CN105102923B - 用于借助计算机层析x射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备 - Google Patents

用于借助计算机层析x射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备 Download PDF

Info

Publication number
CN105102923B
CN105102923B CN201480005933.8A CN201480005933A CN105102923B CN 105102923 B CN105102923 B CN 105102923B CN 201480005933 A CN201480005933 A CN 201480005933A CN 105102923 B CN105102923 B CN 105102923B
Authority
CN
China
Prior art keywords
sensor
measurement point
computer tomography
sensing device
tomography art
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201480005933.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105102923A (zh
Inventor
R.克里斯托弗
I.施密特
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Werth Messtechnik GmbH
Original Assignee
Werth Messtechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Werth Messtechnik GmbH filed Critical Werth Messtechnik GmbH
Publication of CN105102923A publication Critical patent/CN105102923A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105102923B publication Critical patent/CN105102923B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • G01B15/045Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/419Imaging computed tomograph

Abstract

本发明涉及一种用于至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置例如在材料过渡的区域中生成表面测量点。为了利用任意的额定几何形状、特别是在没必要存在CAD模型的情况下来选择为了确定几何形状特征而要使用的表面测量点,提出:为了确定几何形状特征使用表面测量点,所述表面测量点基于可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征,并且从所分配的表面测量点确定几何形状特征。

Description

用于借助计算机层析X射线摄影术确定结构的几何形状的方 法和设备
技术领域
本发明涉及一种用于借助计算机层析X射线摄影术确定物体、如工件或工具的结构的几何形状的方法和设备。
背景技术
在坐标测量技术中,利用计算机层析X射线摄影术掌握工件的三维研究,具有以下目标:在两个材料之间的界面上、例如在表面、即工件和空气之间的过渡上确定测量点的位置。对此,要测量的工件被测量辐射穿透,其中测量辐射的衰减根据被透射的长度和被透射的材料而出现。在工件后边出射的辐射被辐射探测器检测。该辐射探测器大多平面地来实施,以便同时检测工件的尽可能大的区域。从在旋转台(机械的旋转轴)上布置的工件的几百或几千旋转位置中所拍摄的透视图像中,借助数学的重建方法首先获得体积信息,所述体积信息包含工件的局部衰减信息。从这些信息中,随后大多借助阈值过程算出测量点。
为了调节也被称为机械旋转轴的旋转台的旋转位置,该旋转台由固定的和可旋转的部分组成。只要涉及机械旋转轴的旋转或旋转位置,下面就总是意指可旋转的部分。可旋转的部分在此围绕着下面简称为“旋转轴”的数学轴来旋转。该旋转轴、即例如一个点在空间中的定向、即方向和地点也被称为旋转轴的地点。只要谈及机械旋转轴的方向,也就因此意指(数学)旋转轴的方向。而空间中的以下位置也被称为机械旋转轴的位置,即在所述位置处布置有整个机械旋转轴、即固定的和可旋转的部分。如果机械旋转轴的位置改变,例如在三个旁侧的、例如相互成直角的方向x、y和z之一上改变,那么(数学)旋转轴的地点也必然变化,然而仅仅在旋转轴平行位移的情况下其定向因此不变化。
由于轻易的可透射性和更可能小的精确性要求,利用计算机层析X射线摄影术大多测量塑料件或轻金属件。然而,如果应该测量钢件、如柴油或汽油发动机的喷油嘴,那么由于在钢中较强出现的散射发展和其他的效应而增多地出现认为伤害进而测量误差。此外,这样的部件、诸如喷油孔的特征大多具有很小的几微米范围内的公差。因此必须采取特别的措施,以便达到高的精确性。对此,经常附加地通过测量标准部件来确定或校准额定尺寸或额定几何形状。
发明内容
本发明的任务是,避免现有技术的缺点,特别是在测量能够困难透射的工件时实现高的精确性。另外的任务是,保证快速并且精确的批量测量。
因为利用计算机层析X射线摄影术产生大量的表面点,所述表面点大多分布地位于工件的大的区域上进而覆盖多个特征或不同特征之间的区域,所以特别重要的是,分别检测与特征相关联的测量点。如果不属于特征的相邻点为了确定几何元素被共同考虑,那么此外得出测量偏差。
在WO2008/128978 A2中所描述的方法以关键词计算机辅助设计补丁(CAD-Patches)提供用于该任务的初步的并且十分特别的解决方案。在此选择用于确定特征的测量点,所述测量点能够与工件的CAD元素相关联。然而,为此首先需要调整CAD模型。此外,用于多个工件、例如用于喷油嘴的相应的3D模型不总是存在。对于所述多个工件大多仅存在2D图纸或表格,从所述2D图纸或表格中根据本发明推导出所谓的参数集或参数文件,例如具有喷射孔的角位置和直径变化,即仅针对工件的细节。
因此本发明的任务也是,利用任意的额定几何形状、特别是在CAD模型没必要存在的情况下来选择为了确定几何形状特征要使用的表面测量点。
这通过以下方式解决本发明的一个方面,即选择表面点,所述表面点根据可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征,特别是位于距额定几何形状最大可预先给定的间距之内,其中优选地借助额定几何形状的方向信息、即表面向量来确定内侧或外侧并且这被用于选择表面点。
可预先给定的规则在此由操作者定义。操作者在此例如选择,应该使用哪种类型的几何元素、即例如圆柱或平面或球等,以便确定要确定的几何形状特征的额定几何形状。
同样,操作者或者通过输入用于几何元素的相应的参数或者必要时借助计算机程序来确定额定几何形状在空间中的地点和定向。
根据本发明,于是使用额定几何形状,以便确定到表面点的间距。在此,为每个表面点例如确定到额定几何形状的最小的垂直的间距。在考虑针对该间距的通过操作者预先给定的最大值的情况下,该最大值例如为100μm、优选地为50μm,此后为了确定几何形状特征仅选择以下表面点,所述表面点的间距小于最大值。最大值由操作者作为关于要测量的特征的图纸公差的经验值来确定。
因此本发明所基于的任务基本上通过一种用于至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体、如工件或工具上的结构的几何形状的方法来解决,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过所述计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡的区域中通过以下方式生成表面测量点,即为了确定几何形状特征使用以下表面测量点,所述表面测量点基于可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征。
特别有意义的是喷油嘴的测量,因为针对所述喷油嘴经常不存在CAD模型并且此外到大多部分旋转对称的构型的调整不是明确可以的。因此,本发明的独立的任务是喷油嘴、特别是其喷射孔的测量。在此,例如各个喷射孔的仰角、方位角或空间中的地点、直径、直径变化或粗糙度被确定。根据本发明,所述工件的测量结果也可以利用其他的传感器、诸如光学的、触觉的或触觉光学的传感器来确定,如其在坐标测量技术的领域上已知的那样。不同传感器的测量结果也被组合。
在一种独特创造性的构思中,因此在至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置的情况下进行物体、如工件或工具上的结构的几何形状的确定,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡的区域中通过以下方式生成表面测量点,即一个或多个相互倾斜地位于空间中的特征、如钻孔被测量,优选地关于物体的对称轴来测量。
空间中的倾斜在此意味着,特征的定向、例如圆柱的圆柱轴、即空间中可分配给特征的方向是不同的。这例如在喷油嘴的圆柱形或近似圆柱形的喷射孔时是该情况。
为了描绘额定几何形状,该额定几何形状必须由几何基础元素构成或组成。这例如是直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段。由所述基础元素或组合的基础元素可以随后产生一个或多个所谓的CAD元素,所述CAD元素具有相同的数据格式、如CAD模型,由此可以使用存在的基于CAD数据的测量程序。但是,所述CAD元素不是事先已知的、如例如从工件的3D模型中推导出的CAD模型。在此所指的CAD元素是由实际测量的测量点例如通过几何补偿元素的计算或最佳拟合调整、或通过输入参数、例如由操作者通过从2D图纸或表格、所谓的参数集中读数而得到。所述参数集例如为了定义喷射孔几何形状或一个或多个喷射孔的地点由三个空间坐标(x,y,z)和至少一个角位置(phi,theta)或轴位置(dx,dy,dz)或者由平面(x,y,z作为点信息并且dx,dy,dz作为平面法向量)并且必要时由其他在空间中定义的并且优选地在其延展上受限的几何元素组成。利用所述额定数据、如角位置、位置和直径或直径变化于是也产生所谓的手动元素。
CAD元素或手动元素定义额定几何形状或所述额定几何形状的一部分。不需要规定常规的CAD模型,本发明的要强调的特征与现有技术相反。
额定几何形状的另一个重要的方面是在内侧和外侧之间的区分。这是必需的,因为几何基础元素仅确定空间上定义的区域的包络。因此圆柱元素例如可以是实心的圆柱,但是也可以是钻孔。因此,额定几何形状通过添加方向向量、如表面向量才完全被定义。因此能够实现,区分内部和外部并且与此相应地与额定几何形状的表面点相关联。
也可以实行迭代的方式以用于确定整个当前测量点的属于特征的测量点。在此,额定几何形状首先粗略地被定义。这意味着,操作者基于其原有知识通过当前的特征来确定几何元素类型和例如当前的定向和大小、例如圆柱的直径,该当前的特征例如具有圆柱形状、圆锥形状和平面形状。在此,辅助工具可供操作者使用。例如可以通过操作者来选择能够肯定地被分配给有关特征的各个点,以便借助计算机程序的辅助计算补偿元素。该补偿元素于是可以被用作粗略定义的额定几何形状。操作者也可以在工件的已知的、例如校准的地点的情况下使用由关于工件的2D图纸或表格式地当前的信息组成的额定数据,以便手动地产生额定几何元素。校准在此包括例如在坐标测量设备中的工件的地点关于传感器的确定。对此,工件大多包含明确可分配的几何形状特征。在至少部分旋转对称的喷油嘴的情况下,设置标记、例如激光标记线或类似的或大多外部的凹槽或偏心的钻孔,以便能够在夹紧设备中确定定向或旋转地点。操作者此外按照相邻的特征、例如通道钻孔中的限制圆柱的平面定向。
即使不利用所有属于相邻特征的测量点来计算,所述相邻特征也能够足够准确地被计算,以便确定实际要测量的特征的限制。该要测量的特征因此例如被削减。几何元素的交集的形成也可能是有意义的,以便确定粗略确定的额定几何形状或粗略确定的几何元素。因此圆柱元素可以通过与圆锥元素的交集形成而在其长度上被限制到圆柱片段上。在下个步骤中,借助粗略确定的几何元素从测量数据中选择暂时的表面点并且由所述表面点计算大多与粗略确定的几何元素相同类型的几何补偿元素。该几何补偿元素还是不准确的,因为不是所有并且也不仅仅只有被分配给特征的测量点被选择。但是,该补偿元素的位置、定向和大小现在比事先粗略确定的几何元素更准确。所述参数现在被用于表面点的重新选择。实际上,对此事先粗略确定的几何元素被适配于平衡元素,即例如在其位置上位移并且定向和大小、例如圆柱的直径相应地被改变。这是有意义的,因为手动粗略确定的几何元素如已经提及地已经能够被修改、例如削减。由通过重新选择所选择的表面点计算准确的测量结果、例如代替几何元素或补偿元素的形状偏差或直径。该过程也可以多次地重复,更准确确定的几何元素因此重新被用于选择,等等。
为了测量点选择所需的额定几何形状的定义的另一种可能性在于使用另外的传感器。所述另外的传感器的测量点、例如一些少量的在圆柱之内测量的点可以被用于确定补偿元素,该补偿元素定义额定几何形状。被用于切割和截面形成的特征也可以利用另外的传感器测量。基础前提是,所使用的传感器在相同的坐标系中测量。这典型地通过传感器的校准来实现。相对于工件位置的校准,该过程用于确定由多个传感器产生的测量点相互间的位置,特别是在考虑传感器的相应的工作间距的情况下通过确定传感器相互间的位移和定向。替代地,两个传感器的测量点也可以通过经由交错地到相同坐标系中的调整的事后的操纵来转化。然而,这仅在工件上存在合适的几何形状时是可以的。
另外的传感器典型地与计算机层析X射线摄影术传感器共同地布置在坐标测量设备中或构成该坐标测量设备。
因此也得出以下可能性,针对利用两个传感器的测量通过以下方式应用相同的测量策略,例如精确地来自相同区域的测量点被用于确定特征。在此,另外的传感器的测量点可以如已经描述的那样被用于定义额定几何形状。额定几何形状于是被限制到以下区域上,在所述区域中测量点利用另外的传感器来确定。示例地,利用触觉或触觉光学传感器例如通过扫描仅仅测量圆柱的四个母线上的点。由分别相对的母线来计算补偿平面,所述补偿平面用作额定几何形状。如果现在利用计算机层析X射线摄影术传感器测量的表面点的集合与所述平面相交,那么选择以下点,所述点被用于分析、即用于测量圆柱。
如此选择的点因此位于相同的区域中。所述同样的点结构能够实现另一种可能性,即使用更准确的另外的传感器的测量结果来修正计算机层析X射线摄影术测量结果。在此,例如仅修正以下测量点,所述测量点在相同的区域中利用两个或更多个传感器来测量、即空间上相互关联。但是也可以修正以下测量点,所述测量点位于利用另外的传感器产生的修正测量点的可预先给定的周围中。修正于是根据在WO 2008128978 A2中所描述的方法进行。由此可以改进测量结果的精确性。特别是在批量测量相同的部件时,利用一个或多个另外的传感器的修正测量必须仅一次地在标准部件上确定并且能够之后被用于修正批量的另外的部件的测量结果,所述批量的另外的部件仅需要利用计算机层析X射线摄影术传感器快速地测量。
对于高精确性的其他前提是,特征在计算机层析X射线摄影术传感器的测量射线中的适应的位置中来布置并且对齐。对此,大多设定最大可能的成像比例。如果特征、诸如喷油嘴的喷射孔尽可能地靠近辐射源地来布置,那么这是该情况,其中尽管如此还在所有的旋转位置中完全地成像到探测器上。
除了位置,旋转地点也起重要作用,特别是当在该地点中多个相同的工件依次被测量或工件利用另外的传感器来测量。因此旋转地点用作对齐当前的坐标系的基础并且也必须在批量测量中可复制地被调节。在此,工件的要测量的区域、例如喷油嘴的喷射孔因此被置于所定义的地点中。这例如通过将工件施加在机械旋转轴的可旋转的部分上的夹紧设备中来进行,该夹紧设备例如包含配合件,以便将工件可复制地布置在相同的位置和地点上。根据本发明,在机械旋转轴的可旋转的部分上附加地安装对齐元件。所述对齐元件例如由一个或两个圆柱销组成,所述圆柱销平行于旋转轴的方向伸展。在例如销的两个圆柱轴之间的垂直的连接线例如形成一个方向,该方向可以被偏转到预先定义的轴方向上、例如坐标测量设备的y轴的轴方向上。但是也可以利用单独的圆柱销进行对齐。对此,例如确定一个圆柱销和用于固定工件的另一个圆柱形的元件、例如圆柱形的配合销或用于工件容纳的圆柱形的开口的圆柱轴之间的垂直的连接线,该另一个圆柱形的元件同样平行于旋转轴的方向伸展或在该情况下尽可能与旋转轴的方向一致地伸展。该连接线又可以偏转到y轴上,但是也可以偏转到与y轴和旋转轴的例如在x方向上伸展的方向垂直伸展的轴、即z轴上。
为了定义或为了平衡坐标系,对齐元件此外也可以利用另外的传感器来测量。为了能够实现至少部分旋转对称的工件、如喷油嘴的可重复相同的夹紧或为了明确地识别旋转地点,这样的工件大多包含明确可分配的几何形状特征、如标记、例如结构标记线或类似的或大多在外部区域中的凹槽或偏心的钻孔。由此确定在夹紧设备中的定向或旋转地点并且可以确定与通过对齐元件定义的轴的关系。由此,工件根据其标记可以总是被偏转到相同的旋转地点中或用于坐标转换的角度偏差被用到统一的坐标系中。旋转地点可以在起动计算机层析X射线摄影术测量之前统一地通过以下方式被调节,即总是将对齐元件或工件上的标记置于相同的旋转地点、所谓的起动旋转地点中。对此,事先可以利用计算机层析X射线摄影术传感器和/或另外的传感器进行测量,也称为预测量。在正确位置或旋转地点中的布置或旋转地点针对适配坐标系的考虑例如可以在批量测量中自动地、例如在CNC进程之内进行。如果在工件上不存在能够利用计算机层析X射线摄影术检测的标记、如削平或没有激光标记或没有用于检测激光标记的另外的传感器,那么大多在工件上、诸如在喷油嘴中施加两个附加的偏心的内部钻孔。在该情况下,对齐元件用作工件的固定机构。所述对齐元件与旋转轴偏心地放置,使得圆柱形的工件被布置在旋转轴中心。由此,能够可重复相同地调节工件的旋转地点并且工件坐标系是已知的。
对于准确的测量的另一个前提是,准确地了解精确的以下位置上的成像比例,要测量的区域被布置在该位置中。对此,根据本发明为了确定成像比例所使用的校准体、例如校准球准确地在该位置上布置并且确定成像比例,优选地通过将校准的直径与利用计算机层析X射线摄影术传感器确定的直径进行比较。
根据本发明在测量喷油嘴时采取另外的措施以用于利用计算机层析X射线摄影术传感器实现优化的测量结果。所述措施是人工修正、特别是射线硬化的修正,使用小于大约10μm的辐射源的焦点直径,在辐射源之前布置优选地由金构成的并且具有大约0.1mm厚度的射线滤波器,X光辐射源的电压被调节到大约190kV至200kV上,并且在旋转机械旋转轴期间利用计算机层析X射线摄影术传感器进行测量。根据本发明采取所述措施中的一个或多个。
为了解决本发明所基于的问题,此外基本提出一种设备,该设备用于确定工件或工具上的结构的几何形状至少由计算机层析X射线摄影术传感装置组成,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡区域中能够生成表面测量点,其中在机械旋转轴的可旋转的部分上固定有夹紧设备,该夹紧设备包含用于固定工件、如喷油嘴的机构和用于固定对齐元件的机构,其中对齐元件能够被计算机层析X射线摄影术传感装置、但是优选地也能够被另外的传感器检测。
大多将工件套到圆柱形的配合销上或在卡盘中夹紧、即在内部区域处或在外部区域处被容纳。由此实现可复制的地点和定向和必要时实现定中心。在喷油嘴的情况下,喷嘴的中心的内圆柱被套到大多中心地布置在机械旋转轴上的配合销上。但是也可以通过外圆柱插入到圆柱形的开口中。此外,为了识别旋转地点,工件大多包含标记、如激光标记线或大多在外部区域中的凹槽或偏心的钻孔。由此可以至少粗略地调节旋转地点。通过借助预测量的校准,精细对齐是可以的。
同样安装在机械旋转轴上的对齐元件尽可能由与要测量的工件相同的材料来制造,或者由近似相同密度的、更确切地说相同的质量数的材料制造。由此形成测量辐射的大约相同的衰减,并且可以轻易地找到X光源的辐射特性的调节、即加速度电压、电流和必要时机械的预滤器,利用该调节可以反差明显地或完全透射工件和对齐元件。
为了在相同的位置上进行成像比例的校准,测量物体之后被布置在所述相同的位置上,对于校准体的固定使用与用于之后要测量的工件的夹紧设备相同的夹紧设备。对此,校准球例如被安放相同的配合销、如喷油嘴上,必要时间接地在适配器上。
本发明的特征在于,一种用于至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体、如工件或工具上的结构的几何形状的方法,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡的区域中生成表面测量点,其中为了确定几何形状特征使用以下表面测量点,所述表面测量点基于可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征。
本发明的特征特别是在于,为了确定几何形状特征使用以下表面测量点,所述表面测量点基于可预先给定的规则、如优选地考虑额定几何形状、特别优选地考虑额定几何形状的表面向量被分配给要确定的几何形状特征,并且由被分配的表面测量点优选地通过最佳拟合调整确定几何形状特征,其中特征的额定几何形状通过测量标准部件和/或借助一个或多个几何元素和/或借助至少一个参数集和/或借助手动地至少粗略地由操作者确定的几何元素来确定,其中额定几何形状优选地通过被考虑用于确定的测量点或从所述参数集提取的点的最佳拟合调整来确定。
优选地规定,使用以下表面测量点,所述表面测量点位于到额定几何形状的最大可预先给定的间距A之内,优选地A≤100μm,特别是A≤50μm。
本发明的特征特别是在于,为了确定几何形状特征要使用的表面测量点的选择在考虑额定几何形状的表面向量的情况下进行。
根据一个特别要强调的独特创造性的建议而规定,为了确定物体、如工件或工具上的结构的几何形状至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡的区域中生成表面测量点,其中一个或多个相互倾斜地位于空间中的特征、如钻孔被测量,优选地关于物体的对称轴来测量。
特别要强调的是,至少确定仰角和/或方位角和/或空间中的地点和/或直径和/或直径变化和/或粗糙度。
优选地规定,利用计算机层析X射线摄影术传感装置和/或至少一个另外的传感器、优选地触觉的或光学的或触觉光学的传感器来测量喷油嘴的一个或多个区域、优选地喷射孔。
本发明的特征也在于,特征的额定尺寸和/或额定几何形状通过测量标准部件来确定或校准。
本发明的特征特别是在于,额定几何形状由一个或多个几何元素、如直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段组成,并且不通过事先存在的CAD模型来确定,优选地通过几何元素定义额定几何形状的至少一个CAD元素。
此外要强调的是,额定几何形状通过至少一个参数集来确定,该参数集优选地由三个空间坐标(x、y、z)和/或至少一个角位置(phi,theta)或轴位置(dx,dy,dz)和/或平面(x,y,z,dx,dy,dz)和/或其他在空间中定义的并且优选地在其延展上限制的几何元素组成,优选地通过参数集来定义额定几何形状的几何元素和/或CAD元素。
本发明优选地规定,为了确定额定几何形状要使用的几何元素手动地至少粗略地由操作者来定义并且优选地随后通过计算机程序借助以下的步骤进行更准确的确定:
-使用粗略确定的几何元素进行表面点的暂时选择
-从所选择的表面点计算几何补偿元素,其中补偿元素的类型对应于手动确定的几何元素的类型
-将手动的几何元素适配于几何补偿元素
-使用所适配的手动的几何元素进行表面点的最终选择。
此外要强调的是,从另外的传感器的测量点计算几何元素,另外的传感器的测量点通过将所述另外的传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置对齐和/或校准而存在于共同的坐标系中。
优选地规定,作为另外的传感器使用以下传感器,该传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置共同地集成在坐标测量设备中。
本发明的特征也在于,利用计算机层析X射线摄影术传感装置和另外的传感器以相同的测量策略测量几何形状特征,其中优选地针对另外的传感器以下测量点被用于分析,所述测量点被用于计算几何元素以用于确定额定几何形状。
本发明的特征特别是在于,另外的传感器的测量点被用于分别修正计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点,所述计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点与另外的传感器的测量点空间上相关联,优选地位于到另外的传感器的测量点的可预先给定的最大间距内,其中优选地修正计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点,所述计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点借助额定几何形状来选择,所述额定几何形状由几何元素构成,所述几何元素由另外的传感器的测量点来计算并且为了修正而使用另外的传感器的所述测量点。
根据一个特别要强调的建议而规定,要在物体上测量的区域、优选地喷油嘴的喷射孔优选地自动地布置在辐射源和探测器之间的、优选地尽可能靠近辐射源的合适的位置中,使得要测量的区域在所有旋转位置中完全在探测器上成像。
特别要强调的是,在利用计算机层析X射线摄影术传感装置测量之前,机械旋转轴的旋转位置优选地自动地被调节,使得要在工件上测量的区域、优选地喷油嘴的喷射孔优选地通过以下方式被布置在事先定义的地点中,即布置在机械旋转轴上的对齐元件、如与旋转轴平行伸展的圆柱销和/或工件上的标记利用计算机层析X射线摄影术传感器和/或另外的传感器来检测。
此外,本发明的特征在于,计算机层析X射线摄影术传感装置的成像比例利用校准体、优选地校准球来确定,所述校准体被布置在与工件的之后要测量的区域相同的位置处。
本发明的特征特别是在于,通过以下方式识别机械旋转轴与其余的计算机层析X射线摄影术传感装置的相对位置中的偏差,即确定漂移体、如漂移球的地点并且修正偏差,优选地通过借助机械移动轴定位机械旋转轴和/或辐射源和/或探测器和/或通过所拍摄的透视图像的位移。
此外,特别要强调的是,借助另外的传感器之一、优选地光学传感器、特别优选地图像处理传感器和/或在利用计算机层析X射线摄影术传感器所拍摄的透视图像上确定漂移体的地点,其中测量在机械旋转轴的一个或多个确定的旋转位置中、优选地起动旋转位置中或借助换向方法在分别两个180°位移的旋转位置中进行。
优选地规定,通过以下方式为计算机层析X射线摄影术传感器和优选地另外的传感器的测量结果确定坐标系、优选地共同的坐标系,即至少一个与旋转轴垂直伸展的轴通过在机械旋转轴上布置的对齐元件、如与旋转轴平行伸展的圆柱销通过以下方式来定义,即对齐元件利用计算机层析X射线摄影术传感器和/或另外的传感器来检测。
本发明的特征特别是在于,通过以下方式为计算机层析X射线摄影术传感器和优选地另外的传感器的测量结果确定坐标系、优选地共同的坐标系,即物体上的标记利用计算机层析X射线摄影术传感器和/或另外的传感器来检测。
此外,特别要强调的是,优选地通过在夹紧设备中以相同的定向和地点的布置依次测量多个相同的物体或物体、优选地喷油嘴上的区域。
本发明优选地规定,在测量喷油嘴时:
-为计算机层析X射线摄影术传感器进行手动的或自动的人工修正、特别是射线硬化修正和/或
-将辐射源的焦点调节到小于大约10μm的直径上和/或
-在辐射源之前设置优选地由金构成的并且具有大约0.1mm厚度的射线滤波器和/或
-X光辐射源的电压被调节到大约190kV至200kV上和/或
-在旋转机械旋转轴期间利用计算机层析X射线摄影术传感器进行测量。
为了完善要说明的是,对于补偿元素的实例(如专业人员知道的)是几何元素、如直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段。
在基于补偿元素调整时,如同样为专业人员已知的,测量点和补偿元素之间的偏差被最小化并且所得出的补偿元素和其到测量点的地点被处理。此外,该补偿元素和测量点之间的间距被分析并且例如仅仅以下测量点被进一步处理,所述测量点小于到补偿元素的预先给定的间距。
本发明的特征也在于一种至少由计算机层析X射线摄影术传感装置组成的用于确定物体、如工件或工具上的结构的几何形状的设备,该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成,其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置优选地在材料过渡的区域中能够生成表面测量点,其中在机械旋转轴的可旋转的部分上固定有夹紧设备,该夹紧设备包含用于固定物体的机构和用于固定对齐元件和/或漂移体的机构,其中对齐元件和/或漂移体能够被计算机层析X射线摄影术传感装置和/或另外的传感器检测。
设备的特征特别是在于,在机械旋转轴的可旋转部分上固定有夹紧设备,该夹紧设备包含用于固定物体的机构和用于固定坐标系和/或预先定义机械旋转轴的旋转位置的对齐元件和/或适合于确定机械旋转轴与其余的计算机层析X射线摄影术传感装置的相对位置中的偏差、特别是机械旋转轴与探测器或X光源(1)之间的移动的漂移体的至少一个轴向的机构,其中对齐元件和/或漂移体能够被计算机层析X射线摄影术传感装置和/或另外的传感器检测。
根据本发明的设备的特征也在于,用于固定物体的机构圆柱形地铸造并且优选地包含配合件和/或定中心,优选地用于在内圆柱处或在外圆柱处固定喷油嘴。
本发明特别是规定,对齐元件由一个或两个圆柱形的销组成,所述圆柱形的销优选地与旋转轴平行地对齐,其中对齐元件优选地用作用于固定物体的机构。
此外,本发明的特征在于,对齐元件由与物体相同密度或近似相同密度的材料、优选地由钢构成。
优选地规定,用于固定物体的机构被构造用于容纳校准体。
根据本发明的设备的特征也在于,漂移体的固定通过布置在材料、优选地泡沫中进行,所述材料相较于漂移体较少地衰减计算机层析X射线摄影术传感器的测量辐射,优选地引起漂移体的衰减的最大50%。
本发明特别是规定,漂移体的固定通过布置在开口中进行,使得在机械旋转轴的至少一个旋转位置中漂移体能够通过另外的传感器、优选地触觉传感器或图像处理传感器在垂直照明或透射光中检测。
特别是规定,计算机层析X射线摄影术传感装置和优选地至少一个另外的传感器被集成在坐标测量设备中。
附图说明
本发明的其他的个别部分、优点和特征不仅从权利要求、要引用所述权利要求的特征(单独和/或组合)中,而且从要引用附图的优选的实施例的随后的描述中得出。
其中:
图1示出根据本发明的由计算机层析X射线摄影术传感器、其他传感器和要测量的工件以及夹紧设备的附件组成的装置,
图2示出根据本发明的装置的一部分的特别的构型,以及
图3示出用于在分析特征时阐明步骤的流程图。
具体实施方式
图1示出由辐射源1、在此X光辐射源、辐射探测器2和机械旋转轴30组成的计算机层析X射线摄影术传感器,该旋转轴的可旋转的部分32在利用3来表示的箭头方向上、即围绕着与通过利用x来表示的箭头示出的x轴平行的轴是可旋转的。
机械旋转轴30此外可以沿着箭头x、y和z在所有机械移动轴中移动,以便将位于机械旋转轴30上的工件4相对于其余的计算机层析X射线摄影术传感装置置于所期望的地点。移动轴在此可以通过CNC控制程序定位。X、Y、Z是坐标系、特别是直角坐标系的轴。
此外示出位于机械旋转轴30上、即位于其可旋转部分32上的夹紧设备5、例如卡盘,该夹紧设备承载工件4。工件4在此在内圆柱7处恰好合适地被插到固定机构6、例如居中地引入到卡盘中的圆柱销上,该内圆柱7在图中虚线勾画地示出。由此工件的地点可复制地定义。也为了识别和调节工件4的旋转地点,大多在工件4的外圆柱上设置标记11、例如激光标记。该标记例如是在箭头x方向上伸展的短线,该短线为了粗对齐能够由操作者识别。为了精细对齐,激光标记利用光学传感器来检测并且通过旋转机械旋转轴30而被置于预先给定的额定位置中。然而,也存在工件、如汽油喷油嘴,在所述工件的情况下圆柱形的圆周在所定义的侧上被削平。工件的旋转地点的确定于是借助利用计算机层析X射线摄影术传感器来确定的测量点在该削平上来进行,例如通过将平面调整到该削平的测量点中。在第三铸造中,工件、如喷油嘴4利用两个偏心的内部钻孔7制成。图2、特别是附图标记7示出这,图2示出图1的一部分,然而以该特别的铸造方式来示出。对于该情况,对齐元件9、例如两个圆柱销被用作工件的固定机构。所述方向元件与旋转轴偏心地放置,使得圆柱形的工件被布置在旋转轴中心处。
未示出的校准体(Einmesskoerper)同样可以通过以下方式固定在固定机构6处,即例如该校准体同样包含与圆柱销配合的配合件。由此可以确定恰好以下位置处的成像比例,即工件4在实际的测量中位于该位置处。
此外,对齐元件9如所示出地与夹紧设备5的中心偏心地位于机械旋转轴30上,优选地位于其可旋转的部分32上,在此例如直接被固定在夹紧设备5上。直接在机械旋转轴30的可旋转的部分32上的布置同样是可以的。例如两个对齐元件在y方向上、即沿着箭头y位移地布置。对齐元件两个都具有圆柱形的形状,其中圆柱轴与箭头x、即与以下方向平行地延伸,即机械旋转轴30的可旋转的部分32围绕着该方向、即围绕着旋转轴旋转。通过旋转机械旋转轴30,对齐元件9可以准确地在y方向上位移地旋入并且定义设备的y轴。对齐元件的地点的检测在此利用计算机层析X射线摄影术传感器或(假如存在)利用其他传感器10来进行。如果对齐元件9随后也被用于固定工件4,那么工件4的旋转地点因此能够一样可复制地调节并且工件坐标系已知。
此外,在此例如球形式的漂移体12如示出地被集成到夹紧设备5中。该球被布置到夹紧设备5的开口13中并且因此可以通过另外的传感器10在机械旋转轴30的一个或两个旋转位置中来测量。详细地,实施固定,使得球仅在圆周上的三至四位置处被固定,因此测量可以在自由圆周上进行。由此在垂直照明或透射光中利用图像处理传感器的测量也是可以的。相应的、在此未示出的透射光装置根据本发明附加地被固定在机械旋转轴30上。替代地或附加地,漂移体12利用计算机层析X射线摄影术传感器来测量。对此,漂移体12被布置在材料、如泡沫中,该材料明显比漂移体12本身更少地吸收测量辐射。泡沫例如被布置在开口13中。在两个情况下确定漂移体12的位置、例如漂移球的中心的地点。借助计算机层析X射线摄影术传感器进行对透视图像的该测量,或借助换向测量对两个180°位移的透视图像进行测量,而无需重建,其中优选地使用图像处理方法。
漂移体12的位置多次在不同的测量中被确定,由此在机械旋转轴3之间的进而工件4或其他布置在机械旋转轴3上的元件5、6、9、11相对于探测器2或X光源1的移动被识别和修正。
例如画入另外的传感器10,该传感器在实施例中是触觉传感器。计算机层析X射线摄影术传感器或其组成部分以及另外的传感器10可以根据所画入的箭头来定位。移动轴的存在共同具有以下能力,即确定测量点的位置、用于坐标测量设备存在的标识。
工件4的要测量的区域、在此喷油嘴利用8来表示并且例如包括喷油孔,所述喷油孔在图中未示出。区域8在此在箭头z的方向上尽可能靠近辐射源1来定位,以便实现在探测器2上的尽可能高地放大的成像进而高的分辨率和精确性。然而,在旋转工件4时不允许与例如辐射源1碰撞并且区域8必须总是完全地被成像到探测器2上。在此,区域8也可以被分拆成子区域,所述子区域依次地被测量。部分测量结果随后被组合。相应的方法以概念光栅层析X射线摄影术或“图像上的”层析X射线摄影术而已知。
如果也应该考虑对齐元件9的地点,那么所述对齐元件必须能够利用至少一个传感器来测量。如果不存在另外的传感器10,那么对齐元件根据本发明由计算机层析X射线摄影术传感器来检测,由此工件的位置必须相应地例如与辐射源相距更远地来调节,以便对齐元件9在所有旋转地点中也被成像到探测器2上。替代地,为了确定对齐元件9的位置可以执行单独的测量。此外,对齐元件9应该由与要测量的区域8相同的材料制造,以便如所提及地保证反差明显的可透射性。
如果应该组合利用计算机层析X射线摄影术传感器所拍摄的和利用另外的传感器10所拍摄的测量数据,那么要测量的区域8和必要时对齐元件9利用两个传感器依次被检测。因此存在以下可能性,即在相同的坐标系中产生测量数据。工件4的旋转地点通过利用另外的传感器10测量标记11而准确地被确定,因为激光标记可能利用计算机层析X射线摄影术传感器不能足够准确地被测量,或者工件4的旋转地点通过将工件4固定在对齐元件9上来定义。
测量数据的组合如已经描述的那样以多种途径进行。首先,可以使用另外的传感器的测量数据,以便进行计算机层析X射线摄影术结果的修正,但是也可以仅利用各一个传感器来测量特征并且结果例如与间距或角度相结合。根据本发明也可以使用另外的传感器10的测量数据,以便确定额定几何形状以用于选择计算机层析X射线摄影术传感器的为了分析而要使用的测量点。
根据本发明的在分析特征时的方式在图3中示出。划分成以下的步骤:
a)将工件4在夹紧设备5中夹紧,
b)对齐工件的旋转地点,
c)计算机层析X射线摄影术的测量,
d)测量点的粗选(子步骤d1至d6),
e)计算几何的补偿元素,
f)测量点的细选,
g)计算最终的补偿元素和特征的尺寸。
步骤在下文中详细地解释。
步骤a)包括工件4在夹紧设备5上的布置,例如通过将内圆柱7插到配合件6上或将工件4上的两个未示出的附加的偏心的内圆柱插到对齐元件9上。
在步骤b)中,工件的旋转地点明确地并且对于相同的工件或相同的部分的之后的测量可重复地被调节。对此,或者通过另外的传感器检测位于工件4上的标记11,或者构件上的侧面的削平通过计算机层析X射线摄影术传感器检测或工件被固定在对齐元件9上并且机械旋转轴被置于相应地预先定义的旋转位置中。
步骤c)包括多个表面测量点的计算机层析X射线摄影术的测量和确定。
在步骤d)中进行测量点的粗选,所述测量点在步骤e)中应该被用于计算几何的补偿元素。步骤d)在此划分成以下的子步骤d1)至d6)。
步骤d1)是三个替代的可能性之一,以便产生所谓的CAD元素(子步骤d5),该CAD元素在步骤d6)中被用于测量点的实际的粗选。在步骤d1)中,对此产生所谓的手动元素。这些是几何的基础元素、诸如圆、圆柱、平面或圆锥或这些的部分。所述手动元素从存在的参数、例如从2D图纸或具有工件的尺寸和其地点的表格中通过操作者手动地产生并且具有对工件的额定几何形状大小的限制的延展。参数在喷油嘴的情况下例如包含准确的喷射孔几何形状或一个或多个喷射孔的地点,所述喷射孔几何形状或一个或多个喷射孔的地点由三个空间坐标(x,y,z)和至少一个角位置(phi,theta)或轴位置(dx,dy,dz)或者由平面(x,y,z作为点信息并且dx,dy,dz作为平面法向量)并且必要时由其他在空间中定义的并且优选地在其延展(Ausdehnung)上受限的几何元素组成。利用所述额定数据、如角位置、位置和直径或直径变化产生手动元素。例如这样的手动元素是空间受限的圆柱并且是喷油嘴的单独的喷射孔的额定几何形状。
在替代于d1)的第一方式中,在子步骤d2)中选择各个测量点并且在子步骤d4)中借助计算机辅助补偿计算由这些测量点计算补偿元素。各个测量点的选择由操作者通过以下方式手动地进行,即操作者选择工件上的区域,所述区域肯定仅属于有关的几何元素或特征。为了又实现空间的限制,例如测量相邻区域的测量点并且由所述测量点确定几何的补偿元素。例如圆柱可以通过通道钻孔、如喷油嘴的喷射孔的情况下的限制平面来限制。几何元素的交集的形成有可能是有意义的。例如圆柱元素因此可以通过与圆锥元素的交集形成在其长度上被限制到圆柱片段上。
第二替代方案包括各个点利用另外的传感器的测量(子步骤d3)),所述点仅属于有关的几何元素或特征。随后,又在步骤d4)中计算并且必要时限制补偿元素。
在所有三个替代方案中计算的CAD元素(子步骤d5))被用于测量点的实际的粗选、暂时的选择(子步骤d6))。因此首先仅仅属于特征的测量点的还不完全的集合可供使用。
此后要执行的步骤e)包括从暂时选择的点中计算几何的补偿元素。几何补偿元素的类型优选地对应于在步骤d1)或d4)中的手动确定的几何元素。因此可以的是,所计算的CAD元素(子步骤d5))在其尺寸、地点和定向上适配于在步骤e)中计算的几何补偿元素,由此之前描述的限制保持不变,并且在步骤f)中被用于测量点的细选。
在步骤g)中,从细选的测量点中计算最终的补偿元素并且由此计算特征的有关的尺寸、诸如圆柱的直径。
步骤a)至g)首先一次地由操作者引导地执行以用于记住测量程序。例如在批量测量中的相同工件的其他测量于是使用所建立的测量程序,由此省去除了夹紧和测量程序起动之外的操作干预。

Claims (23)

1.用于至少使用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法,所述计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和面探测器组成,其中通过所述计算机层析X射线摄影术传感装置在材料过渡的区域中生成表面测量点,
其特征在于,
为了确定几何形状特征,在没有事先存在的CAD模型的情况下执行如下步骤:
1)选择表面测量点,所述表面测量点基于可预先给定的规则通过考虑额定几何形状被分配给要确定的几何形状特征,
其中所述特征的额定几何形状通过测量标准部件或借助至少一个参数集或借助手动地至少粗略地由操作者确定的几何元素来确定,以及其中所述额定几何形状由从一个由直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段组成的集合中选择的一个或多个几何元素组成,
其中通过所述几何元素定义所述额定几何形状的至少一个CAD元素,以及
2)从在步骤1)中所选择的表面测量点确定所述结构的几何形状特征。
2.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
所述额定几何形状通过被考虑用于确定的测量点或从所述参数集提取的点的最佳拟合调整来确定。
3.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
使用表面测量点,所述表面测量点位于到额定几何形状的最大可预先给定的间距A之内,且A≤100μm。
4.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
在考虑额定几何形状的表面向量的情况下进行为了确定几何形状特征要使用的表面测量点的选择。
5.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
一个或多个关于物体的对称轴相互倾斜地位于空间中的特征被测量。
6.根据权利要求5所述的方法,
其特征在于,
至少仰角和方位角或空间中的地点和直径或直径变化和/或粗糙度被确定。
7.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
利用计算机层析X射线摄影术传感装置或至少一个另外的触觉的或光学的或触觉光学的传感器来测量喷油嘴的一个或多个喷射孔。
8.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
所述特征的额定尺寸和/或额定几何形状通过测量标准部件来确定或校准。
9.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
所述额定几何形状通过至少一个参数集来确定,所述参数集由三个空间坐标(x、y、z)或至少一个角位置(phi,theta)或轴位置(dx,dy,dz)或平面(x,y,z,dx,dy,dz)或其他在空间中定义的并且在其延展上限制的几何元素组成。
10.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
为了确定额定几何形状要使用的几何元素手动地至少粗略地由操作者来定义并且随后通过计算机程序借助以下的步骤进行更准确的确定:
-使用粗略确定的几何元素进行表面点的暂时选择
-从所选择的表面点计算几何补偿元素,其中所述补偿元素的类型对应于手动确定的几何元素的类型
-将手动的几何元素适配于所述几何补偿元素
-使用所适配的手动的几何元素进行表面点的最终选择。
11.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
从另外的传感器的测量点计算几何元素,所述另外的传感器的测量点通过将所述另外的传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置对齐或校准而存在于共同的坐标系中。
12.根据权利要求7或11所述的方法,
其特征在于,
作为另外的传感器使用以下传感器,所述传感器与计算机层析X射线摄影术传感装置共同地集成在坐标测量设备中。
13.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
利用所述计算机层析X射线摄影术传感装置和另外的传感器以相同的测量策略测量几何形状特征,其中针对所述另外的传感器以下测量点被用于分析,所述测量点被用于计算几何元素以用于确定额定几何形状。
14.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
另外的传感器的测量点被用于分别修正计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点,所述计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点与另外的传感器的测量点空间上相关联,位于到另外的传感器的测量点的可预先给定的最大间距内,其中修正计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点,所述计算机层析X射线摄影术传感装置的测量点借助所述额定几何形状来选择,所述额定几何形状由所述几何元素构成,所述几何元素由另外的传感器的测量点来计算并且为了修正而使用另外的传感器的所述测量点。
15.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
要在物体上测量的区域自动地布置在辐射源和探测器之间的尽可能靠近辐射源的合适的位置中,使得所述要测量的区域在所有旋转位置中完全在所述探测器上成像。
16.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
在利用计算机层析X射线摄影术传感装置测量之前,所述机械旋转轴的旋转位置被调节,使得要在工件上测量的区域通过以下方式被布置在事先定义的地点中,即布置在机械旋转轴上的对齐元件或工件上的标记利用计算机层析X射线摄影术传感器或另外的传感器来检测。
17.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
计算机层析X射线摄影术传感装置的成像比例利用校准体来确定,所述校准体被布置在与工件的之后要测量的区域相同的位置处。
18.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
通过以下方式识别机械旋转轴与其余的计算机层析X射线摄影术传感装置的相对位置中的偏差,即确定漂移体的地点并且修正所述偏差,通过借助机械移动轴定位所述机械旋转轴或所述探测器和所述辐射源或通过所拍摄的透视图像的位移。
19.根据权利要求18所述的方法,
其特征在于,
借助另外的传感器或在利用计算机层析X射线摄影术传感器所拍摄的透视图像上确定所述漂移体的地点,其中测量在机械旋转轴的一个或多个确定的旋转位置中或借助换向方法在分别两个180°位移的旋转位置中进行。
20.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
通过以下方式为计算机层析X射线摄影术传感器和另外的传感器的测量结果确定共同的坐标系,即至少一个与旋转轴垂直伸展的轴通过在所述机械旋转轴上布置的对齐元件通过以下方式来定义,即所述对齐元件利用所述计算机层析X射线摄影术传感器和所述另外的传感器来检测。
21.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
通过以下方式为计算机层析X射线摄影术传感器和另外的传感器的测量结果确定共同的坐标系,即物体上的标记利用所述计算机层析X射线摄影术传感器和所述另外的传感器来检测。
22.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
通过在夹紧设备中以相同的定向和地点的布置依次测量多个相同的物体或物体的区域。
23.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
在测量喷油嘴时:
-为所述计算机层析X射线摄影术传感器进行手动的或自动的人工修正、也即射线硬化修正。
CN201480005933.8A 2013-01-25 2014-01-24 用于借助计算机层析x射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备 Active CN105102923B (zh)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102013100774.0 2013-01-25
DE102013100774 2013-01-25
DE102013104490.5A DE102013104490A1 (de) 2013-01-25 2013-05-02 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geometrie von Strukturen mittels Computertomografie
DE102013104490.5 2013-05-02
PCT/EP2014/051375 WO2014114737A2 (de) 2013-01-25 2014-01-24 Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der geometrie von strukturen mittels computertomografie

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105102923A CN105102923A (zh) 2015-11-25
CN105102923B true CN105102923B (zh) 2018-11-06

Family

ID=51163421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201480005933.8A Active CN105102923B (zh) 2013-01-25 2014-01-24 用于借助计算机层析x射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10900777B2 (zh)
CN (1) CN105102923B (zh)
DE (1) DE102013104490A1 (zh)
GB (1) GB2524446B (zh)
WO (1) WO2014114737A2 (zh)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106427237B (zh) * 2016-06-20 2018-09-25 刘玲 一种喷印机的平台theta轴
EP3519764B1 (en) 2016-09-29 2020-07-29 Marel Iceland EHF A method of generating a three dimensional surface profile of a food object
FR3058213B1 (fr) * 2016-10-27 2020-05-08 Renault S.A.S Dispositif pour installation de mesures par tomographie x.
DE102017110339A1 (de) * 2017-05-12 2018-11-15 Volume Graphics Gmbh Computerimplementiertes Verfahren zur Vermessung eines Objekts aus einer digitalen Darstellung des Objekts
DE102017110340A1 (de) * 2017-05-12 2018-11-15 Volume Graphics Gmbh Computerimplementiertes Verfahren zur Bestimmung einer lokalen Abweichung einer Geometrie eines Objektes von einer Soll-Geometrie des Objektes
DE102017208106A1 (de) * 2017-05-15 2018-11-15 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur zumindest abschnittsweisen, bevorzugt vollständigen Bestimmung der äußeren und inneren Geometrie eines Bauteils mit wenigstens einem Hohlraum
US10314555B1 (en) * 2017-10-26 2019-06-11 Amazon Technologies, Inc. Apparatus to translate two-dimensional planar positions into three-dimensional fixed radial positions
CN108168475B (zh) * 2017-12-18 2020-07-21 中国航发贵州黎阳航空动力有限公司 运输机火焰筒异型气膜孔异型角度的测量方法
DE102018101407B4 (de) * 2018-01-23 2024-04-18 Walter Maschinenbau Gmbh Werkzeugmaschine und Verfahren zur Vorbereitung einer Bearbeitung eines spanabtragenden Rotationswerkzeugs
WO2019175143A1 (de) * 2018-03-14 2019-09-19 Yxlon International Gmbh Verfahren zum korrigieren von messfehlern bei der bildgewinnung eines prüfobjekts mittels computertomographie
JP7143567B2 (ja) * 2018-09-14 2022-09-29 株式会社島津テクノリサーチ 材料試験機および放射線ct装置
CN109470162B (zh) * 2018-11-07 2020-11-10 上海第二工业大学 一种基于机器视觉的喷油嘴微孔孔形智能检测系统和方法
ES2931500T3 (es) 2018-12-03 2022-12-30 Siemens Ag Planificación operativa predictiva en una microrred con intercambio de potencia entre la microrred y una red eléctrica principal
DE102019103429A1 (de) * 2019-02-12 2020-08-13 Volume Graphics Gmbh Computerimplementiertes Verfahren zur Bestimmung von Oberflächen in Messdaten
CN110049243B (zh) * 2019-04-19 2021-09-10 博众精工科技股份有限公司 图像采集方法、装置、设备和介质
CN110487224B (zh) * 2019-08-16 2020-08-11 俐玛精密测量技术(苏州)有限公司 一种x射线成像检测系统
JP6719033B1 (ja) * 2020-03-05 2020-07-08 日鉄エンジニアリング株式会社 測定支援装置、および測定支援方法
CN112800559B (zh) * 2021-02-02 2024-03-08 中海石油(中国)有限公司 一种传感器布置方法及系统
CN113030134B (zh) * 2021-02-26 2022-03-01 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 用于icf靶三维重建的三轴ct成像装置及方法
DE102021204628B3 (de) * 2021-05-06 2022-04-07 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Betreiben eines Computertomographen beim Vermessen einer Interessensregion eines Objekts und Computertomograph
CN114280083B (zh) * 2021-12-16 2023-11-07 重庆日联科技有限公司 一种基于线阵相机自动cnc编程实现工业x光无损检测大尺寸平整铸件的检测方法
CN114354659B (zh) * 2021-12-21 2024-01-09 昆山善思光电科技有限公司 一种x光射线光源在x光机检测仪中的衰减检测方法
CN117848288A (zh) * 2024-03-06 2024-04-09 苏州一目万相科技有限公司 角度的测量方法、测量装置和x射线工业无损检测设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047041A (en) * 1997-09-08 2000-04-04 Scientific Measurement System Apparatus and method for comparison
CN101023322A (zh) * 2004-05-26 2007-08-22 沃思测量技术股份有限公司 用于测量对象的坐标测量仪和方法
CN101802542A (zh) * 2007-09-14 2010-08-11 莱卡地球系统公开股份有限公司 表面测量方法和测量仪
CN103688132A (zh) * 2011-04-15 2014-03-26 法罗技术股份有限公司 与远程线扫描仪协作的六自由度激光追踪器

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1443048A (en) * 1972-12-05 1976-07-21 Strahlen Umweltforsch Gmbh X-ray source
US4969110A (en) * 1988-08-01 1990-11-06 General Electric Company Method of using a priori information in computerized tomography
FR2700909B1 (fr) * 1993-01-27 1995-03-17 Gen Electric Cgr Dispositif et procédé automatique de calibration géométrique d'un système d'imagerie par rayons X.
US5715167A (en) * 1995-07-13 1998-02-03 General Electric Company Fixture for calibrated positioning of an object
US5712895A (en) * 1997-01-14 1998-01-27 Picker International, Inc. Rotational digital subtraction angiography phantom
ATE211815T1 (de) * 1997-06-12 2002-01-15 Werth Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät mit biegeelastischer tasterverlängerung und optischem sensor
US6091795A (en) * 1997-10-10 2000-07-18 Analogic Corporation Area detector array for computer tomography scanning system
EP1078252A4 (en) * 1998-03-02 2007-05-30 Image Analysis Inc AUTOMATED BONE DENSITY MEASUREMENT BY X-RAY RADIATION
US6418193B1 (en) * 1999-11-01 2002-07-09 General Electric Company Imaging system including radiation filter for x-ray imaging
US6484049B1 (en) * 2000-04-28 2002-11-19 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Fluoroscopic tracking and visualization system
US6519860B1 (en) * 2000-10-19 2003-02-18 Sandia Corporation Position feedback control system
US7147373B2 (en) * 2003-08-08 2006-12-12 University Health Network Method and system for calibrating a source and detector instrument
US6991371B2 (en) * 2003-10-14 2006-01-31 The Boeing Company Computed tomography image quality phantom
WO2005119174A1 (de) * 2004-05-26 2005-12-15 Werth Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät und verfahren zum messen eines objektes
US7792242B2 (en) * 2004-11-12 2010-09-07 Shimadzu Corporation X-ray CT system and X-ray CT method
US20080020332A1 (en) 2004-12-30 2008-01-24 David Lavenda Device, System And Method For Operating A Digital Radiograph
DE102005032687A1 (de) * 2005-07-06 2007-01-11 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zum Auswerten eines Koordinaten-Datensatzes eines Messobjekts
DE102005032686A1 (de) * 2005-07-06 2007-01-11 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zum Untersuchen eines Messobjekts mittels invasiver Strahlung
DE102005039422A1 (de) * 2005-08-16 2007-02-22 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Computertomografie-Messanordnung und Verfahren
US7577491B2 (en) 2005-11-30 2009-08-18 General Electric Company System and method for extracting parameters of a cutting tool
JP5011859B2 (ja) 2006-07-13 2012-08-29 株式会社島津製作所 放射線断層撮像装置
DE102007001928B4 (de) * 2007-01-12 2009-06-18 Yxlon International X-Ray Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur in-situ-Untersuchung von mechanisch belasteten Prüfobjekten mittels Computertomographie
JP2008200344A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Hoya Corp 電子内視鏡および内視鏡プロセッサ
DE102007021809A1 (de) 2007-04-20 2008-10-23 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum dimensionellen Messen mit Koordinatenmessgeräten
US7706501B2 (en) * 2007-09-07 2010-04-27 Carestream Health, Inc. Method and apparatus for measuring long bone density of small-animals
DE102007044000A1 (de) 2007-09-14 2009-04-02 Esco Gmbh Engineering Solutions Consulting Verfahren zur Bestimmung einer Raumform eines Werkstücks
DE102007047499B4 (de) 2007-10-04 2017-04-13 E. Zoller GmbH & Co. KG Einstell- und Messgeräte Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Informationen eines Werkzeugs
WO2009060346A2 (en) * 2007-11-06 2009-05-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. System for quantification of neovasculature in ct volumes
DE102008009266B4 (de) * 2008-02-15 2013-01-10 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Einrichtung zur Kalibrierung einer Instrumentenlokalisierungseinrichtung mit einer Bildgebungsvorrichtung
WO2009105703A1 (en) * 2008-02-22 2009-08-27 Loma Linda University Medical Center Systems and methods for characterizing spatial distortion in 3d imaging systems
US7775715B2 (en) * 2008-08-28 2010-08-17 United Technologies Corporation Method of calibration for computed tomography scanners utilized in quality control applications
EP2399237B1 (de) * 2009-02-20 2013-08-14 Werth Messtechnik GmbH Verfahren zum messen eines objekts
DE202009019014U1 (de) * 2009-04-30 2015-08-31 Wenzel Volumetrik Gmbh Computertomographische Werkstückmessvorrichtung
US20130195255A1 (en) * 2010-05-12 2013-08-01 Ricardo Avila Calibration Phantom Device and Analysis Methods
US8777485B2 (en) * 2010-09-24 2014-07-15 Varian Medical Systems, Inc. Method and apparatus pertaining to computed tomography scanning using a calibration phantom
DE102010050949A1 (de) * 2010-11-10 2012-05-10 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Messanordnung für einen Computertomographen
DE102011075527A1 (de) 2011-05-09 2012-11-15 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Durchstrahlungssystem und Kalibrierung desselben
DE102012205225A1 (de) * 2012-03-30 2013-10-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Computertomographiesystem und verfahren zur datenermittelung für eine störeinfluss-korrigierte computertomographieaufnahme eines untersuchungsobjekts
EP2858571B1 (en) * 2012-06-07 2019-01-23 The Johns Hopkins University Integration of quantitative calibration systems in computed tomography scanners

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6047041A (en) * 1997-09-08 2000-04-04 Scientific Measurement System Apparatus and method for comparison
CN101023322A (zh) * 2004-05-26 2007-08-22 沃思测量技术股份有限公司 用于测量对象的坐标测量仪和方法
CN101802542A (zh) * 2007-09-14 2010-08-11 莱卡地球系统公开股份有限公司 表面测量方法和测量仪
CN103688132A (zh) * 2011-04-15 2014-03-26 法罗技术股份有限公司 与远程线扫描仪协作的六自由度激光追踪器

Also Published As

Publication number Publication date
CN105102923A (zh) 2015-11-25
GB2524446B (en) 2018-02-14
US10900777B2 (en) 2021-01-26
WO2014114737A3 (de) 2014-10-16
GB2524446A (en) 2015-09-23
WO2014114737A2 (de) 2014-07-31
GB201513356D0 (en) 2015-09-09
DE102013104490A1 (de) 2014-07-31
US20150355113A1 (en) 2015-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105102923B (zh) 用于借助计算机层析x射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备
US10145682B2 (en) Reduction of errors of a rotating device used during the determination of coordinates of a workpiece or during the machining of a workpiece
CN100520288C (zh) 用于校准多轴计量系统的几何形状的方法
CN105849537B (zh) 校准设备和计算机断层扫描方法
CN107014321B (zh) 一种平面度快速现场测量装置及测量方法
CN108917604A (zh) 一种法向测量装置及其标定方法
CN101023322A (zh) 用于测量对象的坐标测量仪和方法
US10578414B2 (en) Inner-wall measuring instrument and offset-amount calculation method
JP2018142064A (ja) 工作機械の誤差同定方法
CN109212497A (zh) 一种空间六自由度车载雷达天线位姿偏差测量及对接方法
CN109483326A (zh) 在机床中将中心点定位在几何轴线上的方法
JP5270138B2 (ja) 校正用治具及び校正方法
Morse et al. 6 DOF calibration of profile sensor locations in an inspection station
CN105902312A (zh) 一种手术导航工具的标定方法
TW201120596A (en) Dynamic path detection method for five-axis machine tool and device thereof.
CN207636038U (zh) 一种基于投影成像的轴形位公差测量仪
US11344276B2 (en) Calibration method of x-ray measuring device
CN108151672A (zh) 一种基于投影成像的轴形位公差测量仪
CN110640546B (zh) 用于大型齿轮在机旁置测量的被测齿轮回转轴线测定方法
JP2008089541A (ja) 運動誤差測定基準及び運動誤差測定装置
Pajor et al. Intelligent machine tool–vision based 3D scanning system for positioning of the workpiece
JP6757391B2 (ja) 測定方法
JP2010096722A (ja) 姿勢測定方法及び研削装置
JP2010169636A (ja) 形状測定装置
CN110455188A (zh) 单轴平移台与结构光3d传感器联合测量标定方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant