CN203242300U - 一种内置测试信号单元的oled显示模组 - Google Patents
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Abstract
本实用新型为了解决现有的OLED测试工序效率低下和生产效率及良率不高的问题，提出了一种内置测试信号单元的OLED显示模组，包括OLED显示屏和驱动IC，所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU，其特征在于，所述驱动IC还包括一信号发生单元，所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接，用于提供OLED显示屏测试用信号，本实用新型的有益效果：本实用新型的OLED显示模组通过在OLED模组的驱动IC中嵌入信号发生单元，使进行OLED显示效果检测工序无需外接复杂的电源及信号发生器等模块，简化了OLED显示效果检测工序，降低了检测难度同时提高了检测效率。
Description
技术领域
本实用新型属于OLED显示技术领域，具体涉及一种内置测试信号单元的OLED显示模组。
背景技术
有机发光二极管（OLED）显示器以其轻薄、主动发光、快响应速度、广视角、色彩丰富、高亮度、低功耗以及耐高低温等众多优点而被业界公认为是继液晶显示器（LCD）之后的第三代显示技术，目前已越来越多地应用在智能手机、数码相机、平板电脑等便携式产品中，具有非常广阔的市场前景。但由于OLED制作工艺难度大，生产过程容易产生缺陷，导致目前量产良率偏低。为了保证出厂产品的品质，各OLED面板企业不得不加强生产过程中对OLED显示器件的显示效果进行检测。
利用现有技术对OLED显示器件进行检测的原理如图1所示，需要包括被检测的OLED模组本身以及软件控制器、电源装置和信号发生器等工装夹具。其中电源装置用于提供OLED模组及软件控制器所需要的VDD、VCC和GND电源，信号发生器用于产生OLED模组检测用信号，软件控制器用于根据软件控制测试过程，包括根据软件向被测试的OLED模组输送控制信号control和数据信号DATA。
现有技术能够实现在生产过程中对OLED显示期间的显示效果进行检测，但是其需要较多的工装检测设备，并且各设备之间连接关系复杂，导致测试工序效率低下，容易产生错误，进而影响整个OLED生产效率的提高。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有的OLED测试工序效率低下和生产效率及良率不高的问题，提出了一种内置测试信号单元的OLED显示模组。
为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种内置测试信号单元的OLED显示模组，包括OLED显示屏和驱动IC，所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU，其特征在于，所述驱动IC还包括一信号发生单元，所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接，用于提供OLED显示屏测试用信号。
上述信号发生单元包括信号控制器和信号发生器，所述信号控制器与输入接口MCU、显示数据存储器DDRAM和信号发生器连接，用于获取控制信号并据此控制信号发生器和显示数据存储器DDRAM的工作状态，所述信号发生器与显示数据存储器DDRAM连接，用于生成并向显示数据存储器DDRAM输送OLED显示屏测试用信号。
上述输入接口包括选择控制端Sel，所述选择控制端Sel用于输入信号发生单元的启动信号。
本实用新型的有益效果：本实用新型的OLED显示模组通过在OLED模组的驱动IC中嵌入信号发生单元，使进行OLED显示效果检测工序无需外接复杂的电源及信号发生器等模块，简化了OLED显示效果检测工序，降低了检测难度同时提高了检测效率。
附图说明
图1为现有的OLED显示效果检测工装结构示意图。
图2为本实用新型的OLED显示效果检测工装结构示意图。
图3为本实用新型的OLED显示模组驱动IC结构示意图。
图4中a-f为本实用新型的OLED显示模组驱动IC内置的6组测试信号图像。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步的说明。
本实施例的一种内置测试信号单元的OLED显示模组，如图3所示，包括OLED显示屏和驱动IC，所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU，所述驱动IC还包括一信号发生单元，所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接，用于提供OLED显示屏测试用信号。
本实施例的驱动IC还包括，电源控制器，用于为驱动IC各功能单元提供电源；命令译码器，用于软件命令译码；显示时序发生器，所述显示时序发生器包括振荡器，用于生成时序信号；灰阶解码器，用于将显示数据解码成显示灰度信号；输出接口，所述输出接口与OLED显示屏连接，用于向OLED显示屏传输测试信号和/或驱动信号。
上述信号发生单元包括信号控制器和信号发生器，所述信号控制器与输入接口MCU、显示数据存储器DDRAM和信号发生器连接用于获取控制信号并据此控制信号发生器和显示数据存储器DDRAM的工作状态；所述信号发生器与与显示数据存储器DDRAM连接，用于生成并向显示数据存储器DDRAM输送OLED显示屏测试用信号。
上述输入接口包括选择控制端Sel，所述选择控制端Sel用于启动并控制信号发生单元。
上述输入接口还包括，控制信号端Control，用于输入外部控制信号；数据端DATA，用于输入数据信号；输出接口包括列驱动器和行驱动器，分别用于对OLED显示屏输送列驱动信号和行驱动信号。
本实施例的一种内置测试信号单元的OLED显示模组的显示效果检测工装结构如图2所示，包括上述实施例中的内置测试信号单元的OLED显示模组、电源装置及启动开关K，所述启动开关K用于启动OLED模组内置的信号发生单元，使其产生OLED显示屏检测用信号，所 述电源装置用于提供OLED模组所需的电源。
具体地说，当向所述OLED显示模组输入供电电源VDD和VCC时，信号控制器将根据选择控制端Sel的不同电平设置控制信号发生器输出的测试图像种类并输入显示数据存储器DDRAM数据源。以显示图4中a-f所示的六种常用测试图像为例，当选择控制端Sel悬空时，信号控制器控制显示数据存储器DDRAM存储从驱动IC的DATA端口输入的外部图像数据，OLED模组显示外部输入的图像，此时的OLED模组处于正常使用时的工作状态；当选择控制端Sel非悬空而输入其它电平时，信号控制器控制显示数据存储器DDRAM存储信号发生器输出的图像数据。进一步地，选择控制端Sel输入的电平分别为0、1/5VDD、2/5VDD、3/5VDD、4/5VDD、VDD时，信号发生器分别输出图4所示的全白、全黑、窗口白、彩条、竖灰阶和横灰阶的测试图像数据，测试图像数据经显示数据存储器DDRAM读出后，再经灰阶译码器和行、列驱动器输送到OLED显示屏，OLED显示屏就可以显示相应的测试图像以满足各种光电性能的测试。
本领域的普通技术人员将会意识到，所述OLED显示装置的信号发生器模块所产生的测试信号并不限于图4所示的六种，选择控制端sel的控制电平及与测试信号的对应关系也不限于示例性实施例，且选择控制脚也可以采用多个控制脚组合控制的方式。
本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本实用新型的原理，应被理解为本实用新型的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本实用新型公开的这些技术启示做出各种不脱离本实用新型实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本实用新型的保护范围内。
Claims (4)
1.一种内置测试信号单元的OLED显示模组，包括OLED显示屏和驱动IC，所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU，其特征在于，所述驱动IC还包括一信号发生单元，所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接，用于提供OLED显示屏测试用信号。
2.根据权利要求1所述的一种内置测试信号单元的OLED显示模组，其特征是，所述信号发生单元包括信号控制器和信号发生器，所述信号控制器与输入接口MCU、显示数据存储器DDRAM和信号发生器连接，用于获取控制信号并据此控制信号发生器和显示数据存储器DDRAM的工作状态，所述信号发生器与显示数据存储器DDRAM连接，用于生成并向显示数据存储器DDRAM输送OLED显示屏测试用信号。
3.根据权利要求1或2所述的一种内置测试信号单元的OLED显示模组，其特征是，所述输入接口包括选择控制端Sel，所述选择控制端Sel用于输入信号发生单元的启动信号。
4.根据权利要求1或2所述的一种内置测试信号单元的OLED显示模组，其特征是，所述输入接口还包括，控制信号端Control，用于输入外部控制信号；数据端DATA，用于输入数据信号；所述显示模组还包括输出接口，所述输出接口包括列驱动器和行驱动器，分别用于对OLED显示屏输送列驱动信号和行驱动信号。
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