CN105116622B - 配向角度检测装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种配向角度检测装置，所述配向角度检测装置包括标记结构和标准角度对照部，所述标记结构为环状的凸出结构，所述标记结构同轴地套设于配向辊轴的端部，所述标准角度对照部设置于形成有PI层的基板母板的空白区，所述配向辊轴滚动配向时，所述标记结构接触所述空白区并在所述空白区刮出痕迹线，所述痕迹线与所述标准角度对照部对比以确定所述痕迹线的角度值。本发明还提供一种利用配向角度检测装置的配向角度检测方法。

Description

配向角度检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及液晶显示面板技术领域，尤其涉及一种配向角度检测装置及检测方法。
背景技术
随着电子产品朝着轻、薄、小型化快速发展，各种携带式电子产品几乎都以液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)作为显示终端，特别是在摄录放影机、笔记本电脑、台式电脑、智能电视、移动终端或个人数字处理器等产品上，液晶显示器已成为电子产品重要的组成部件。
液晶显示器主要包括液晶面板和背光模组，其中，液晶面板包括对盒成型的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)基板和彩色滤光(Color Filter，CF)基板，以及填充其间的液晶层。
在液晶面板的制作过程中，为了使液晶分子按照一定的取向排列，需要在TFT基板和CF基板的内表面形成配向层。通常配向层的形成方法是，先在基板上均匀涂覆PI(Polyimide)液固化形成PI层，再通过配向辊轴按照所需的液晶取向在PI层制作出配向角度。
新机种液晶面板初次投产或者液晶面板的偏振光扭转角(Twist Angle)规格变更时，无法精确的预知配向角度，需要将基板分为实验批和待出货批两批先后投入生产中，实验批的各制程参数以经验值进行设定而先行投入生产，而待出货批的各制程参数则需要根据实验批的实验结果进行相应的调整再投入生产。
然而，实验批投入生产中，需经过配向制程及ODF(One Drop Fill)制程后，再通过检查机检测实验批的配向角度，以对出货批的各制程参数进行相应的调整再进行生产，实验批从投入生产到检测出配向角度，则需要相当长的时间(至少需要6个小时)，在该段时间内待出货批是不能进行生产的，其结果必然造成产能损失，生产效率的下降。
发明内容
鉴于上述状况，有必要提供一种结构简单、可即时快速检测基板配向角度的检测装置及检测方法，以解决现有技术中的不足。
本发明提供一种配向角度检测装置，所述配向角度检测装置包括标记结构和标准角度对照部，所述标记结构为环状的凸出结构，所述标记结构同轴地套设于配向辊轴的端部，所述标准角度对照部设置于形成有PI层的基板母板的空白区，所述配向辊轴滚动配向时，所述标记结构接触所述空白区并在所述空白区刮出痕迹线，所述痕迹线与所述标准角度对照部对比以确定所述痕迹线的角度值。
进一步地，所述基板母板的所述空白区上开设有凹槽，所述标准角度对照部嵌设于所述凹槽中，所述标准角度对照部不高于所述凹槽的上端面。
进一步地，所述标准角度对照部包括多个不同角度的角度标记，所述角度标记为朝向一定方向的直线，所述角度标记所代表的角度为所述直线与X轴之间的夹角的角度值。
进一步地，多个不同角度的所述角度标记的角度值相差为0.5°。
进一步地，所述配向角度检测装置还包括图像控制器，所述图像控制器设置于所述基板母板的所述空白区上方，所述图像控制器用于捕捉所述痕迹线并与所述标准角度对照部进行对比，而判断所述痕迹线对应的所述角度标记并确定其角度值。
本发明还提供一种利用配向角度检测装置的配向角度检测方法，包括如下步骤：配向辊轴于形成有PI层的基板母板上滚动配向时，标记结构接触所述基板母板的空白区并在所述空白区刮出痕迹线，所述痕迹线与标准角度对照部对比以确定所述痕迹线的角度值，所述痕迹线的角度值即配向角度。
进一步地，图像控制器捕捉所述痕迹线并与所述标准角度对照部进行对比，判断所述痕迹线所对应的角度标记，所述角度标记的角度值即配向角度。
进一步地，通过放大镜及工具尺对所述痕迹线与所述标准角度对照部进行对比以确定所述痕迹线的角度值。
本发明实施例的技术方案带来的有益效果是：上述配向角度检测装置，可在配向辊轴滚动配向的同时于基板母板的空白区形成痕迹线，配向角度检测装置快速准确的得出配向角度，在配向之后即时得出配向角度，而不再需要长时间的等待，避免产能的损失，提升生产效率。
附图说明
图1是本发明的实施例的配向角度检测装置的结构示意图。
图2是图1的局部放大图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例作进一步地详细描述。
图1是本发明的实施例的配向角度检测装置的结构示意图，图2是图1的局部放大图。为描述方便，图1除了配向角度检测装置10还包括形成有PI层的基板母板20和配向辊轴30，请参图1所示，本发明的配向角度检测装置10包括标记结构12、标准角度对照部14、以及图像控制器16。
标记结构12为环状的凸出结构，标记结构12同轴地套设于配向辊轴30的端部，标记结构12采用具有一定硬度的、可刮伤PI层的高分子材料制成，如PVC、PET等，但不限于此。当配向辊轴30于形成有PI层的基板母板20上滚动配向时，标记结构12接触基板母板20的空白区21并在空白区21刮出痕迹线122，该痕迹线122与配向辊轴30垂直且与配向辊轴30滚动的方向相同。
在形成有PI层的基板母板20的空白区21上开设有凹槽22，标准角度对照部14嵌设于凹槽22中，且标准角度对照部14不高于凹槽22的上端面，避免标准角度对照部14与配向辊轴30发生触碰。标准角度对照部14包括多个不同角度的角度标记142，角度标记142为朝向一定方向的直线143，角度标记142所代表的角度为该直线143与X轴之间的夹角的角度值。在本实施例中，该多个不同角度的角度标记142的角度值相差为0.5°，如多个不同角度的角度标记142分别为43.5°、44°、44.5°、45°、45.5°、46°、46.5°等，但不限于此。角度标记142用于与痕迹线122进行对比以确定痕迹线122与哪个角度标记142的直线143方向相一致，进而确定痕迹线122对应角度标记142的具体角度值。
配向角度等于痕迹线122的角度值，液晶面板的偏振光扭转角是经过TFT基板的配向层和CF基板的配向层等双配向层，该扭转角等于二倍的配向角度的角度值。
图像控制器16设置于基板母板20的空白区21的上方，图像控制器16用于捕捉痕迹线122并与标准角度对照部14进行对比，而判断痕迹线122所对应的角度标记142并确定角度值，即配向角度。也就是说，图像控制器16可自动对痕迹线122进行捕捉和对比判断来确认配向角度，避免通过人工来对比判断。
还可以理解，可以不采用图像控制器16进行自动判断痕迹线122以确认配向角度的角度值，而是通过放大镜及工具尺等进行人工判断。
参见图1和图2所示，上述实施例中的配向角度检测装置10的检测方法如下：
当配向辊轴30于形成有PI层的基板母板20上滚动配向时，标记结构12接触基板母板20的空白区21并在空白区21刮出痕迹线122，图像控制器16捕捉痕迹线122，并与标准角度对照部14进行对比，而判断痕迹线122所对应的角度标记142，对应的角度标记142的角度值即配向角度。可以理解，也可通过借助放大镜及工具尺来进行人工判断而替代图像控制器16。
本发明实施例的技术方案带来的有益效果是：上述配向角度检测装置10，可在配向辊轴30滚动配向的同时于基板母板20的空白区21形成痕迹线122，配向角度检测装置10快速准确的得出配向角度，在配向之后即时得出配向角度，而不再需要长时间的等待，避免产能的损失，提升生产效率。
在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。
在本文中，所涉及的前、后、上、下等方位词是以附图中零部件位于图中以及零部件相互之间的位置来定义的，只是为了表达技术方案的清楚及方便。应当理解，所述方位词的使用不应限制本申请请求保护的范围。
在不冲突的情况下，本文中上述实施例及实施例中的特征可以相互结合。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种配向角度检测装置(10)，其特征在于：所述配向角度检测装置(10)包括标记结构(12)和标准角度对照部(14)，所述标记结构(12)为环状的凸出结构，所述标记结构(12)同轴地套设于配向辊轴(30)的端部，所述标准角度对照部(14)设置于形成有PI层的基板母板(20)的空白区(21)，所述配向辊轴(30)滚动配向时，所述标记结构(12)接触所述空白区(21)并在所述空白区(21)刮出痕迹线(122)，所述痕迹线(122)与所述标准角度对照部(14)对比以确定所述痕迹线(122)的角度值。
2.如权利要求1所述的配向角度检测装置(10)，其特征在于：所述基板母板(20)的所述空白区(21)上开设有凹槽(22)，所述标准角度对照部(14)嵌设于所述凹槽(22)中，所述标准角度对照部(14)不高于所述凹槽(22)的上端面。
3.如权利要求1所述的配向角度检测装置(10)，其特征在于：所述标准角度对照部(14)包括多个不同角度的角度标记(142)，所述角度标记(142)为朝向一定方向的直线(143)，所述角度标记(142)所代表的角度为所述直线(143)与X轴之间的夹角的角度值。
4.如权利要求3所述的配向角度检测装置(10)，其特征在于：多个不同角度的所述角度标记(142)的角度值相差为0.5°。
5.如权利要求3所述的配向角度检测装置(10)，其特征在于：所述配向角度检测装置(10)还包括图像控制器(16)，所述图像控制器(16)设置于所述基板母板(20)的所述空白区(21)上方，所述图像控制器(16)用于捕捉所述痕迹线(122)并与所述标准角度对照部(14)进行对比，而判断所述痕迹线(122)对应的所述角度标记(142)并确定其角度值。
6.一种利用配向角度检测装置(10)的配向角度检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
配向辊轴(30)于形成有PI层的基板母板(20)上滚动配向时，标记结构(12)接触所述基板母板(20)的空白区(21)并在所述空白区(21)刮出痕迹线(122)，所述痕迹线(122)与标准角度对照部(14)对比以确定所述痕迹线(122)的角度值，所述痕迹线(122)的角度值即配向角度，所述标记结构(12)为环状的凸出结构，所述标记结构(12)同轴地套设于配向辊轴(30)的端部，所述标准角度对照部(14)设置于所述基板母板(20)的空白区(21)。
7.如权利要求6所述的配向角度检测方法，其特征在于：图像控制器(16)捕捉所述痕迹线(122)并与所述标准角度对照部(14)进行对比，判断所述痕迹线(122)所对应的角度标记(142)，所述角度标记(142)的角度值即配向角度。
8.如权利要求6所述的配向角度检测方法，其特征在于：通过放大镜及工具尺对所述痕迹线(122)与所述标准角度对照部(14)进行对比以确定所述痕迹线(122)的角度值。
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