CN105140355A - 基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料及其制作方法 - Google Patents

基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料及其制作方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料及其制作方法。其生长步骤是:1)将m面蓝宝石衬底置于MOCVD反应室中进行热处理;2)在热处理后的衬底上生长厚度为10-200nm的低温成核层;3)在成核层之上生长厚度为0.1-100μm,Si掺杂浓度为4×1017cm-3~4×1019cm-3,C掺杂浓度为2×1017cm-3~2×1019cm-3的高温有源层;4)在有源层之上生长厚度为0.01-10μm,Mg掺杂浓度为1×1017cm-3~3×1019cm-3的高温p型GaN层。本发明工艺简单,成本低,发光效率高,可用于制作半极性(11-22)GaN黄光发光二极管。

Description

基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料及其制作方法
技术领域
本发明涉及一种LED半导体材料,属于微电子技术领域,可用于制作GaN黄光LED产品。
技术背景
Ш-V族氮化物材料为直接带隙,热导率高、电子饱和迁移率高、发光效率高、耐高温和抗辐射,在光电子和微电子领域都取得了巨大的进步。通过调节In的组分,理论上讲,可以实现对可见光波长的全覆盖,在发光器件、微波器件和大功率半导体器件等方面有巨大的前景。
2007年,M.J.Kappers等人提出了在m面蓝宝石衬底上生长10个周期的InGaN/GaN量子阱结构的方案,参见Growthandcharacterisationofsemi-polar(11-22)InGaN/GaNMQWstructures,JournalofCrystalGrowth,300(2007)155–159。该方案InGaN/GaN量子阱结构中存在较大的应力,导致GaN的结晶质量退化,应用于器件中会影响器件的性能,而且量子阱结构的生长工艺复杂,生长效率低,制作成本高。
发明内容
本发明的目的在于针对上述已有技术的不足,提供一种基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料及其制作方法,以简化工艺复杂度,提高生长效率,降低成本,提高LED器件性能。
实现本发明目的技术关键是:采用MOCVD的方法,通过引入C掺杂,使C元素替换N元素形成深能级,提供复合能级,C杂质可以通过C源引入,也可以通过控制工艺利用MOCVD中的C杂质实现。
一.本发明基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料,自上而下分别为p型GaN层,有源层,成核层和m面蓝宝石衬底,其特征在于有源层使用C掺杂和Si掺杂的n型GaN层,以在GaN中引入C的深能级,为发黄光的电子、空穴提供复合平台。
进一步,C掺杂的浓度为2×1017cm-3~2×1019cm-3,Si掺杂的浓度为4×1017cm-3~4×1019cm-3
进一步,p型GaN层的厚度为0.01-10μm。
进一步,n型GaN层的厚度为0.1-100μm。
二.本发明基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料的制作方法,包括如下步骤:
(1)将m面蓝宝石衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,并向反应室通入氢气与氨气的混合气体,对衬底进行热处理,反应室的真空度小于2×10-2Torr,衬底加热温度为920-1250℃,时间为5-10min,反应室压力为20-800Torr;
(2)在m面蓝宝石衬底上生长厚度为8-210nm,温度为530-750℃的低温成核层;
(3)在低温成核层之上生长厚度为0.1-100μm,Si掺杂浓度为4×1017cm-3~4×1019cm-3,C掺杂浓度为2×1017cm-3~2×1019cm-3,温度为900-1200℃的高温n型半极性(11-22)GaN有源层;
(4)在n型GaN有源层之上生长厚度为0.01-10μm,Mg掺杂浓度为1×1017cm-3~3×1019cm-3,温度为900-1200℃的高温p型半极性(11-22)GaN层。
本发明由于采用C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN作为有源层,与现有技术相比具有如下优点:
1.直接利用MOCVD中的Ga源中的C作为C源,降低了生产成本。
2.避免了传统LED结果中的InGaN量子阱生长,简化了工艺步骤,提高了生长效率。
3.避免了InGaN的存在引起材料晶格失配大的问题,提高了材料的质量,从而提高LED器件的性能。
本发明的技术方案和效果可通过以下附图和实施例进一步说明。
附图说明
图1是本发明基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料结构示意图;
图2为本发明制作基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料的流程图。
具体实施方式
参照图1,本发明的黄光LED材料设有四层,其中第一层为衬底,采用m面蓝宝石;第二层为成核层,采用厚度为8-210nm的AlN;第三层为有源层,采用厚度为0.1-100μm的C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN层,其中C掺杂的浓度为2×1017cm-3~2×1019cm-3,Si掺杂的浓度为4×1017cm-3~4×1019cm-3,由于在GaN中引入了C掺杂,因此在GaN中会形成深能级,为发黄光的电子、空穴提供了复合的平台;第四层为p型GaN层,采用厚度为0.01-10μm,掺杂浓度为1×1017cm-3~3×1019cm-3的Mg掺杂半极性(11-22)GaN。
参照图2,本发明制作基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料的方法,给出如下三种实施例:
实施例1,制作C掺杂浓度为2×1018cm-3、Si掺杂浓度为4×1018cm-3的n型半极性(11-22)GaN层有源层的LED材料。
步骤1,对衬底基片进行热处理。
将m面蓝宝石衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,并向反应室通入氢气与氨气的混合气体,在反应室的真空度小于2×10-2Torr,衬底加热温度为1150℃,时间为8min,反应室压力为40Torr的条件下,对衬底基片进行热处理。
步骤2,生长AlN成核层。
将热处理后的衬底基片温度降低为650℃,向反应室通入流量为5μmol/min的铝源、流量为1200sccm氢气和流量为2400sccm的氨气,在保持压力为40Torr的条件下生长厚度为20nm的低温AlN成核层。
步骤3,生长C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN有源层。
向反应室通入流量为15μmol/min的镓源、流量为1200sccm氢气和流量为3000sccm的氨气,保持反应室压力为40Torr,温度为1150℃,取C掺杂浓度为2×1018cm-3,Si掺杂浓度为4×1018cm-3,在低温AlN成核层上生长厚度为3μm的n型半极性(11-22)GaN有源层。
步骤4,生长p型半极性(11-22)GaN层。
将已经生长了C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN层基片温度保持在1050℃,向反应室通入流量为15μmol/min的镓源、流量为1200sccm氢气,流量为3000sccm的氨气和流量为8μmol/min的Mg源,保持压力为40Torr,温度为1050℃,生长厚度为200nm的p型半极性(11-22)GaN层,形成半极性(11-22)面GaN材料,并从MOCVD反应室中取出。
实施例2,制作C掺杂浓度为2×1017cm-3、Si掺杂浓度为4×1017cm-3的n型半极性(11-22)GaN层有源层的LED材料。
本实例的实现步骤如下:
步骤A,将m面蓝宝石衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,并向反应室通入氢气与氨气的混合气体,在反应室的真空度小于2×10-2Torr,衬底加热温度为920℃,时间为5min,反应室压力为20Torr的条件下,对衬底基片进行热处理。
步骤B,将热处理后的衬底基片温度降低为530℃,向反应室通入流量为3μmol/min的铝源、流量为1000sccm氢气和流量为2000sccm的氨气,在保持压力为20Torr的条件下生长厚度为8nm的低温AlN成核层。
步骤C,向反应室通入流量为3μmol/min的镓源、流量为1000sccm氢气和流量为2000sccm的氨气,保持压力为20Torr,温度为900℃,取C掺杂浓度为2×1017cm-3、Si掺杂浓度为4×1017cm-3,在低温AlN成核层上生长厚度为100nm的n型半极性(11-22)GaN有源层。
步骤D,将已经生长了C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN层基片温度保持在900℃,向反应室通入流量为3μmol/min的镓源、流量为1000sccm氢气和流量为2000sccm的氨气,3μmol/min的Mg源,保持压力为20Torr,生长厚度为10nm的p型半极性(11-22)GaN层,形成半极性(11-22)面GaN材料,并从MOCVD反应室中取出。
实施例3,制作C掺杂浓度为2×1019cm-3、Si掺杂浓度为4×1019cm-3的n型半极性(11-22)GaN有源层的LED材料。
本实例的实现步骤如下:
步骤一,对衬底基片进行热处理。
将m面蓝宝石衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,并向反应室通入氢气与氨气的混合气体,进行热处理,其工艺条件如下:
反应室的真空度:小于2×10-2Torr;
衬底加热温度:1250℃;
氮化时间:10min;
反应室压力:800Torr。
步骤二,生长AlN成核层。
在热处理后的衬底基片上生长厚度为210nm的低温AlN成核层,其工艺条件如下:
反应室温度:750℃;
反应室压力:800Torr;
铝源流量:50μmol/min;
氢气流量:10000sccm;
氨气流量:20000sccm。
步骤三,生长C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN有源层。
在低温AlN成核层上生长厚度为100μm的n型半极性(11-22)GaN有源层,其工艺条件如下:
反应室温度:1200℃;
反应室压力:800Torr;
镓源流量:50μmol/min;
氢气流量:10000sccm;
氨气流量:20000sccm;
C掺杂浓度:2×1019cm-3
Si掺杂的浓度:4×1019cm-3
步骤四,生长p型半极性(11-22)GaN层。
在C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN有源层上生长厚度为10μm的p型半极性(11-22)GaN层,形成半极性(11-22)GaN材料,其工艺条件为:
基片温度:1200℃;
反应室压力:800Torr;
镓源流量:50μmol/min;
氢气流量:10000sccm;
氨气流量:20000sccm;
Mg源流量:80μmol/min。
步骤五,将形成的半极性(11-22)面GaN材料从MOCVD反应室中取出。
以上实施例仅用于对本发明的说明,不构成对本发明的限制。对于本领域的专业人员来说,在了解本发明内容和原理后,能够在不背离本发明的原理和范围的情况下,根据本发明的方法进行形式和细节上的各种修正和改变,但是这些基于本发明的修正和改变仍受本发明的权利要求保护。

Claims (5)

1.一种基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料,自上而下分别为p型GaN层,有源层,成核层和m面蓝宝石衬底,其特征在于有源区使用C掺杂和Si掺杂的n型半极性(11-22)GaN层,以在GaN中引入C的深能级,为发黄光的电子、空穴提供复合平台。
2.根据权利要求1所述的基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料,其特征在于C掺杂的浓度为2×1017cm-3~2×1019cm-3,Si掺杂的浓度为4×1017cm-3~4×1019cm-3
3.根据权利要求1所述的基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料,其特征在于p型GaN层的厚度为0.01-10μm。
4.根据权利要求1所述的基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料,其特征在于有源层的厚度为0.1-100μm。
5.一种基于m面蓝宝石衬底上半极性(11-22)黄光LED材料的制作方法,包括如下步骤:
(1)将m面蓝宝石衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,向反应室通入氢气与氨气的混合气体,对衬底进行热处理,保持反应室的真空度小于2×10-2Torr,衬底加热温度为920-1250℃,时间为5-10min,反应室压力为20-800Torr;
(2)在m面蓝宝石衬底上生长厚度为10-200nm,温度为530-750℃的低温成核层;
(3)在低温成核层之上生长厚度为0.1-100μm,Si掺杂浓度为4×1017cm-3~4×1019cm-3,C掺杂浓度为2×1017cm-3~2×1019cm-3,温度为900-1200℃的高温n型半极性(11-22)GaN有源层;
(4)在n型半极性(11-22)GaN有源层之上生长厚度为0.01-10μm,Mg掺杂浓度为1×1017cm-3~3×1019cm-3,温度为900-1200℃的高温p型半极性(11-22)GaN层。
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