CN105372805B - 能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片和观察方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片和观察方法，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片内含有样品观察区(1)，样品观察区(1)内含有至少一个通孔(2)，通孔(2)的长度为0.3mm～40mm，通孔(2)的宽度为0.3mm～2mm。该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片能够连续观察金相组织形态变化，其观察范围远大于常规能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片。同时，通过薄膜上方金属块与光栅间金属条的共同作用，保证复型薄膜在可观察范围内平整度均处于显微镜的物镜有效焦平面内。

Description

能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片和观察方法

技术领域

本发明涉及一种能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片，还涉及一种显微镜观察柔性凸凹表面的方法。

背景技术

观察复型薄膜用显微镜载物片是光学显微镜用于放置观察对象的必备配件，通常光学显微镜根据观察对象的不同，载物片材质主要分玻璃和不锈钢两类，其目的都是要让待观察对象良好的分布于显微镜物镜的成像焦平面上。而在某些行业对金属部件进行现场检验，往往是采用复型技术，复型技术最常用的材料是AC纸，AC纸通常与丙酮配合使用，获得的复型薄膜由于各种因素作用，常常发生弯曲变形，光学显微镜景深较浅，对于变形的复型薄膜，其表面凹凸不平，导致难以获得效果良好的金相照片。

现阶段通常将复膜压在金属块上，直接放置于显微镜的载物片上(通常为φ5～φ10圆孔观察窗)；或者用胶棒将复膜粘贴于平整物体表面，放置于显微镜上进行观察。对于较为理想的复膜，这两种方法都可以有效的进行观察，但是对于制备过程中发生弯曲翘起的复膜，第一种方法复膜容易在观察窗口内发生弯曲，导致观察和拍照操作较为困难；第二种方法操作较为复杂，且复膜粘上胶水后，观察完毕需要撕下，容易损坏，另外，对于发生翘曲的复膜，普通胶棒或胶水的强度不足以使复膜平整，仍然会导致观察困难。

发明内容

为了解决现有技术中观察复膜表面容易翘曲的问题，本发明提供了一种能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片和观察方法，该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片含有镂空加工形成的通孔，能够在确保载物片支撑力的情况下，在较大范围内观察薄膜并获取清晰的表面形态。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片内含有样品观察区，样品观察区内含有至少一个通孔，通孔的长度为0.3mm～40mm，通孔的宽度为0.3mm～2mm。

样品观察区内含有多个通孔，通孔为条形，相邻的两个通孔之间相互平行，相邻的两个通孔之间的距离为0.2mm～1mm，通孔的长度为10mm～40mm。

沿通孔的长度方向，通孔的两端与样品观察区的边缘平齐。

样品观察区内含有多个呈行列均匀分布的通孔，相邻的两个通孔之间的距离为0.2mm～1mm，通孔的长度为0.3mm～2mm。

通孔的面积为样品观察区面积的30％～80％。

样品观察区的面积为所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片面积的10％～75％，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的厚度为0.1mm～0.3mm。

样品观察区位于所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的中央，样品观察区为圆形、椭圆形或矩形，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片为圆形、椭圆形或矩形。

一种显微镜观察柔性凸凹表面的方法，包括以下步骤：

步骤1、将上述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片放置在待观察样品和显微镜的物镜之间，使该待观察样品的待观察表面朝向显微镜的物镜并使该待观察样品位于样品观察区；

步骤2、将待观察样品和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台上；

步骤3、透过通孔观察该待观察表面。

该显微镜为正置式显微镜，步骤2为用重块将待观察样品和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台上。

该显微镜为倒置式显微镜，步骤2为用压紧簧片将待观察样品和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台上。

本发明的有益效果是，该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片采用不锈钢片为原材料，保证载物片的耐蚀性和承载能力。现场金相主要检查金属材质母材及焊缝部位的组织形貌，对于焊缝金相检验，需要对焊缝组织、热影响以及母材组织进行连续观察，因此采用横向栅格设计，保证对能够连续观察金相组织形态变化，其观察范围远大于常规能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片。同时，通过薄膜上方金属块与光栅间金属条的共同作用，保证复型薄膜在可观察范围内平整度均处于显微镜的物镜有效焦平面内。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步详细的描述。

图1为实施例1中能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的示意图。

图2为实施例1中显微镜观察柔性凸凹表面的方法的示意图。

图3为实施例2中能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的示意图。

图4为实施例2中显微镜观察柔性凸凹表面的方法的示意图。

图5为实施例2中显微镜观察柔性凸凹表面的状态示意图。

其中1.样品观察区，2.通孔，3.待观察样品，4.显微镜的物镜，5.显微镜的载物台，6.重块，7.压紧簧片。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

实施例1

一种能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片内含有样品观察区1，样品观察区1内含有至少一个通孔2，通孔2的长度为0.3mm～40mm，通孔2的宽度为0.3mm～2mm，如图1所示。

透过通孔2可以清楚的观察该待观察表面，通孔2的边缘能够按压待观察样品3使该待观察表面平整便于观察，优选样品观察区1内含有多个通孔2，通孔2为条形，相邻的两个通孔2之间相互平行，相邻的两个通孔2之间的距离为0.2mm～1mm，通孔2的长度为10mm～40mm，如图1所示。

样品观察区1采用横向栅格设计，通孔2的宽度所对应使用的显微镜参数，应确保在50倍～1000倍成像区间内可以在目镜视场下无遮挡的观察复膜形态。这样透过该样品观察区1能够连续观察复型薄膜上组织形态变化，其观察范围远大于常规能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片。同时，通过薄膜上方的重物与通孔2间金属条的共同作用，保证复型薄膜在可观察范围内平整度均处于显微镜的物镜有效焦平面内，使用该显微镜载物片可以使清晰度提高30％以上。

在本实施例中，样品观察区1内含有多个呈行列均匀分布的通孔2，相邻的两个通孔2之间的距离为0.2mm～1mm，通孔2的长度为0.3mm～2mm，即通孔2的即可以为条形的通孔，也可以为圆形或方形的通孔。优选通孔2的面积为样品观察区1面积的30％～80％。

在本实施例中，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的厚度为0.1mm～0.3mm，如0.3mm。所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的材质为奥氏体不锈钢。样品观察区1位于所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的中央，样品观察区1为矩形。样品观察区1的面积为所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片面积的10％～75％，如图1所示。通孔2的端部与样品观察区1的边缘平齐，即图1中所有通孔2的左端与样品观察区1的左侧边缘平齐，所有通孔2的右端与样品观察区1的右侧边缘平齐。通孔2的边缘在加工时要进行圆滑过渡。所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片为圆形，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的直径为70mm。

下面介绍一种显微镜观察柔性凸凹表面的方法，该方法包括以下步骤：

步骤1、将上述的能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片放置在待观察样品3和显微镜的物镜4之间，使该待观察样品3的待观察表面朝向显微镜的物镜4并使该待观察样品3位于样品观察区1；

步骤2、将待观察样品3和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台5上；

步骤3、透过通孔2观察该待观察表面。

在本实施例中，该显微镜为正置式显微镜，即该显微镜的物镜4在显微镜的载物台5的下方。此时，步骤1为使该待观察样品3的待观察表面朝下并面向显微镜的物镜4并使该待观察样品3位于样品观察区1；步骤2为用重块6将待观察样品3和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台5上，如图2所示。

其中，重块6选择304系列材质钢锭，加工成30mm×40mm×20mm长方形试样，重块6的边缘通过抛光机或其他方法圆滑过渡。待观察样品3为金相复型薄膜，即本实施例中的所述柔性凸凹表面为金相复型薄膜的凸凹表面。

在步骤1之前，需要制备所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片，以及选择不同宽度通孔2的显微镜载物片。该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片内通孔2的宽度通过以下方式选择确定。在显微镜电子成像视场下，测量其不同光学成像倍率下的视场高度：50倍视场高度1.5mm，即此时选择宽度值为的1.5mm通孔2，100倍视场高度0.75mm，即此时宽度值为0.75mm的通孔2，200倍视场高度0.38mm，即此时宽度值为0.75mm的通孔2。

实施例2

本实施例与实施例1的区别是使用了倒置式显微镜，以及能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的外形与实施例1中的不同。

本实施例中，由于显微镜为倒置式显微镜，显微镜的载物台5为长方形，尺寸为150mm×200mm，显微镜的载物台5上有间距为70mm的压紧簧片7。所以能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片为矩形，能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的厚度为0.2mm，按照图3进行加工。所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的尺寸可以为150mm×100mm，如图3所示。

下面介绍本实施例总中显微镜观察柔性凸凹表面的方法，该方法包括以下步骤：

步骤1、将该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片放置在待观察样品3和显微镜的物镜4之间，使该待观察样品3的待观察表面朝向显微镜的物镜4并使该待观察样品3位于样品观察区1，如图4所示；

步骤2、将待观察样品3和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台5上；

步骤3、透过通孔2观察该待观察表面。

在本实施例中，该显微镜为倒置式显微镜，即该显微镜的物镜4在显微镜的载物台5的上方。此时，步骤1为使该待观察样品3的待观察表面朝上并面向显微镜的物镜4并使该待观察样品3位于样品观察区1；步骤2为用压紧簧片7将待观察样品3和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台5上，如图5所示。

在步骤1之前，需要制备所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片，以及选择不同宽度通孔2的显微镜载物片。该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片内通孔2的宽度通过以下方式选择确定。在显微镜电子成像视场下，测量其不同光学成像倍率下的视场高度：50倍视场高度1.5mm，即此时选择宽度值为的1.5mm通孔2，100倍视场高度0.75mm，即此时宽度值为0.75mm的通孔2，200倍视场高度0.38mm，即此时宽度值为0.75mm的通孔2。

本实施例中的其余技术特征均与实施例1相同，为了节约篇幅不再详细介绍。上述另个实施例中介绍了样品观察区1为圆形或矩形，该样品观察区1还可以为椭圆形。所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片为圆形或矩形，该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片也可以为椭圆形。

以上所述，仅为本发明的具体实施例，不能以其限定发明实施的范围，所以其等同组件的置换，或依本发明专利保护范围所作的等同变化与修饰，都应仍属于本专利涵盖的范畴。另外，本发明中的技术特征与技术特征之间、技术特征与技术方案之间、技术方案与技术方案之间均可以自由组合使用。

Claims (7)

1.一种显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，所述显微镜观察柔性凸凹表面的方法采用了能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片，该能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片内含有样品观察区(1)，样品观察区(1)内含有多个通孔(2)，通孔(2)为条形，相邻的两个通孔(2)之间相互平行，相邻的两个通孔(2)之间的距离为0.2mm～1mm，通孔(2)的长度为10mm～40mm，通孔(2)的宽度为0.3mm～2mm；

所述显微镜观察柔性凸凹表面的方法包括以下步骤：

步骤1、将所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片放置在待观察样品(3)和显微镜的物镜(4)之间，使该待观察样品(3)的待观察表面朝向显微镜的物镜(4)并使该待观察样品(3)位于样品观察区(1)；

步骤2、将待观察样品(3)和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台(5)上；

步骤3、透过通孔(2)观察该待观察表面。

2.根据权利要求1所述的显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，沿通孔(2)的长度方向，通孔(2)的两端与样品观察区(1)的边缘平齐。

3.根据权利要求1所述的显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，通孔(2)的面积为样品观察区(1)面积的30％～80％。

4.根据权利要求1所述的显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，样品观察区(1)的面积为所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片面积的10％～75％，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的厚度为0.1mm～0.3mm。

5.根据权利要求1所述的显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，样品观察区(1)位于所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片的中央，样品观察区(1)为圆形、椭圆形或矩形，所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片为圆形、椭圆形或矩形。

6.根据权利要求1所述的显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，该显微镜为正置式显微镜，步骤2为用重块(6)将待观察样品(3)和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台(5)上。

7.根据权利要求1所述的显微镜观察柔性凸凹表面的方法，其特征在于，该显微镜为倒置式显微镜，步骤2为用压紧簧片(7)将待观察样品(3)和所述能够用于观察复型薄膜的显微镜载物片压在显微镜的载物台(5)上。