CN105393143A - 放射线成像装置 - Google Patents
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Abstract
放射线成像装置包括被配置为检测由放射线产生单元辐射的放射线的放射线检测面板、布置在该放射线的入射方向侧的第一部件和第二部件、及布置在与该放射线的入射方向相对的一侧的第三部件和第四部件。第二部件被布置在第一部件和放射线检测面板之间,并且第三部件被布置在放射线检测面板和第四部件之间。第二部件和第三部件在弹性模量上低于第一部件和第四部件,并且第二部件的弹性模量等于或低于第三部件的弹性模量。
Description
技术领域
本发明涉及放射线成像装置。
背景技术
传统地,这样的装置已经被广泛用于工业无损检查和医学诊断领域中:该装置用放射线照射目标对象,检测已经透过目标对象的放射线的强度分布,并获得目标对象的放射线图像。近来,如PTL1中公开的,以下装置已被开发,并且该装置可以快速获得输出图像:该装置通过使用放射线检测面板来捕获放射线数字图像,在该放射线检测面板中放射线进入磷光体,并且响应于该放射线而辐射的光由半导体传感器转换成电信息。尤其是在近些年,为了提高图像质量,还已经提出了如PTL2中公开的放射线来自半导体传感器侧的放射线检测面板。
假设在落下等时的撞击或者在成像时的外力被加载到这种类型的成像装置。为了即使在这样的情况下也能正常地操作成像装置内部的放射线检测功能,成像装置需要考虑强度、抗振性和抗冲击性。特别地,取决于捕获放射线图像的方法,有时向充当壳体的放射线入射表面的壳体上表面施加高的压力。此时,构成该放射线检测面板的玻璃基板很可能破损。如果玻璃基板破损,则要捕获合适的放射线图像变得非常困难。因此,需要充分的保护来防止玻璃基板的破损。同时,成像装置需要在大小、厚度和重量上进行减小。
为了保护放射线检测面板,放射线成像装置有时采取各种布置。如PTL3中那样,为了保护放射线检测面板,充当容纳放射线检测面板的壳体的放射线入射表面的壳体上表面由具有相对低的刚性的可移位材料制成。放射线成像装置有时采取这样的结构:在该结构中,通过使壳体上表面在设置在壳体上表面和放射线检测面板之间的空间中移位来防止冲击向放射线转换面板的传递,或者缓和(relax)该冲击。
为了在减小成像装置的厚度的同时保护放射线检测面板,成像装置甚至采用这样的结构:在该结构中,放射线检测面板被直接粘附到充当覆盖放射线检测面板的壳体的内部的放射线入射侧的表面的壳体上表面。成像装置有时采用这样的结构:在该结构中,通常被使用的、支撑放射线检测面板并且被布置在壳体中的高刚性的基台被省略了(PTL4或PTL5)。甚至当放射线检测面板以同样的方式被粘附到壳体上表面时,成像装置有时也采用这样的结构:在该结构中,在弯曲刚性上低于壳体的部件被用于基台,以保护放射线检测面板和成像装置内部的部件,同时减小整个成像装置的厚度和重量(PTL6)。
此外,成像装置有时采用这样的结构:在该结构中,为了保护放射线检测面板不受来自成像装置的外部的撞击等,几乎不在放射线图像中被捕获为伪像的缓冲材料被布置在放射线检测面板和壳体之间(PTL7)。
引文列表
专利文献
PTL1:日本专利No.3066944
PTL2:日本专利No.3333278
PTL3:日本专利特开No.11-284909
PTL4:美国专利申请公开No.2009/0122959
PTL5:日本专利特开No.2012-78664
PTL6:日本专利特开No.2011-58999
PTL7:日本专利No.4208907
发明内容
技术问题
但是,以上所述的相关技术具有若干问题。首先,在PTL3中,该结构以壳体上表面被自由地移位为前提,因此成像装置容易变厚。
在PTL4、PTL5和PTL6中,需要对充当壳体的放射线入射表面的壳体上表面保证必要的刚性。由放射线产生装置辐射的放射线透过对象和壳体上表面,并且被放射线检测面板检测。在大多数情况下,壳体上表面具有均匀的板材厚度的简单板材形状,以便壳体上表面不在所捕获的图像中留作伪像。因此,为了保证必要的刚性,难以通过改变形状(例如对壳体上表面给予肋(ribbed)结构)来提高刚性。为了保证必要的刚性,成像装置采取了单纯地增加板材厚度的结构,而难以减小成像装置的重量。当放射线检测面板被接合到壳体上表面时,如果诸如外力的负荷被施加给壳体,则外力容易被传递到放射线检测面板,从而增加了负荷。尤其是在PTL4、PTL5和PTL6的布置中,在施加外力时,强的拉伸应力被加载到放射线检测面板。该拉伸应力容易造成构成放射线检测面板的玻璃基板破损。如果玻璃基板破损,则要通过放射线成像装置捕获合适的图像就变得非常困难。
另外,在PTL7中,缓冲材料被布置在放射线检测面板和壳体上表面之间,以便缓和施加到成像单元的外力等。但是,仅仅布置缓冲材料并不总是实现适于放射线检测面板的保护的结构关系。
以这种方式,放射线成像装置需要减小重量以便提高便携性和可操作性。同时,充分地保护放射线检测面板不受使用时的外力的负荷和落下等时的撞击也很重要。
本发明是在考虑以上情况的情况下做出的,并且提供了一种能够减小重量同时保护放射线检测面板并保证放射线成像装置的刚性的放射线成像装置。
问题的解决方案
根据本发明的一个方面,一种放射线成像装置,包括:
放射线检测面板,该放射线检测面板被配置为检测由放射线产生设备辐射的放射线;
第一部件和第二部件,该第一部件和第二部件被布置在该放射线的入射方向侧;及
第三部件和第四部件,该第三部件和第四部件被布置在与该放射线的入射方向相对的一侧,
其中,该第二部件被布置在该第一部件和放射线检测面板之间,
该第三部件被布置在该放射线检测面板和第四部件之间,
该第二部件和第三部件在弹性模量上低于该第一部件和第四部件,并且
该第二部件的弹性模量不高于该第三部件的弹性模量。
发明的有益效果
本发明可以提供一种能够减小重量同时保护放射线检测面板并保证放射线成像装置的刚性的放射线成像装置。
本发明的其它特征和优点将根据结合附图的以下描述变得清楚,在附图中相似的附图标记贯穿其图片代表相同或相似部分。
附图说明
被并入说明书并构成其一部分的附图示出本发明的实施例,并且与描述一起用于解释本发明的原理。
图1是显示根据第一实施例的放射线成像装置的纵截面图;
图2是显示根据第二实施例的放射线成像装置的纵截面图;
图3是显示取决于布置的差异的放射线检测面板1的破损负荷的图;
图4是显示负荷被加载到放射线检测面板1的状态的视图;
图5是显示取决于布置的差异的在构成放射线检测面板1的玻璃部件上的应力的负荷状态的图;和
图6是显示根据第三实施例的放射线成像装置的纵截面图。
具体实施方式
现在将参考附图详细描述本发明的优选实施例。注意,在实施例中描述的构成元件仅仅是示例。本发明的技术范围由权利要求的范围确定,并且不受以下单个实施例的限制。
(第一实施例)
第一实施例将解释在放射线检测面板1未接合到壳体时的布置的示例。图1是显示根据第一实施例的放射线成像装置100的布置的示例。放射线成像装置100具有其中并入放射线检测面板1和用于处理由放射线检测面板1检测到的数据的控制板5(控制单元)的结构。一般来说,在放射线成像装置100中,已由放射线产生装置(未示出)辐射并透过对象的放射线被排列成二维矩阵的半导体元件检测。由放射线成像装置100获得的图像被传送到外部控制装置(信息处理装置)。被传送到控制装置的图像被显示在监视器上并用于诊断等。
在图1中,控制板5通过柔性电路板4被连接到放射线检测面板1,并执行对放射线检测面板1的读出控制和对电输出的处理。放射线检测面板1和控制板5被基台2支撑,并被布置在放射线成像装置100内部。
放射线检测面板1主要由玻璃基板、半导体元件、磷光体、磷光体保护膜等构成。放射线检测面板1具有所谓的背侧入射布置,在该背侧入射布置中,玻璃基板、半导体元件、磷光体和磷光体保护膜按照从放射线入射方向确立的次序被布置。由于在背侧入射布置中磷光体的发光位置和半导体元件的位置变得彼此靠近,因此可以获得高分辨率的图像。但是,有效利用本发明的实施例可以采用所谓的前侧入射布置,在该前侧入射布置中,磷光体保护膜、磷光体、半导体元件和玻璃基板按照从放射线入射方向确立的次序被布置。
假设在落下等时的撞击、或者在成像时的外力被加载到放射线成像装置100。放射线成像装置100需要考虑强度、抗振性和抗冲击性,以便即便在这样的情况下仍正常地操作放射线成像装置100内部的放射线检测功能。
由于取决于捕获放射线图像的成像方法要被成像的病人等接触放射线成像装置100,所以有时向充当容纳放射线检测面板1的壳体3的放射线入射表面的壳体上表面3a施加高的压力。如果压力被施加到壳体上表面3a,则在壳体上表面3a中产生由弯曲导致的形变,从而产生弯曲应力。类似地,取决于玻璃基板周围的结构,甚至在玻璃基板中产生弯曲应力。特别地,在作为施加压力的中心的位置处可能产生局部高应力。此时,构成放射线检测面板1的玻璃基板很有可能破损。如果玻璃基板破损,则要捕获合适的放射线图像变得非常困难。因此,需要充分的保护,以防止玻璃基板的破损。尤其是,这种从由弯曲导致的形变产生的应力具有这样的属性:在与施加压力的表面相对的一侧上产生拉伸应力。该拉伸应力容易造成玻璃基板的破损。为了保护玻璃,缓和施加到玻璃基板的拉伸应力是重要的。因此,有必要采用这样的结构:在该结构中,即使从壳体上表面施加压力,玻璃基板也几乎不形变或者几乎不产生拉伸应力。同时,放射线成像装置100需要在大小、厚度和重量上进行减小,以便便于处理、提高便携性和实现快速成像。
为了实现这一点,放射线成像装置100的内部采用了以下布置。放射线成像装置100由充当壳体的放射线入射表面的壳体上表面3a(第一部件)、第二构成部件6(第二部件)、放射线检测面板1、第三构成部件7(第三部件)、放射线屏蔽部件8和基台2(第四部件)按照从放射线入射方向确立的次序构成。这里,壳体上表面3a(第一部件)和第二构成部件6(第二部件)被布置在相对放射线检测面板1的放射线入射方向侧。第三构成部件7(第三部件)、放射线屏蔽部件8和基台2(第四部件)被布置在关于放射线检测面板1的与放射线入射方向相对的一侧。这种布置可以减小由于来自壳体上表面3a的力而施加到放射线检测面板1的拉伸应力。
放射线检测面板1在刚性上低于壳体上表面3a(第一部件)和基台(第四部件)。当从放射线入射方向观看时,壳体上表面3a和基台2中的每一个的面积A1等于放射线检测面板1的面积A2(A1=A2)或者大于面积A2(A1>A2)。即,当从放射线入射方向观看时,壳体上表面3a和基台2中的每一个的面积A1等于或大于放射线检测面板1的面积(A1≥A2)。在这种设定下,冲击几乎不被从壳体侧传递到放射线检测面板1,并且该面板可以安全地被保持。当第二构成部件6和第三构成部件7中的每一个的面积类似地被设定成等于或大于放射线检测面板1的面积时,对放射线检测面板1的冲击可以被缓和。
第二构成部件6和第三构成部件7在材料的弹性模量上低于壳体上表面3a、放射线检测面板1和基台2。第二构成部件6的刚性等于或低于第三构成部件7的刚性。第二构成部件6的弹性模量等于或低于第三构成部件7的弹性模量。第三构成部件7由其弹性模量等于或高于第二构成部件6的弹性模量的材料制成。即,第三构成部件7和第二构成部件6具有第三构成部件7的弹性模量等于或高于第二构成部件6的弹性模量(第三构成部件7的弹性模量≥第二构成部件6的弹性模量)的构成关系。具有低弹性模量的部件比具有高弹性模量的部件更容易变形。第二构成部件6的弹性模量等于或低于第三构成部件7的弹性模量,因此第二构成部件6比第三构成部件7更容易变形。可替代地,第二构成部件6与第三构成部件7同等地容易变形。由外部施加的负荷引起的壳体上表面3a等的变形被第二构成部件6的变形吸收。作为结果,可以防止变形对放射线检测面板1的影响,以保护放射线检测面板1。
为了吸收由外部施加的负荷引起的壳体上表面3a等的变形,第二构成部件6的板材厚度被设定为等于或大于第三构成部件7的板材厚度。第二构成部件6的弹性模量等于或低于第三构成部件7的弹性模量。第二构成部件6和第三构成部件7由缓冲材料制成。作为第二构成部件6,例如,可以使用诸如橡胶、泡沫、弹性体或胶体的弹性材料。作为第三构成部件7,如同在第二构成部件6中那样,可以使用诸如橡胶、泡沫、弹性体或胶体的弹性材料,但是材料不限于它们,只要材料可以满足以上提及的关系即可。根据足够的刚性和放射线的透过率之间的关系,壳体上表面3a可以使用碳纤维增强塑料(CFRP)等。由于基台2需要提供足够的刚性,因此它是由诸如CFRP的纤维增强塑料、镁合金或铝合金制成的高刚性结构,并具有比壳体上表面3a的刚性高的刚性。
由在弹性模量上低于壳体上表面3a等的材料制成的第二构成部件6和第三构成部件7被期望具有吸收来自壳体上表面3a等的冲击、变形等的效果。如上所述,当来自上表面侧的外力被施加时,第二构成部件6比第三构成部件7更容易形变,并且放射线检测面板1几乎不形变。由于可以针对放射线检测面板1缓和由形变产生拉伸应力,因此可以期望高的保护效果。由于放射线检测面板1的破损可以被防止,因此对于放射线成像装置100所必需的刚性可以被降低,以减小放射线成像装置100的重量和厚度。
一种情况如下,在该情况中以上所述的构成关系(第三构成部件7的弹性模量≥第二构成部件6的弹性模量)被改变成采取第三构成部件7比第二构成部件6更容易形变的关系(第二构成部件6的弹性模量>第三构成部件7的弹性模量)。在这种情况下,针对放射线检测面板1缓和外力的功能起作用,但是放射线检测面板1容易跟随第三构成部件7的形变或移位,因此负荷容易被施加到放射线检测面板1。
放射线屏蔽部件8被布置在基台2和第三构成部件7之间。进入放射线成像部件100的放射线未被构成放射线检测面板1的磷光体完全吸收,并且其一部分透过放射线成像装置100的内部,并从放射线成像装置100出来。已透过放射线成像装置100的放射线有时被后壁表面、地板等散射,返回到放射线成像装置100,并进入放射线检测面板1。这种被散射的放射线的取决于结构的透过率的差异被捕获为图像,因此被散射的放射线需要尽可能地被抑制。使用例如由选自由以下项构成的组中的至少一种重金属构成的材料或不锈钢,可以构成放射线屏蔽部件8:铅(Pb)、钡(Ba)、铊(Ta)、钼(Mo)和钨(W)。
根据第一实施例,只要放射线检测面板1周围的部件之间的构成关系(机械关系)被满足,就可以保护放射线检测面板1不受由外力造成的冲击和变形。因此,高刚性结构不需要总是壳体上表面3a和基台2。根据第一实施例,其中与相关技术相比可以减小玻璃上的负荷的布置可以被采用,因此放射线成像装置100的重量和厚度可以被减小。
(第二实施例)
第二实施例将解释当放射线检测面板1被接合到壳体时的布置的示例。图2是显示根据第二实施例的放射线成像装置100的布置的示例的截面图。如在第一实施例中那样,放射线检测面板1被基台2支撑。执行放射线检测面板1的读出控制和对电输出的处理的控制板5通过柔性电路板4被连接到放射线检测面板1。同样,如在第一实施例中那样,放射线检测面板1可以采取前侧入射布置或后侧入射布置。
为了实现放射线成像装置100的重量减小和对放射线检测面板1的充分保护二者,放射线成像装置100采用这样的布置:在该布置中,放射线检测面板1与充当覆盖放射线检测面板1的壳体3的放射线入射表面的壳体上表面3a接合。接合提高了放射线成像装置100的刚性,并且在一些情况下采取其中支撑放射线检测面板1的基台2被省略的布置。省略基台2可以实现加宽布置控制板5的空间并且可以减小重量的布置。
但是,假设取决于成像方法重的负荷被施加到放射线成像装置100的壳体上表面3a。当基台2被省略时,如果外力被施加到壳体上表面3a,则由于弯曲应力的中性轴和分层结构之间的关系,强的拉伸应力被加载到放射线检测面板1。这种拉伸应力容易造成构成放射线检测面板1的玻璃基板的破损。
除非在合适的结构关系下布置放射线检测面板1,否则强的拉伸应力可能被加载到放射线检测面板1。这种结构使得难以保护放射线检测面板1。
如上所述,在放射线检测面板1被接合到壳体上表面3a的接合结构中,壳体上表面3a等需要维持高的刚性,以便维持对于整个结构所必需的刚性。由放射线产生装置辐射的放射线在透过对象和壳体上表面3a后被放射线检测面板1检测。在大多数情况下,壳体上表面3a具有均匀板材厚度的简单板材形状,以便壳体上表面3a不在所捕获的图像中留作伪像。因此,难以改变形状,例如给予肋结构,以便保证必需的刚性。刚性是通过单纯地增加板材厚度等来提高的,从而抑制了重量减小。当放射线检测面板1被接合到壳体上表面3a并与它集成时,如果诸如外力的负荷被施加到壳体,则外力容易被传递到放射线检测面板1,并且放射线检测面板1上的负荷可能增加。
在这个实施例中,在放射线检测面板1周围采用如图2中所示的布置,以便通过集成放射线检测面板1和高刚性部件来提高刚性,同时避免以上所述的影响。
在图2中,放射线检测面板1与包括充当壳体3的放射线入射表面的壳体上表面3a、第二构成部件61、第三构成部件71及基台2的部件集成。此时,在刚性(弹性模量)上低于壳体上表面3a、放射线检测面板1和基台2的部件被用于布置在壳体上表面3a和放射线检测面板1之间的第二构成部件61以及布置在放射线检测面板1和基台2之间的第三构成部件71。
第三构成部件71由其弹性模量等于或高于第二构成部件61的弹性模量的材料制成。第二构成部件61的弹性模量等于或低于第三构成部件71的弹性模量。第二构成部件61的板材厚度等于或大于第三构成部件71的板材厚度。第三构成部件71的厚度被设定为小于第二构成部件61的厚度。
这些部件被接合和集成。这可以实现针对外力的缓冲效果以及通过集成实现刚性的提高。基台2的刚性高于壳体上表面3a的刚性。
布置在壳体上表面3a和放射线检测面板1之间的第二构成部件61可以由这样的部件构成:在该部件中双面带或粘附剂被布置在诸如橡胶、泡沫、弹性体或胶体的弹性材料的两个表面上,以便能够将第二构成部件61与壳体上表面3a和放射线检测面板1集成。此外,布置在放射线检测面板1和支撑放射线检测面板1的基台2之间的第三构成部件71可以如同在第二构成部件61中那样由诸如橡胶、泡沫、弹性体或胶体的弹性材料构成、或者由诸如双面带或粘附剂的部件构成。例如,第三构成部件71是满足以上提及的机械关系的材料就足够了。
根据足够的刚性和放射线的透过率之间的关系,壳体上表面3a也可以使用CFRP等。由于基台2需要给予足够的刚性,因此它是由诸如CFRP的碳纤维增强塑料、镁合金或铝合金制成的高刚性结构,并且具有比壳体上表面3a的刚性高的刚性。
通过这种布置,放射线检测面板1与壳体上表面3a和基台2集成。本发明人已经发现,当相对构成放射线检测面板1的玻璃基板从放射线入射方向向壳体上表面3a施加外力时,这种布置容易缓和易造成玻璃的破损的拉伸应力。
图3是显示当由于第二构成部件61和第三构成部件71之间的厚度差异而使负荷施加到放射线检测面板1时使放射线检测面板1破损的平均外力的关系的图。仅第二构成部件61和第三构成部件71的厚度被改变,而不改变壳体上表面3a、基台2和放射线检测面板1的条件。第二构成部件61和第三构成部件71使用相同的材料。作为负荷方向,如图4中所示,负荷从放射线入射方向被施加。这是因为取决于成像方法重的负荷容易从放射线入射方向被施加给放射线成像装置100。在图3中,α和β分别表示两个部件的厚度,并具有α<β的关系。具有厚度α的第二构成部件61由第二(α)表示,并且具有厚度β的第二构成部件61由第二(β)表示。类似地,具有厚度α的第三构成部件71由第三(α)表示,并且具有厚度β的第三构成部件71由第三(β)表示。如从图3中清楚看到的,放射线检测面板1的破损负荷仅通过改变第二构成部件61和第三构成部件71的厚度而改变。特别地,发现当使第二构成部件61厚并使第三构成部件71薄(第二(β)和第三(α))时,破损负荷大幅上升。
图5是显示应力和构成放射线检测面板1的玻璃部件的板材厚度之间的关系的图,该图是在预定负荷被施加在与图3的实验中的布置相同的布置中时通过分析而获得的。作为图3中在破损负荷上具有大的差异的组合,(第二(α)和第三(β))的组合由实线指示,并且(第二(β)和第三(α))的组合由虚线指示。
在图5中,纵坐标指示玻璃部件的板材厚度,并且横坐标指示施加到玻璃基板的应力。沿着横坐标的右侧指示拉伸应力,并且左侧指示压缩应力。如从图5中清楚看到的,在由实线所指示的(第二(α)和第三(β))的布置中,高的拉伸应力被加载到整个玻璃部件。拉伸应力容易造成玻璃部件的破损。在由虚线所指示的(第二(β)和第三(α))的组合中,拉伸应力在压缩方向上作为整体偏移。这个分析结果揭示施加到玻璃部件的应力的状态取决于放射线检测面板周围的机械关系而大幅改变。
类似地,本发明人已发现用于保护放射线检测面板1的机械特征还取决于第二构成部件61和第三构成部件71之间的弹性模量和刚性上的关系、以及壳体上表面3a和基台2之间的刚性上的关系而改变。
在本实施例中,放射线检测面板1与包括充当壳体3的放射线入射表面的壳体上表面3a、第二构成部件61、第三构成部件71和基台2的部件集成。此时,在放射线入射方向上布置的壳体上表面3a和第二构成部件61的集成结构的刚性低于布置在与放射线入射方向相对的一侧上的第三构成部件71和基台2的集成结构的刚性。
根据第二实施例,造成放射线检测面板1的破损的负荷可以被减小,对于放射线成像装置所必需的刚性可以被降低,并且因此放射线成像装置的重量和厚度可以被减小。
如同在第一实施例中那样,放射线屏蔽部件8被布置在基台2和第三构成部件71之间。使用例如包含选自由以下项构成的组中的至少一种重金属的材料或不锈钢,可以构成放射线屏蔽部件:铅(Pb)、钡(Ba)、铊(Ta)、钼(Mo)和钨(W)。
根据第二实施例,只要满足放射线检测面板1周围的部件之间的构成关系(机械关系),就可以保护放射线检测面板1免受由外力造成的冲击和变形。即,根据第二实施例,可以采用与相关技术相比可以减小玻璃上的负荷的布置,因此可以减小放射线成像装置100的重量和厚度。
(第三实施例)
第三实施例将解释其中基台2被紧固到壳体3的布置的示例。图6是显示根据第三实施例的放射线成像装置100的布置的示例的截面图。如同在第一实施例和第二实施例中那样,放射线检测面板1被基台2支撑。执行放射线检测面板1的读出控制和对电输出的处理的控制板5通过柔性电路板4被连接到放射线检测面板1。如同在第一实施例和第二实施例中那样,放射线检测面板1可以采取所谓的前侧入射布置或后侧入射布置。
如同在第一实施例和第二实施例中那样,为了保护放射线检测面板1,放射线成像装置100的内部采用了以下布置。放射线成像装置100由充当壳体的放射线入射表面的壳体上表面3a、第二构成部件6、放射线检测面板1、第三构成部件7、放射线屏蔽部件8和基台2按照从放射线入射方向确立的次序构成。
第二构成部件6和第三构成部件7在材料的弹性模量上低于壳体上表面3a、放射线检测面板1和基台2。第二构成部件6的刚性等于或低于第三构成部件7的刚性。第二构成部件6的弹性模量等于或低于第三构成部件7的弹性模量。第三构成部件7由其弹性模量等于或高于第二构成部件6的弹性模量的材料制成。即,第三构成部件7和第二构成部件6具有第三构成部件7的弹性模量等于或高于第二构成部件6的弹性模量(第三构成部件7的弹性模量≥第二构成部件6的弹性模量)的构成关系。第二构成部件6的弹性模量等于或低于第三构成部件7的弹性模量,因此第二构成部件6比第三构成部件7更容易变形。可替代地,第二构成部件6与第三构成部件7同等地容易变形。由外部施加的负荷引起的壳体上表面3a等的局部变形被第二构成部件6的变形吸收。作为结果,可以防止局部变形对放射线检测面板1的影响,以保护放射线检测面板1。
为了吸收由外部施加的负荷引起的壳体上表面3a等的局部变形,第二构成部件6的板材厚度被设定为等于或大于第三构成部件7的板材厚度。第二构成部件6的弹性模量等于或低于第三构成部件7的弹性模量。第二构成部件6和第三构成部件7由缓冲材料制成。作为第二构成部件6,例如,可以使用诸如橡胶、泡沫、弹性体或胶体的弹性材料。作为第三构成部件7,如同在第二构成部件6中那样,可以使用诸如橡胶、泡沫、弹性体或胶体的弹性材料,但是材料不限于它们,只要材料可以满足以上提及的关系即可。根据足够的刚性和放射线的透过率之间的关系,壳体上表面3a可以使用CFRP等。由于基台2需要给予足够的刚性,因此它是由诸如CFRP的纤维增强塑料、镁合金或铝合金制成的高刚性结构,并具有比壳体上表面3a的刚性高的刚性。
但是,这些部件可以如同在第二实施例中那样被接合和集成,或者可以如同在第一实施例中那样不被接合。可替代地,以上描述的一些构成部件可以被接合。
在图6中,基台2通过紧固部件(例如,螺栓、螺钉或插销)被紧固到壳体3,以便提高支撑放射线检测面板1的基台2的刚性。由于壳体3和基台2被集成,因此可以提高放射线成像装置100的刚性。由于壳体3和基台2的集成提高了刚性,因此对于剩余构成元件所必需的刚性可以被降低。因此可以减小放射线成像装置100的重量和厚度。
根据第三实施例,只要满足放射线检测面板1周围的部件之间的构成关系(机械关系),就可以保护放射线检测面板1免受由外力造成的冲击和变形。因此,高刚性的结构不需要总是为壳体上表面3a和基台2。根据第三实施例,可以采用与相关技术相比可以减小玻璃上的负荷的布置,因此可以减小放射线成像装置100的重量和厚度。
以上所述的实施例中的每一个可以提供这样的放射线成像装置:该放射线成像装置能够减小重量和厚度,同时保护放射线检测面板,并保证对于放射线成像装置所必需的刚性。
本发明不限于以上描述的实施例,并且在本发明的精神和范围内可以进行各种改变和修改。因此,为了告知公众本发明的范围,制定了以下权利要求。
本申请要求2013年7月24日提交的日本专利申请No.2013-153829的权益,其全部内容通过引用并入本文。
Claims (14)
1.一种放射线成像装置,包括:
放射线检测面板,所述放射线检测面板被配置为检测由放射线产生设备辐射的放射线;
第一部件和第二部件,所述第一部件和第二部件被布置在所述放射线的入射方向侧;及
第三部件和第四部件,所述第三部件和第四部件被布置在与所述放射线的入射方向相对的一侧,
其中,所述第二部件被布置在所述第一部件和放射线检测面板之间,
所述第三部件被布置在所述放射线检测面板和第四部件之间,
所述第二部件和第三部件在弹性模量上低于所述第一部件和第四部件,并且
所述第二部件的弹性模量不高于所述第三部件的弹性模量。
2.根据权利要求1所述的放射线成像装置,其中,所述第二部件的板材厚度不小于所述第三部件的板材厚度。
3.根据权利要求1或2所述的放射线成像装置,其中,所述第二部件的刚性不高于所述第三部件的刚性。
4.根据权利要求1-3中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述第四部件具有比所述第一部件的刚性高的刚性。
5.根据权利要求1-4中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述放射线检测面板的刚性低于所述第一部件的刚性和所述第四部件的刚性。
6.根据权利要求1-5中的任一项所述的放射线成像装置,其中,当从所述放射线的入射方向观看时,所述第一部件和第四部件中的每一个的面积不小于所述放射线检测面板的面积。
7.根据权利要求1-6中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述放射线检测面板是通过集成包括所述第一部件、第二部件、第三部件和第四部件的部件来构成的。
8.根据权利要求1-7中的任一项所述的放射线成像装置,其中,布置在所述放射线的入射方向上的所述第一部件和第二部件的集成结构的刚性低于布置在与所述放射线的入射方向相对的一侧的所述第三部件和第四部件的集成结构的刚性。
9.根据权利要求1-8中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述第一部件是构成容纳所述放射线检测面板的壳体的部件。
10.根据权利要求1-9中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述第四部件是支撑被配置为处理由所述放射线检测面板检测的数据的控制单元的部件。
11.根据权利要求1-10中的任一项所述的放射线成像装置,其中,放射线屏蔽部件被布置在所述第四部件和第三部件之间。
12.根据权利要求11所述的放射线成像装置,其中,所述放射线屏蔽部件是通过使用包含选自由以下项构成的组中的至少一种重金属的材料或不锈钢来构成的:铅(Pb)、钡(Ba)、铊(Ta)、钼(Mo)和钨(W)。
13.根据权利要求1-12中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述第二部件和第三部件由缓冲材料构成。
14.根据权利要求1-13中的任一项所述的放射线成像装置,其中,所述第四部件被紧固到容纳所述放射线检测面板的所述壳体。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070085015A1 (en) * | 2005-10-14 | 2007-04-19 | Castleberry Donald E | Lightweight and rugged digital x-ray detector |
JP2008212343A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | General Electric Co <Ge> | 軽量で頑丈なディジタルx線検出器 |
US20090014659A1 (en) * | 2007-07-10 | 2009-01-15 | General Electric Company | Digital x-ray detectors |
CN102511018A (zh) * | 2009-09-25 | 2012-06-20 | 佳能株式会社 | 放射线照相设备 |
US20130077764A1 (en) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Fujifilm Corporation | Cassette |
CN103126700A (zh) * | 2011-11-30 | 2013-06-05 | 通用电气公司 | 放射线照相装置的机械震动隔离 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3333278B2 (ja) | 1993-07-14 | 2002-10-15 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像検出方法および放射線画像検出器 |
JP3066944B2 (ja) | 1993-12-27 | 2000-07-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、その駆動方法及びそれを有するシステム |
JP3815766B2 (ja) | 1998-01-28 | 2006-08-30 | キヤノン株式会社 | 二次元撮像装置 |
JP4497663B2 (ja) * | 2000-06-09 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
US7495226B2 (en) * | 2006-05-26 | 2009-02-24 | Carestream Health, Inc. | Compact and durable encasement for a digital radiography detector |
JP4208907B2 (ja) | 2006-07-24 | 2009-01-14 | キヤノン株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
CN101501743B (zh) * | 2006-08-11 | 2011-07-06 | 夏普株式会社 | 显示装置和包括该显示装置的电子设备 |
US20080078940A1 (en) * | 2006-10-03 | 2008-04-03 | General Electric Company | Portable imaging device having shock absorbent assembly |
US7488946B2 (en) * | 2006-10-03 | 2009-02-10 | General Electric Company | Digital x-ray detectors |
JP5238652B2 (ja) | 2009-09-11 | 2013-07-17 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
US9269741B2 (en) * | 2010-09-07 | 2016-02-23 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Production method of radiation image detector and radiation image detector |
JP2012078664A (ja) | 2010-10-04 | 2012-04-19 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影装置の傷修復方法 |
JP2014074595A (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-24 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の製造方法 |
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-
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- 2015-12-04 US US14/959,554 patent/US9976897B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070085015A1 (en) * | 2005-10-14 | 2007-04-19 | Castleberry Donald E | Lightweight and rugged digital x-ray detector |
JP2008212343A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | General Electric Co <Ge> | 軽量で頑丈なディジタルx線検出器 |
US20090014659A1 (en) * | 2007-07-10 | 2009-01-15 | General Electric Company | Digital x-ray detectors |
CN102511018A (zh) * | 2009-09-25 | 2012-06-20 | 佳能株式会社 | 放射线照相设备 |
US20130077764A1 (en) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Fujifilm Corporation | Cassette |
CN103126700A (zh) * | 2011-11-30 | 2013-06-05 | 通用电气公司 | 放射线照相装置的机械震动隔离 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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