CN105229702A - 针对使用几何配置匹配的坐标网格的x 射线图像重建的伪影降低 - Google Patents
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Abstract
一种用于处理X射线设备(10)的图像数据的方法,包括以下步骤:接收来自感兴趣对象(22)的多幅二维投影图像(32),其中,所述投影图像已经通过关于不同视角发射X射线(20)通过所述感兴趣对象(20)而被采集;关于适于所发射的X射线(20)的几何配置的坐标网格(50),根据所述多幅二维投影图像(32),生成三维原始图像体积(36);通过将二维去卷积应用到所述三维原始图像体积(36)的切片(52),来生成去卷积的三维图像(40),所述切片(32)适于所述坐标网格(50)。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于处理X射线设备的图像数据的方法、计算机程序以及计算机可读介质,并且涉及X射线设备。
背景技术
X射线断层合成(tomosynthesis)是在许多临床应用中的新兴模态,其相比于常规投影视图展示出,例如在乳房摄影成像中的微钙化和病变的更好的可视化。
X射线断层合成可以被看作特殊种类的X射线成像技术,其中,针对感兴趣对象,例如乳房,来自在受限的视角范围内的不同视角的受限的数量的投影图像被采集。根据此,三维图像然后被计算。然而,受限的视角范围可以导致不佳的z分辨率。所述方法因此常常被称为“2+1/2维”而非完全三维成像技术。
例如,WO2012001572A1示出了断层合成系统。
已经提出了宽范围的图像重建技术,包括滤波反投影(FBP)或者甚至更加复杂的迭代和统计方法。然而,总体而言,这些方法受来自受限的角度的系统几何配置的伪影的影响。在计算机断层摄影的领域中已经提出了二维去卷积,但是在超过25年之前,例如参见“A.P.Dhawan,R.M.Rangayyan和R.Gordon:Wienerfilteringfordeconvolutionofgeometricartifactsinlimited-viewimagereconstruction.Proc.SPIE515,168-172(1984)”。然而,在用于抑制计算机断层摄影中的几何伪影的其他方法中的进展使得去卷积方法此后没有继续。
发明内容
能够存在对生成具有较少伪影、较好对比度和更好的场深度的断层合成图像的需要。也能够存在利用仅较小计算能力生成这样的图像的需要。
这些需要由独立权利要求的主题满足。另外的示范性实施例根据从属权利要求和以下描述而显而易见。
本发明的各方面涉及用于处理X射线设备的图像数据的方法。本发明的另外的方面是当在处理器上运行时适于执行所述方法的计算机程序,以及其上存储有这样的程序的计算机可读介质。
根据本发明的实施例,所述方法包括以下步骤:接收来自感兴趣对象的多幅二维投影图像,其中,所述投影图像已经通过关于不同视角发射X射线通过所述感兴趣对象而被采集;关于适于所发射的X射线的几何配置的坐标网格,根据所述多幅二维投影图像,生成三维原始图像体积;并且通过将二维去卷积应用到所述三维原始图像体积的切片,来生成去卷积的三维图像体积,其中,所述切片适于所述坐标网格。
例如,可以在断层合成期间执行所述方法并且仅可以在受限的视角范围内采集受限的数量的二维投影图像。三维原始图像体积可以通过滤波反投影来生成,所述滤波反投影可以生成在三维原始图像体积中的伪影(即,非奇点扩展函数)。然而,因为可以关于几何配置匹配的坐标网格执行滤波反投影,在坐标系对齐的切片中的点的伪影可以仅位于所述切片中,并且可以通过各自的切片的二维去卷积来补偿。当坐标网格的坐标轴与由X射线成像系统生成的X射线射束对齐时,所述坐标网格可以被匹配到X射线成像系统的几何配置。
总体而言,基于几何配置匹配的网格的对三维图像的重建可以与二维去卷积组合以抑制伪影,从而增强z分辨率和/或增强三维图像的质量。去卷积的三维图像体积可以被用作针对进一步处理或者另外的迭代重建步骤的输入。
本发明的另外的方面涉及X射线设备,其包括:X射线源和X射线探测器,所述X射线源和X射线探测器适于采集感兴趣对象的二维投影图像,其中,所述X射线源和/或所述X射线探测器能够关于所述感兴趣对象移动,以关于不同视角采集二维投影图像;以及控制器,其适于执行如以上和以下描述的方法的步骤。
例如,所述方法和所述X射线设备可以用在通过乳房摄影断层合成的筛查和诊断中,即,所述感兴趣对象可以是乳房。
应理解,如以上和以下描述的方法的特征可以是如以上和以下描述的X射线设备的特征,并且反之亦然。
本发明的这些和其他方面将根据下面描述的实施例变得显而易见,并且将参考下面描述的实施例得到阐述。
附图说明
下面,参考附图更加详细地描述了本发明的实施例。
图1示意性示出了根据本发明的实施例的X射线设备。
图2示出了针对用于处理根据本发明的实施例的X射线设备的图像数据的方法的流程图。
图3示意性示出了在图2的方法期间处理的三维图像。
图4A和4B示出了通过利用笛卡尔坐标网格处理的三维图像的切片。
图5示出了通过已经利用锥形坐标网格反投影的三维图像的切片。
图6示出了通过利用锥形网格去卷积的三维图像的切片。
原则上,在图中相同部分被提供有相同附图标记。
具体实施方式
图1示意性示出了X射线设备/系统10,其包括X射线管/源12和X射线探测器14。X射线设备可以还包括用于控制X射线设备10的控制器16。
X射线管12和X射线探测器14可以被机械地相互连接,并且例如在控制器16的控制下,可以在受限的范围18中关于一轴移动,所述控制器可以经由诸如电机的驱动来控制移动。
X射线管12可以生成采取锥形21的形式的X射线20或X射线射束20,所述X射线或X射线射束被发射通过感兴趣对象22。探测器12可以采集感兴趣对象22的(原始)X射线投影图像,所述X射线投影图像可以由控制器16进一步处理。
X射线设备10可以包括显示设备24,所述显示设备用于显示由控制器16基于由探测器14采集的X射线图像生成的图像。
尤其是,X射线设备10可以是断层合成设备/系统10。断层合成是其中从多个离散视角获取感兴趣对象的多幅X射线图像的成像技术。断层合成不同于计算机断层摄影,因为使用的视角的范围18小于360°,360°用在计算机断层摄影中。横截面X射线图像然后被用于重建感兴趣对象22的三维图像。
因为受限的角范围18,断层合成可以具有在X射线的方向中的受限的深度分辨率,所述方向在图1中被指示为z方向。
图2示出了针对用于处理X设想设备10的图像数据的方法的流程图。X射线设备10的控制器16可以适于执行所述方法。例如,控制器16可以包括处理器和存储器,计算程序存储在所述存储器中,所述计算程序当在处理器上运行时,适于执行如以上和以下描述的方法的步骤。总体而言,这样的程序可以被存储在计算机可读介质上。
非易失性计算机存储介质可以是软盘、硬盘、USB(通用串行总线)存储设备、RAM(随机存取存储器)、ROM(只读存储器)、EPROM(可擦除可编程只读存储器)或者FLASH存储器。易失性计算机存储介质可以是数据通信网络,例如因特网,其允许下载计算机程序。
返回图2,在步骤30中,多个X射线投影图像32由X射线管12和X射线探测器14的系统采集,并且被保存在控制器16的存储器中。X射线投影图像32可以在受限的范围18中被采集并且具有受限的数量的投影图像32。
根据本发明的实施例,仅在视角的受限的角范围18中采集多幅二维投影图像32,所述受限的角范围例如是小于40°,小于30°或者小于20°。
根据本发明的实施例,多幅二维投影图像32包括少于30幅投影图像32,例如少于20幅投影图像32或者少于15幅投影图像32。
必须注意,X射线图像总体上可以由数字图像数据来表示,所述数字图像数据可以被存储在X射线设备10或者控制器16的存储器中。
通常,X射线图像包括与关于X射线的对象20的X射线的吸收有关的强度值。对于二维X射线图像(例如投影图像32)或者三维X射线图像(例如下面提及的图像36、40、44)均可以是这样。
二维X射线图像32可以包括利用二维坐标标记的像素和/或每个像素可以与强度值关联。
在步骤30的结束中,多幅二维X射线图像32可以被接收并存储于控制器16中。
根据本发明的实施例,所述方法包括以下步骤:从感兴趣对象22接收多幅二维投影图像32,其中,已经通过关于不同视角发射X射线20通过感兴趣对象20而采集了所述投影图像。
在步骤34中,控制器16根据多幅二维X射线投影图像32生成三维X射线原始图像体积36。为了生成三维图像体积36,适于X射线设备10的成像系统(X射线管12和X射线探测器14)的几何配置的坐标网格或者坐标系被使用。
根据本发明的实施例,所述方法包括以下步骤:关于适于发射的X射线20的几何配置的坐标网格,根据多幅二维投影图像32来生成三维原始图像体积36。
图3示意性示出了在图2的方法期间处理的三维图像体积36。在图3中,示出了正交(笛卡尔)坐标网格/系48和几何配置匹配的坐标网格/系50。
坐标网格50适于X射线设备10的X射线20的锥形21。针对增长的z坐标,x和y坐标的单位向量相应地增长。
根据本发明的实施例,坐标网格50定义关于正交网格的锥形。
由坐标网格50定义的锥形的角可以与由X射线管/源12生成的X射线的锥形21的角相同。换言之,恒定的x和y的坐标线可以沿与被发射通过感兴趣对象22的X射线匹配的线延伸。
根据本发明的实施例,X射线20由点源12生成并且经由锥形射束21被发射通过感兴趣对象22,并且坐标网格具有沿锥形射束延伸的坐标线。
总体而言,三维X射线图像包括利用三维坐标标记的体素,所述三维坐标在当前情况下不需要基于笛卡尔坐标系,而是基于适于X射线设备的几何配置的坐标系,例如其中针对x和y的单位向量随着增加的z而线性增加的坐标系。每个体素通常可以包括与关于X射线的对象20的X射线的吸收有关的强度值。
为了生成三维X射线图像体积36,滤波反投影或者甚至更复杂的迭代方法可以被使用。滤波反投影是根据计算机断层摄影公知的。然而,在计算机断层摄影中,在围绕感兴趣对象的整个360°的视角中采集的二维图像被使用。
根据本发明的实施例,关于坐标网格50通过二维投影图像32的滤波反投影生成三维原始图像体积36。
相比于诸如移位并且增加(SAA)的其他技术,滤波反投影通常实现更锐利的点扩散函数(PSF)。点扩散函数可以描述X射线设备10的成像系统对点状感兴趣对象22的响应,即由X射线设备根据点状感兴趣对象22生成的图像。
滤波反投影和迭代重建(参见下面的步骤40)通常在笛卡尔坐标网格48上被执行。
然而在该情况下,点扩散函数未与笛卡尔坐标网格48对齐,如图4A和4B中示出的。
图4A和4B(以及图5和6)示出平行于z轴的通过三维图像的切片(其中,z被定义为X射线的主方向)。例如,y坐标可以被保持固定以产生这样的切片。全部图4A到图6示出具有15个投影(即具有15幅二维X射线投影图像32)的范例。
图4A和4B示出关于笛卡尔坐标网格48的滤波反投影的点扩散函数60。非常小的对象的经重建的三维图像,点扩散函数不仅在中央切片(图4A)中延伸,而且延伸到邻近切片(图4B)。
图5示出了关于与X射线设备的几何配置匹配的坐标网格50的点状对象的滤波反投影的点扩散函数62。图5示出了包括点状对象的切片。完全点扩散函数62位于该切片中。将网格几何配置调整到射束几何配置(例如,锥形网格)可以允许将点扩散函数62聚集在单个切片中。
此外,利用几何配置匹配的网格50,点扩散函数沿读出方向(即z方向)可以是空间上更恒定的。点扩散函数62可以变得平坦而其z分辨率能够未改进。
图5中示出的点扩散函数62可以被看作三维图像体积36中的滤波反投影的伪影。
根据本发明的实施例,伪影和/或点扩散函数是扇形的。
在步骤38中,根据反投影的三维图像体积36生成去卷积的三维图像40。
能够在三维中执行去卷积。然而,三维中的去卷积可以是计算要求高的,由于大的欠定方程组而倾向于噪声和伪影,并且因此在实践中几乎不可行。
然而,利用所述方法,去卷积仅在二维中被执行。断层合成中(并且在一般计算机断层摄影中)的去卷积的一般问题可以是点扩散函数60是空间依赖的。因此,基于频率域的方法(例如,Wiener去卷积)能够是有问题的。代替地,能够需要基于图像域的去卷积。
利用所述方法,能够通过在几何配置匹配的网格50上逐切片地进行操作来对滤波反投影的重建的断层合成图像进行去卷积。该方法可以利用由滤波反投影提供的更加锐利的点扩散函数62,并且可以仅操作在二维中。针对所述方法,数值问题的状况可以被显著减轻。
如图2中指示的,关于与锥形射束21的几何配置对齐的坐标网格48执行滤波反投影和去卷积。在这样的几何配置中,点扩散函数62可以几乎与坐标网格50的切片完全对齐,使得二维去卷积可以被应用以恢复完全三维X射线图像40。
例如,二维去卷积可以在切片52中被执行,所述切片平行于射束20的X射线。这是例如当坐标x或y中的一个在切片52中保持恒定时的情况。
根据本发明的实施例,三维原始图像体积36的切片52具有关于坐标网格50的恒定坐标值。
根据本发明的实施例,所述方法包括以下步骤:通过将二维去卷积应用到三维原始图像体积36的切片52,来生成去卷积的三维图像40,所述切片52适于坐标网格50。
为了执行去卷积,可以利用与由滤波反投影产生的点扩散函数和/或伪影62相匹配的核函数来对每个切片52进行去卷积。核函数可以是空间变化的。
根据本发明的实施例,利用三维核函数对三维原始图像体积36的每个切片52进行去卷积。
原则上,核函数可以等于点扩散函数62。
在利用核函数进行去卷积之后,点扩散函数62被理想地映射到点函数64或者点状函数64,如图6中所示。换言之,去卷积可以被看作将点状对象投影到点扩散函数62的变换的逆变换。
根据本发明的实施例,核函数适于将在三维原始图像体积36的重建期间根据感兴趣对象22的点状部分生成的在切片52中的伪影映射回到对应于点状部分的切片52中的点。
总而言之,利用该方法,关于X射线设备10的几何信息,并且更准确地说,点扩散函数62用于通过去卷积恢复完全三维图像40。去卷积可以在坐标网格50(例如,锥形网格)上执行,以将去卷积降低到二维问题。二维去卷积可以被应用到三维断层合成图像,所述三维断层合成图像已经经由滤波反投影利用它们的更加锐利的点扩散函数被重建。总体地,所述方法可以促进断层合成中的显著改进的深度分辨率,并且可以降低伪影,尤其是当角视图范围小时。相比于图4A,由所述方法提供的改进的z分辨率可以在图6中看到。
在操作步骤40中,在去卷积之后获得的三维图像36可以被用作针对迭代重建的开始图像。换言之,可以根据去卷积的三维图像36生成迭代重建的三维图像44。
根据本发明的实施例,所述方法包括迭代地重建去卷积的三维图像40的步骤。
在迭代重建期间,三维图像40可以被正向投影到二维图像,并且与二维图像32比较。根据差异,在步骤34期间的三维图像36的生成和/或在步骤38期间的去卷积中的错误可以被确定并且校正。前向投影和比较可以在新生成的校正的三维图像44上被执行若干次,即迭代地被执行。
迭代重建可以由其有利,因为深度分辨率的改进可以在于迭代重建问题的空的空间内,并且因此通过迭代被保持。此外,可以通过迭代方法改进噪声和去卷积伪影。
在步骤46中,三维图像40、44的切片可以被显示在显示器24上。这样的切片,其例如可以正交于z方向,可以被看作根据三维图像40或44重建的二维图像。
根据本发明的实施例,所述方法包括以下步骤:基于通过去卷积的或者重建的三维图像40的切片来生成经重建的二维图像。
根据本发明的实施例,所述方法包括以下步骤:在显示设备24上显示经重建的二维图像。
尽管已经在附图和前文描述中详细图示并描述了本发明,但是这样的图示和描述应被视为说明性或示范性的,而非限制性的;本发明不限于所公开的实施例。本领域技术人员通过研究附图、公开内容以及权利要求书,在实践请求保护的本发明时能够理解并且实现对所公开的实施例的其他变型。在权利要求书中,词语“包括”不排除其他元件或步骤,并且词语“一”或“一个”不排除多个。单个处理器或控制器或其他单元可以完成权利要求书中所记载的若干个项目的功能。尽管在互不相同的从属权利要求中记载特定措施,但是这并不指示不能有利地使用这些措施的组合。权利要求书中的任何附图标记都不应被解释为对范围的限制。
Claims (15)
1.一种用于处理X射线设备(10)的图像数据的方法,所述方法包括以下步骤:
接收来自感兴趣对象(22)的多幅二维投影图像(32),其中,所述投影图像已经通过关于不同视角发射X射线(20)通过所述感兴趣对象(20)而被采集;
关于适于所发射的X射线(20)的几何配置的坐标网格(50),根据所述多幅二维投影图像(32),来生成三维原始图像体积(36);
通过将二维去卷积应用到所述三维原始图像体积(36)的切片(52)来生成去卷积的三维图像(40),所述切片(32)适于所述坐标网格(50)。
2.根据权利要求1所述的方法,
其中,所述坐标网格(50)定义关于正交网格的锥形。
3.根据权利要求1或2所述的方法,
其中,所述X射线(20)由点源(12)生成,并且经由锥形射束(21)被发射通过所述感兴趣对象;
其中,所述坐标网格(50)具有沿所述锥形射束延伸的坐标线。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,
其中,所述三维原始图像体积(36)是通过关于所述坐标网格(50)对所述二维投影图像(32)进行滤波反投影来生成的。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,
其中,所述三维原始图像体积(36)的所述切片(52)具有关于所述坐标网格(50)的恒定坐标值。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,
其中,所述三维原始图像体积(36)的每个切片(52)利用二维核函数而被去卷积。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,
其中,所述核函数适于将所述切片(52)中的伪影映射回到对应于点状部分的在所述切片(52)中的点,所述伪影是在所述三维原始图像体积(36)的重建期间根据所述感兴趣对象(22)的所述点状部分生成的。
8.根据权利要求7所述的方法,
其中,所述伪影是扇形的。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
使用所述去卷积的三维图像作为开始图像(40)来执行另外的迭代重建。
10.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,
其中,所述多幅二维投影图像(32)仅在视角的受限的角范围(18)内被采集。
11.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,
其中,所述多幅二维投影图像(32)包括少于30幅图像。
12.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
基于通过所述去卷积的三维图像(40)的切片来生成经重建的二维图像;
在显示设备(24)上显示所述经重建的二维图像。
13.一种用于处理X射线设备(10)的图像数据的计算机程序,所述计算机程序当在处理器上运行时,适于执行根据前述权利要求中的任一项所述的方法的步骤。
14.一种计算机可读介质,其上存储有根据权利要求13所述的计算机程序。
15.一种X射线设备(10),包括:
X射线源(12)和X射线探测器(14),所述X射线源和X射线探测器适于采集感兴趣对象(22)的二维投影图像(32),其中,所述X射线源(12)和/或所述X射线探测器(14)能够关于所述感兴趣对象(22)移动以关于不同视角采集二维投影图像(32);以及
控制器(16),其适于执行根据权利要求1至12中的任一项所述的方法的步骤。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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Application publication date: 20160106 |
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