CN105425133A - 二极管失效分析实验用反应釜 - Google Patents

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魏广乾
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Abstract

本发明公开了二极管检测技术领域内的二极管失效分析实验用反应釜,包括本体、端盖,所述本体为上端开口的圆形杯状,所述本体的内壁和底部上均设有环形的凹槽,所述凹槽内固定有电热丝,所述电热丝的外侧设有反应杯。所述端盖通过铰链铰接在本体上端的一侧,所述端盖的形状与本体相匹配;所述端盖上设有若干排液孔,端盖与铰链相对一侧的下端向下凸起形成卡台,本体上端与铰链相对的一侧设有卡槽,所述卡台和卡槽相配合。本方案通过电热丝对反应杯加热,降低了实验的不稳定性和危险性,通过设置带有排水孔的端盖,防止样品掉落,避免重复实验,提高了实验效率。

Description

二极管失效分析实验用反应釜
技术领域
本发明涉及二极管检测技术领域,具体涉及一种二极管失效分析实验用反应釜。
背景技术
二极管在长期使用过程中会因为各种原因造成失效而无法正常工作,对电子器件的正常使用造成严重的影响。为了减少二极管失效情况的发生,通常对失效的二极管进行失效分析实验查明二极管失效原因,然后对二极管做出针对性的改进。实验过程为搜集二极管使用中短路失效的样品和筛选应力条件或使用条件等失效数据,对这些样品进行电参数测试、开帽、去保护胶、管芯与电极分离、去焊料和显微观察等步骤,找出失效部位,分析引发二极管失效的内在质量因素或使用因素,以及失效的发生过程。
目前二极管失效分析实验通常是将二极管放在烧杯中通过各种强酸对二极管表面进行层层加热腐蚀,最后得到芯片进行分析。现有的实验为人工全程操作,需要人工接触各种强酸,需要通过酒精灯、石棉网对烧杯进行加热,实验人员的劳动强度大容易疲劳,需要存在一定的不稳定性和危险性。而且在腐蚀后需要手工将废弃的酸液从烧杯中倒掉,由于烧杯口径较大,腐蚀后的二极管也极易跟随酸液被倒掉,造成实验样品的浪费导致进行重复实验,使得实验成本较高,失效分析实验效率低,对二极管进行失效分析实验很不方便。
发明内容
本发明意在提供一种二极管失效分析实验用反应釜,以方便对二极管进行失效分析实验,降低实验的不稳定性和危险性,提高实验效率。
为达到上述目的,本发明的基础技术方案如下:二极管失效分析实验用反应釜,包括本体、端盖,所述本体为上端开口的圆形杯状,所述本体的内壁和底部上均设有环形的凹槽,所述凹槽内固定有电热丝,所述电热丝的外侧设有反应杯。所述端盖通过铰链铰接在本体上端的一侧,所述端盖的形状与本体相匹配。所述端盖上设有若干排液孔,端盖与铰链相对一侧的下端向下凸起形成卡台,本体上端与铰链相对的一侧设有卡槽,所述卡台和卡槽相配合。
本方案的原理及优点是:操作时,将二极管样品放在反应杯中,盖上端盖将卡台卡接在卡槽内,通过端盖上的排液孔将酸液倒入反应杯,给电热丝通电使之生热对反应杯加热,二极管样品在反应杯内被腐蚀。在进行一次腐蚀后不用打开端盖直接倾斜本体即可将反应后的酸液从排液孔倒出反应杯,避免腐蚀后的二极管跟随酸液一起从反应杯内掉落,不会造成实验样品的浪费,避免进行重复实验,提高了实验效率。通过电热丝对反应杯进行加热,不采用明火,降低实验的不稳定性和危险性,更加安全,更加环保。设置卡台和卡槽配合使端盖能够简单且牢固的固定在本体上,避免在倾倒酸液时端盖脱落导致腐蚀后的样品从反应杯内掉落。本方案通过电热丝对反应杯加热,降低了实验的不稳定性和危险性,通过设置带有排水孔的端盖,防止样品掉落,避免重复实验,提高了实验效率。
优选方案一,作为基础方案的一种改进,所述电热丝和反应杯之间设有导热层。设置导热层避免反应杯直接与电热丝接触,使反应杯受热更均匀,不易因为各部分的温差导致损坏,使反应杯使用寿命更长。
优选方案二,作为优选方案一的一种改进,所述反应杯为钾玻璃制成。钾玻璃制成的反应杯热膨胀系数小,较难熔化,更耐化学试剂的腐蚀,使用寿命更长,更适于作为反应容器。
优选方案三,作为优选方案二的一种改进,所述本体、端盖和导热层均为陶瓷制成。陶瓷的本体、端盖和导热层更耐高温、耐腐蚀,使用寿命更长。
优选方案四,作为优选方案三的一种改进,所述电热丝为铜质的。铜质的电热丝生热效率更高,热导率更好,对反应杯的加热效果更好,加热速度更快。
附图说明
图1为本发明实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
说明书附图中的附图标记包括:本体1、端盖2、电热丝3、导热层4、反应杯5、卡台6、铰链7、排液孔8。
实施例基本如附图1所示:二极管失效分析实验用反应釜,包括本体1、端盖2,所述本体1为陶瓷制成的上端开口的圆形杯状,所述本体1的内壁和底部上均设有环形的凹槽,所述凹槽内固定有铜质的电热丝3。所述电热丝3的外侧设有导热层4,所述导热层4为陶瓷薄板。所述导热层4的外侧设有反应杯5,所述反应杯5为钾玻璃制成。所述端盖2通过铰链7铰接在本体1上端的一侧,所述端盖2的形状与本体1相匹配,所述端盖2为陶瓷制成。所述端盖2上设有若干排液孔8,端盖2与铰链7相对一侧的下端向下凸起形成卡台6,本体1上端与铰链7相对的一侧设有卡槽,所述卡台6和卡槽相配合。
本实施例中,操作时,将二极管样品放在反应杯5中,盖上端盖2将卡台6卡接在卡槽内,通过端盖2上的排液孔8将酸液倒入反应杯5,给电热丝3通电使之生热对反应杯5加热,二极管样品在反应杯5内被腐蚀。在进行一次腐蚀后不用打开端盖2直接倾斜本体1即可将反应后的酸液从排液孔8倒出反应杯5,避免腐蚀后的二极管跟随酸液一起从反应杯5内掉落,不会造成实验样品的浪费,避免进行重复实验,提高了实验效率。通过电热丝3对反应杯5进行加热,不采用明火降低实验的危险性,更加安全,更加环保。设置陶瓷的导热板避免反应杯5直接与电热丝3接触,使反应杯5受热更均匀,不易因为各部分的温差导致损坏,使反应杯5使用寿命更长。陶瓷的本体1和端盖2更耐高温、耐腐蚀,使用寿命更长。铜质的电热丝3生热效率更高,热导率更好,对反应杯5的加热效果更好,加热速度更快。钾玻璃制成的反应杯5热膨胀系数小,较难熔化,更耐化学试剂的腐蚀,使用寿命更长,更适于作为反应容器。设置卡台6和卡槽配合使端盖2能够简单且牢固的固定在本体1上,避免在倾倒酸液时端盖2脱落导致腐蚀后的样品从反应杯5内掉落。
以上所述的仅是本发明的实施例,方案中公知的具体结构和/或特性等常识在此未作过多描述。应当指出,对于本领域的技术人员来说,在不脱离本发明结构的前提下,还可以作出若干变形和改进,这些也应该视为本发明的保护范围,这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准,说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。

Claims (5)

1.二极管失效分析实验用反应釜,其特征在于,包括本体、端盖,所述本体为上端开口的圆形杯状,所述本体的内壁和底部上均设有环形的凹槽,所述凹槽内固定有电热丝;所述电热丝的外侧设有反应杯;所述端盖通过铰链铰接在本体上端的一侧,所述端盖的形状与本体相匹配;所述端盖上设有若干排液孔,端盖与铰链相对一侧的下端向下凸起形成卡台,本体上端与铰链相对的一侧设有卡槽,所述卡台和卡槽相配合。
2.根据权利要求1所述的二极管失效分析实验用反应釜,其特征在于:所述电热丝和反应杯之间设有导热层。
3.根据权利要求2所述的二极管失效分析实验用反应釜,其特征在于:所述反应杯为钾玻璃制成。
4.根据权利要求3所述的二极管失效分析实验用反应釜,其特征在于:所述本体、端盖和导热层均为陶瓷制成。
5.根据权利要求4所述的二极管失效分析实验用反应釜,其特征在于:所述电热丝为铜质的。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108645232A (zh) * 2018-04-28 2018-10-12 中国原子能科学研究院 模块式高放废液蒸发-煅烧炉

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04213849A (ja) * 1990-12-10 1992-08-04 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその初期不良検出方法
CN101493283A (zh) * 2009-02-20 2009-07-29 苏州汇科机电设备有限公司 电子元器件烧成炉的电加热丝的敷设结构
CN201708134U (zh) * 2010-04-14 2011-01-12 常州星海电子有限公司 一种直推式酸洗机
CN201717244U (zh) * 2010-05-05 2011-01-19 如皋市易达电子有限责任公司 一种二极管倒酸机构
CN201919171U (zh) * 2010-12-21 2011-08-03 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 加热器
CN102842526A (zh) * 2012-07-31 2012-12-26 耿彪 高温蚀刻工艺槽
CN103337565A (zh) * 2013-06-04 2013-10-02 中国电子科技集团公司第四十五研究所 一种用于led芯片侧壁腐蚀工艺的高温强酸槽

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04213849A (ja) * 1990-12-10 1992-08-04 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその初期不良検出方法
CN101493283A (zh) * 2009-02-20 2009-07-29 苏州汇科机电设备有限公司 电子元器件烧成炉的电加热丝的敷设结构
CN201708134U (zh) * 2010-04-14 2011-01-12 常州星海电子有限公司 一种直推式酸洗机
CN201717244U (zh) * 2010-05-05 2011-01-19 如皋市易达电子有限责任公司 一种二极管倒酸机构
CN201919171U (zh) * 2010-12-21 2011-08-03 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 加热器
CN102842526A (zh) * 2012-07-31 2012-12-26 耿彪 高温蚀刻工艺槽
CN103337565A (zh) * 2013-06-04 2013-10-02 中国电子科技集团公司第四十五研究所 一种用于led芯片侧壁腐蚀工艺的高温强酸槽

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108645232A (zh) * 2018-04-28 2018-10-12 中国原子能科学研究院 模块式高放废液蒸发-煅烧炉

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