CN105448221A - 显示装置及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了显示装置及其测试方法。显示装置包括显示面板和控制芯片；所述显示面板包括显示区域和台阶区域；所述控制芯片设置于所述台阶区域内，且与所述显示面板电连接；其中，所述控制芯片包括内建自测模块，用于为所述显示面板提供包括图形信号的检测信号；所述台阶区域内设置有第一测试点，所述第一测试点与所述内建自测模块电连接，用于将外部启动信号提供给所述内建自测模块。该显示装置能够快速检测出其显示问题是否是由控制芯片导致的。

Description

显示装置及其测试方法

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体涉及显示设备领域，尤其涉及一种显示装置及其测试方法。

背景技术

由于COG(chiponglass，芯片被直接绑定在玻璃上)技术可以明显减小LCM(LCDModule，LCD显示模组)的体积，且易于大批量生产，因此被广泛应用于各类终端的显示屏幕中。

对于LCM来说，其除了绑定有芯片外，还包括有FPC(FlexiblePrintedCircuit，柔性电路板)和背光等组成部分。在现有技术中，如果碰到LCM黑屏或无显等问题，通常需要分别对FPC和COG芯片进行更换并检测LCM，才能确定该芯片能否正常工作，整个检测过程非常繁琐。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望能够提供一种快速检测控制芯片是否正常的方案。为了实现上述一个或多个目的，本申请实施例提供了一种显示装置及其测试方法。

第一方面，本申请实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括显示面板和控制芯片；

所述显示面板包括显示区域和台阶区域；

所述控制芯片设置于所述台阶区域内，且与所述显示面板电连接；

其中，所述控制芯片包括内建自测模块，用于为所述显示面板提供包括图形信号的检测信号；

所述台阶区域内设置有第一测试点，所述第一测试点与所述内建自测模块电连接，用于将外部启动信号提供给所述内建自测模块。

第二方面，本申请实施例提供了一种显示装置的测试方法，该测试方法包括：

通过测试点将外部信号提供给所述控制芯片；

检测所述显示面板能否显示所述控制芯片产生的图形；

若是，则确定所述控制芯片正常，否则，确定所述控制芯片异常。

第三方面，本申请实施例提供了另一种显示装置的测试方法，该测试方法包括：

当所述显示装置显示异常时，通过测试点将外部信号提供给所述控制芯片；

检测所述显示面板能否显示所述控制芯片产生的图形；

若是，则确定所述控制芯片正常，所述柔性电路板异常；

否则，确定所述控制芯片异常，所述柔性电路板正常。

本申请实施例提供的显示装置及其测试方法，可以在控制芯片内设置自测模块，并通过位于显示装置台阶内的测试点来启动自测功能，以检测控制芯片是否能够正常工作，从而能够快速确定出显示装置的显示问题是否是由控制芯片导致的。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是本申请显示装置的一个实施例的结构示意图；

图2是本申请显示装置的另一个实施例的结构示意图；

图3是本申请显示装置的测试方法的一个实施例的流程图；

图4是本申请显示装置的测试方法的另一个实施例的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

请参考图1，其示出了本申请显示装置的一个实施例的结构示意图。

如图1所示，本实施例的显示装置包括：显示面板11和控制芯片12。其中，显示面板11可以用于进行图像显示，而控制芯片12可以为显示面板11提供显示信号。显示面板11可以包括显示区域111和台阶区域112。显示区域111中可以包括由多个像素单元组成的像素阵列，像素阵列可以根据控制芯片12提供的信号显示出不同的图形。

在本实施例中，控制芯片12可以设置于台阶区域112内。也就是说，控制芯片12可以利用COG技术，邦定于显示面板11的台阶区域112内。COG制程可以利用覆晶(FlipChip)导通方式，将控制芯片12直接对准台阶区域112上的电极，利用各向异性导电膜材料作为接合的介面材料，使两种结合物体垂直方向的电极导通。由于台阶区域112上的电极可以是显示面板11内电极的延伸，因此控制芯片12可以与显示面板11电连接，以便直接向显示面板提供显示信号。

在本实施例中，控制芯片12可以包括一个内建自测模块121。内建自测(Built-inSelfTest，BIST)技术，是指在设计时植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术。通过这种技术，可以降低器件测试对自动测试设备的依赖程度。目前普遍使用的BIST技术包括在电路中植入测试图形发生电路，时序电路，模式选择电路和调试测试电路等。在本实施例中，内建自测模块121可以包括一个时序控制寄存器，该时序控制寄存器内置有存储器RAM(RandomAccessMemory，随机存取存贮器)。在存储器中可以存储有各种测试图形，使得内建自测模块121可以为显示面板11提供包括图形信号在内的检测信号。

在本实施例中，台阶区域112内还可以设置有第一测试点13，第一测试点13与内建自测模块121电连接，用于将外部启动信号提供给内建自测模块121。当第一测试点13将外部启动信号(例如一个高电平信号)提供给内建自测模块121后，可以启动内建自测模块121的自测功能。

在本实施例的一些可选实现方式中，台阶区域112内还可以设置有第二测试点14、第三测试点15和第四测试点16。第二测试点14用于将外部的模拟电压信号(例如，2.8V的模拟电压)提供给控制芯片12。第三测试点15用于将外部的逻辑电压信号(例如，1.8V的逻辑电压)提供给控制芯片12。第四测试点16用于将外部的接地信号GND提供给控制芯片12。

在本实施例的一些可选实现方式中，第二测试点14中可以包括两个测试点。这两个测试点可以用于将外部成对的两个模拟电压信号，例如液晶正压信号VSP和液晶负压信号VSN，提供给控制芯片12。可选地，VSP和VSN可以分别为﹢5V和-5V的模拟电压信号。

当在第一测试点13，第二测试点14、第三测试点15和第四测试点16上分别施加合适的外部信号后，就可以启用内建自测模块121的自测功能。当自测功能被启动后，内建自测模块121的时序控制寄存器内的存储器可以被驱动，以便将其存储的图形信号传输给显示面板11。此时，如果显示面板11能够正常显示该图形信号，则可以认为控制芯片12能够正常工作，反之则可以认为控制芯片12出现异常。

本申请实施例提供的显示装置，可以在控制芯片内设置自测模块，并通过位于显示装置台阶内的测试点来启动自测功能，以检测控制芯片是否能够正常工作，从而能够快速确定出显示装置的显示问题是否是由控制芯片导致的。

进一步参考图2，其示出了本申请显示装置的另一个实施例的结构示意图。

如图2所示，本实施例的显示装置包括：显示面板21和控制芯片22。其中，显示面板21可以用于进行图像显示，而控制芯片22可以为显示面板21提供显示信号。显示面板21可以包括显示区域211和台阶区域212。显示区域211中可以包括由多个像素单元组成的像素阵列，像素阵列可以根据控制芯片22提供的信号显示出不同的图形。

在本实施例中，控制芯片22可以设置于台阶区域212内。具体地，控制芯片22可以利用COG技术，邦定于显示面板21的台阶区域112内，并与显示面板21电连接，以便直接向显示面板提供显示信号。控制芯片22可以包括一个内建自测模块221，该模块可以为显示面板21提供包括图形信号在内的检测信号。

在本实施例中，台阶区域212内还可以设置有第一测试点23，第二测试点24、第三测试点25和第四测试点26。第一测试点23与内建自测模块221电连接，用于将外部启动信号提供给内建自测模块221。第二测试点24用于将外部的模拟电压信号(例如，2.8V的模拟电压)提供给控制芯片22。第三测试点25用于将外部的逻辑电压信号(例如，1.8V的逻辑电压)提供给控制芯片22。第四测试点26用于将外部的接地信号GND提供给控制芯片22。

在本实施例中，显示装置还可以包括：柔性电路板27。柔性电路板27包括第一端部271，第一端部271可以设置于台阶区域212内，且与控制芯片22电连接。这样，在显示装置正常工作时，可以通过柔性电路板27为控制芯片22提供电压信号和显示信号，并进一步通过控制芯片22驱动显示面板21进行显示。

当显示装置显示异常(例如，黑屏或无显)时，可以在第一测试点23，第二测试点24、第三测试点25和第四测试点26上分别施加合适的外部信号，然后检测显示面板21能否显示控制芯片22产生的图形。若能够显示，则说明控制芯片22是正常的，那么问题就很可能出现在柔性电路板27上。反之，若显示面板21无法正常显示，则说明很可能是控制芯片22发生了问题，而柔性电路板27应该是能够正常工作的。

在本实施例的一些可选实现方式中，显示装置可以包括相对设置的第一基板和第二基板。第一基板和第二基板相互绝缘。第一基板和第二基板的可以是透明的玻璃基板，也可以是透明的塑料薄膜基板。显示区域211可以位于第一基板和第二基板的重合区域内。在重合区域内，除显示区域211外，还可以包括非显示区域。台阶区域212可以包括第一基板从上述重合区域向外延伸的区域。可选地，第一基板可以为薄膜晶体管阵列基板或彩膜基板。

与图1中所提供的显示装置相比，本实施例中的显示装置的台阶区域内可以设置有多个测试点，并且还可以包括柔性电路板。当显示装置显示异常时，可以通过第一测试点向控制芯片的内建自测模块提供外部启动信号，以使得控制芯片能够驱动显示面板显示内建自测模块内的测试图形，从而根据显示情况快速检测出控制芯片和柔性电路板是否能够正常工作。

进一步参考图3，其示出了本申请显示装置的测试方法的一个实施例的流程图。该测试方法可以应用于上述任一实施例中所描述显示装置上。如图3所示，该方法具体包括：

步骤301，通过测试点将外部信号提供给控制芯片。

在本实施例中，可以通过测试点向控制芯片提供外部信号，以使得控制芯片能够驱动显示面板进行显示。

可选地，可以通过设置于显示面板的台阶区域内的第一测试点，将外部启动信号提供给控制芯片的内建自测模块，以驱动内建自测模块为显示面板提供包括图形信号的检测信号。

可选地，还可以通过设置于台阶区域内的第二测试点、第三测试点和第四测试点，分别将模拟电压信号、逻辑电压信号和接地信号提供给控制芯片。

步骤302，检测显示面板能否显示控制芯片产生的图形。

可选地，可以检测显示面板的显示区域能否显示内建自测模块产生的图形。

步骤303，若显示面板能够显示控制芯片产生的图形，则确定控制芯片正常。

步骤304，若显示面板不能显示控制芯片产生的图形，则确定控制芯片异常。

当控制芯片的自测功能被启动后，内建自测模块的时序控制寄存器内置的存储器可以被驱动，以便将其内部存储的图形信号传输给显示面板。此时，如果显示面板能够正常显示该图形信号，则可以认为控制芯片能够正常工作，反之则可以认为控制芯片出现异常。

本实施例提供的显示装置的测试方法，可以在控制芯片内设置自测模块，并通过位于显示装置台阶内的测试点来启动自测功能，以检测控制芯片是否能够正常工作，从而能够快速确定出显示装置的显示问题是否是由控制芯片导致的。

进一步参考图4，其示出了本申请显示装置的测试方法的另一个实施例的流程图。该测试方法可以应用于图2所示的实施例中所描述显示装置上。如图4所示，该方法具体包括：

步骤401，当显示装置显示异常时，通过测试点将外部信号提供给控制芯片。

步骤402，检测显示面板能否显示控制芯片产生的图形。

步骤403，若显示面板能够显示控制芯片产生的图形，则确定控制芯片正常，柔性电路板异常。

步骤404，若显示面板不能显示控制芯片产生的图形，则确定控制芯片异常，柔性电路板正常。

在本实施例中，当显示装置显示异常(例如，黑屏或无显)时，可以在第一测试点，第二测试点、第三测试点和第四测试点上分别施加合适的外部信号，以使得控制芯片驱动显示面板进行图形显示。然后检测显示面板能否能够正常显示控制芯片产生的图形。若能够正常显示，则说明控制芯片是正常的，那么柔性电路板很可能就是异常的。反之，若显示面板无法正常显示，则说明很可能是控制芯片发生了异常，而柔性电路板应该是能够正常工作的。

本实施例提供的显示装置的测试方法，当显示装置显示异常时，可以通过第一测试点向控制芯片的内建自测模块提供外部启动信号，以使得控制芯片能够驱动显示面板显示内建自测模块内的测试图形，从而根据显示情况快速检测出控制芯片和柔性电路板是否能够正常工作。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (11)

1.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板和控制芯片；

所述显示面板包括显示区域和台阶区域；

所述控制芯片设置于所述台阶区域内，且与所述显示面板电连接；

其中，所述控制芯片包括内建自测模块，用于为所述显示面板提供包括图形信号的检测信号；

所述台阶区域内设置有第一测试点，所述第一测试点与所述内建自测模块电连接，用于将外部启动信号提供给所述内建自测模块。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述内建自测模块包括时序控制寄存器，所述时序控制寄存器包括存储器，所述存储器内存储有测试图形。

3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述台阶区域内还设置有第二测试点、第三测试点和第四测试点；

所述第二测试点、第三测试点和第四测试点均与所述控制芯片电连接，并分别用于将外部的模拟电压信号、逻辑电压信号和接地信号提供给所述控制芯片。

4.根据权利要求1至3任一项所述的显示装置，其特征在于，还包括：柔性电路板；

所述柔性电路板包括第一端部，所述第一端部设置于所述台阶区域内，且与所述控制芯片电连接。

5.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，

所述显示装置包括相对设置的第一基板和第二基板；

所述显示区域位于所述第一基板和所述第二基板的重合区域内；

所述台阶区域包括所述第一基板从所述重合区域向外延伸的区域。

6.根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，所述第一基板为薄膜晶体管阵列基板或彩膜基板。

7.一种显示装置的测试方法，其特征在于，所述显示装置为根据权利要求3至6任一项所述的显示装置；

所述测试方法包括：

通过测试点将外部信号提供给所述控制芯片；

检测所述显示面板能否显示所述控制芯片产生的图形；

若是，则确定所述控制芯片正常，否则，确定所述控制芯片异常。

8.一种显示装置的测试方法，其特征在于，所述显示装置为根据权利要求4至6任一项所述的显示装置；

所述测试方法包括：

当所述显示装置显示异常时，通过测试点将外部信号提供给所述控制芯片；

检测所述显示面板能否显示所述控制芯片产生的图形；

若是，则确定所述控制芯片正常，所述柔性电路板异常；

否则，确定所述控制芯片异常，所述柔性电路板正常。

9.根据权利要求7或8所述的显示装置的测试方法，其特征在于，所述通过测试点将外部信号提供给所述控制芯片，包括：

通过设置于所述显示面板的台阶区域内的第一测试点，将外部启动信号提供给所述控制芯片的内建自测模块，以驱动所述内建自测模块为所述显示面板提供包括图形信号的检测信号。

10.根据权利要求9所述的显示装置的测试方法，其特征在于，所述通过测试点将外部信号提供给所述控制芯片，还包括：

通过设置于所述台阶区域内的第二测试点、第三测试点和第四测试点，分别将模拟电压信号、逻辑电压信号和接地信号提供给所述控制芯片。

11.根据权利要求9所述的显示装置的测试方法，其特征在于，所述检测所述显示面板能否显示所述控制芯片产生的图形，包括：

检测所述显示面板的显示区域能否显示所述内建自测模块产生的图形。