CN105093353A - 介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备。该校正方法包括：依次设置光发生器的输入值为多个输入值；检测光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时光接收器的输出值；分别计算对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，得到对应于多个输入值的多个绝对值；将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值。通过本发明，解决了现有技术的介质处理设备在传感器校正过程中容易出现校正失败的问题，进而达到了提高介质处理设备中传感器的校正准确性的效果。

Description

介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备

技术领域

本发明涉及传感器检测领域，具体而言，涉及一种介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备。

背景技术

目前，打印机、切票机等介质处理设备经常使用卷筒状或折叠状的连续介质进行打印、切票等处理。为了实现介质定位，如对打印位置或切割位置进行定位，通常，在连续介质上间隔预设距离设置特定的标记，比如，如图1所示，在介质上间隔预定距离H1印刷黑色矩形块(简称黑标)M1，则该黑标M1为特定的标记，或者，如图2所示，在基纸上间隔预设距离H2黏贴具有固定高度的标签，则相邻标签之间的基纸M2为特定的标记。由于介质的标记部分与非标记部分的反射率或透射率存在差异，因此，现有技术中，介质处理设备基于标记部分和非标记部分的反射率或透射率差异使用光学方式进行标记的检测，利用标记作为介质定位的依据。

现有技术中，介质处理设备的介质输送通道中设置有用于检测标记的光电传感器，其中，光电传感器包括光发生器和光接收器。输送介质时，介质处理设备的控制器为光发生器提供驱动电流使光发生器发射具有一定强度的光，光发生器发射的光照射在介质上，经过介质反射或透射后的光被光接收器所接收，光接收器将接收的光信号转化为电信号。由于介质的标记部分与非标记部分的反射率或透射率不同，因此，光接收器输出的电信号不同，介质处理设备通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较，即可判断位于传感器的检测位置的介质为标记部分或非标记部分，从而实现标记检测。图3所示为一种介质的标记部分和非标记部分与光电传感器输出的电信号的波形之间的对应关系示意图，如图所示，当光接收器输出的电压值大于预设阈值Vth时，能够判定标记部分位于传感器的检测位置，当光接收器输出的电压值小于预设阈值Vth时，能够判定非标记部分位于传感器的检测位置。

因此，现有技术中，通常为介质处理设备的传感器的光发生器提供一个预设驱动电流，并设置一个预设阈值，通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较实现标记检测。然而，对于同一型号同一批次的多台介质处理设备，受装配误差、零件加工误差以及传感器自身离散性的影响，如果多台设备的传感器的光发生器的驱动电流设置为同一值时，每台设备的传感器的光发生器发射的照射在介质上的光的强度也可能不同，从而造成每台设备的光接收器输出的电信号的值不同；另外，如果传感器的光发生器的驱动电流始终设置为出厂时设定的值时，由于传感器使用过程中受环境变化、器件老化的影响，光发生器发射的照射在介质上光会逐渐变弱，从而导致光接收器输出的电信号发生变化。当介质处理设备的光发生器输出的电信号发生变化时，通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较实现标记检测就可能导致传感器无法正确检测介质的标记部分和非标记部分。如图4所示，光发射器发射的照射在介质上的光的强度低于一定值时，光接收器输出的电压幅值小于预设阈值Vth，此时，通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较来实现标记检测时，就会出现检测失败。

为了解决上述问题，介质处理设备的制造商在设备出厂时会对介质处理设备的传感器进行校正，以保证输送同一类型的介质时多台介质处理设备的光接收器输出的电信号的值相同；同时，介质处理设备使用过程中，使用者会每间隔一段时间，比如一年，对介质处理设备的传感器进行校正，以防止由于光发射器的发光强度变弱而导致的标记检测失败。

在相关技术中公开了一种介质处理设备中光电传感器的校正方法，通过校正传感器的光发生器的驱动电流，使传感器的光接收器输出的电信号的值达到预设目标值。该方法包括：将介质的非标记部分定位到传感器的检测位置，设定一个目标值，调节传感器的光发生器的驱动电流并检测光接收器输出的电流值，当传感器的光接收器输出的电流值达到预设的目标值时，确定传感器的光发生器的驱动电流。通过该相关技术，可以使传感器的光接收器输出的电信号的值为确定值。但是，该相关技术需要预先设定目标值，由于不同设备之间存在差异性以及不同类型介质之间也存在差异性，因此该预设目标值不容易确定。相关技术人员往往根据经验确定该预设目标值，但是，当设备差异过大或当器件老化严重时，可能导致校正过程中传感器的光接收器输出的电信号的值无法达到该预设目标值，从而出现校正失败。

针对现有技术的介质处理设备在传感器校正过程中容易出现校正失败的问题，目前尚未提出有效解决方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备，以解决现有技术的介质处理设备在传感器校正过程中容易出现校正失败的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种介质处理设备中传感器的校正方法。介质处理设备中设置有介质输送通道，传感器用于检测介质输送通道中介质的标记部分和非标记部分，传感器包括设置在介质输送通道中的光发生器和光接收器，该校正方法包括：依次设置光发生器的输入值为多个输入值；检测光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时光接收器的输出值，其中，输出值包括第一输出值和第二输出值，当介质的标记部分位于传感器的检测位置时光接收器的输出值为第一输出值，当介质的非标记部分位于传感器的检测位置时光接收器的输出值为第二输出值，对应于多个输入值中的每一个输入值，得到一个第一输出值和一个第二输出值；分别计算对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，得到对应于多个输入值的多个绝对值；将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值。

进一步地，依次设置光发生器的输入值为多个输入值包括：读取预先存储的多个预设值；由多个预设值得到多个输入值；分别将多个输入值中的每一个输入值作为光发生器的输入值。

进一步地，光发生器的输入值为光发生器的输入电流值或输入电压值，光接收器的输出值为光接收器的输出电流值或输出电压值。

进一步地，检测光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时光接收器的输出值包括：当光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时，驱动介质在介质输送通道中移动，将介质的标记部分或非标记部分定位于传感器的检测位置，其中，当检测到介质的标记部分或非标记部分到达传感器的检测位置时，再继续驱动介质移动设定距离，将介质的标记部分或非标记部分定位于传感器的检测位置；当介质的标记部分定位于传感器的检测位置时，检测光接收器的输出值，得到第一输出值；当介质的非标记部分定位于传感器的检测位置时，检测光接收器的输出值，得到第二输出值。

进一步地，将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值包括：获取多个绝对值中的最大的绝对值；将最大的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，提供了一种介质处理设备。介质处理设备中设置有介质输送通道，该介质处理设备包括：输送单元(13)，用于驱动介质在介质输送通道中移动；传感器，包括设置在介质输送通道中的光发生器和光接收器，用于检测介质输送通道中介质的标记部分和非标记部分；控制单元，用于依次设置光发生器的输入值为多个输入值；检测光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时光接收器的输出值，其中，输出值包括第一输出值和第二输出值，当介质的标记部分位于传感器的检测位置时光接收器的输出值为第一输出值，当介质的非标记部分位于传感器的检测位置时光接收器的输出值为第二输出值，对应于多个输入值中的每一个输入值，得到一个第一输出值和一个第二输出值；分别计算对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，得到对应于多个输入值的多个绝对值；将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值。

进一步地，控制单元用于采用以下方式依次设置光发生器的输入值为多个输入值：读取预先存储的多个预设值；由多个预设值得到多个输入值；分别将多个输入值中的每一个输入值作为光发生器的输入值。

进一步地，光发生器的输入值为光发生器的输入电流值或输入电压值，光接收器的输出值为光接收器的输出电流值或输出电压值。

进一步地，控制单元用于采用以下方式检测光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时光接收器的输出值：当光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时，驱动介质在介质输送通道中移动，将介质的标记部分或非标记部分定位于传感器的检测位置，其中，当检测到介质的标记部分或非标记部分到达传感器的检测位置时，再继续驱动介质移动设定距离，将介质的标记部分或非标记部分定位于传感器的检测位置；当介质的标记部分定位于传感器的检测位置时，检测光接收器的输出值，得到第一输出值；当介质的非标记部分定位于传感器的检测位置时，检测光接收器的输出值，得到第二输出值。

进一步地，控制单元用于采用以下方式将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值：获取多个绝对值中的最大的绝对值；将最大的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值。

通过本发明，依次设置光发生器的输入值为多个输入值，并对应于多个输入值中的每一个输入值，得到一个第一输出值和一个第二输出值，分别计算对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，得到对应于多个输入值的多个绝对值，将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值，解决了现有技术的介质处理设备在传感器校正过程中容易出现校正失败的问题，进而达到了提高介质处理设备中传感器的校正准确性的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是现有技术中一种具有特定标记的介质的示意图；

图2是现有技术中另一种具有特定标记的介质的示意图；

图3是现有技术中正常情况下介质的标记部分和非标记部分与光电传感器输出的电信号的波形之间的对应关系示意图；

图4是现有技术中异常情况下介质的标记部分和非标记部分与光电传感器输出的电信号的波形之间的对应关系示意图；

图5是根据本发明实施例的介质处理设备的模块组成示意图；

图6是根据本发明第一实施例的传感器的校正方法；

图7是根据本发明第二实施例的传感器的校正方法；

图8是根据本发明实施例的介质的标记部分位于传感器的检测位置和介质的非标记部分位于传感器的检测位置，传感器的光发生器的驱动电流设置为各校正电流时，光接收器输出的电压曲线示意图；以及

图9是根据本发明第三实施例的传感器的校正方法。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

图5是根据本发明实施例的介质处理设备的模块组成示意图，如图所示，介质处理设备100包括控制单元11、通信单元12、输送单元13、传感器14、Flash存储器15，以及RAM存储器16等。

控制单元11用于控制其他各模块执行工作，比如，控制单元11控制通信单元12执行介质处理设备100和与介质处理设备100连接的主机之间的数据交互，控制单元11控制输送单元13驱动介质在介质处理设备100的输送通道中移动，控制单元11控制传感器14执行标记检测等。

通信单元12用于执行介质处理设备100和与介质处理设备100连接的主机之间的数据交互，比如，通信单元12接收由主机发送的启动传感器14校正的控制命令，通信单元12将传感器14的校正结果上传到主机等。

输送单元13用于驱动介质在介质处理设备100的输送通道中移动。输送单元13包括电机驱动器131、输送电机132、输送辊组件133。电机驱动器131用于根据控制单元11输出的控制信号输出输送电机132的输出轴转动所需要的电流，输送电机132的输出轴与输送辊组件133传动连接，当输送电机132的输出轴转动时，输送辊组件133随之转动，从而驱动介质在输送通道中移动。

传感器14用于检测介质的标记部分和非标记部分。传感器14为光电传感器，其可以为反射传感器，也可以为透射传感器，传感器14包括光发生器141和光接收器142，光发生器141和光接收器142设置在介质输送通道中，二者分别与控制单元11电连接，光发生器141在控制单元11提供的驱动电流的作用下，发射具有一定强度的光并照射在介质上，照射在介质上的光经过介质反射(传感器14为反射传感器时)或透射(传感器14为透射传感器时)后被光接收器142接收，光接收器142将接收的光信号转换为电信号，并将该电信号输送至控制单元11，由于介质的标记部分和非标记部分的反射率或透射率不同，因此，当介质的标记部分位于传感器14的检测位置时，传感器14输出第一检测信号(比如高电平)，当介质的非标记部分位于传感器14的检测位置时，传感器14输出第二检测信号(比如低电平)。

Flash存储器15用于存储介质处理设备100的控制程序，以及用于存储控制程序运行过程中所需要的固定参数，比如，Flash存储器15用于存储预设电流I_int、校正电流I₀、I₁、I₂……I_n以及基准阈值V_th，其中，预设电流I_int为介质处理设备100执行标记检测时提供给光发生器141的驱动电流，校正电流I₀、I₁、I₂……I_n为介质处理设备100在进行传感器14校正过程中提供给光发生器141的驱动电流，基准阈值V_th为用于判断位于传感器14的检测位置的介质为标记部分或非标记部分的基准电压。

RAM存储器16用于存储控制程序运行过程中生成的数据及变量，比如，RAM存储器16用于存储光发生器141的驱动电流分别设置为I₀、I₁、I₂……I_n时光接收器142输出的电压值。

以下对本发明实施例的传感器的校正方法进行描述，该校正方法可以应用于本发明实施例提供的介质处理设备中，但并不限于本发明实施提供的介质处理设备，本发明实施例提供的介质处理设备也可以用于执行本发明实施例的传感器的校正方法。

图6是根据本发明第一实施例的传感器的校正方法，介质处理设备在接收到用户发送的启动传感器校正的控制命令时执行该校正方法，通过该校正方法，对传感器中的光发生器141的输入值进行校正，介质处理设备中设置有介质输送通道，传感器14用于检测介质输送通道中介质的标记部分和非标记部分，传感器14包括设置在介质输送通道中的光发生器141和光接收器142，如图所示，该校正方法包括：

步骤S101，依次设置光发生器的输入值为多个输入值

在该步骤中，对光发生器141的输入值进行调节，使光发生器141的输入值可以变化为不同的输入值。

光发生器141的输入值为光发生器141的输入电流值或输入电压值，因而，可以使光发生器141的输入值分别为不同的输入电流值或输入电压值。

该多个输入值可以是预先存储的多个预设值，也可以是由多个预设值计算得到的多个输入值。

步骤S102，检测光发生器的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时光接收器的输出值

光接收器142的输出值包括第一输出值和第二输出值，当介质的标记部分位于传感器14的检测位置时光接收器142的输出值为第一输出值，当介质的非标记部分位于传感器14的检测位置时光接收器142的输出值为第二输出值。

在该步骤中，对应于光发生器141的每一个输入值，检测与该输入值对应的光接收器142的输出值，包括对介质的标记部分和非标记部分位于传感器14的检测位置时光接收器142的输出值分别进行检测，得到对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值。对应于多个输入值中的每一个输入值，得到一个第一输出值和一个第二输出值。

步骤S103，分别计算对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，得到对应于多个输入值的多个绝对值

对应于多个输入值中的每个输入值，得到一对输出值，即，一个第一输出值和一个第二输出值，对应于多个输入值，得到多对输出值，计算每对输出值中第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，也即，分别计算对应于多个输入值中的每一个输入值的第一输出值和第二输出值的差值的绝对值，得到对应于多个输入值的多个第一输出值和第二输出值的差值的绝对值。

步骤S104，将多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的光发生器的输入值作为校正后的光发生器的输入值

该预设条件为根据校正需要设置的条件，当绝对值满足该预设条件时，说明符合校正要求，从而将满足预设条件的绝对值对应的光发生器141的输入值作为校正后的光发生器141的输入值。进一步地，对于在判断是否满足该预设条件时，可以是从多个绝对值中大于预设值的绝对值中选取一个值作为满足预设条件的绝对值，也可以是直接选取多个绝对值中最大的绝对值作为满足预设条件的绝对值。

图7是根据本发明第二实施例的传感器的校正方法，该实施例的方法可以是图6所示校正方法的一种优选实施方式，在该实施例中，以光发生器的驱动电流I作为光发生器的输入值，光接收器输出的电压值作为光接收器的输出值举例进行描述，如图所示，该校正方法包括：

步骤S201，使介质的标记部分位于传感器的检测位置

用户通过手动设置方式将介质的标记部分定位于传感器的检测位置；或者，控制单元在驱动介质移动的过程中检测介质的标记部分，并在介质的标记部分到达传感器的检测位置时停止驱动介质移动。

优选地，控制单元在驱动介质移动的过程中检测介质的标记部分方法包括：控制单元将传感器的光发生器的驱动电流设置为预设电流I_int，输送单元驱动介质在输送通道中移动，控制单元在介质移动的过程中检测传感器的光接收器输出的电压值，将该电压值与基准阈值V_th进行比较，并根据比较的结果，判断介质的标记部分是否到达传感器的检测位置。比如，当光接收器输出的电压值大于预设阈值V_th时，判定介质的标记部分到达传感器的检测位置。

在本发明的其他实施方式中，也可以通过计算在介质移动预设距离过程中光接收器输出的电压值的变化量，并将该变化量与预设阈值进行比较判断介质的标记部分是否到达传感器的检测位置，当控制单元判定介质的标记部分到达传感器的检测位置时停止驱动介质移动。

优选地，当控制单元判定介质的标记部分到达传感器的检测位置时，输送单元继续驱动介质移动设定距离，比如移动半个标记高度的距离，使标记的中央部分位于传感器的检测位置，以避免由于标记部分与非标记部分的交界处的电压抖动引起的校正误差。

步骤S202，依次设置光发生器的驱动电流I为校正电流I₀、I₁、I₂……I_n，并在I为各预设值时读取并存储光接收器输出的电压值V₀₀、V₀₁、V₀₂……V_0n

控制单元依次设置传感器的光发生器的驱动电流I为校正电流I₀、I₁、I₂……I_n，其中，n为预设值，且I₀、I₁、I₂……I_n按预设间隔值依次变化，当光发生器的驱动电流I设置为校正电流I_i时，控制单元读取光接收器输出的电压值V_0i，其中，i＝0～n。控制单元将依次读取的各个电压值V₀₀、V₀₁、V₀₂……V_0n存储在RAM存储器中。

需要说明的是，校正电流I₀、I₁、I₂……I_n可以是预先存储在Flash存储器中的，也可以为控制单元采用一定规则进行计算所得到的电流，比如，控制单元设置最大驱动电流I_max，依据公式I_i＝(i/n)*I_max计算各校正电流值。

步骤S203，使介质的非标记部分位于传感器的检测位置

用户通过手动设置方式将介质的非标记部分定位于传感器的检测位置；或者，控制单元在驱动介质移动的过程中检测介质的非标记部分，并在介质的非标记部分到达传感器的检测位置时停止驱动介质移动。

优选地，控制单元在驱动介质移动的过程中检测介质的非标记部分方法包括：控制单元将传感器的光发生器的驱动电流设置为预设电流I_int，输送单元驱动介质在输送通道中移动，控制单元在介质移动的过程中检测传感器的光接收器输出的电压值，将该电压值与基准阈值V_th进行比较，并根据比较的结果，判断介质的非标记部分是否到达传感器的检测位置。比如，当光接收器输出的电压值小于预设阈值V_th时，判定介质的非标记部分到达传感器的检测位置，当控制单元判定介质的非标记部分到达传感器的检测位置时停止驱动介质移动。

在本发明的其他实施方式中，也可以通过计算在介质移动预设距离过程中光接收器输出的电压值的变化量，并将该变化量与预设阈值进行比较判断介质的非标记部分是否到达传感器的检测位置，当控制单元判定介质的非标记部分到达传感器的检测位置时停止驱动介质移动。

优选地，当判定介质的非标记部分到达传感器的检测位置时，输送单元继续驱动介质移动设定距离，比如移动半个非标记部分高度的距离，使非标记部分的中央部分位于传感器的检测位置，以避免由于标记部分与非标记部分的交界处的电压抖动引起的校正误差。

步骤S204，依次设置光发生器的驱动电流I为校正电流I₀、I₁、I₂……I_n，并在I为各预设值时读取并存储光接收器输出的电压值V₁₀、V₁₁、V₁₂……V_1n

控制单元依次设置传感器的光发生器的驱动电流I为校正电流I₀、I₁、I₂……I_n，当光发生器的驱动电流I设置为校正电流I_i时，控制单元读取光接收器输出的电压值V_1i，其中，i＝0～n。控制单元将依次读取的各个电压值V₁₀、V₁₁、V₁₂……V_1n存储在RAM存储器中。

步骤S205，计算光发生器的驱动电流I设置为校正电流I_i时，介质的标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电压值V_0i与介质的非标记部分位于传感器的检测位置时光电接收器输出的电压值V_1i的差值的绝对值V_i，即，V_i＝|V_0i－V_1i|，其中，i＝0～n。

依次计算光发生器的驱动电流I设置为各校正电流I₀、I₁、I₂……I_n时，介质的标记部分位于传感器的检测位置时与介质的非标记部分位于传感器的检测位置时，光接收器输出的电压值的差值的绝对值V₀、V₁、V₂……V_n，并将计算所得的各差值的绝对值存储在RAM存储器中。

步骤S206，确定最大的差值的绝对值V_max，并将执行标记检测时光发生器的驱动电流设置为取得V_max时的校正电流

对RAM存储器中存储的各差值的绝对值V₀、V₁、V₂……V_n进行分析，确定最大的差值的绝对值V_max，从而确定取得最大的差值的绝对值V_max时所设置的光发生器的校正电流，控制单元将介质处理设备执行标记检测时光发生器的驱动电流，即预设电流I_int，设置为该校正电流。

图8所示为介质的标记部分位于传感器的检测位置和介质的非标记部分位于传感器的检测位置，传感器的光发生器的驱动电流设置为各校正电流I₀、I₁、I₂……I_n时，光接收器输出的电压曲线示意图，如图所示，曲线S1为介质的标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电压曲线图，曲线S2为介质的非标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电压曲线图，由图可知，当传感器的光发生器的驱动电流设置为校正电流I₁时，在介质的标记部分位于传感器的检测位置和介质的非标记部分位于传感器的检测位置两种情况下，光接收器输出的电压值的差值的绝对值最大，因此，设置介质处理设备执行标记检测时光发生器的驱动电流为校正电流I₁。

通过本发明实施例提供的传感器的校正方法，无需用户预设目标值，即可使得介质处理设备执行标记检测时传感器的光发生器的驱动电流为一个最佳值，解决了相关技术中传感器的校正过程中存在的预设目标值不易确定以及可能出现校正失败的问题。根据本发明实施例提供的传感器的校正方法获得的传感器的光发生器的驱动电流，能够使得在介质的标记部分和介质的非标记位置分别位于传感器的检测位置时传感器的光接收器输出的电压值的变化幅度最大，因此，只要在两种情况下光接收器输出的两个电压值之间设置合适的阈值，即可实现标记的准确检测，从而可以避免由于传感器在两种情况下输出的电压值的变化幅度过小造成的检测失败，提高了传感器标记检测的可靠性。

图9是根据本发明第三实施例的传感器的校正方法，该实施例可以作为图6所示实施例的一种优选实施方式，如图所示，该方法包括：

步骤S301～步骤306，同步骤201～步骤206。

步骤S307，计算区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值

根据最大的差值的绝对值V_max计算区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值。设当传感器的光发生器的驱动电流设置为I_m时，在介质的标记部分位于传感器的检测位置和介质的非标记部分位于传感器的检测位置两种情况下，光接收器输出的电压值的差值的绝对值V_m最大，此时，标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电压值为V_0m，非标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电压值为V_1m，则根据V_0m和V_1m计算区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值，比如，设置基准阈值为V_th＝V_1m+(V_0m－V_1m)/2，使基准阈值位于V_0m和V_1m的中点从而实现介质的标记部分和非标记部分的准确检测。

步骤S308，将已确定的执行标记检测时光发生器的驱动电流和区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值存储到Flash存储器中

将步骤S306中已确定的执行标记检测时光发生器的驱动电流和步骤S307中已确定的区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值存储到Flash存储器中，优选地，控制单元更新Flash存储器中存储的预设电流I_int为步骤S306中已确定的执行标记检测时光发生器的驱动电流，更新Flash存储器中存储的基准阈值V_th为步骤S307中已确定的区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值。

通过本发明实施例提供的传感器的校正方法，介质处理设备在完成传感器的光发生器的驱动电流的校正后，根据在该驱动电流下，介质的标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电信号的值以及介质的非标记部分位于传感器的检测位置时光接收器输出的电信号的值计算用于区分介质的标记部分和非标记部分的基准阈值，使得传感器可以更准确、可靠地进行介质的标记部分和非标记部分的检测，进一步提高了传感器标记检测的准确性和可靠性。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种介质处理设备中传感器的校正方法，其特征在于，所述介质处理设备中设置有介质输送通道，所述传感器(14)用于检测所述介质输送通道中介质的标记部分和非标记部分，所述传感器(14)包括设置在所述介质输送通道中的光发生器(141)和光接收器(142)，所述校正方法包括：

依次设置所述光发生器(141)的输入值为多个输入值；

检测所述光发生器(141)的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时所述光接收器(142)的输出值，其中，所述输出值包括第一输出值和第二输出值，当介质的标记部分位于所述传感器(14)的检测位置时所述光接收器(142)的输出值为所述第一输出值，当介质的非标记部分位于所述传感器(14)的检测位置时所述光接收器(142)的输出值为所述第二输出值，对应于所述多个输入值中的每一个输入值，得到一个所述第一输出值和一个所述第二输出值；

分别计算对应于所述多个输入值中的每一个输入值的所述第一输出值和所述第二输出值的差值的绝对值，得到对应于所述多个输入值的多个绝对值；以及

将所述多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的所述光发生器(141)的输入值作为校正后的所述光发生器(141)的输入值。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，依次设置所述光发生器(141)的输入值为多个输入值包括：

读取预先存储的多个预设值；

由所述多个预设值得到所述多个输入值；以及

分别将所述多个输入值中的每一个输入值作为所述光发生器(141)的输入值。

3.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述光发生器(141)的输入值为所述光发生器(141)的输入电流值或输入电压值，所述光接收器(142)的输出值为所述光接收器(142)的输出电流值或输出电压值。

4.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，检测所述光发生器(141)的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时所述光接收器(142)的输出值包括：

当所述光发生器(141)的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时，驱动介质在所述介质输送通道中移动，将介质的标记部分或非标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置，其中，当检测到介质的标记部分或非标记部分到达所述传感器(14)的检测位置时，再继续驱动介质移动设定距离，将介质的标记部分或非标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置；

当介质的标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置时，检测所述光接收器(142)的输出值，得到所述第一输出值；以及

当介质的非标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置时，检测所述光接收器(142)的输出值，得到所述第二输出值。

5.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，将所述多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的所述光发生器(141)的输入值作为校正后的所述光发生器(141)的输入值包括：

获取所述多个绝对值中的最大的绝对值；以及

将所述最大的绝对值对应的所述光发生器(141)的输入值作为校正后的所述光发生器(141)的输入值。

6.一种介质处理设备，其特征在于，所述介质处理设备中设置有介质输送通道，介质处理设备包括：

输送单元(13)，用于驱动介质在所述介质输送通道中移动；

传感器(14)，包括设置在所述介质输送通道中的光发生器(141)和光接收器(142)，用于检测所述介质输送通道中介质的标记部分和非标记部分；以及

控制单元(11)，用于依次设置所述光发生器(141)的输入值为多个输入值；检测所述光发生器(141)的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时所述光接收器(142)的输出值，其中，所述输出值包括第一输出值和第二输出值，当介质的标记部分位于所述传感器(14)的检测位置时所述光接收器(142)的输出值为所述第一输出值，当介质的非标记部分位于所述传感器(14)的检测位置时所述光接收器(142)的输出值为所述第二输出值，对应于所述多个输入值中的每一个输入值，得到一个所述第一输出值和一个所述第二输出值；分别计算对应于所述多个输入值中的每一个输入值的所述第一输出值和所述第二输出值的差值的绝对值，得到对应于所述多个输入值的多个绝对值；将所述多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的所述光发生器(141)的输入值作为校正后的所述光发生器(141)的输入值。

7.根据权利要求6所述的介质处理设备，其特征在于，所述控制单元(11)用于采用以下方式依次设置所述光发生器(141)的输入值为所述多个输入值：

读取预先存储的多个预设值；

由所述多个预设值得到所述多个输入值；以及

分别将所述多个输入值中的每一个输入值作为所述光发生器(141)的输入值。

8.根据权利要求6所述的介质处理设备，其特征在于，所述光发生器(141)的输入值为所述光发生器(141)的输入电流值或输入电压值，所述光接收器(142)的输出值为所述光接收器(142)的输出电流值或输出电压值。

9.根据权利要求6所述的介质处理设备，其特征在于，所述控制单元(11)用于采用以下方式检测所述光发生器(141)的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时所述光接收器(142)的输出值：

当所述光发生器(141)的输入值分别为多个输入值中的每一个输入值时，驱动介质在所述介质输送通道中移动，将介质的标记部分或非标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置，其中，当检测到介质的标记部分或非标记部分到达所述传感器(14)的检测位置时，再继续驱动介质移动设定距离，将介质的标记部分或非标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置；

当介质的标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置时，检测所述光接收器(142)的输出值，得到所述第一输出值；以及

当介质的非标记部分定位于所述传感器(14)的检测位置时，检测所述光接收器(142)的输出值，得到所述第二输出值。

10.根据权利要求6所述的介质处理设备，其特征在于，所述控制单元(11)用于采用以下方式将所述多个绝对值中满足预设条件的绝对值对应的所述光发生器(141)的输入值作为校正后的所述光发生器(141)的输入值：

获取所述多个绝对值中的最大的绝对值；以及

将所述最大的绝对值对应的所述光发生器(141)的输入值作为校正后的所述光发生器(141)的输入值。