CN107911602B

CN107911602B - 显示面板Mura的检测方法、检测装置及计算机可读存储介质

Info

Publication number: CN107911602B
Application number: CN201711184949.1A
Authority: CN
Inventors: 田念
Original assignee: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Current assignee: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority date: 2017-11-23
Filing date: 2017-11-23
Publication date: 2020-05-05
Anticipated expiration: 2037-11-23
Also published as: CN107911602A; WO2019100551A1

Abstract

本发明提供了一种显示面板Mura的检测方法、检测装置及计算机可读存储介质。所述检测方法包括：聚焦步骤：调整相机的镜头使得所述相机的镜头相对于显示面板处于聚焦状态；第一图像拍摄步骤：拍摄显示面板中显示预设灰阶时的图像画面，以得到第一图像；子像素级Mura判断步骤：根据所述第一图像判断所述显示面板是否出现子像素级Mura，其中，所述子像素级Mura指显示面板的一个或者多个子像素形成的Mura。本发明方法、检测装置及计算机可读存储介质可以检测子像素级Mura，为Mura补偿提供准确数据。

Description

显示面板Mura的检测方法、检测装置及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及显示面板的检测方法，具体涉及一种显示面板Mura的检测方法、检测装置及计算机可读存储介质。

背景技术

Mura是指显示器亮度不均匀，造成各种痕迹的现象。Mura缺陷来源比较多，从显示面板制程工艺的各个环节均会产生，主要包括以下几种：在喷涂过程中，膜厚不均匀的滤光片会导致光经过后颜色不均；薄膜晶体管(TFT)由于其多层结构，在每层结构的相对位置也会很容易因错位而产生Mura；液晶材料分布不均匀性以及高度差异也可造成Mura现象；偏光片来料不良会导致偏贴，形成Mura；背光源发光不均匀或排列设计不合理时，也会形成各种Mura；此外，生产过程中异物、粉尘的进入，都会造成Mura缺陷。

在平板显示技术中，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示器具有轻薄、主动发光、响应速度快、可视角大、色域宽、亮度高和功耗低等众多优点，逐渐成为继液晶显示器后的第三代显示技术。与液晶显示器一样，OLED显示器也存在块状大Mura。另外，由于OLED显示器的每一个子像素均单独发光，不同像素之间的亮度差异也会严重影响良率。因而，除了对块状的大Mura进行检测外，也需要对子像素级的细小Mura进行精确检测检测。

发明内容

基于现有光学检测方法的不足，本发明提供一种显示面板Mura的检测方法，在镜头聚焦的情况下获取显示面板影像数据，来准确检测子像素级小Mura，具体技术方案如下：

一种显示面板Mura的检测方法，所述检测方法包括：

聚焦步骤：调整相机的镜头使得所述相机的镜头相对于显示面板处于聚焦状态；

第一图像拍摄步骤：拍摄显示面板中显示预设灰阶时的图像画面，以得到第一图像；

子像素级Mura判断步骤：根据所述第一图像判断所述显示面板是否出现子像素级Mura，其中，所述子像素级Mura指显示面板的一个或者多个子像素形成的Mura。

优选的，所述聚焦步骤包括：

调整相机的镜头的焦距，并每隔预设时间拍摄显示面板显示预设灰阶时的画面，以得到多个第一子图像；

判断第n个第一子图像的清晰度是否大于或等于所述第(n-1)个第一子图像的清晰度，且是否大于或等于所述第(n+1)个第一子图像的清晰度；

当所述第n个第一子图像的清晰度大于或等于所述第(n-1)个第一子图像的清晰度，且大于或等于所述第(n+1)个第一子图像的清晰度时，判断所述相机的镜头拍摄所述第n个第一子图像时的状态为聚焦状态，将所述相机的镜头调整到拍摄所述第n个第一子图像时的状态以使得所述相机的镜头处于聚焦状态，其中，n大于等于2。

优选的，所述子像素级Mura判断步骤的判断方式包括：

将所述第一图像进行数据化，以得到第一原始脉冲信号；

根据第一图像得到第一位移图像，并根据所述第一位移图像得到第一脉冲信号；

根据第一图像得到第二位移图像，并根据所述第二位移图像得到第二脉冲信号，且所述第二位移图像与所述第一位移图像存在重叠区域；

根据所述第一原始脉冲信号、所述第一脉冲信号及所述第二脉冲信号确定所述子像素级Mura。

优选的，所述检测方法还包括：

当根据所述第一图像判断出所述显示面板出现子像素级Mura时，提供第一补偿数据，并将所述第一补偿数据提供给显示面板，以消除所述子像素级Mura。

优选的，所述检测方法还包括：

失焦步骤：调整相机的镜头使得所述相机的镜头相对于显示面板处于失焦状态；

第二图像拍摄步骤：拍摄显示面板中显示预设灰阶时的图像画面，以得到第二图像；

像素级Mura判断步骤：根据所述第二图像判断所述显示面板是否出现像素级Mura，其中，所述像素级Mura指显示面板的一个或者多像素形成的Mura。

优选的，所述失焦步骤是指调整相机镜头直到摩尔纹消失时的状态，具体方法为：

调整相机的镜头的焦距，并每隔预设时间拍摄显示面板显示预设灰阶时的画面，以得到多个第二子图像；

当所述第n个第二子图像中的摩尔纹消失时，判断所述相机的镜头拍摄所述第n个第二子图像时的状态为失焦状态，将所述相机的镜头调整到拍摄所述第n个第二子图像时的状态以使得所述相机的镜头处于失焦状态，其中，n大于等于2。

优选的，所述检测方法还包括：

当根据所述第二图像判断出所述显示面板出现像素级Mura时，提供第二补偿数据，并将所述第二补偿数据提供给显示面板，以消除所述像素级Mura。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储了用于显示面板Mura的检测的程序，其中，所述程序被执行的时候执行如上面所述的检测方法。

本发明还提供一种Mura检测装置，包括存储器及处理器，所述存储器存储了用于显示面板Mura的检测的程序，所述处理器从所述存储器里读取所述程序，以执行上面所述的检测方法。

本发明的有益效果：通过相机在聚焦状态可以检测子像素级Mura，在失焦状态下检测像素级Mura，为显示面板的Mura补偿提供准确的数据。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明显示面板Mura检测方法所包括的流程图。

图2为本发明显示面板Mura检测方法中的聚焦步骤所包括的流程图。

图3为本发明显示面板Mura检测方法中的检测的子像素级Mura示意图。

图4为本发明显示面板Mura检测方法中的子像素级Mura判断步骤所包括的流程图。

图5为本发明显示面板Mura检测方法中的判断子像素级Mura的示意图。

图6为本发明显示面板Mura检测方法中的失焦步骤所包括的流程图。

图7为本发明显示面板Mura检测方法中的检测的像素级Mura示意图。

图8为本发明实施例提供的Mura检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

基于现有光学检测方法的不足，本发明提供一种显示面板Mura的检测方法，在镜头聚焦的情况下获取显示面板影像数据，来准确检测子像素级小Mura。具体实施例如下：

参阅图1，本实施例提供一种显示面板Mura的检测方法，所述检测方法包括但不仅限于包括步骤S100、S200及S300。各个步骤详细介绍如下。

S100聚焦步骤：调整相机的镜头使得所述相机的镜头相对于显示面板处于聚焦状态。

在进一步的实施例中，所述聚焦步骤包括如下步骤。请参阅图2，图2为本发明显示面板Mura检测方法中的聚焦步骤所包括的流程图。

步骤S110，调整相机的镜头的焦距，并每隔预设时间拍摄显示面板显示预设灰阶时的画面，以得到多个第一子图像。

步骤S120，判断第n个第一子图像的清晰度是否大于或等于所述第(n-1)个第一子图像的清晰度，且是否大于或等于所述第(n+1)个第一子图像的清晰度。

步骤S130，当所述第n个第一子图像的清晰度大于或等于所述第(n-1)个第一子图像的清晰度，且大于或等于所述第(n+1)个第一子图像的清晰度时，判断所述相机的镜头拍摄所述第n个第一子图像时的状态为聚焦状态，将所述相机的镜头调整到拍摄所述第n个第一子图像时的状态以使得所述相机的镜头处于聚焦状态，其中，n大于等于2。

具体的的实施例如下：调节相机的镜头的焦距，并每隔预设时间3秒拍摄显示面板预设灰阶时的画面，本实施例采用灰阶256级的，且预设灰阶是200级的灰阶，在200级别的灰阶下拍摄第一子图像，每隔3s调节相机镜头并拍摄画面得到一个第一子图像，当拍摄发现第10个第一子图像的清晰度大于第9个第一子图像中的清晰度，且大于所述第11个第一子图像的清晰度时，则判断所述相机的镜头拍摄所述第10个第一子图像时的状态为聚焦状态，将所述相机的镜头调整到拍摄所述第10个第一子图像时的状态以使得所述相机的镜头处于聚焦状态。上述仅限于举例说明判断相机镜头聚焦状态的过程，灰阶级数不限256级，还可以是16级、32级或者64级。上述预设灰阶不限于200级的灰阶，还可以是上述四种灰阶级数中的任何一级灰阶。

S200第一图像拍摄步骤：拍摄显示面板中显示预设灰阶时的图像画面，以得到第一图像。

具体的实施例，拍摄显示面板中显示预设灰阶时的图像画面，采用256级灰阶，且预设灰阶是每隔8级的灰阶，也就是说拍摄8级，16级，24级，32级……248级，256级下的图像画面，得到第一子图像。上述灰阶级数不限256级，还可以是16级、32级或者64级。上述预设灰阶不限于每隔8级的灰阶，还可以是每隔N＝1～255级的灰阶。

S300子像素级Mura判断步骤：根据所述第一图像判断所述显示面板是否出现子像素级Mura，其中，所述子像素级Mura指显示面板的一个或者多个子像素形成的Mura。请参阅图3中的一个像素10的示意图，其中11为红色子像素，12为绿色子像素，13为蓝色子像素，其中14为红色子像素产生的子像素级Mura。子像素级Mura也可以是红色子像素11、绿色子像素12、蓝色子像素13三者共同产生的，也可以是任两种子像素产生的。所述子像素还可以是红、绿、蓝、白四种子像素中的多种，总的来说是子像素级别下的。可检测多种子像素级别下的子像素级小Mura，获取更精确的补偿数据。

进一步的实施例中，提供子像素级Mura判断步骤的判断方式包括如下步骤S310、步骤S320、步骤S330及步骤步骤S340。各个步骤详细介绍如下，请参阅图4，图4为本发明显示面板Mura检测方法中的子像素级Mura判断步骤所包括的流程图。

步骤S310，将所述第一图像进行数据化，以得到第一原始脉冲信号。

步骤S320，根据第一图像得到第一位移图像，并根据所述第一位移图像得到第一脉冲信号。

步骤S330，根据第一图像得到第二位移图像，并根据所述第二位移图像得到第二脉冲信号，且所述第二位移图像与所述第一位移图像存在重叠区域。

步骤S340，根据所述第一原始脉冲信号、所述第一脉冲信号及所述第二脉冲信号确定所述子像素级Mura。

具体的实施例，请参阅图5，将第一图像进行数据化，以得到第一原始脉冲信号，具体的是将第一图像采用电荷耦合器件相机(charge coupled device camera，CCD)拍摄局部区域内的图像得到图中所示的局部第一图像200，CCD相机将局部第一图像200数据化，得到第一原始脉冲信号210(图中O表示)，局部第一图像200中的子像素级Mura211与第一原始脉冲信号210中的一号波峰212所对应。然后在保持第一图像不动的情况下，将CCD相机向右移动一个子像素的距离，拍摄与局部第一图像200面积等同大小的第一位移图像201，然后根据第一位移图像201得到第一脉冲信号220(图中A表示)，其中第一位移图像201中的子像素级Mura221与第一脉冲信号220中的第二波峰222相对应。同样，在第一图像不动的情况下，将CCD相机向左移动一个子像素的距离，拍摄与局部第一图像200面积等同大小的第二位移图像202，然后根据第二位移图像202得到第二脉冲信号230(图中B表示)，其中第二位移图像202中的子像素级Mura231与第二脉冲信号230中的第二波峰232相对应。所述图中子像素级Mura相关信息240(图中C表示)的确定方式为：将第一脉冲信号220和第二脉冲信号230相叠加，将叠加后的脉冲信号再减去两倍的第一原始脉冲信号210，即C＝A+B-2×O。所述图中子像素级Mura相关信息240的脉冲信号(图中C表示)中的第三波峰241所在的位置即为显示面板中的子像素级Mura所在的位置。并且通过CCD相机可以获取该子像素级Mura的数据化信息，以用于Mura补偿。

需要说明的是，上面所述的子像素级Mura采用了不同的标号以说明在不同图像中的位置，不同标号不对子像素级Mura的性质限制。

上面所述的第一位移图像和第二位移图像的获取方式还可以采用相机不动，将第一图像进行左右移动，然后将移动后的第一图像进行拍摄获取。图5中的子像素级Mura211不限于在局部第一图像200的中间位置，可以在任何位置，但在移动局部第一图像200时满足子像素级Mura出现在第一位移图像和第二位移图像内。

进一步的实施例中，所述检测方法还包括步骤S400。

S400，当根据所述第一图像判断出所述显示面板出现子像素级Mura时，提供第一补偿数据，并将所述第一补偿数据提供给显示面板，以消除所述子像素级Mura。优选的，消除子像素级Mura的方法可以为亮度补偿法。

进一步的实施例中，所述检测方法还包括步骤S500、S600及S700：

S500失焦步骤：调整相机的镜头使得所述相机的镜头相对于显示面板处于失焦状态。

进一步的实施例中，所述S500失焦步骤是指调整相机镜头直到摩尔纹消失时的状态，所述S500失焦步骤包括步骤S510和步骤S520，各个步骤详细介绍如下，请参阅图6，图6为本发明显示面板Mura检测方法中的失焦步骤所包括的流程图。

步骤S510，调整相机的镜头的焦距，并每隔预设时间拍摄显示面板中显示预设灰阶时的画面，以得到多个第二子图像。

步骤S520，当所述第n个第二子图像中的摩尔纹消失时，判断所述相机的镜头拍摄所述第n个第二子图像时的状态为失焦状态，将所述相机的镜头调整到拍摄所述第n个第二子图像时的状态以使得所述相机的镜头处于失焦状态，其中，n大于等于2。

具体实施例说明，调整相机的镜头的焦距，并每隔预设时间拍摄显示面板显示预设灰阶时的画面，假设预设时间为2s，但不限于2s，本实施例采用灰阶256级的，且预设灰阶是240级的灰阶，在该级别的灰阶下拍摄第二子图像，每隔2s调节相机镜头并拍摄画面得到一个第二子图像，当拍摄发现第12个第二子图像中的摩尔纹消失时，判断所述相机的镜头拍摄所述第12个第二子图像时的状态为失焦状态，将所述相机的镜头调整到拍摄所述第12个第二子图像时的状态以使得所述相机的镜头处于失焦状态。

S600第二图像拍摄步骤：拍摄显示面板显示预设灰阶时的图像画面，以得到第二图像。第二图像拍摄步骤是在失焦状态下进行，拍摄方法可以为第一图像拍摄步骤的方法。

S700像素级Mura判断步骤：根据所述第二图像判断所述显示面板是否出现像素级Mura，其中，所述像素级Mura指显示面板的一个或者多像素形成的Mura。参阅图7，所述像素级Mura15可以是显示面板中多个像素10形成的Mura。

像素级Mura判断方法可通过人工视觉识别法或者采用目前现有技术中所使用的方法判断。

进一步的实施例中，所述检测方法还包括步骤S800。

S800当根据所述第二图像判断出所述显示面板出现像素级Mura时，提供第二补偿数据，并将所述第二补偿数据提供给显示面板，以消除所述像素级Mura。

所述消除像素级Mura的方法可以为亮度补偿法。

进一步的实施例，所述显示面板为OLED、TFT-LCD、EPD面板中的一种。优选的，本发明实施例适用于OLED显示面板。

本发明还提供一种计算机可读存储介质的实施例，所述计算机可读存储介质存储了用于显示面板Mura的检测的程序，其中，所述程序被执行的时候执行如上面实施例所述的检测方法。

本发明还提供一种Mura检测装置的实施例，所述Mura检测装置包括存储器及处理器，所述存储器存储了用于显示面板Mura的检测的程序，所述处理器从所述存储器里读取所述程序，以执行上面实施例所述的检测方法。

参阅图8所示，提供了上述实施例中所涉及的Mura检测装置的一种可能的结构示意图。Mura检测装置300包括：存储器301、处理器302、通信接口303和总线304。处理器302从所述存储器301里读取所述程序，以执行上面实施例所述的检测方法。其中，存储器301、处理器302、通信接口303可以通过总线304相互连接；总线304可以是外设部件互连标准总线或扩展工业标准结构总线等。所述总线304可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图8中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于可选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置，可通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件程序模块的形式实现。

所述集成的单元如果以软件程序模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括：U盘、只读存储器、随机存取存储器、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储器中，存储器可以包括：闪存盘、只读存储器、随机存取器、磁盘或光盘等。

以上对本发明实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims

1.一种显示面板Mura的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

子像素级Mura判断步骤：根据所述第一图像判断所述显示面板是否出现子像素级Mura，其中，所述子像素级Mura指显示面板的一个或者多个子像素形成的Mura；

所述子像素级Mura判断步骤的判断方式包括：

将所述第一图像进行数据化，以得到第一原始脉冲信号；

根据第一图像得到第二位移图像，并根据所述第二位移图像得到第二脉冲信号，且所述第二位移图像与所述第一位移图像存在重叠区域；以及

根据所述第一原始脉冲信号、所述第一脉冲信号及所述第二脉冲信号确定所述子像素级Mura；

第二图像拍摄步骤：拍摄显示面板中显示预设灰阶时的图像画面，以得到第二图像，其中，所述第二图像拍摄步骤是在失焦状态下进行；

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述聚焦步骤包括：

判断第n个第一子图像的清晰度是否大于或等于第(n-1)个第一子图像的清晰度，且是否大于或等于第(n+1)个第一子图像的清晰度；

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述失焦步骤是指调整相机镜头直到摩尔纹消失时的状态，具体方法为：

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读储存介质存储了用于显示面板Mura的检测的程序，其中，所述程序被执行的时候执行如权利要求1至5中任意一项所述的检测方法。

7.一种Mura检测装置，其特征在于，所述Mura检测装置包括存储器及处理器，所述存储器存储了用于显示面板Mura的检测的程序，所述处理器从所述存储器里读取所述程序，以执行如权利要求1至5中任意一项所述的检测方法。