动，例如，当基准辊123和测厚辊124之间有介质通过时，测厚辊124向远离基准辊123的方向移动，被测元件131随之移动。第一检测元件132，设置在被测元件131的第一移动方向上，当测厚辊124向远离基准辊123的方向移动时，被测元件131向靠近第一检测元件132的方向移动，当测厚辊124向靠近基准辊123的方向移动时，被测元件131向远离第一检测元件132的方向移动，用于对被测元件131进行检测，输出第一电信号，第一电信号随被测元件131和第一检测元件132之间的距离变化而变化。第二检测元件133，设置在被测元件131的第二移动方向上，当测厚辊124向远离基准辊123的方向移动时，被测元件131向远离第二检测元件133的方向移动，当测厚辊124向靠近基准辊123的方向移动时，被测元件131向靠近第二检测元件133的方向移动，用于对被测元件131进行检测，输出第二电信号，第二电信号随被测元件131和第二检测元件133之间的距离变化而变化。

在本发明的一个实施例中，被测元件131为金属元件，第一检测元件132为第一电感传感器，第一电感传感器用于检测金属元件，输出第一电信号，第二检测元件133为第二电感传感器，第二电感传感器用于检测金属元件，输出第二电信号。可选地，在本发明的另一个实施例中，被测元件131为磁性元件，第一检测元件132为第一霍尔传感器，用于检测磁性元件，输出第一电信号，第二检测元件133为第二霍尔传感器，用于检测磁性元件，输出第二电信号。

以被测元件131为磁性元件，第一检测元件132为第一霍尔传感器，第二检测元件133为第二霍尔传感器为例：磁性元件，用于产生磁场，磁性元件随检测辊组件12的测厚辊124同步运动，当基准辊123和测厚辊124之间有介质通过时，测厚辊124向远离基准辊123的方向移动，磁性元件随之移动，其产生的磁场随之发生变化；第一霍尔传感器和第二霍尔传感器，用于检测磁性元件的磁通量的变化，当磁性元件产生的磁场变化时，通过第一霍尔传感器的磁通量和通过第二霍尔传感器的磁通量随之变化，从而使第一霍尔传感器输出的电信号和第二霍尔传感器输出的电信号发生变化，控制单元11读取第一霍尔传感器和第二霍尔传感器输出的电信号，通过分析电信号即可检测基准辊123和测厚辊124之间的介质的厚度。

图3是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的结构示意图，如图所示，基准辊123和测厚辊124相切设置，二者之间形成输送介质的输送通道，基准辊123由介质厚度检测装置的机架(图中未显示)支撑，可以绕自身轴线自由转动。测厚辊124设置在第一支架125的第一端部。第一支架125通过枢接轴126与介质厚度检测装置的机架枢接，可以以枢接轴126为中心转动。弹性元件127与第一支架125固定连接，用于向第一支架125提供弹性力，以使测厚辊124具有向靠近基准辊123方向移动的趋势，优选地，弹性元件为压簧，按压第一支架125而保持测厚辊124与基准辊123紧密接触。被测元件131固定在第一支架125的第二端部，当第一支架125以枢接轴126为中心转动时，带动被测元件131移动。第二支架128与介质厚度检测装置的机架固定连接，第一检测元件132和第二检测元件133固定设置在第二支架128上。

优选地，如图3所示，当基准辊123和测厚辊124之间没有介质穿过时，被测元件131位于其初始位置，此时，被测元件131的中心1311位于第一检测元件132和第二检测元件133的连线的中心线1321上；当有介质从基准辊123和测厚辊124之间穿过时，在介质的驱动下，第一支架125沿顺时针方向以枢接轴126为中心转动，从而带动被测元件131向靠近第一检测元件132、远离第二检测元件133的方向移动；当介质脱离基准辊123和测厚辊124时，在弹性元件127的弹性力的作用下，第一支架125沿逆时针方向以枢接轴126为中心转动，从而带动被测元件131向靠近第二检测元件133、远离第一检测元件132的方向移动，并最终带动被测元件131回到其初始位置。

以被测元件131为磁性元件，第一检测元件132为第一霍尔传感器，第二检测元件133为第二霍尔传感器为例，图4为磁性元件的磁场分布与第一霍尔传感器和第二霍尔传感器的位置分布的关系的示意图，如图所示，曲线1a示意的为磁性元件位于不同位置时第一霍尔传感器输出的电信号的变化过程，曲线1b示意的为磁性元件位于不同位置时第二霍尔传感器输出的电信号的变化过程，其中，本实施例中，第一霍尔传感器输出的电信号和第二霍尔传感器输出的电信号均为电压信号。由图可知，当磁性元件位于其初始位置时，通过第一霍尔传感器的磁通量和通过第二霍尔传感器的磁通量相等，因此，第一霍尔传感器输出的电信号的值和第二霍尔传感器输出的电信号的值相等；当有介质从基准辊123和测厚辊124之间穿过时，磁性元件从其初始位置向靠近第一霍尔传感器、远离第二霍尔传感器的方向移动，此时，通过第一霍尔传感器的磁通量增加，通过第二霍尔传感器的磁通量减少，并且，磁通量的变化量受磁性元件的位移量的影响，也即，受输送通道中介质的厚度的影响，因此，第一霍尔传感器输出的电信号的值和第二霍尔传感器输出的电信号的值随输送通道中介质的厚度的变化而变化。当磁性元件与第一霍尔传感器相对时，第一霍尔传感器输出的电信号的值最大。曲线1c示意的为第一霍尔传感器输出的电信号和第二霍尔传感器输出的电信号的差值随磁性元件移动而变化的过程，由图可见，随着磁性元件在第一霍尔传感器和第二霍尔传感器之间移动，第一霍尔传感器输出的电信号和第二霍尔传感器输出的电信号的差值近似呈线性变化。

图5是根据本发明第一实施例的厚度检测方法的流程图，该厚度检测方法用于对介质介质厚度检测装置中输送的介质厚度进行检测，介质介质厚度检测装置包括相对设置的基准辊和测厚辊，基准辊和测厚辊之间形成介质输送通道，测厚辊根据被输送的介质的厚度向远离或靠近基准辊的方向移动，介质介质厚度检测装置还包括随测厚辊同步移动的被测元件，介质厚度检测装置在介质每移动预设距离时执行该厚度检测流程，如图所示，该方法包括以下步骤：

步骤S201，在第一位置检测被测元件，得到第一电信号。

第一检测元件位于第一位置，其中，第一位置设置在被测元件的第一移动方向上，当测厚辊向远离基准辊的方向移动时，被测元件向靠近第一位置的方向移动，第一电信号随被测元件和第一检测元件之间的距离变化而变化。

步骤S202，在第二位置检测被测元件，得到第二电信号。

第二检测元件位于第二位置，其中，第二位置设置在被测元件的第二移动方向上，当测厚辊向远离基准辊的方向移动时，被测元件向远离第二位置的方向移动，第二电信号随被测元件和第二检测元件之间的距离变化而变化。

步骤S203，通过第一电信号和第二电信号对基准辊与测厚辊之间的介质厚度进行检测。

在该步骤中，控制单元读取第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值，并计算二者的差值。由图4可见，当输送通道中介质的厚度发生变化时，随着被测元件在第一检测元件和第二检测元件之间移动，第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值近似呈线性变化，第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值与被测元件的位置一一对应，也即，第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值与从基准辊和测厚辊之间穿过的介质的厚度一一对应。

在计算得到第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值之后，根据该差值计算介质的厚度和/或检测介质的厚度是否正常。

根据计算所得的第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值可以计算介质的厚度，也可以检测介质的厚度是否正常。由于第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值与从基准辊和测厚辊之间穿过的介质的厚度一一对应，因此，优选地，控制单元根据第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值通过查表方式获取介质的厚度，或者，控制单元通过将第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值与预设阈值进行比较，根据比较结果判断介质的厚度是否正常，比如，当第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值小于预设阈值时，判定介质的厚度正常，否则，判定介质的厚度异常。其中，预设阈值是根据单张介质从基准辊和测厚辊之间穿过时第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值确定的，由于当被输送的介质存在粘贴或重叠输送时，粘贴或重叠输送部分从基准混和测厚辊之间穿过时，在介质驱动下，测厚辊与基准辊之间的间隙变大，即被测元件的移动距离超出单张介质输送时其移动距离，第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值超出预设阈值，因此，通过将第一检测元件的输出值和第二检测元件的输出值的差值与预设阈值进行比较即可判断介质的厚度是否正常。

本实施例的介质厚度检测装置通过对两个检测元件的输出值作差，并根据二者的差值计算介质的厚度，或者，检测介质的厚度是否正常。由于通过将两个检测元件的输出值作差可以消除由于干扰引起的单个检测元件的检测误差，因此，通过本实施例的介质厚度检测装置及方法可以有效解决现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题。

图6是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的模块示意图，如图所示，与本发明第一实施例提供的介质厚度检测装置相比，本实施例的介质厚度检测装置还包括信号处理电路14和传感器15，其中，信号处理电路14的输入端同时与第一检测元件132的输出端和第二检测元件133的输出端连接，其输出端与控制单元11连接，信号处理电路14用于接收第一检测元件132输出的电信号和第二检测元件133输出的电信号，并对第一检测元件132输出的电信号和第二检测元件133输出的电信号进行差分、放大运算，将运算结果输送至控制单元11；传感器15位于介质厚度检测装置中介质的输送路径上，且沿介质输送方向位于基准辊123和测厚辊124的上游，用于检测是否有介质从基准辊123和测厚辊124之间穿过。

图7是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的信号处理电路的示意图，如图所示，第一检测元件132输出的电信号Vi1和第二检测元件133输出的电信号Vi2经过信号处理电路14的第一运算放大器141和第二运算放大器142的差分、放大运算处理后，其输出信号Vout被输送至控制单元11。

其中，第一检测元件132输出的电信号Vi1被输入至第一运算放大器141的反相输入端，第二检测元件133输出的电信号Vi2被输入至第一运算放大器141的同相输入端，进一步地，由控制单元11控制输出的动态偏置电压Vbias也被输入至第一运算放大器141的同相输入端，因此，经过第一运算放大器141的差分、放大运算处理后，第一运算放大器141的输出值为Vo＝α1*Vbias+α2*Vi2-α3*Vi1，其中，α1、α2、α3为第一运算放大器141的放大倍数。第一运算放大器141的输出信号Vo被输入至第二运算放大器142的同相输入端，固定电压Vref被输入至运算放大器142的反相输入端，因此，第二运算放大器142的输出值Vout＝α4*Vo-α5*Vref，其中，α4、α5为第二运算放大器142的放大倍数。

本实施例的信号处理电路中，第一检测元件132输出的电信号Vi1被输入至第一运算放大器141的反相输入端，第二检测元件133输出的电信号Vi2和动态偏置电压Vbias被输入至第一运算放大器141的同相输入端，该实施例适用于如图4所示结构的介质厚度检测装置，即当没有介质位于基准辊123和测厚辊124之间时，被测元件131位于其初始位置，当有介质从基准辊123和测厚辊124之间穿过时，被测元件131向靠近第一检测元件132、远离第二检测元件133的方向移动。由图4可知，当被测元件131位于其初始位置时，第一检测元件132的输出值Vi1和第二检测元件133的输出值Vi2相等，当有介质从基准辊123和测厚辊124之间穿过时，第一检测元件132的输出值Vi1增大，第二检测元件133的输出值Vi2减小，因此，为避免当有介质从基准辊123和测厚辊124之间穿过时α2*Vi2-α3*Vi1过小导致信号处理电路14的输出值Vout超出控制单元11的可处理电压范围，在第一运算放大器141的同相输入端接入动态偏置电压Vbias，动态偏置电压Vbias由控制单元11控制输出，控制单元11输出预设值的动态偏置电压Vbias以保证信号处理电路14的输出值Vout在预设范围内。通过在第一运算放大器141的输入端接入动态偏置电压Vbias进一步提高了介质厚度检测装置检测的准确性。

在本发明其他实施例的信号处理电路中，动态偏置电压Vbias也可以接入到第一运算放大器141的反相输入端，以保证信号处理电路14的输出值Vout在预设范围内。

图8是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的厚度检测方法的流程图，如图所示，该方法包括以下步骤：

步骤S301，校正并设置动态偏置电压

介质厚度检测装置上电时，控制单元进行动态偏置电压校正，具体方法为：控制单元依次控制输出预设值的动态偏置电压Vbias1、Vbias2、Vbias3……，并在控制输出每个预设值的动态偏置电压时读取信号处理电路的输出值Vout，判断信号处理电路的输出值Vout是否满足设定要求，当信号处理电路的输出值Vout满足设定要求时，比如，信号处理电路的输出值Vout在3.1V～3.3V范围内时，控制单元停止进行动态偏置电压校正，并将动态偏置电压设置为使得信号处理电路的输出值Vout满足设定要求的预设值。

需要说明的是，信号处理电路的输出值Vout的设定要求由介质厚度检测装置上电时的状态确定，比如，默认情况下，介质厚度检测装置上电时输送通道中没有介质，被测元件位于其初始位置，对于图7所示实施例中的信号处理电路，信号处理电路的输出值Vout此时最大，当有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，被测元件向靠近第一检测元件、远离第二检测元件的方向移动，信号处理电路的输出值Vout减小，因此，介质厚度检测装置上电时，控制单元进行动态偏置电压校正，使信号处理电路的输出值Vout约为控制单元的可处理电压的上限值，比如，3.3V。

步骤S302，当没有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，读取信号处理电路的第一输出值

控制单元检测传感器的状态，通过传感器的状态判断是否有介质从基准辊和测厚辊之间穿过，当通过传感器检测到没有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，控制单元读取信号处理电路的第一输出值。

在本发明的其他实施例中，本步骤仅在介质厚度检测装置上电后，控制单元完成校正并设置动态偏置电压后执行，即，介质厚度检测装置仅在校正并设置动态偏置电压后执行读取一次信号处理电路的第一输出值。

步骤S303，当有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，读取信号处理电路的第二输出值

控制单元检测传感器的状态，通过传感器的状态判断是否有介质从基准辊和测厚辊之间穿过，当通过传感器检测到有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，控制单元读取信号处理电路的第二输出值。具体地，当控制单元检测到介质到达传感器的检测位置时，控制输送单元继续驱动介质移动第一预设距离，以判定介质到达基准辊和测厚辊所在位置，其中，第一预设距离为传感器的检测位置到基准辊的轴线所在位置的距离。

步骤S304，将信号处理电路的第一输出值和第二输出值作差，并根据二者的差值计算介质的厚度和/或检测介质的厚度是否正常

将信号处理电路的第一输出值和第二输出值作差，并根据二者的差值计算介质的厚度和/或检测介质的厚度是否正常，具体执行方法可参考步骤S203，在此不再赘述。

本实施例的介质厚度检测装置通过信号处理电路对第一检测元件输出的电信号和第二检测元件输出的电信号进行差分、放大运算，具有更高的检测精度，并且，本实施例的介质厚度检测装置通过在上电时对动态偏置电压进行校正，使信号处理电路的输出值满足设定要求，进一步提高了介质厚度检测装置进行介质厚度检测的准确性。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种介质厚度检测装置，其特征在于，包括：

基准辊(123)；

测厚辊(124)，与所述基准辊(123)相对设置，所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间形成介质输送通道，所述测厚辊(124)根据被输送的介质厚度向远离或靠近基准辊(123)的方向移动；

被测元件(131)，随所述测厚辊(124)同步移动；

第一检测元件(132)，设置在所述被测元件(131)的第一移动方向上，当所述测厚辊(124)向远离所述基准辊(123)的方向移动时，所述被测元件(131)向靠近所述第一检测元件(132)的方向移动，用于对所述被测元件(131)进行检测，输出第一电信号，所述第一电信号随所述被测元件(131)和所述第一检测元件(132)之间的距离变化而变化；

第二检测元件(133)，设置在所述被测元件(131)的第二移动方向上，当所述测厚辊(124)向远离所述基准辊(123)的方向移动时，所述被测元件(131)向远离所述第二检测元件(133)的方向移动，用于对所述被测元件(131)进行检测，输出第二电信号，所述第二电信号随所述被测元件(131)和所述第二检测元件(133)之间的距离变化而变化；以及

控制单元(11)，用于通过所述第一电信号和所述第二电信号对所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间的介质厚度进行检测。

2.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述被测元件(131)具有初始位置，当所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间无介质穿过时，所述被测元件(131)位于所述初始位置，在所述初始位置，所述被测元件(131)的中心(1311)位于所述第一检测元件(132)和第二检测元件(133)的连线的中心线(1321)上。

3.根据权利要求2所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述被测元件(131)位于所述初始位置时，检测得到的所述第一电信号的值和所述第二电信号的值相等。

4.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，还包括：

传感器(15)，设置于所述介质输送通道上，并且沿介质输送方向位于所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)的上游，用于检测是否有介质从所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)之间穿过；以及

信号处理电路(14)，包括第一运算放大器(141)和第二运算放大器(142)，所述第一运算放大器(141)的反相输入端连接至所述第一检测元件(132)输出端，所述第一运算放大器(141)的同相输入端连接至所述第二检测元件(133)的输出端并且连接至动态偏置电压，所述第一运算放大器(141)的输出端连接至所述第二运算放大器(142)的同相输入端，所述第二运算放大器(142)的反相输入端连接至参考电压，所述第二运算放大器(142)的输出端连接至所述控制单元(11)。

5.根据权利要求4所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述控制单元(11)用于在所述传感器(15)检测到没有介质从所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)之间穿过时，读取所述第二运算放大器(142)的第一输出值，在所述传感器(15)检测到有介质从所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)之间穿过时，读取所述第二运算放大器(142)的第二输出值，并根据所述第一输出值和所述第二输出值对所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间的介质厚度进行检测。

6.根据权利要求4所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述控制单元(11)还用于在所述介质厚度检测装置上电时对所述动态偏置电压进行校正以使所述信号处理电路(14)的输出值满足预设要求。

7.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述控制单元(11)用于计算所述第一电信号和所述第二电信号的差值，并根据所述第一电信号和所述第二电信号的差值计算所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度和/或判断所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度是否正常。

8.根据权利要求7所述的介质厚度检测装置，其特征在于，

所述控制单元(11)用于通过以下方式计算所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度：计算所述第一电信号和所述第二电信号的差值；通过查表方式获取与所述差值对应的厚度值，

所述控制单元(11)用于通过以下方式判断所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度是否正常：计算所述第一电信号和所述第二电信号的差值；判断所述差值是否小于预设阈值；如果所述差值小于所述预设阈值，则确定所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度正常；如果所述差值大于所述预设阈值，则确定所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度不正常。

9.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，还包括：

机架，所述基准辊(123)设置在所述机架上；

第一支架(125)，通过枢接轴(126)与所述机架枢接，所述测厚辊(124)设置在所述第一支架(125)的第一端部，所述被测元件(131)设置在所述第一支架(125)的第二端部；

弹性元件(127)，用于向所述第一支架(125)提供弹性力，以使所述测厚辊(124)具有向靠近所述基准辊(123)方向移动的趋势；以及

第二支架(128)，与所述机架固定连接，第一检测元件(132)和第二检测元件(133)固定设置在所述第二支架(128)上。

10.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，

所述被测元件(131)为金属元件，所述第一检测元件(132)为第一电感传感器，所述第一电感传感器用于检测所述金属元件，输出所述第一电信号，所述第二检测元件(133)为第二电感传感器，所述第二电感传感器用于检测所述金属元件，输出所述第二电信号，

或者，

所述被测元件(131)为磁性元件，所述第一检测元件(132)为第一霍尔传感器，用于检测所述磁性元件，输出所述第一电信号，所述第二检测元件(133)为第二霍尔传感器，用于检测所述磁性元件，输出所述第二电信号。