CN105139824A

CN105139824A - 栅极驱动器及其配置系统和调节配置方法

Info

Publication number: CN105139824A
Application number: CN201510670568.9A
Authority: CN
Inventors: 高贤永; 许益祯; 肖利军; 侯帅; 徐波; 梁利生; 伏思庆; 尚飞; 邱海军
Original assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Chongqing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Chongqing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2015-10-16
Filing date: 2015-10-16
Publication date: 2015-12-09
Anticipated expiration: 2035-10-16
Also published as: EP3364403B1; CN105139824B; EP3364403A1; US10482836B2; EP3364403A4; WO2017063500A1; US20170301305A1

Abstract

本发明提供一种栅极驱动器及其配置系统和调节配置方法，属于薄膜晶体管（TFT）显示面板的TFT阵列驱动技术领域。本发明的栅极驱动器用于为TFT阵列基板提供栅极驱动信号，其至少包括推力检测模块和推力调整模块，本发明的配置系统用于调节配置多个所述栅极驱动器的推力，其包括多个所述栅极驱动器外部设置的控制器。本发明的栅极驱动器的推力变得可调节配置，通过本发明的配置系统调节配置后的多个栅极驱动器分别对应驱动的不同TFT阵列区域所接收的驱动控制信号的推力的均衡性好，可以避免出现分屏现象。

Description

栅极驱动器及其配置系统和调节配置方法

技术领域

本发明属于薄膜晶体管（TFT）显示面板的TFT阵列驱动技术领域，涉及用于为TFT阵列基板提供栅极驱动信号的栅极驱动器，尤其涉及其输出的栅极驱动信号的推力可调整输出的栅极驱动器、用于配置多个栅极驱动器以使它们之间的推力均衡的配置系统以及调节配置方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）中，需要使用栅极驱动器来驱动控制TFT阵列。随着TFT-LCD的解析度越来越高，需要使用的栅极驱动器的个数也增加；不同的栅极驱动器驱动控制显示面板的不同TFT阵列区域，同样，同一栅极驱动器也具有不同的扇出端以驱动该栅极驱动器对应驱动的TFT阵列区域的不同扇出子区域。

对于不同的栅极驱动器，其被布置在显示面板的不同位置，不同位置的栅极驱动器的输出端至其对应驱动控制的TFT阵列区域的布线或走线（例如栅极驱动器与TFT阵列区域之间的在玻璃基板上的布线）是存在差异的，例如长度不同导致阻抗不同，也就是说，不同栅极驱动器的外部布线差异，导致最终反映在TFT阵列区域上的驱动控制信号是存在差异的；这种差异主要体现在电压脉冲信号形式的驱动控制信号的上升时间不同，也即从低电平（VGL）上升到高电平（VGH）的时间不同。栅极驱动信号或其对应的TFT阵列区域的驱动控制信号中，从VGL上升到VGH的时间差异会主要地影响其对应的推力（或称为“驱动能力”）。

示例说明，图1所示为现有技术的两个栅极驱动器的栅极驱动信号输出至相应的TFT阵列区域的驱动控制信号的比对示意图。两个栅极驱动器分别驱动不同的TFT阵列区域，因而它们是被布置在显示面板的不同位置。其中，11为第一个栅极驱动器所输出的栅极驱动信号最终输出至相应TFT阵列区域的驱动控制信号，12为第二个栅极驱动器所输出的栅极驱动信号最终输出至相应TFT阵列区域的驱动控制信号，它们都是电压脉冲信号。由于第二个栅极驱动器至其驱动控制的TFT阵列区域的布线长于第一个栅极驱动器至其驱动控制的TFT阵列区域的布线，由于布线产生的延迟（例如RC（电阻-电容）延迟），会导致电压脉冲信号11和12的上升沿时间明显不同，这样，对于不同的TFT阵列区域来说，其接收到的驱动控制信号的推力是不均衡的。

因此，对于不同的TFT阵列区域来说，反映为接收到的驱动控制信号的推力是不均衡或不一致的，也即从VGL上升到VGH的时间不同；这种不均衡会导致在显示时出现“分屏”现象（例如在显示面板的低温等信赖性测试时会体现）。

当然，对于不同的栅极驱动器之间的自身差异，它们之间输出的栅极驱动信号的推力本身是不同，例如，即使是同一厂商生产的同一型号的芯片，由于半导体制造中的工艺波动等原因，其输出驱动的栅极驱动信号的推力也是存在或多或少的差异的，栅极驱动信号的推力差异如果最终反映在TFT阵列区域最终接收到的驱动控制信号上，也会因推力不均衡而产生以上所述分屏现象。

发明内容

本发明的目的之一在于，提高多个栅极驱动器分别对应驱动的不同TFT阵列区域所接收的驱动控制信号的推力的均衡性。

本发明的目的还一在于，基本消除上述分屏现象。

为实现以上目的或者其他目的，本发明提供以下技术方案。

按照本发明的一方面，提供一种栅极驱动器，用于为薄膜晶体管阵列基板提供栅极驱动信号，其包括：

　　推力检测模块，其至少接收从所述栅极驱动信号采集的反馈信号并至少基于该反馈信号来检测所述栅极驱动信号的推力，进而输出反映栅极驱动信号的推力的检测信号；以及

　　推力调整模块，其包括用于根据外部配置输入的调整指令来调整所述栅极驱动信号的推力；

　　其中，所述调整指令至少基于所述检测信号生成，其中所述推力是指电压脉冲信号形式的栅极驱动信号从低电平到高电平的上升时间。

根据本发明一实施例的栅极驱动器，其中，所述推力检测模块包括：

　　比较器，其配置有输入基准电压信号的第一输入端和输入从所述栅极驱动信号采集的反馈信号的第二输入端，其中，所述比较器将所述反馈信号与所述基准电压信号进行比较判断以确定所述栅极驱动信号是否从低电平上升到所述基准电压；以及

　　计时子模块，其用于计时所述栅极驱动信号从低电平上升到所述基准电压的时间并基于该时间输出所述检测信号。

具体地，所述计时子模块包括计数器，所述计数器以标准时钟为单位对所述栅极驱动信号从低电平上升到所述基准电压的时间进行计数并输出。

具体地，所述推力检测模块包括：

　　基准电压信号提供子模块，其包括串联设置的第一电阻和第二电阻，所述比较子模块的第一输入端电连接在所述第一电阻和第二电阻之间。

具体地，所述第一电阻的第一端接入用来生成所述栅极驱动信号的信号源（VGH’或VGL’）。

根据本发明又一实施例的栅极驱动器，其中，所述推力调整模块包括：

　　推力调节部件，其设置在所述栅极驱动器的推挽输出电路中；以及

　　寄存器，其用于可配置地存储所述调整指令，并且所述调整指令为数字信号；

　　其中，所述推力调节部件被所述寄存器中的调整指令调节控制。

可选地，所述推力调节部件为数字电位器或数字电容器，或者为数字电位器或数字电容器形成的电路。

具体地，所述推挽输出电路包括串联设置的第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管接入用来生成所述高电平的信号源（VGH’），所述第二MOS管接入用来生成所述栅极驱动信号的低电平的信号源（VGL’），并且在所述第一MOS管和第二MOS管之间串联地设置所述推力调节部件；

　　其中，所述反馈信号从所述推挽输出电路上的所述第二MOS管与所述推力调节部件之间采集。

根据本发明还一实施例的栅极驱动器，其中，在所述栅极驱动器的外部对应设置有控制器，所述控制器存储有多个所述栅极驱动器输出的所述检测信号，并将多个所述栅极驱动器分别对应的检测信号进行比较计算以对应不同的所述栅极驱动器分别输出不同的所述调整指令，从而实现不同的栅极驱动器输出的栅极驱动信号被传输至薄膜晶体管阵列基板的相应薄膜晶体管阵列区域的不同驱动控制信号之间的推力相对一致。

在之前所述任一实施例的栅极驱动器中，所述控制器被配置有推力配置规则，并且基于所述配置规则和所述检测信号之间的比较计算结果来输出所述调整指令。

在之前所述任一实施例的栅极驱动器中，根据多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异和/或多个栅极驱动器对应的外部布线条件来设置所述推力配置规则。

优选地，所述检测信号为数字信号。

按照本发明的又一方面，提供一种配置系统，用于调节配置多个上述栅极驱动器的推力，不同的所述栅极驱动器分别用来驱动控制薄膜晶体管阵列基板的不同薄膜晶体管阵列区域，其包括：

　　多个以上所述的栅极驱动器；以及

　　控制器，其用于存储多个所述栅极驱动器输出的所述检测信号，并将多个所述栅极驱动器分别对应的检测信号进行比较计算以对应不同的所述栅极驱动器分别输出不同的所述调整指令，从而实现不同的栅极驱动器输出的栅极驱动信号被传输至相应的薄膜晶体管阵列区域的不同驱动控制信号之间的推力相对一致。

优选地，所述多个栅极驱动器被设置在同一薄膜晶体管阵列基板上。

根据本发明一实施例的配置系统，其中，所述控制器被配置有推力配置规则，并且基于所述配置规则和所述检测信号之间的比较计算结果来输出所述调整指令。

具体地，根据多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异和/或多个栅极驱动器对应的外部布线条件来设置所述推力配置规则。

按照本发明的还一方面，提供一种调节配置多个以上所述的栅极驱动器的推力的方法，其中，

　　存储多个所述栅极驱动器输出的所述检测信号，并将多个所述栅极驱动器分别对应的检测信号进行比较计算以对应不同的所述栅极驱动器分别输出不同的所述调整指令，从而实现不同的栅极驱动器输出的栅极驱动信号被传输至薄膜晶体管阵列基板的相应薄膜晶体管阵列区域的不同驱动控制信号之间的推力相对一致。

优选地，被调节配置后的所述多个栅极驱动器被用来驱动同一薄膜晶体管阵列基板。

优选地，所述检测信号通过所述栅极驱动器的外部引脚输出，并耦接至所述栅极驱动器外部的I2C通信线以传输所述检测信号至所述控制器。

根据本发明一实施例的调节配置方法，其中，所述控制器被配置有推力配置规则，并且基于所述配置规则和所述检测信号之间的比较计算结果来输出所述调整指令。

本发明的栅极驱动器的推力可以被检测并变得可调节设置，因此，通过本发明的配置系统进行调节配置后，多个栅极驱动器分别对应驱动的不同TFT阵列区域所接收的驱动控制信号的推力的均衡性好，可以避免出现分屏现象。

附图说明

从结合附图的以下详细说明中，将会使本发明的上述和其他目的及优点更加完整清楚，其中，相同或相似的要素采用相同的标号表示。

图1是现有技术的两个栅极驱动器的栅极驱动信号输出至相应的TFT阵列区域的驱动控制信号的比对示意图。

图2是按照本发明一实施例的栅极驱动器的模块结构示意图。

图3是图2所示实施例的栅极驱动器提供的用来生成栅极驱动信号的信号源。

图4是本发明一实施例的栅极驱动器输出的栅极驱动信号。

图5是按照本发明一实施例的配置系统的模块结构示意图。

图6是调节配置后的栅极驱动器所输出的栅极驱动信号经过栅极驱动器与TFT阵列区域之间的布线传输后得到的驱动控制信号。

具体实施方式

下面介绍的是本发明的多个可能实施例中的一些，旨在提供对本发明的基本了解，并不旨在确认本发明的关键或决定性的要素或限定所要保护的范围。容易理解，根据本发明的技术方案，在不变更本发明的实质精神下，本领域的一般技术人员可以提出可相互替换的其他实现方式。因此，以下具体实施方式以及附图仅是对本发明的技术方案的示例性说明，而不应当视为本发明的全部或者视为对本发明技术方案的限定或限制。

在本文中，“栅极驱动信号”是指栅极驱动器直接输出的用来驱动TFT阵列区域的信号，其并未经过外部布线或走线传输，“驱动控制信号”是至TFT阵列区域接收到的信号，其由栅极驱动信号经过栅极驱动器与TFT阵列区域之间的布线传输后得到的信号。

在本文中，栅极驱动信号或驱动控制信号的推力是指从低电平VGL到高电平VGH的上升时间，也可以理解为VGH上升速度。

图2所示为按照本发明一实施例的栅极驱动器的模块结构示意图；图3所示为图2所示实施例的栅极驱动器提供的用来生成栅极驱动信号的信号源。在该实施例中，栅极驱动器20示例地可配置地调整其输出的栅极驱动信号的推力。

如图2所示，栅极驱动器20主要地包括推力检测模块210和推力调整模块220。示例地，栅极驱动器20的输出是设置在其推挽输出电路230上，推挽输出电路230可以提供输出端并输出栅极驱动信号的输出信号，推挽输出电路230具体可以由MOS管串联形成，如图2所示示例中，推挽输出电路230包括串联的MOS管231和MOS管232（推挽输出电路230还有其他部件未示出）。从MOS管231，其输入如图3所示的信号源的VGH’；从MOS管232，其输入如图3所示的信号源的VGL’；其中，VGH’电压较高（例如为34V），其用来提供给栅极驱动器20来生成电压脉冲信号形式的栅极驱动信号的高电平VGH；VGL’电压较低（例如为-8V），其用来提供给栅极驱动器20来生成电压脉冲信号形式的栅极驱动信号的低电平VGL。

继续如图2所示，采集端233是设置在推挽输出电路230上，在该实施例中，采集端233是设置在推力调整模块220的数字电位器222与MOS管232之间，从而采集端233采集的栅极驱动器20的输出端的信号，进而反馈信号2331可以反映栅极驱动器20输出的栅极驱动信号的特征；在该实施例中，反馈信号2331可以直接为栅极驱动器20的输出信号，即栅极驱动信号。其中，推力调整模块220是被设置在推挽输出电路230上，尤其地，串联设置有推力调整模块220的作为推力调节部件的数字电位器222，数字电位器222被串联地设置在推挽输出电路230的MOS管231和MOS管232之间。并且，推力调整模块220还包括寄存器221，其可以用来可配置地存储检测信号形式的调整指令，并将该调整指令输出用来调整数字电位器222的阻值，从而，栅极驱动器20输出的栅极驱动信号从VGL到VGH的上升时间变得可调，也推力变得可调。调整指令是从外部输入，从而使得该栅极驱动器20的推力变得可调节配置。

在该实施例中，栅极驱动器20在量产出厂前，每个栅极驱动器20的寄存器221被配置有一相应的调整指令，从而使多个栅极驱动器20输出的多个栅极驱动信号之间的被可操作地配置，直到，多个所述栅极驱动器20驱动的TFT阵列基板在显示工作时（例如在低温等信赖性测试条件下）基本不出现分配现象。

需要说明的是，在其他实施例中，也可以采用数字电容器来替换数字电位器222实现推力调节部件的功能，还可以采用数字电位器或数字电容器形成的电路来实现推力调节部件的功能。

继续如图2所示，采集端233耦接至推力检测模块210的比较器211的输入端211b，从而，反馈信号2331被输入至比较器211；比较器211的另一输入端211a用于输入基准电压信号；在该实施例中，比较子模块还包括基准电压信号提供子模块214，其包括串联设置的电阻212和电阻213，比较器211的输入端211a电连接在电阻212和电阻213之间，从而采集输入基准电压信号。具体地，可以采用如图3所示的VGH’来生成基准电压信号，电阻212的第一端输入VGH’，其第二端串联连接电阻213的第一端，电阻213的第二端接地。电阻212和电阻213的阻值大小可以根据需要获得的基准电压信号大小来设置，在一示例中，基准电压信号的基准电压大小为欲生成的栅极驱动信号的高电平VGH的90%。

比较器211将反馈信号2331与基准电压信号进行比较判断，从而判断作为反馈信号2331的栅极驱动信号是否成功从低电平上升到所述基准电压，在反馈信号2331从低电平上升到基准电压的时刻点，比较器211会输出一个比较输出信号219，比较输出信号219被发送至推力检测模块210中用作计时子模块的计数器240中，计数器240对以标准时钟为单位进行计数，从VGL开始上升的时间点开始计数，直到接收到比较输出信号219的时间点，得到计数结果并输出信号249，输出的计数结果即反映栅极驱动信号的从VGL到VGH的上升时间，即反映其推力，从而，推力检测模块210实现了对栅极驱动器20当前输出的栅极驱动信号的推力的实时检测，信号249即为检测信号。

以图4所示的栅极驱动信号90示例解释以上其推力检测原理。其中，实线所示的电压脉冲信号为栅极驱动信号90，其也为如上所述的反馈信号2331，其中包括低电平VGL和高电平VGH；其中，示出虚线所示的基准电压信号81，其是从如图3所示的VGH’分压获得，比较器211将输入的基准电压信号81和反馈信号2331进行监测比较，计数器240从计时点t0开始以标准时钟为单位进行计数，并且在t1时刻点，即反馈信号2331从低电平VGL上升到基准电压的时刻点，比较器211可以输出比较输出信号219至计数器240，计数器终止计数并清理，从而得到计数结果，该计数结果作为检测信号249输出。因此，可以理解到，检测信号249的计数结果实际上是反映t0至t1的时长，计数器240基本用作计时子模块，其可以计时栅极驱动信号90从VGL上升到基准电压的时间。

计时子模块可以包括用于提供所述标准时钟信号的时钟模块，其具体可以芯片内部标准时钟信号实现。将理解到，标准时钟和基准电压必须尽量保证具有足够的稳定度，以避免引起比较或计数的基准波动，有利于提高计数的准确度，也即有利于提高对推力的检测的精度。

继续如图2所示，栅极驱动器20输出的检测信号249可以为检测信号，其被输入至外部的控制器250，控制器250属于本发明实施例的配置系统（如图5所示）。控制器250具体可以但不限于通过TCON（计数控制寄存器）实现，检测信号249可以通过I2C等通信线路实现传输，检测信号249可以通过栅极驱动器20的外部引脚输出，并耦接至栅极驱动器20外部的I2C通信线以传输检测信号249至控制器250。需要理解是，控制器250可以通过多个通道同时接收多个不同栅极驱动器20的检测信号249并将该检测信号存储，多个不同的检测信号249在控制器250中进行比较计算，根据比较计算结果来对应每个栅极驱动器20输出相应的调整指令259，该调整指令259具体也为数字信号，其然后被输入至寄存器221中并存储，从而基于该调整指令259可以调整数字电位器222的阻值，进而调整该栅极驱动器20的栅极驱动信号的上升时间，也即实现调整其推力。

具体地，栅极驱动器20具体可以通过IC实现，以上至少推力检测模块210和推力调整模块220被集成设置在该IC内部。栅极驱动器20所包括的其它部件，例如为本领域技术人员能够实现且熟悉的，在此不作一一描述。

图5所示为按照本发明一实施例的配置系统的模块结构示意图。在该实施例中，配置系统200用于调节配置多个栅极驱动器20的栅极驱动器的推力，示例地，用来调节配置栅极驱动器201、201至20i的推力，i为大于或等2的整数，栅极驱动器的具体个数不是限制性的；并且，栅极驱动器201、201至20i都是用来驱动同一TFT阵列基板，在实际TFT-LCD产品中，其被设置在不同的位置。

继续如图5所示，配置系统200主要包括控制器250，还包括被调节配置的栅极驱动器201、202至20i；在调节配置过程中，栅极驱动器201、202至20i分别输出的如图2中所示的检测信号249可以被分别存储在控制器250中，从而将多个检测信号249进行比较计算，以实现对不同的栅极驱动器201、202至20i分别输出不同的调整指令，从而实现不同的栅极驱动器201、202至20i输出的栅极驱动信号在分别传输至TFT阵列基板的相应TFT阵列区域时，TFT阵列区域获得的驱动控制信号的推力是允许的误差范围内是相对一致的。这样，实现了不同TFT阵列区域所接收的驱动控制信号的推力的均衡，基于调节配置后的栅极驱动器201、202至20i对同一显示面板上的TFT阵列基板进行驱动时，不会出现分屏现象。

需要说明的是，以上调节配置过程中，可以是在低温等信赖测试条件下进行，栅极驱动器201、202至20i输出的栅极驱动信号90是通过TFT阵列基板上的外部布线输出至相应的TFT阵列区域的，通过判断显示面板的显示效果是否出现分屏现象，可以判断栅极驱动器201、202至20i是否调节配置完好。

以对三个栅极驱动器201、202和203进行调节配置来示例说明。图6所示为节配置后的栅极驱动器所输出的栅极驱动信号经过栅极驱动器与TFT阵列区域之间的布线传输后得到的驱动控制信号。结合图4和图6所示，三个栅极驱动器201、202和203对应的外部布线的长度依次减短，从而对其栅极驱动信号的延迟依次减小；假设三个栅极驱动器201、202和203假如在调节配置前均输出如图4所示的栅极驱动信号90，也即三个栅极驱动器201、202和203输出相应的栅极驱动信号且具有相同的推力；这样，在控制器250中可以配置推力配置规则，基于该推力配置规则，可以使三个栅极驱动器201、202和203的栅极驱动信号的上升时间应该依次变长，从而补偿外部布线对它们的栅极驱动信号的延迟的影响。具体地，该推力配置规则例如可以为要求调节配置后的栅极驱动器201、202和203的检测信号249分别输出为7、8、9（该数值大小反映上升时间）。三个栅极驱动器201、202和203的初始栅极驱动信号90一致的情况下，其分别输出的检测信号249基本相同例如为7（被调节配置前），基于它们的检测信号249和该推力配置规则，进行比较计算，分别输出不同的调整指令259至栅极驱动器201、202和203，调节配置后的栅极驱动器201、202和203分别输出的栅极驱动信号分别变化为90、91、92（如图4所示），基于反馈的栅极驱动信号90、91、92得到的检测信号249分别输出为7、8、9（即上升时间依次变长）；对应地，栅极驱动器201、202和203分别驱动的TFT阵列区域所获得的驱动控制信号分别为90’、91’、92’（如图6所示），在误差允许范围内，可以视为驱动控制信号90’、91’、92’之间的推力是基本均衡的。

以上驱动控制信号90’、91’、92’实现均衡是因为考虑了外部布线对栅极驱动信号90、91、92不同延迟补偿。因此，基于该原理的揭示，本领域技术人员完全可以具体可以至少根据栅极驱动控制器的外部不同布线条件来具体设置以上所述推力配置规则。

以上示例是假设三个栅极驱动器201、202和203输出相应的栅极驱动信号完全相同、但是它们分别对应的外部布线的延迟不同的情况下进行示例说明的。以下进一步示例如果三个栅极驱动器201、202和203输出相应的栅极驱动信号不同、但是它们分别对应的外部布线的延迟相同的情况下如何对栅极驱动器201、202和203进行调节配置。

结合图4和图6所示，假设在调节配置前，栅极驱动器201、202和203输出的栅极驱动信号分别对应为90、91、92（如图4所示），也就是说明它们具有不同的推力，在调节配置前，可以通过推力确定模块210输出相应的检测信号249，检测信号249分别输出为7、8、9（该数值大小反映上升时间）。假设外部布线条件相同的情况下，如果基于该三路栅极驱动信号90、91、92驱动同一显示面板，将很可能会出现分屏现象。考虑到外部布线条件相同的，此时控制器中配置的推力配置规则例如可以为要求调节配置后的栅极驱动器201、202和203的检测信号249分别输出为9、9、9（该数值大小反映上升时间）。基于栅极驱动器201、202和203分别输出的检测信号249和该推力配置规则，进行比较计算，分别输出不同的调整指令259至栅极驱动器201、202和203，调节配置后的栅极驱动器201、202和203分别输出的栅极驱动信号的推力基本相同（在误差允许范围内）；对应地，栅极驱动器201、202和203分别驱动的TFT阵列区域所获得的驱动控制信号分别为90’、91’、92’（如图6所示），在误差允许范围内，可以视为驱动控制信号90’、91’、92’之间的推力是基本均衡的。

需要说明的是，以上栅极驱动器201、202和203输出的栅极驱动信号的推力差异可以是各种原因导致的，例如不同栅极驱动器之间的制造工艺波动导致的推力不均衡。

因此，控制器250中推力配置规则的设置可以根据具体实际情况而主动地设置。例如，如果多个栅极驱动器之间自身推力一致，则根据外部布线条件来具体设置以上所述推力配置规则；如果多个栅极驱动器对应的外部布线条件一致，则根据多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异情况来设置以上所述推力配置规则；当然，将理解，如果多个栅极驱动器之间自身推力存在差异且外部布线条件不一致，则根据多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异和多个栅极驱动器对应的外部布线条件二者结合来设置所述推力配置规则。而对于本领域技术人员来说，根据以上教导或揭示，确定多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异情况以及多个栅极驱动器对应的外部布线条件情况（其安装位置也确定的情况下）是完全能够实现的。因此，不管是基于何种原因导致不同TFT阵列区域所接收的驱动控制信号的推力不均衡，均可以通过以上调节配置过程使驱动控制信号的推力变得均衡，从而易于消除分配现象。

优选地，以上调节配置过程可以在显示面板的量产之前进行，在不考虑栅极驱动器之间自身差异的情况下，在确定相应位置的栅极驱动器的调整指令后，对相应位置的栅极驱动器的寄存器直接配置相应的调整指令即可。

将理解，当据称将部件“连接”或“耦接”到另一个部件时，它可以直接连接或耦接到另一个部件或可以存在中间部件。

以上例子主要说明了本发明的驱动控制器、配置系统以及其调节配置方法。尽管只对其中一些本发明的实施方式进行了描述，但是本领域普通技术人员应当了解，本发明可以在不偏离其主旨与范围内以许多其他的形式实施，例如，采用其他类似寄存器221的存储装置来配置存储相应的调整指令。因此，所展示的例子与实施方式被视为示意性的而非限制性的，在不脱离如所附各权利要求所定义的本发明精神及范围的情况下，本发明可能涵盖各种的修改与替换。

Claims

1.一种栅极驱动器，用于为薄膜晶体管阵列基板提供栅极驱动信号，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的栅极驱动器，其特征在于，所述推力检测模块包括：

3.如权利要求2所述的栅极驱动器，其特征在于，所述计时子模块包括计数器，所述计数器以标准时钟为单位对所述栅极驱动信号从低电平上升到所述基准电压的时间进行计数并输出。

4.如权利要求2或3所述的栅极驱动器，其特征在于，所述推力检测模块包括：

5.如权利要求4所述的栅极驱动器，其特征在于，所述第一电阻的第一端接入用来生成所述栅极驱动信号的信号源。

6.如权利要求1所述的栅极驱动器，其特征在于，所述推力调整模块包括：

7.如权利要求6所述的栅极驱动器，其特征在于，所述推力调节部件为数字电位器或数字电容器，或者为数字电位器或数字电容器形成的电路。

8.如权利要求6所述的栅极驱动器，其特征在于，所述推挽输出电路包括串联设置的第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管接入用来生成所述高电平的信号源（VGH’），所述第二MOS管接入用来生成所述栅极驱动信号的低电平的信号源（VGL’），并且在所述第一MOS管和第二MOS管之间串联地设置所述推力调节部件；

9.如权利要求1所述的栅极驱动器，其特征在于，所述检测信号为数字信号。

10.一种配置系统，用于调节配置多个如权利要求1所述的栅极驱动器的推力，不同的所述栅极驱动器分别用来驱动控制薄膜晶体管阵列基板的不同薄膜晶体管阵列区域，其特征在于，包括：

　　多个如权利要求1至9中任一项所述的栅极驱动器；以及

11.如权利要求10所述的配置系统，其特征在于，所述多个栅极驱动器被设置在同一薄膜晶体管阵列基板上。

12.如权利要求10所述的配置系统，其特征在于，所述控制器被配置有推力配置规则，并且基于所述配置规则和所述检测信号之间的比较计算结果来输出所述调整指令。

13.如权利要求12所述的配置系统，其特征在于，根据多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异和/或多个栅极驱动器对应的外部布线条件来设置所述推力配置规则。

14.如权利要求10所述的配置系统，其特征在于，所述检测信号通过所述栅极驱动器的外部引脚输出，并耦接至所述栅极驱动器外部的I2C通信线以传输所述检测信号至所述控制器。

15.一种调节配置多个如权利要求1至9中任一项所述栅极驱动器的推力的方法，其特征在于，

16.如权利要求15所述的方法，其特征在于，被调节配置后的所述多个栅极驱动器被用来驱动同一薄膜晶体管阵列基板。

17.如权利要求15所述的方法，其特征在于，所述控制器被配置有推力配置规则，并且基于所述配置规则和所述检测信号之间的比较计算结果来输出所述调整指令。

18.如权利要求15所述的方法，其特征在于，根据多个栅极驱动器输出的栅极驱动信号的推力差异和/或多个栅极驱动器对应的外部布线条件来设置所述推力配置规则。