CN105259198A - 二维核磁共振弛豫时间的测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，包括：向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，根据T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布。本发明的测量方法，只需要两次一维扫描就可以得到二维弛豫时间分布，在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量，避免了现有技术中测量所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

Description

二维核磁共振弛豫时间的测量方法

技术领域

本发明涉及流体的核磁共振测量，尤其涉及二维核磁共振弛豫时间的测量方法。

背景技术

流动核磁共振弛豫测量是一种核磁共振弛豫测量方式，广泛应用于具有时间依赖性的各类流程监测中。核磁共振中，通常使用核磁共振弛豫特性来区分不同的流体类别，二维核磁共振弛豫是近年来比较常见的实验室内描述孔隙介质结构或流体组成成分的方法，包括纵向弛豫时间T1和横向弛豫时间T2，可有效区分一维核磁共振实验难以区分具备相同的T1组分不同T2组分，或具备相同的T2组分不同T1组分的样品。

现有的二维核磁共振弛豫测量方法为，在流体样品流动的状态下进行一组不同等待时间的CPMG脉冲序列测量，其中，等待时间是人为设定的，针对不同的样品各有不同。

但是，传统的二维测量需要在不同的等待时间分别进行CPMG脉冲序列测量，所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确。

发明内容

本发明提供一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，以克服现有的测量方法，所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

本发明提供一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，包括：

向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；

多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；

将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，所述第一公式为：

其中，T₂为横向弛豫时间，τ₁为样品的重复极化时间，τ₂＝4τ_DE，τ_DE为半回波间隔时间；

根据所述T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布。

进一步地，所述向被测样品发射DEFIR脉冲序列，具体包括：

多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列，测得被测样品的平衡磁化矢量M_eq，所述DE脉冲序列的数量为预设的第一数值，每次发射所述DE脉冲序列的间隔时间为τ₁；

向被测样品发射180度翻转脉冲；

多次向被测样品发射FIR脉冲序列，测得被测样品的一维T₁分布函数，所述第二FIR脉冲序列的数量为预设的第二数值，每次发射所述FIR脉冲序列的间隔时间为TW_FIR。

进一步地，所述向被测样品发射DE脉冲序列包括：

向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°；

所述向被测样品发射FIR脉冲序列包括：

向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°。

进一步地，所述根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)，具体包括：

根据第二公式，计算获得所述第一幅值A_DEFIR(logT₁)，所述第二公式为：

其中，f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数，M₀＝-M_eq。

进一步地，所述根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)，包括：

根据第三公式，计算获得所述第二幅值A_FIR(logT₁)，所述第三公式为

A_FIR(logT₁)＝2f₁(logT₁)；

其中，f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数。

进一步地，当对回波信号的测量时，0<TW_FIR<T₁。

本发明的技术效果是：通过向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系；根据所述T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布。本发明的测量方法，只需要两次一维扫描，利用两次扫描初始磁化矢量不同获得的幅值不同，得到二维弛豫时间分布，可以在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量，避免了现有技术中测量所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

附图说明

图1为本发明二维核磁共振弛豫时间的测量方法实施例一的流程图；

图2为本发明二维核磁共振弛豫时间的测量方法实施例二的流程图；

图3为本发明DEFIR脉冲序列的示意图；

图4为DE脉冲序列测量得到的回波数据数值模拟结果；

图5为本发明DEFIR脉冲序列的FIR脉冲序列测量得到的回波数据数值模拟结果；

图6为DEFIR脉冲序列测量多组分流体样品的T₁-T₂分布的数值模拟结果；

图7为DEFIR脉冲序列受频率偏置影响的数值模拟结果；

图8为分别采用传统T₁编辑脉冲序列和DEFIR脉冲序列测量多组分流体样品的T₁-T₂分布的实验结果的对比。

具体实施方式

实施例一

图1为本发明二维核磁共振弛豫时间的测量方法实施例一的流程图，如图1所示，本实施例提供的一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法可以包括：

步骤101，向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；

具体地，根据DEFIR脉冲序列的回波信号以后，进行1维T1反演得到DEFIR脉冲序列的T1分布谱幅值A_DEFIR(logT₁)。

需要说明的是，T1、T2是物质的固有属性，对于同一种流体来说，在同等测量条件，例如，温度、压力、磁场强度下得到的T1、T2是固定的。同一样品T1分布幅值受多种因素的影响，包括初始磁化矢量，是否完全极化等。

步骤102，多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；

具体地，测得回波信号以后，进行1维T1反演得到FIR脉冲序列的T1分布谱幅值A_FIR(logT₁)。

步骤103，将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，所述第一公式为：

其中，T₂为横向弛豫时间，τ₁为样品的重复极化时间，τ₂＝4τ_DE，τ_DE为半回波间隔时间；

需要说明的是，τ₁和τ_DE是需要操作人员输入的参数，单次测量时τ₁和τ_DE设定好了不会变化，重新测量时可根据需要改变参数值。在DEFIR和FIR脉冲序列的循环过程中，每一次循环的初始磁化矢量不清零，在上一次磁化矢量磁化的基础上磁化τ₁时间，作为下一次循环的初始磁化矢量。

步骤104，根据所述T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布。

实施例中，通过向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系；根据所述T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布。本发明的测量方法，只需要两次一维扫描，利用两次扫描初始磁化矢量不同获得的幅值不同，得到二维弛豫时间分布，可以在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量，避免了现有技术中测量所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

实施例二

图2为本发明二维核磁共振弛豫时间的测量方法实施例二的流程图，请参阅图2，本实施例在实施例一的基础上，对步骤101，进行进一步限定。

所述向被测样品发射DEFIR脉冲序列，可以包括：

步骤201，多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列，测得被测样品的平衡磁化矢量M_eq，所述DE脉冲序列的数量为预设的第一数值，每次发射所述DE脉冲序列的间隔时间为τ₁；

具体地，DE脉冲序列用于快速得到平衡磁化矢量，平衡磁化矢量包含了T₁和T₂比值的信息。第一数值为循环发射的DE脉冲序列的次数。

其中，所述向被测样品发射DE脉冲序列包括：

步骤2011，向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°；

所述的，通过DE脉冲序列中的90°-180°-90°-180°四个脉冲这四个脉冲的多次循环快速得到平衡磁化矢量。

图3为本发明DEFIR脉冲序列的示意图，请参阅图3，DEFIR脉冲序列1包含一个DE脉冲序列2和一个FIR脉冲序列3。其中，DE脉冲序列2为：90°-τ_DE-180°-2τ_DE-180°-τ_DE-90°-τ₁，其中首个90°脉冲4将被测样品的磁化矢量从+Z轴方向(静磁场B₀方向)扳转至X-Y平面(垂直于静磁场B₀的平面)后等待半回波间隔时间τ_DE9，磁化矢量在X-Y平面上发生散相；此时发射一个180°脉冲5，等待τ_DE时间9后磁化矢量重聚，采集回波信号10；重聚后的磁化矢量再次散相，再等待τ_DE时间9后发射第二个180°脉冲6，同样等待τ_DE9时间后磁化矢量再次重聚；此时发射一个与首个90°脉冲4相差180°相位的第二个90°脉冲7，将磁化矢量扳转回+Z轴方向，并重复极化τ₁时间11；反复循环DE脉冲序列2最终磁化矢量会趋于一个平衡值M_eq14：

其中，M₀是样品完全极化时的磁化矢量，T₁、T₂分别为样品的T₁和T₂分布，τ₂＝4τ_DE。可以得到，只与设置的τ₁11、τ_DE9和样品的T₁/T₂有关，而与初始磁化矢量无关。即只要实验参数和样品不变，无论样品在开始DE脉冲序列2测量之前磁化矢量是多少，最终的M_eq14都是一个固定值，如图4所示。

图4为DE脉冲序列测量得到的回波数据数值模拟结果，请参阅与4，可以看到磁化矢量13经过反复震荡以后最终趋于平衡值M_eq14，平衡态磁化矢量M_eq只与样品的T₁/T₂有关，而与初始磁化矢量无关。

步骤202，向被测样品发射180°翻转脉冲；

具体地，所述180°翻转脉冲紧跟DE脉冲序列后发射，不不参DE脉冲序列和FIR脉冲序列的循环，在向被测样品发射DEFIR脉冲序列过程中只发射一次，用于将发射DE脉冲序列后得到的平衡磁化矢量扳转180°。

步骤203，多次向被测样品发射FIR脉冲序列，测得被测样品的一维T₁分布函数，所述FIR脉冲序列的数量为预设的第二数值，每次发射所述FIR脉冲序列的间隔时间为TW_FIR。

具体地，第二数值为循环发射的FIR脉冲序列的次数。

其中，向被测样品发射FIR脉冲序列包括：

步骤2031，向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°。

具体地，将发射DE脉冲序列后得到的平衡磁化矢量扳转180°后进入FIR脉冲序列循环，FIR脉冲序列的作用是快速测得T₁分布。FIR脉冲序列的本质是DE脉冲序列和传统反转恢复(IR)脉冲序列的结合，将DE脉冲序列和IR脉冲序列结合后可以节约重复极化时间，可以快速得到被测样品的T₁分布。

测得被测样品的一维T₁分布函数包括：采集回波信号的幅值之后，进行1维T1反演得到T1分布谱幅值。

更为具体地，所述根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)，具体包括：

根据第二公式，计算获得所述第一幅值A_DEFIR(logT₁)，所述第二公式为：

其中，f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数，M₀＝-M_eq。

通过将测得的一维T₁分布数据带入上式中，经拉普拉斯变换后，可以获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)。

实施例中，通过多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列，测得被测样品的平衡磁化矢量M_eq；向被测样品发射180°翻转脉冲；多次向被测样品发射FIR脉冲序列，测得被测样品的一维T₁分布函数。在较短的时间内实现对二维核磁共振弛豫时间的精确测量，避免了现有技术中测量所需时间较长，容易导致在测量流动流体时，测量还未完成时探测区域内的流体就已经全部流出，导致测量结果不精确的技术问题。

实施例三

本实施例在实施例一的基础上，对步骤102，进行进一步限定。步骤102，多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；

其中，向被测样品发射FIR脉冲序列包括：向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°。

具体地，FIR脉冲序列3为：90°-τ_FIR-180°-2τ_FIR-180°-τ_FIR-90°-TW_FIR，其原理与DE脉冲序列2类似，不同之处在于FIR脉冲序列每循环一次重复极化时间TW_FIR12就改变一次。

对已知流体的回波信号测量时，TW_FIR的取值范围为0<TW_FIR<T₁。对未知流体的回波信号测量时，由于T₁不预先知道，将T₁设置为4S，即0<TW_FIR<4s。

图5为本发明DEFIR脉冲序列的FIR脉冲序列测量得到的回波数据数值模拟结果。请参阅图5，可以看到DEFIR脉冲序列2下的磁化矢量15和单独进行FIR脉冲序列3的磁化矢量16的恢复速度明显快于SR脉冲序列17。

更为具体地，所述根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)，包括：

根据第三公式，计算获得所述第二幅值A_FIR(logT₁)，所述第三公式为：

A_FIR(logT₁)＝2f₁(logT₁)(3)；

其中，f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数。

实施例四

在上述实施例的基础上，为了进一步地解释上述实施例，本实施例中列举了第一公式的推导过程。

具体的数学推导如下：

两次扫描样品磁化矢量M_DEFIR,FIR随极化时间TW_FIR12的变化可以表示为:

其中，M_y＝0指进行FIR脉冲序列3测量时的初始磁化矢量，采用DEFIR脉冲序列1测量时M_y＝0＝-M_eq，单独进行FIR脉冲序列3测量时M_y＝0＝-M₀。由于单独进行FIR脉冲序列3测量时磁化矢量的变化比较简单，所以下面只讨论DE脉冲序列2后进行FIR脉冲序列3测量时磁化矢量的变化，在式5中引入T₁分布的表达式可以得到：

其中A_DEFIR(logT₁)20和A_FIR(logT₁)21分别表示反演两次扫描所得到T₁分布的幅值，如图6(a)18。式(6)同样可以用二维分布函数f₂(logT₁,T₁/T₂)来表示：

通常情况下，单一流体的T₁/T₂分布相对于坐标轴是一个很窄的带，所以式(7)可以近似表达成：

比较式(4)和式(8)可以得到：

其中f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数。又由于采用FIR脉冲序列3直接测量得到的T₁分布包含完整的T₁分布信息，即A_FIR(logT₁)＝2f₁(logT₁)，所以可以计算得到：

其中，表示T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系。由式1可以知道，通过两次FIR脉冲序列测量得到的T₁谱的幅值可以换算得到T₁/T₂-T₁分布，进而推导得到T₁-T₂分布19，如图6(b)19。

图6为DEFIR脉冲序列测量多组分流体样品的T₁-T₂分布的数值模拟结果，具体地，从图7中可以看出，图7a是一维T1反演结果，其中两个曲线的幅值分别对应式7中的A_FIR和A_DEFIR，有了这两个参数，结合理论推导得到的最终的式7才能得出图7b,图7b就是最终需要得到的二维分布结果。

本实施例中，对实际测量时DEFIR脉冲序列1受频率偏置进行了验证DE脉冲序列2和FIR脉冲序列3均采用两个180°脉冲是为了减小该脉冲序列受频率偏置27的影响。

验证过程为：由于核磁共振探头天线的发射脉冲并不可能绝对均匀，天线发射脉冲所对应的自旋进动频率ω_rf与B₀场所对应的拉莫尔频率γ|B₀|(γ是旋磁比，|B₀|是静磁场场强)之间会有形成一个频率偏差Δω₀：

Δω₀≡ω_rf-γ|B₀|(9)

自旋核的实际章动频率可以表达为：

其中，ω₁＝|B₀|/2γ指的是归一化的射频场频率，理想状态下Ω＝ω₁。假设射频脉冲的持续时间t_p远小于样品的弛豫时间，即t_p<<T₁和T₂，就可以在不考虑弛豫影响的前提下通过旋转矩阵R求解Bloch方程。设定90°脉冲均沿着±X轴方向，180°脉冲均沿着Y轴方向，则空间上任意的磁化矢量都可以描述为：

在旋转坐标系下可描述如下：

在最初的激励脉冲发射前，认为所有的磁化矢量都在Z轴方向上，上述三个式子里只有式14有非零解，180°的描述方式类似。在任意时间间隔t_i内的自由弛豫可以描述为：

完全极化达到热平衡即完全极化时磁化矢量为M₀，DE脉冲序列自循环采集到的第x+1个回波的幅值m_x+1：

m_x+1＝[Φ(SE)R_180yΦ(SE)R_+90xΦ(1)R_-90xΦ(SE)R_180yΦ(SE)]{m_x}(19)

图7为DEFIR脉冲序列受频率偏置影响的数值模拟结果。其中图7(a)25是DE脉冲序列2受频率偏置27影响，图7(b)26是FIR脉冲序列2受频率偏置27影响。模拟参数如下：T₁＝T₂＝1000ms，t₁＝t₂＝1.2ms，TW_FIR从10ms至10⁴ms对数布点30个，T_E＝0.6ms。数值模拟结果说明，DEFIR脉冲序列1受频率偏置27的影响较小，DEFIR脉冲序列1较稳定性。

图8为分别采用传统T₁编辑脉冲序列和DEFIR脉冲序列1测量多组分流体样品的T₁-T₂分布的实验结果的对比。实验样品为轻质原油。其中DEFIR脉冲序列1在流体样品的流动状态下进行在线测量；作为对比，为T₁编辑脉冲序列在流体静止的状态下进行测量。实验结果表明，二者有较好的一致性，即说明DEFIR脉冲序列1可用于在线测量流动流体的二维核磁共振弛豫时间分布。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (6)

1.一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，包括：

向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；

多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；

将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，所述第一公式为：

$<\frac{T_1}{T_2}{>}_{T_1}=\frac{{\mathrm{\&tau;}}_1}{{\mathrm{\&tau;}}_2}\&lsqb;\frac{2A_{FIR}\left({\mathrm{logT}}_1\right)-2A_{DEFIR}\left({\mathrm{logT}}_1\right)}{2A_{DEFIR}\left({\mathrm{logT}}_1\right)-A_{FIR}\left(1{\mathrm{ogT}}_1\right)}\&rsqb;$

其中，T₂为横向弛豫时间，τ₁为样品的重复极化时间，τ₂＝4τ_DE，τ_DE为半回波间隔时间；

根据所述T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向被测样品发射DEFIR脉冲序列，具体包括：

多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列，测得被测样品的平衡磁化矢量M_eq，所述DE脉冲序列的数量为预设的第一数值，每次发射所述DE脉冲序列的间隔时间为τ₁；

向被测样品发射180度翻转脉冲；

多次向被测样品发射FIR脉冲序列，测得被测样品的一维T₁分布函数，所述第二FIR脉冲序列的数量为预设的第二数值，每次发射所述FIR脉冲序列的间隔时间为TW_FIR。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述向被测样品发射DE脉冲序列包括：

向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°；

所述向被测样品发射FIR脉冲序列包括：

向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°。

4.根据权利要求2所述的二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，所述根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)，具体包括：

根据第二公式，计算获得所述第一幅值A_DEFIR(logT₁)，所述第二公式为：

$A_{DEFIR}\left({\mathrm{logT}}_1\right)=f_1\left({\mathrm{logT}}_1\right)(1+\frac{M_{eq}}{M_0});$

其中，f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数，M₀为目标磁化矢量，M₀＝-M_eq。

5.根据权利要求2所述的二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，所述根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)，包括：

根据第三公式，计算获得所述第二幅值A_FIR(logT₁)，所述第三公式为

A_FIR(logT₁)＝2f₁(logT₁)；

其中，f₁(logT₁)表示一维T₁分布函数。

6.根据权利要求2所述的二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，0<TW_FIR<T₁；

其中，当被测样品为已知类别时，T₁为预设的已知样品的纵向弛豫时间；当被测样品为未知类别时，T₁为4s。