CN105467172B - 一种具备开关电路的caf测试板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种具备开关电路的CAF测试板，包括测试基板，测试基板上设有正极测试端、负极测试端、至少两组测试孔组、开关电路以及与测试孔组数量相等的定位焊盘组，开关电路位于相邻测试孔组之间，各测试孔组的正极通过开关电路并联后连接至正极测试端，各测试孔组的负极并联后连接至负极测试端；每组测试孔组包括间隔排列的多个测试对孔，每组定位焊盘组包括沿直线间隔排列的多个失效分析定位焊盘，各失效分析定位焊盘位于测试孔组一侧并与测试对孔一一对应连接。本发明能提高CAF性能测试效率及失效分析效率。

Description

一种具备开关电路的CAF测试板
技术领域
本发明涉及测试板，尤其涉及一种具备开关电路的CAF测试板。
背景技术
目前业内公开的标准IPC-9691中，规定考察单一设计及工艺条件、单次试验需要用25块CAF实验板实现4200可能失效点的同时测试，以满足试验的采样要求。在一般评估板材的CAF试验(抗导电性阳极丝的性能试验)中往往要同时进行多种孔壁间距条件的情况，因而一次测试样品数量急剧增加。按照传统试验板设计单个试验板(模块)接入设备进行测试即需要占用相应测试设备的一个通道，而目前业内常见的绝缘电阻测试设备通常只有150个通道左右。在同时需要评估多种板材时，传统设计的试验板需要进行多轮试验才能完成，又加之单次试验至少需要500小时，因而评估试验工作效率极低。
另外一方面，传统设计的试验进行失效分析时，无法定位精确到具体某两孔间，因而后续切片分析时需要多次研磨确认，极大的增加了失效分析的难度，降低了分析的效率。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种具备开关电路的CAF测试板，能提高CAF性能测试效率及失效分析效率。
本发明的目的采用以下技术方案实现：
一种具备开关电路的CAF测试板，包括测试基板，测试基板上设有正极测试端、负极测试端、至少两组测试孔组、开关电路以及与测试孔组数量相等的定位焊盘组，开关电路位于相邻测试孔组之间，各测试孔组的正极通过开关电路并联后连接至正极测试端，各测试孔组的负极并联后连接至负极测试端；每组测试孔组包括间隔排列的多个测试对孔，每组定位焊盘组包括沿直线间隔排列的多个失效分析定位焊盘，各失效分析定位焊盘位于测试孔组一侧并与测试对孔一一对应连接。
优选地，测试基板上还设有限流电阻，该限流电阻串接于开关电路和正极测试端之间。
优选地，测试基板上还设有切片分析孔组，该切片分析孔组包括多个分析孔，各分析孔的孔径与测试对孔的孔径相等，各分析孔的间距与测试对孔的间距相等。
优选地，切片分析孔组与测试孔组相隔。
优选地，开关电路包括连接焊盘和锡线，连接焊盘与测试孔组正极连接，相邻测试孔组的连接焊盘通过锡线连接。
优选地，测试孔组的测试对孔呈矩阵状排布，各测试对孔逐次串接，失效分析定位焊盘与每排测试对孔一一对应连接。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：
本发明通过开关电路将多组测试孔组进行并联，通过分别单独控制开关电路的通断，从而实现单一加电测试通道同时测试多组测试孔组以及单个测试孔组分段进行失效定位分析的功能，保证测试采样率的同时，还减少设备测试通道占用数目，提高失效分析定位的效率和准确性，有效的节约了测试分析的时间成本。
附图说明
图1为本发明具备开关电路的CAF测试板的结构示意图。
图中：100、测试基板；1、测试孔组；11、测试对孔；2、限流电阻焊盘；3、开关电路；31、连接焊盘；4、切片分析孔组；41、分析孔；5、定位焊盘组；51、失效分析定位焊盘；6、正极测试端；7、负极测试端。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述：
如图1所示的一种具备开关电路的CAF测试板，包括测试基板100，测试基板100上设有正极测试端6、负极测试端7、至少两组测试孔组1、开关电路3以及与测试孔组1数量相等的定位焊盘组5，开关电路3位于相邻测试孔组1之间，各测试孔组1的正极通过开关电路3并联后连接至正极测试端6，各测试孔组1的负极并联后连接至负极测试端7；每组测试孔组1包括间隔排列的多个测试对孔11，每组定位焊盘组5包括沿直线间隔排列的多个失效分析定位焊盘51，各失效分析定位焊盘51位于测试孔组1一侧并与测试对孔11一一对应连接。
通过开关电路3将多组测试孔组1进行并联，通过分别单独控制开关电路3的通断，从而实现单一加电测试通道同时测试多组测试孔组1以及单个测试孔组1分段进行失效定位分析的功能，保证测试采样率的同时，还减少设备测试通道占用数目，提高失效分析定位的效率和准确性，有效的节约了测试分析的时间成本。
其中，测试孔组1，可设置为是按照标准IPC-9691要求设计的基本测试图形，也可根据实际要求设计不同孔径及孔壁间距；定位焊盘组5指的是在单个测试孔组1内测试对孔11的每个孔链端设置的失效分析定位焊盘51，焊盘间通过导线连接。具体地，本例的测试孔组1的测试对孔11呈矩阵状排布，各测试对孔11逐次串接，失效分析定位焊盘51与每排测试对孔11一一对应连接。失效分析时，通过断开焊盘间的导线实现将单一定位焊盘组5划分为多个分析单元，从而实现高效的失效定位分析。
作为改进，测试基板100上还设有限流电阻(图未示)，该限流电阻串接于开关电路3和正极测试端6之间。通过焊接的限流电阻，以保证适用于具备漏电流侦测设备，避免单一测试孔组1失效/短接而导致测试中断的情况。其中，本例的限流电阻通过设置在测试基板100上的限流电阻焊盘22来进行焊接。
备选地，测试基板100上还设有切片分析孔41组，该切片分析孔41组包括多个分析孔41，各分析孔41的孔径与测试对孔11的孔径相等，各分析孔41的间距与测试对孔11的间距相等。由于制作时，切片分析孔41组将与测试孔组1一同制作，因此，对切片分析孔41组的切片分析就能很好地反映测试孔组1的切片分析，用于试验前孔壁质量、晕圈长度的测量。本例设置切片分析孔41组与测试孔组1相隔，形成独立的测试图形，该切片分析将不会破坏测试孔组1的后续测试使用。
示例性地，本例的开关电路3包括连接焊盘31和锡线(图未示)，连接焊盘31与测试孔组1正极连接，相邻测试孔组1的连接焊盘31通过锡线连接。开关电路3将多个测试孔组1的电源输入端合并，输出端分别连接开关图形后进行合并。从而通过开关电路3的连通或断开实现单个测试孔组1的并联接入或断开。通过本例的开关电路3的非电气连通、间距较小的两个连接焊盘31，通过锡线焊接或脱焊的方式实现连通或断开。
对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种具备开关电路的CAF测试板，包括测试基板，其特征在于，测试基板上设有正极测试端、负极测试端、至少两组测试孔组、开关电路以及与测试孔组数量相等的定位焊盘组，开关电路位于相邻测试孔组之间，各测试孔组的正极通过开关电路并联后连接至正极测试端，各测试孔组的负极并联后连接至负极测试端；每组测试孔组包括间隔排列的多个测试对孔，每组定位焊盘组包括沿直线间隔排列的多个失效分析定位焊盘，各失效分析定位焊盘位于测试孔组一侧并与测试对孔一一对应连接。
2.根据权利要求1所述的具备开关电路的CAF测试板，其特征在于，测试基板上还设有限流电阻，该限流电阻串接于开关电路和正极测试端之间。
3.根据权利要求1所述的具备开关电路的CAF测试板，其特征在于，测试基板上还设有切片分析孔组，该切片分析孔组包括多个分析孔，各分析孔的孔径与测试对孔的孔径相等，各分析孔的间距与测试对孔的间距相等。
4.根据权利要求3所述的具备开关电路的CAF测试板，其特征在于，切片分析孔组与测试孔组相隔。
5.根据权利要求1所述的具备开关电路的CAF测试板，其特征在于，开关电路包括连接焊盘和锡线，连接焊盘与测试孔组正极连接，相邻测试孔组的连接焊盘通过锡线连接。
6.根据权利要求1-5任一项所述的具备开关电路的CAF测试板，其特征在于，测试孔组的测试对孔呈矩阵状排布，各测试对孔逐次串接，失效分析定位焊盘与每排测试对孔一一对应连接。
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