CN105241834B - 紫外分析仪计量性能检测方法及其系统 - Google Patents

紫外分析仪计量性能检测方法及其系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种紫外分析仪计量性能检测方法及其系统，包括以下步骤：获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数；根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值，并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级。本发明通过紫外分析仪的测量数据，得到多项计量性能参数，通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级。由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的可靠性、准确度。

Description

紫外分析仪计量性能检测方法及其系统
技术领域
本发明涉及计量检测领域，特别是一种紫外分析仪计量性能检测方法及其系统。
背景技术
紫外分析仪是由紫外灯管、滤光片组成，采用不同波长的紫外光对DNA、RNA电泳凝胶样品进行观察拍照、检测蛋白质、核甘酸，适用于核酸电泳、荧光的分析、检测，PCR(Polymerase Chain Reaction，聚合酶链式反应)产物检测，DNA指纹图谱分析，纸层分析或薄层分析等，是开展RFLP(Restriction Fragment Length Polymorphism，限制性内切酶片段长度多态性)研究，RAPD(random amplified polymorphic DNA，随机扩增多态性DNA标记)产物分析的理想仪器。
目前，紫外分析仪并没有相关的计量检测规范，也没有其它可参照的相关文献或方法，故很多计量机构在开展紫外分析仪计量检测项目时，只能依据各自厂家提供的紫外辐照度对紫外分析仪进行检测。由于仅对紫外分析仪的紫外辐射照度进行简单的计量检测，因此，紫外分析仪计量检测的准确度较低，效果不够理想。
发明内容
针对上述现有技术中存在的紫外分析仪计量检测准确度较低的问题，本发明的目的在于提供一种紫外分析仪计量检测方法及其系统，能够提高紫外分析仪计量检测的准确度。
一种紫外分析仪计量性能检测方法，包括以下步骤：
获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数；
根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值，并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级。
本发明的紫外分析仪计量性能检测方法，通过紫外分析仪的测量数据，得到多项计量性能参数，通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级。由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的准确度。
一种紫外分析仪计量性能检测系统，包括测量客户端以及计量检测服务端：
所述测量客户端用于获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数；
所述计量检测服务端用于存储所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型，根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值，并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级。
本发明的紫外分析仪计量性能检测系统，所述测量客户端获取紫外分析仪的测量数据，得到多项计量性能参数，所述计量检测服务端通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级。由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的可靠性和准确度。
附图说明
图1为一个实施例的紫外分析仪计量性能检测方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述。
请参阅图1中一个实施例的紫外分析仪计量性能检测方法的流程示意图。
一种紫外分析仪计量性能检测方法，包括以下步骤：
S102，获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数。
所述测量数据既包括测量紫外辐照度、峰值波长等通过测量直接获得的数据，也包括峰值波长平均值、紫外辐照度最大值、紫外辐照度最小值、紫外辐照度平均值、半峰宽等，通过对所述直接获得的数据进行简单比较或计算得到的数据。
通过该步骤，为紫外分析仪进行计量检测提供了各项准确的原始测量数据，进而保证紫外分析仪计量检测数据的准确性。
S104，根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值。
该步骤通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级，由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的准确度。
S106，根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级。
本实施例中，通过紫外分析仪的测量数据，得到多项计量性能参数，通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级。由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的准确度。
在其中一个实施例中，所述紫外分析仪的计量性能参数包括光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差以及半峰宽；
其中，所述紫外辐照度由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；计算所述多个测量紫外辐照度的平均值，得到所述紫外辐照度；
所述光源稳定性由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；比较所述多个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值减去紫外辐照度最小值，再除以测得的紫外辐照度平均值，得到所述光源稳定性；
所述光源均匀性由以下步骤获得：同时测量紫外分析仪上不同的三个测量点，得到三个测量紫外辐照度；比较所述三个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之差，除以紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之和，再取得绝对值，得到光源均匀性；
所述波长示值误差由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布中能量达到预设值的紫外线的波长；计算得到所述波长的算术平均值，作为峰值波长平均值；预设的标称波长值减去所述峰值波长平均值，得到所述波长示值误差。
所述半峰宽由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布图；记录最大光谱能量值，作为峰值能量；计算一半峰值能量对应的波长之差，得到所述半峰宽。
该实施例中，各项计量性能参数保证了紫外分析仪计量检测的全面性，而且所述计量性能参数的获取步骤保证了数据获得的准确性，从而进一步提高紫外分析仪计量检测的准确度。
在其中一个实施例中，所述紫外分析仪计量性能检测方法，还包括获取预设的计量性能参数权重配置表、以及计量参数等级配置表：
所述计量性能参数权重配置表用于记录紫外分析仪的光源类型及其权重、紫外辐照度及其权重、光源稳定性及其权重、光源均匀性及其权重、波长示值误差及其权重、以及半峰宽及其权重；
所述计量参数等级配置表用于记录紫外分析仪的计量分数值的取值范围和计量参数等级的一一对应关系。
该实施例中，通过建立计量性能参数权重配置表，以确定各项计量性能参数的取值及其对应权重，通过建立计量参数等级配置表，以确定计量分数值范围对应的计量参数等级，从而提高紫外分析仪计量检测的便捷性。
在其中一个实施例中，所述计量参数分数计算模型为：
式中，n为光源类型数量，Ci为所述计量性能参数权重配置表中第i个光源类型的光源类型权重值，Zq为紫外辐照度分数值，Zs为光源稳定性分数值，Zu为光源均匀性分数值，Zλe为波长示值误差分数值，Zλh为半峰宽分数值，其中，Zq、Zs、Zu、Zλe和Zλh通过以下方式获得：
Zq＝Cq×Eq，其中，Eq为测得的紫外辐照度，Cq为紫外辐照度对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zs＝Cs×Es，其中，Es为光源稳定性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Eavg为测得的紫外辐照度平均值，Cs为光源稳定性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zu＝Cu×Eu，其中，Eu为光源均匀性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Cu为光源均匀性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλe＝Cλe×Eλe，其中，Eλe＝λavg-λ，Eλe为波长示值误差，λ为预设的紫外分析仪标称波长值，λavg为测得的峰值波长平均值，Cλe为波长示值误差对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλh＝Cλh×Eλh，其中，Eλh为测得的半峰宽，Cλh为半峰宽对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得。
该实施例中，通过将测量数据输入所述计量参数分数计算模型，计算所述紫外分析仪的计量分数值。由于所述计量参数分数计算模型结合所述测量数据、各项计量性能参数、及其对应权重计算计量分数值，因此，计算得出的计量分数值更全面，进一步提高紫外分析仪计量检测的准确度。
在其中一个实施例中，所述紫外分析仪计量性能检测方法还包括查询步骤，根据输入的查询指令，查询相应紫外分析仪的光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差、半峰宽、计量分数值或计量参数等级。
本发明还提供一种紫外分析仪计量性能检测系统，包括测量客户端以及计量检测服务端：
所述测量客户端用于获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数。
其中，所述测量数据既包括紫外辐照度、峰值波长、半峰宽等通过测量直接获得的数据，也包括峰值波长平均值、紫外辐照度最大值、紫外辐照度最小值、紫外辐照度平均值等，通过对所述直接获得的数据进行简单比较或计算得到的数据。
所述测量客户端为紫外分析仪进行计量检测提供了各项准确的原始测量数据，进而保证紫外分析仪计量检测数据的准确性。
所述计量检测服务端用于存储所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型，根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值，并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级。
所述计量检测服务端通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级，由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的准确度。
本实施例中，所述测量客户端获取紫外分析仪的测量数据，得到多项计量性能参数，所述计量检测服务端通过预设的计量参数分数计算模型结合所述测量数据、以及各项计量性能参数计算计量分数值，并判定所述紫外分析仪的计量参数等级。由于计量分数值通过计量参数分数计算模型结合所述测量数据、计量性能参数所得，其计算结果更全面，因此，提高了紫外分析仪计量检测的准确度。
在其中一个实施例中，所述紫外分析仪的计量性能参数包括光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差以及半峰宽；
其中，所述紫外辐照度由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；计算所述多个测量紫外辐照度的平均值，得到所述紫外辐照度；
所述光源稳定性由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；比较所述多个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值减去紫外辐照度最小值，再除以测得的紫外辐照度平均值，得到所述光源稳定性；
所述光源均匀性由以下步骤获得：同时测量紫外分析仪上不同的三个测量点，得到三个测量紫外辐照度；比较所述三个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之差，除以紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之和，再取得绝对值，得到光源均匀性；
所述波长示值误差由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布中能量达到预设值的紫外线的波长；计算得到所述波长的算术平均值，作为峰值波长平均值；预设的标称波长值减去所述峰值波长平均值，得到所述波长示值误差。
所述半峰宽由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布图；记录最大光谱能量值，作为峰值能量；计算一半峰值能量对应的波长之差，得到所述半峰宽。
该实施例中，各项计量性能参数保证了紫外分析仪计量检测的全面性，而且所述计量性能参数的获取步骤保证了数据获得的准确性，从而进一步提高紫外分析仪计量检测的准确度。
在其中一个实施例中，所述计量检测服务端还存储计量性能参数权重配置表、以及计量参数等级配置表：
所述计量性能参数权重配置表用于记录紫外分析仪的光源类型及其权重、紫外辐照度及其权重、光源稳定性及其权重、光源均匀性及其权重、波长示值误差及其权重、以及半峰宽及其权重；
所述计量参数等级配置表用于记录紫外分析仪的计量分数值的取值范围和计量参数等级的一一对应关系。
该实施例中，通过建立计量性能参数权重配置表，以确定各项计量性能参数的取值及其对应权重，通过建立计量参数等级配置表，以确定计量分数值范围对应的计量参数等级，从而提高紫外分析仪计量检测的便捷性。
在其中一个实施例中，所述计量参数分数计算模型为：
式中，n为光源类型数量，Ci为所述计量性能参数权重配置表中第i个光源类型的光源类型权重值，Zq为紫外辐照度分数值，Zs为光源稳定性分数值，Zu为光源均匀性分数值，Zλe为波长示值误差分数值，Zλh为半峰宽分数值，其中，Zq、Zs、Zu、Zλe和Zλh通过以下方式获得：
Zq＝Cq×Eq，其中，Eq为测得的紫外辐照度，Cq为紫外辐照度对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zs＝Cs×Es，其中，Es为光源稳定性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Eavg为测得的紫外辐照度平均值，Cs为光源稳定性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zu＝Cu×Eu，其中，Eu为光源均匀性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Cu为光源均匀性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλe＝Cλe×Eλe，其中，Eλe＝λavg-λ，Eλe为波长示值误差，λ为预设的紫外分析仪标称波长值，λavg为测得的峰值波长平均值，Cλe为波长示值误差对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλh＝Cλh×Eλh，其中，Eλh为测得的半峰宽，Cλh为半峰宽对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得。
该实施例中，通过将测量数据输入所述计量参数分数计算模型，计算所述紫外分析仪的计量分数值。由于所述计量参数分数计算模型结合所述测量数据、各项计量性能参数、及其对应权重计算计量分数值，因此，计算得出的计量分数值更全面，进一步提高紫外分析仪计量检测的准确度。
在其中一个实施例中，所述紫外分析仪计量性能检测系统还包括查询设备，用于根据输入的查询指令，查询相应紫外分析仪的光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差、半峰宽、计量分数值或计量参数等级。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种紫外分析仪计量性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数；
根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值，并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级；
所述紫外分析仪的计量性能参数包括光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差以及半峰宽。
2.根据权利要求1所述的紫外分析仪计量性能检测方法，其特征在于，所述紫外辐照度由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；计算所述多个测量紫外辐照度的平均值，得到所述紫外辐照度；
所述光源稳定性由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；比较所述多个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值减去紫外辐照度最小值，再除以测得的紫外辐照度平均值，得到所述光源稳定性；
所述光源均匀性由以下步骤获得：同时测量紫外分析仪上不同的三个测量点，得到三个测量紫外辐照度；比较所述三个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之差，除以紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之和，再取得绝对值，得到光源均匀性；
所述波长示值误差由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布中能量达到预设值的紫外线的波长；计算得到所述波长的算术平均值，作为峰值波长平均值；预设的标称波长值减去所述峰值波长平均值，得到所述波长示值误差；
所述半峰宽由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布图；记录最大光谱能量值，作为峰值能量；计算一半峰值能量对应的波长之差，得到所述半峰宽。
3.根据权利要求2所述的紫外分析仪计量性能检测方法，其特征在于，还 包括获取预设的计量性能参数权重配置表、以及计量参数等级配置表：
所述计量性能参数权重配置表用于记录紫外分析仪的光源类型及其权重、紫外辐照度及其权重、光源稳定性及其权重、光源均匀性及其权重、波长示值误差及其权重、以及半峰宽及其权重；
所述计量参数等级配置表用于记录紫外分析仪的计量分数值的取值范围和计量参数等级的一一对应关系。
4.根据权利要求3所述的紫外分析仪计量性能检测方法，其特征在于，所述计量参数分数计算模型为：
式中，n为光源类型数量，Ci为所述计量性能参数权重配置表中第i个光源类型的光源类型权重值，Zq为紫外辐照度分数值，Zs为光源稳定性分数值，Zu为光源均匀性分数值，Zλe为波长示值误差分数值，Zλh为半峰宽分数值，其中，Zq、Zs、Zu、Zλe和Zλh通过以下方式获得：
Zq＝Cq×Eq，其中，Eq为测得的紫外辐照度，Cq为紫外辐照度对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zs＝Cs×Es，其中，Es为光源稳定性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Eavg为测得的紫外辐照度平均值，Cs为光源稳定性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zu＝Cu×Eu，其中，Eu为光源均匀性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Cu为光源均匀性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλe＝Cλe×Eλe，其中，Eλe＝λavg-λ，Eλe为波长示值误差，λ为预设的紫外 分析仪标称波长值，λavg为测得的峰值波长平均值，Cλe为波长示值误差对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλh＝Cλh×Eλh，其中，Eλh为测得的半峰宽，Cλh为半峰宽对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得。
5.根据权利要求1所述的紫外分析仪计量性能检测方法，其特征在于，还包括查询步骤，根据输入的查询指令，查询相应紫外分析仪的光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差、半峰宽、计量分数值或计量参数等级。
6.一种紫外分析仪计量性能检测系统，其特征在于，包括测量客户端以及计量检测服务端：
所述测量客户端用于获取紫外分析仪的测量数据，根据所述测量数据得到紫外分析仪的计量性能参数；
所述计量检测服务端用于存储所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型，根据所述测量数据、计量性能参数、以及预设的计量参数分数计算模型计算紫外分析仪的计量分数值，并根据所述计量分数值判定所述紫外分析仪的计量参数等级；
所述紫外分析仪的计量性能参数包括光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差以及半峰宽。
7.根据权利要求6所述的紫外分析仪计量性能检测系统，其特征在于，所述紫外辐照度由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；计算所述多个测量紫外辐照度的平均值，得到所述紫外辐照度；
所述光源稳定性由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，得到多个测量紫外辐照度；比较所述多个测量紫外辐照度，得到紫外辐照度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值减去紫外辐照度最小值，再除以测得的紫外辐照度平均值，得到所述光源稳定性；
所述光源均匀性由以下步骤获得：同时测量紫外分析仪上不同的三个测量点，得到三个测量紫外辐照度；比较所述三个测量紫外辐照度，得到紫外辐照 度最大值以及紫外辐照度最小值；所述紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之差，除以紫外辐照度最大值与紫外辐照度最小值之和，再取得绝对值，得到光源均匀性；
所述波长示值误差由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布中能量达到预设值的紫外线的波长；计算得到所述波长的算术平均值，作为峰值波长平均值；预设的标称波长值减去所述峰值波长平均值，得到所述波长示值误差；
所述半峰宽由以下步骤获得：多次测量紫外分析仪，获取相对光谱能量分布图；记录最大光谱能量值，作为峰值能量；计算一半峰值能量对应的波长之差，得到所述半峰宽。
8.根据权利要求7所述的紫外分析仪计量性能检测系统，其特征在于，所述计量检测服务端还存储计量性能参数权重配置表、以及计量参数等级配置表：
所述计量性能参数权重配置表用于记录紫外分析仪的光源类型及其权重、紫外辐照度及其权重、光源稳定性及其权重、光源均匀性及其权重、波长示值误差及其权重、以及半峰宽及其权重；
所述计量参数等级配置表用于记录紫外分析仪的计量分数值的取值范围和计量参数等级的一一对应关系。
9.根据权利要求8所述的紫外分析仪计量性能检测系统，其特征在于，所述计量参数分数计算模型为：
式中，n为光源类型数量，Ci为所述计量性能参数权重配置表中第i个光源类型的光源类型权重值，Zq为紫外辐照度分数值，Zs为光源稳定性分数值，Zu为光源均匀性分数值，Zλe为波长示值误差分数值，Zλh为半峰宽分数值，其中，Zq、Zs、Zu、Zλe和Zλh通过以下方式获得：
Zq＝Cq×Eq，其中，Eq为测得的紫外辐照度，Cq为紫外辐照度对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zs＝Cs×Es，其中，Es为光源稳定性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Eavg为测得的紫外辐照度平均值，Cs为光源稳定性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zu＝Cu×Eu，其中，Eu为光源均匀性，Emax为测得的紫外辐照度最大值，Emin为测得的紫外辐照度最小值，Cu为光源均匀性对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλe＝Cλe×Eλe，其中，Eλe＝λavg-λ，Eλe为波长示值误差，λ为预设的紫外分析仪标称波长值，λavg为测得的峰值波长平均值，Cλe为波长示值误差对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得；
Zλh＝Cλh×Eλh，其中，Eλh为测得的半峰宽，Cλh为半峰宽对应的权重值，从所述计量性能参数权重配置表中获得。
10.根据权利要求6所述的紫外分析仪计量性能检测系统，其特征在于，还包括查询设备，用于根据输入的查询指令，查询相应紫外分析仪的光源类型、紫外辐照度、光源稳定性、光源均匀性、波长示值误差、半峰宽、计量分数值或计量参数等级。
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