CN111415611A - 亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置，所述亮度补偿方法包括：获取拍摄的显示面板的测试图像；获取所述测试图像的图像数据；若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。根据本发明实施例的亮度补偿方法，根据实际颗粒物的尺寸数据，选取合适的中值滤波器对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，可以有效解决因颗粒物导致误补偿的问题，从而提升产线生产良率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置。
背景技术
为了解决显示器件因TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)特性不同引起的画质不均，目前通常采用Demura的方法来解决。Demura过程需要对屏幕拍照以采集图像数据，但在生产过程中，显示器件的屏幕常常存在微小颗粒(Particle)，导致采集的图像产生误差，现有的Demura算法会将Particle区域作为暗点进行处理，导致该区域误补偿而产生亮点。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示器件，能够解决现有技术中因显示屏幕存在颗粒物而导致的误补偿问题。
为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：
本发明一方面实施例提供一种亮度补偿方法，包括：
获取拍摄的显示面板的测试图像；
获取所述测试图像的图像数据；
若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；
对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。
可选的，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，包括：
在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
可选的，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
根据预先得到的颗粒物的尺寸数据，确定中值滤波处理中选用的中值滤波器的阈值和邻域的尺寸。
可选的，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
对颗粒物进行采样，获取颗粒物的尺寸数据。
可选的，所述中值滤波器的阈值为颗粒物区域外的显示区域的图像数据的平均值的50％～70％。
可选的，所述中值滤波器的邻域的尺寸大于等于颗粒物的平均尺寸。
可选的，所述中值滤波器的邻域的尺寸小于等于颗粒物的平均尺寸的两倍。
本发明另一方面实施例提供一种亮度补偿装置，包括：
第一获取模块，用于获取拍摄的显示面板的测试图像，所述测试图像包括颗粒物；
第二获取模块，用于获取所述测试图像的图像数据；
中值滤波模块，用于若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；
计算模块，用于对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。
可选的，所述中值滤波模块包括：
确定单元，用于在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
滤波单元，用于采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
本发明再一方面实施例提供一种显示器件，包括如上所述的亮度补偿装置。
本发明上述技术方案的有益效果如下：
根据本发明实施例的亮度补偿方法，根据实际颗粒物的尺寸数据，选取合适的中值滤波器对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，可以有效解决因颗粒物导致误补偿的问题，从而提升产线生产良率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种亮度补偿方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的具有颗粒物的测试图像的示意图；
图3为本发明实施例提供的包含颗粒物区域的图像数据的示意图；
图4为本发明实施例提供的经中值滤波处理后的测试图像的示意图；
图5为本发明实施例提供的一种亮度补偿装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参考图1，图1为本发明实施例提供的一种亮度补偿方法的流程示意图。如图1所示，本发明实施例中的亮度补偿方法可以包括以下步骤：
步骤101：获取拍摄的显示面板的测试图像，所述测试图像包括颗粒物。
在该步骤中，需要对待检测的显示面板进行拍摄，也即让待测的显示面板显示特定灰度的图像，然后利用相机对显示面板的测试图像进行拍摄，从而获得拍摄的显示面板的测试图像。
在可选的实施方式中，拍摄测试图像时，可以采用高精度高分辨率的CCD相机，相机分辨率的选择取决于被检测显示面板的分辨率、大小、拍摄距离以及Demura补偿的精度。
步骤102：获取所述测试图像的图像数据。
本步骤中，在获取了显示面板的测试图像后，需进一步对测试图像进行分析处理，以获取测试图像的图像数据，也即获取测试图像中的每一像素的灰度值以及该像素的坐标位置等数据。本发明中所指的图像数据的大小，可以是像素的灰度值的大小。
步骤103：若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据。
请参考图2，图2为本发明实施例提供的具有颗粒物的测试图像的示意图。如图2所示，在实际产线的生产过程中，经常会因为颗粒物挡住显示面板的部分发光区域，从而使得颗粒物所在区域变暗(如图2中虚线框圈出来的黑点)，因此，在这种情况下，便需要对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
本发明实施例中，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，包括：
在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
请参考图3，图3为本发明实施例提供的包含颗粒物区域的图像数据的示意图。如图3所示，由于检测的显示面板存在颗粒物，因此，测试图像的图像数据中，颗粒物所对应的区域的图像数据的数值较低(如图3中被框出来的部分数据)，为了避免发生误补偿，需要对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，以得到处理后的测试图像的图像数据。因此，首先应找出颗粒物所在区域的图像数据，也就是说，当测试图像中的某一区域中的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，即可将所述区域确定为颗粒物所在区域；找出测试图像中的颗粒物所在区域后，便可采用中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，其中，中值滤波器的邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸，以确保对颗粒物区域的图像数据进行处理，而对颗粒物区域以外的图像数据不产生影响。
本发明实施例中，中值滤波是非线性平滑滤波中的一种，是基于排序统计理论的一种能够有效抑制噪声的非线性信号处理技术，中值滤波的基本原理是把数字图像或数字序列中一点的值用该点的一个邻域中各点值的中值来代替，让该点的像素值接近真实值，从而消除孤立的噪声点。例如，对于如下的3×3的矩阵，对中间位置的值(也即10)进行3×3的中值滤波，由于该矩阵其他各元素的中值为2，故中值滤波后中间位置的值由10变为2。
中值滤波前：
| 1 | 1 | 1 |
| 2 | 10 | 2 |
| 3 | 3 | 3 |
中值滤波后：
| 1 | 1 | 1 |
| 2 | 2 | 2 |
| 3 | 3 | 3 |
基于上述中值滤波处理，可以对测试图像中颗粒物对应的区域的图像数据进行处理，从而得到较为准确的图像数据。
请参考图4，图4为本发明实施例提供的经中值滤波处理后的测试图像的示意图。如图4所示，在经过上述的中值滤波处理后，测试图像中的颗粒物(黑点)已被完全去除，而且对其他显示区域的图像数据并未改变。
步骤104：对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。
该步骤中，在完成对颗粒物区域的图像数据的中值滤波处理后，对处理后的颗粒物区域的图像数据以及其他正常显示区域的图像数据进行计算，便可得到检测的显示面板的补偿数据。
在本发明的一些实施例中，对处理后的测试图像的图像数据进行计算所采用的算法可以是DeMura补偿算法。
根据本发明实施例的亮度补偿方法，根据实际颗粒物的尺寸数据，选取合适的中值滤波器对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，可以有效解决因颗粒物导致误补偿的问题，从而提升产线生产良率。
本发明实施例中，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
对颗粒物进行采样，获取颗粒物的尺寸数据。
具体来说，在生产过程中，不同生产环境下的颗粒物的大小、形状和种类不同，因此为了确定待检测的显示面板的颗粒物的上述参数，需要先对颗粒物进行采样，获取典型颗粒物的尺寸数据和图像数据，以便根据颗粒物的尺寸数据确定后续中值滤波处理中的处理参数。
本发明实施例中，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
根据预先得到的颗粒物的尺寸数据，确定中值滤波处理中选用的中值滤波器的阈值和邻域的尺寸。
也就是说，在获取了颗粒物的尺寸数据后，可以根据颗粒物的尺寸数据来确定中值滤波处理中选用的中值滤波器的阈值和邻域的尺寸。在一可选的实施方式中，可以根据颗粒物的尺寸数据，确定颗粒物的平均尺寸，然后根据颗粒物的平均尺寸，确定中值滤波器的预制和邻域的尺寸，以确保中值滤波的处理效果。其中，中值滤波的阈值的作用为，当测试图像的图像数据值大于该阈值时，不进行中值滤波处理，而当测试图像的图像数据值小于该阈值时，进行中值滤波处理，从而对测试图像中颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，而不对测试图像中正常显示区域的图像数据进行中值滤波处理；而中值滤波器的邻域的大小则关乎中值滤波的效果，中值滤波器的邻域越大，对颗粒物区域的图像数据滤波效果越好，但是会导致图像数据反应的Mura信息也就越少。
在本发明的一些实施例中，所述中值滤波器的阈值为颗粒物区域外的显示区域的图像数据的平均值的50％～70％，以确保对测试图像中颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，而不对测试图像中正常显示区域的图像数据进行中值滤波处理，确保滤波效果。在一可选的实施方式中，所述阈值可以为颗粒物区域外的显示区域的图像数据的平均值的70％，此时的滤波效果较优。当然，本发明实施例中所指的颗粒物区域外的显示区域，是指正常显示区域，在具体实施本发明实施例时，可以选取显示面板中央的部分正常显示区域的图像数据的平均值，因为显示面板中央的部分通常显示效果较好，不容易存在颗粒物。
在本发明的另一些实施例中，所述中值滤波器的邻域的尺寸大于等于颗粒物的平均尺寸，也就是说，为了保证能够对颗粒物区域的图像数据进行有效的滤波处理，需要使得中值滤波器的邻域的尺寸大于等于颗粒物的平均尺寸，以免存在部分颗粒物区域的图像数据没有进行中值滤波处理。而进一步的，中值滤波器的邻域越大，对颗粒物区域的图像数据滤波效果越好，但是会导致反应的Mura信息也就越少，因此，为了保证颗粒物区域反应的Mura信息的数量，所述中值滤波器的邻域的尺寸小于等于颗粒物的平均尺寸的两倍。
在计算得到被检测显示面板的补偿数据后，即可将补偿数据写入驱动芯片的存储器中，以实现补偿效果，最后再拍照确认Mura已消除。
根据本发明实施例的亮度补偿方法，根据实际颗粒物的尺寸数据，选取合适的中值滤波器对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，可以有效解决因颗粒物导致误补偿的问题，从而提升产线生产良率。
请参考图5，图5为本发明实施例提供的一种亮度补偿装置的结构示意图。如图5所示，本发明另一方面实施例还提供了一种亮度补偿装置，所述装置可以包括：
第一获取模块51，用于获取拍摄的显示面板的测试图像，所述测试图像包括颗粒物；
第二获取模块52，用于获取所述测试图像的图像数据；
中值滤波模块53，用于若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；
计算模块54，用于对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。本发明实施例中的亮度补偿装置可以实现图1至图2中的方法实施例中的各个步骤，为避免重复，在此不再赘述。
可选的，所述中值滤波模块53包括：
确定单元，用于在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
滤波单元，用于采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
可选的，所述装置还包括：
颗粒物采样模块，用于对颗粒物进行采样，获取颗粒物的尺寸数据。
可选的，所述装置还包括：
参数确定模块，用于根据预先得到的颗粒物的尺寸数据，确定中值滤波处理中选用的中值滤波器的阈值和邻域的尺寸。
可选的，所述装置还包括：
采样模块，用于对颗粒物进行采样，获取颗粒物的尺寸数据。
可选的，所述中值滤波器的阈值为颗粒物区域外的显示区域的图像数据的平均值的50％～70％。
可选的，所述中值滤波器的邻域的尺寸大于等于颗粒物的平均尺寸。
可选的，所述中值滤波器的邻域的尺寸小于等于颗粒物的平均尺寸的两倍。
根据本发明实施例的亮度补偿装置，利用中值滤波器对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，可以有效解决因颗粒物导致误补偿的问题，从而提升产线生产良率。
本发明又一方面实施例还提供了一种显示器件，所述显示器件包括上述任一实施例中所述的亮度补偿装置。由于上述实施例中红的亮度补偿装置具有上述有益效果，本发明实施例中的显示器件也对应具有上述有益效果，在此不再赘述。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种亮度补偿方法，其特征在于，包括：
获取拍摄的显示面板的测试图像；
获取所述测试图像的图像数据；
若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；
对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。
2.根据权利要求1所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，包括：
在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
3.根据权利要求2所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
根据预先得到的颗粒物的尺寸数据，确定中值滤波处理中选用的中值滤波器的阈值和邻域的尺寸。
4.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
对颗粒物进行采样，获取颗粒物的尺寸数据。
5.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述中值滤波器的阈值为颗粒物区域外的显示区域的图像数据的平均值的50％～70％。
6.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述中值滤波器的邻域的尺寸大于等于颗粒物的尺寸数据的平均值。
7.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述中值滤波器的邻域的尺寸小于等于颗粒物的尺寸数据的平均值的两倍。
8.一种亮度补偿装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取拍摄的显示面板的测试图像，所述测试图像包括颗粒物；
第二获取模块，用于获取所述测试图像的图像数据；
中值滤波模块，用于若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；
计算模块，用于对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。
9.根据权利要求8所述的亮度补偿装置，其特征在于，所述中值滤波模块包括：
确定单元，用于在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
滤波单元，用于采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。
10.一种显示器件，其特征在于，包括如权利要求8-9中任一项所述的亮度补偿装置。
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