CN105158942B - 一种Mura自动检测方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种Mura自动检测方法,包括建立数据库,建立JND值数据库包括:利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;对JND观测值进行正态分布统计处理;以及存储多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;将待测显示面板的图像分为多个区域;以及调用数据库中与待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。本发明还提供一种Mura自动检测装置。本发明提供的Mura自动检测方法及系统能通过调用数据库中的参考JND值实现Mura的自动检测,提高了准确率与效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术,特别涉及一种Mura自动检测方法及系统。
背景技术
液晶显示装置(Liquid Crystal Display,LCD)具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点,因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛地应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。
以薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)液晶显示装置为例,其包括:液晶显示面板和驱动电路,其中,液晶显示面板包括多条扫描线与多条数据线,且相邻的两条扫描线与相邻的两条数据线交叉形成一个像素单元,每个像素单元至少包括一个TFT。驱动电路包括栅极驱动电路(gate drive circuit)和源极驱动电路(source drive circuit)。随着生产者对液晶显示装置的低成本化追求以及制造工艺的提高,原本设置于液晶显示面板以外的驱动电路集成芯片被设置于液晶显示面板的玻璃基板上成为了可能,例如,将栅极驱动集成电路设置于阵列基板(Gate IC inArray,GIA)上从而简化液晶显示装置的制造过程,并降低生产成本。
液晶显示面板与驱动电路的基本工作原理为:栅极驱动电路通过与扫描线电性连接的上拉晶体管向扫描线送出栅极驱动信号,依序将每一行的TFT打开,然后源极驱动电路向数据线送出的数据信号同时将一整行的像素单元充电到各自所需的电压,以显示不同的灰阶。
随着LCD向大尺寸、轻薄化、低功耗、高分辨率的方向发展,LCD的显示不均匀缺陷(Mura)产生的几率大大增加,LCD的Mura检测成为制约LCD产业发展的重要因素。目前LCD的Mura检测主要依靠人眼检测,然而人眼检测方法的检测结果容易受人的主观因素以及外界环境的影响,且对缺陷等级判定没有统一的标准,检测准确率低、且检测效率不高。
因此,有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能提高准确率及效率的Mura自动检测方法。
本发明提供一种Mura自动检测方法,包括建立数据库,所述建立数据库包括利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;以及存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
本发明还提供一种Mura自动检测系统,包括:参考JND值生成装置、数据库、图像成像装置、第一图像处理装置、第二图像处理装置。其中,所述参考JND值生成装置用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理,并接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值后进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值。所述数据库用于存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值。所述图像成像装置用于采集待测显示面板的图像。所述第一图像处理装置用于将所述待测显示面板的图像分为多个区域。所述第二图像处理装置用于调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
本发明提供的Mura自动检测方法及系统对每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值,从而能通过调用数据库中的参考JND值得实现Mura的自动检测,提高了准确率与效率。
附图说明
图1为本发明一实施方式之建立数据库的流程示意图。
图2为将显示面板的图像分为多个区域的示意图。
图3为正态分布的概率密度函数曲线示意图。
图4为本发明一实施方式之Mura自动检测方法的流程示意图。
图5本发明一实施方式之Mura自动检测系统的结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明提出的Mura自动检测方法及系统其具体实施方式、方法、步骤、结构、特征及功效,详细说明如后。
有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效,在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明,当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解,然而所附图式仅是提供参考与说明之用,并非用来对本发明加以限制。
图1为本发明一实施方式之建立数据库的流程示意图。其中,建立的数据库为JND值数据库,该建立JND值数据库包括如下步骤:
步骤S110:利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;
具体的,图像成像装置可以但不限于为电荷耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)、或摄像头等等。
其中,图像成像装置在垂直方向对被点亮的参考显示面板拍照或摄影,以采集参考显示面板的图像。
其中,进入步骤S110之后还可以对每个参考显示面板的图像进行图像处理。具体地,图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波、无边缘活动(CV)主动轮廓模型和水平集方法(Level Set Method)处理。
其中,Gabor滤波用于消除不均匀背景,同态滤波用于进行亮度校正,从而改善亮度不均匀的问题,CV主动轮廓模型和水平集方法用于实现图像的分割。
步骤S120:将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;
具体地,请参考图2,图2为将显示面板的图像分为多个区域的示意图。如图2所示,参考显示面板可以被分为9*14个区域,当然本领域的技术人员可以理解的是,可以根据显示面板的具体参数例如尺寸、分辨率等等将每个参考显示面板为分为更多或更少的区域。
步骤S130:接收每个参考显示面板的每个区域的正好可注意到的差异(JustNoticeable Difference,JND)观测值;
具体地,每个参考显示面板的每个区域的JND观测值可以通过至少一个观察者通过人眼判断获取。
步骤S140:将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;
具体地,请参考图3,图3为正态分布的概率密度函数曲线示意图。如图3所示,概率密度函数其中,μ为均值,σ为方差。由于如果一个量是由许多微小的独立随机因素影响的结果,那么就可以认为这些数据就服从正态分布,因此,当每个区域参与计算的JND观测值达到一定值时,这些JND观测值就服从正态分布,从而可以根据正态分布曲线的3σ准则删除超出范围的JND观测值,且以未超出范围的JND观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
步骤S150:存储多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值。
图4为本发明一实施方式之Mura自动检测方法的流程示意图。Mura自动检测方法包括如下步骤:
步骤S41:建立数据库;
其中,建立数据库的具体步骤可以参考图1,在此不再赘述。
步骤S42:利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;
具体的,图像成像装置可以但不限于为电荷耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)、或摄像头等等。
其中,图像成像装置在垂直方向对被点亮的待测显示面板拍照或摄影,以采集待测显示面板的图像。
步骤S43:将待测显示面板的图像分为多个区域;
具体地,可以请参考图2,将待测显示面板分为9*14个区域,当然本领域的技术人员可以理解的是,可以根据显示面板的具体参数例如尺寸、分辨率等等将每个待测显示面板为分为更多或更少的区域。
步骤S44:调用数据库中与待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
其中,与待测显示面板的区域的图像最接近的图像是指与待测显示面板的区域的图像的灰度最接近。
其中,显示面板的区域的图像的实际JND值是检测Mura的一个标准,如果某一区域的图像的实际JND值超出正常的范围,则说明此区域存在Mura。本领域的技术人员可以理解的是,某一区域的图像的实际JND值超出正常范围的多少,可以判断该区域Mura的严重程度。
其中,步骤S41还包括:将待测显示面板的每个区域的图像的实际JND值作为对应的参考JND值存储于数据库中,以扩充数据库。
图5为本发明一实施方式之Mura自动检测系统的结构示意图。一种Mura自动检测系统,包括:参考JND值生成装置500、数据库501、图像成像装置502、第一图像处理装置503、第二图像处理装置504。其中,参考JND值生成装置500用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理,并接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值后进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值。数据库501用于存储多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值。图像成像装置502用于采集待测显示面板的图像。第一图像处理装置503用于将待测显示面板的图像分为多个区域。第二图像处理装置504用于调用数据库501中与待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
其中,数据库501还用于存储待测显示面板的每个区域的图像,并将待测显示面板的每个区域的图像的实际JND值作为对应的参考JND值存储起来,以扩充数据库501的数据。
具体的,图像成像装置502可以但不限于为电荷耦合元件(Charge-coupledDevice,CCD)、或摄像头等等。
其中,图像成像装置502在垂直方向对被点亮的待测显示面板拍照或摄影,以采集待测显示面板的图像。
其中,参考JND值生成装置500还用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理。其中,图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波、CV主动轮廓模型和水平集方法处理。
本发明提供的Mura自动检测方法及系统能通过调用数据库501中的参考JND值实现Mura的自动检测,提高了准确率与效率。
需要说明的是,本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置类实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
本文中应用了具体个例对本发明的Mura自动检测方法及系统的实施方式进行了阐述,以上实施方式的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种Mura自动检测方法,其特征在于,包括:
建立数据库,所述建立数据库包括:
利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;
将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;
接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;
将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;以及
存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;
利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;
将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及
调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值;
其中,将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值,包括根据正态分布曲线的3σ准则删除超出范围的JND观测值,且以未超出范围的JND观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
2.如权利要求1所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述建立数据库还包括:将所述待测显示面板的每个区域的图像的实际JND值作为对应的参考JND值存储于数据库中。
3.如权利要求1所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述图像成像装置为摄像头。
4.如权利要求1所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像的步骤之后还包括:
对每个参考显示面板的图像进行图像处理;
其中,图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波。
5.如权利要求4所述的Mura自动检测方法,其特征在于,所述图像处理的步骤还包括CV主动轮廓模型和水平集方法处理。
6.一种Mura自动检测系统,其特征在于,包括:
参考JND值生成装置,所述参考JND值生成装置用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理,并接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值后进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;
数据库,所述数据库用于存储所述每个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;
图像成像装置,用于采集待测显示面板的图像;
第一图像处理装置,所述第一图像处理装置用于将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及
第二图像处理装置,所述第二图像处理装置用于调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值;
其中,参考JND值生成装置根据正态分布曲线的3σ准则删除超出范围的JND观测值,且以未超出范围的JND观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
7.如权利要求6所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述数据库还用于存储所述待测显示面板的每个区域的图像,并将所述待测显示面板的每个区域的图像的实际JND值作为对应的参考JND值存储起来。
8.如权利要求6所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述图像成像装置为摄像头。
9.如权利要求6所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述参考JND值生成装置还用于对获取的每个参考显示面板的图像进行图像处理;
其中,图像处理的步骤包括Gabor滤波、同态滤波。
10.如权利要求9所述的Mura自动检测系统,其特征在于,所述图像处理的步骤还包括CV主动轮廓模型和水平集方法处理。
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