CN104869907A - X射线计算机断层摄影装置 - Google Patents

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Abstract

实施方式的X射线计算机断层摄影装置具备X射线检测器、数据收集部以及重建部。上述X射线检测器将多个X射线检测元件排列在通道方向和列方向。上述数据收集部具有多个数据收集电路以及多个输出部。上述各X射线检测元件以及上述各数据收集电路中的至少各数据收集电路在中央附近对上述X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统。与并列地配置的上述各数据收集电路连接的各输出部输出经由该各数据收集电路而得到的数字数据。上述重建部根据上述输出的数字数据来重建医用图像。

Description

X射线计算机断层摄影装置
技术领域
本发明的实施方式涉及X射线计算机断层摄影装置。
背景技术
在以往的X射线计算机断层摄影装置(Computed tomography：以下，称为X射线CT装置)中，所谓的第三代X射线CT装置被广泛地使用。
在第三代X射线CT装置中，一边使X射线管与X射线检测器的对在被检体的周围旋转，一边通过X射线检测器内的多个X射线检测元件来检测透过被检体的X射线。另外，各X射线检测元件在与被检体的体轴正交的通道方向和沿着被检体的体轴的列方向被格子状地排列。
检测到的模拟量的检测信号依次经由按照每列进行切换的开关，从每个通道的读出线被数据收集部(DAS)读出。另外，将这样的读出方法称为依次收集方式。
数据收集部具备设置于多个X射线检测元件的每一个的放大器以及A/D转换部和控制基板。放大器以及A/D转换部将由各X射线检测元件收集到的检测信号放大之后，转换成数字数据。控制基板将该数字数据向重建部传送。
重建部根据传送的检测数据，重建与被检体相关的图像。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2001-212128号公报(图4)
发明内容
发明所要解决的技术问题
然而，与排列在通道方向的中央(以下，称为通道中央)附近的元件连接的数据收集部通常从透过旋转中心的X射线来收集相同的投影数据，因此，当在元件间或数据收集部间存在特性的偏差时，以上那样的X射线CT装置易于产生与偏差对应的直径的环状伪影等。特别地，通道中央附近的元件间或数据收集部间的特性的偏差易于与来自通道中央的半径的平方根成反比例地产生伪影。因此，要求通道中央附近的元件间以及数据收集部间的特性的偏差非常小。
例如，在与元件连接的放大器以及A/D转换部(QV/ADC)的线性为根据每个芯片而不同的特性的情况下，由于芯片间的响应性的差异，有时产生伪影。对此，从现有的测量技术、成功率等来看，使每个芯片的特性一致极其困难。
目的在于提供一种能够阻止产生与通道中央附近的元件或数据收集系统中的特性的偏差对应的伪影的X射线计算机断层摄影装置。
解决技术问题的技术方案
实施方式的X射线计算机断层摄影装置具备X射线产生部、X射线检测器、数据收集部以及重建部。
上述X射线产生部产生X射线。
上述X射线检测器将多个X射线检测元件在与上述被检体的体轴正交的通道方向和沿着上述被检体的体轴的列方向排列成格子状。
上述多个X射线检测元件检测从上述X射线产生部产生、透过被检体的X射线，并且检测信号被读出。
上述数据收集部具有多个数据收集电路以及多个输出部。
上述多个数据收集电路收集从上述各X射线检测元件独立地读出的检测信号，并将该收集到的检测信号独立地放大并转换成数字数据。
上述多个输出部独立地输出该转换出的数字数据。
上述重建部根据上述输出的数字数据重建医用图像。
上述各X射线检测元件以及上述各数据收集电路中的至少各数据收集电路在中央附近对上述X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统。
上述各输出部中的、与并列地配置的上述各数据收集电路连接的各输出部输出经由该各数据收集电路而得到的数字数据。
附图说明
图1是示出一实施方式的X射线CT装置的结构的框图。
图2是该实施方式中的X射线检测器的俯视图。
图3是用于说明该实施方式中的检测系统的通道中央以及一部分的系统S的示意图。
图4是用于说明该实施方式中的检测系统的一部分的系统S的结构的示意图。
图5是示出该实施方式中的芯片的分散配置的一个例子的示意图。
图6是示出该实施方式中的芯片的分散配置的另一个例子的示意图。
图7是示出距该实施方式中的通道中央的距离和各元件所要求的相对的精度的示意图。
图8是用于说明该实施方式中的检测系统的一部分的系统S的结构的变形例的示意图。
图9是示出该实施方式中的芯片的分散配置的另一变形例的示意图。
图10是示出该实施方式中的芯片的分散配置的又一变形例的示意图。
具体实施方式
以下，使用附图对一实施方式的X射线CT装置进行说明。
图1是示出一实施方式的X射线CT装置的结构的框图。如图1所示，该X射线CT装置与架台(机架)4以及控制台6电连接。架台4收容X射线系统1以及光学系统2与检测系统3的对，同时收容使该对以病床5上的被检体P的体轴为中心旋转的旋转支承机构(未图示)。旋转支承机构具有旋转环、以旋转轴Z为中心自由旋转地支承旋转环的环支承机构、以及驱动环的旋转的驱动部。在旋转环上，搭载X射线管12和被称为二维阵列型或多列型的X射线检测器31。当进行摄影或扫描时，在架台4中的X射线管12与X射线检测器31之间的圆筒形的摄影区域内，将被检体P载置在病床5上并插入。
X射线系统1、光学系统2以及检测系统3被架台4内的架台控制传送部41控制。架台控制传送部41与控制台6内的系统控制部61可传送地连接。控制台6具备系统控制部61、前处理部62、重建部63、图像存储部64、显示部65以及输入部66。
在此，X射线系统1具备高电压产生部11以及X射线管12。
高电压产生部11具有用于向X射线管12的阳极靶与阴极灯丝之间施加高电压的未图示的高电压电源和用于向X射线管12的阴极灯丝供给灯丝电流的未图示的灯丝电流产生器。
X射线管12从高电压产生部11经由滑动环(未图示)接受电压的施加(以下，称为管电压)以及灯丝电流的供给而产生X射线，从X射线的焦点放射X射线。从X射线的焦点放射出的X射线经由在X射线管12的X射线放射窗口安装的光学系统2内的楔形物21以及槽22，被整形为例如锥形束形(角锥形)。另外，楔形物21是用于减少被辐射的滤波器，槽22是用于对光束进行整形的间隙。X射线的放射范围由虚线示出。X轴是与旋转轴Z正交，并通过所放射的X射线的焦点的直线。Y轴是与X轴以及旋转轴Z正交的直线。设本实施方式中的X射线管12是旋转阳极型的X射线管。另外，即使是固定阳极型的X射线管以外的其它类型的X射线管，也能够适用于本实施方式。
另一方面，检测系统3具备X射线检测器31以及数据收集部(DAS)32。
X射线检测器31夹着旋转轴Z以与X射线管12对置的位置以及角度而被安装。X射线检测器31具有在与被检体P的体轴(或旋转轴Z方向)正交的通道方向和沿着被检体P的体轴的列方向格子状地排列的多个X射线检测元件。分别在多个X射线检测元件上安装收敛入射的X射线的方向性的准直器。多个X射线检测元件各自检测从X射线管12产生并透过被检体P的X射线。例如，透过了被检体P的X射线入射至X射线检测元件。入射至X射线检测元件的X射线被准直器会聚而入射至闪烁体并转换成可见光。可见光入射至光电二极管并产生电荷，使由施加给光电二极管的偏置电压而充电的电荷被放电。被放电的电荷由作为读出开关的CMOS开关通过读出线被充电，并作为检测信号被读出。来自多个X射线检测元件各自的检测信号经由连接切换部(未图示)向数据收集部(DAS)32输出。另外，通道方向也可以设为与旋转轴Z正交且以所放射的X射线的焦点为中心、以从该中心到1通道相应的X射线检测元件的受光部中心为止的距离为半径的圆弧方向。另外，列方向也可以被称为切片方向。另外，上述检测器信号读出的结构是一个例子，来自光电二极管的电荷信号也可以直接向后级的数据收集部(DAS)作为直接电流信号来输出。检测器也可以使用未使用闪烁体的直接转换型的半导体检测器。
数据收集部(DAS)32具有多个数据收集电路以及多个输出部。多个数据收集电路收集从各X射线检测元件独立地读出的检测信号，并将该收集到的检测信号独立地放大并转换成数字数据。多个输出部被配置于控制基板35，独立地输出该转换后的数字数据。数据收集电路的个数少于X射线检测元件的个数。各数据收集电路只设置与未图示的连接切换部的输出端子(或开关)的个数相同的数量，例如，安装于各段的每个通道(ch)。各数据收集电路也可以具备例如放大器33以及A/D转换部。放大器33对从X射线检测元件接收到的检测信号进行放大。A/D转换部34将放大器33的输出信号转换成数字数据，并将该数字数据经由控制基板35向架台控制传送部41输出。该数字数据表示入射至X射线检测器31的X射线量。架台控制传送部41将该数字数据经由系统控制部61向前处理部62传送。
前处理部62根据从数据收集部32经由架台控制传送部41以及系统控制部61而接收到的数字数据，产生投影数据。具体而言，前处理部62通过对数字数据实施前处理来产生投影数据。作为前处理，例如，存在由参照检测器检测X射线管12的管电压或管电流的变动，按照该检测值对数字数据进行归一化而校正X射线强度的偏差的参照处理等。所谓投影数据是指即将进行重建处理之前的数据(原始数据(rawdata))，是与透过被检体的X射线的强度对应的数据值的集合。投影数据在进行数据收集时与表示视角的数据建立关联，被存储于具备磁盘、光磁盘、或半导体存储器的未图示的存储部。在此，为了便于说明，将由单次对焦大致同时收集到的视角相同的涵盖全部通道的一组投影数据称为投影数据集。另外，投影数据集的相对于各通道的投影数据根据视角、锥形角、以及通道编号来识别。视角是设从旋转轴Z竖直向上的圆形轨道的最上部为0°，由360°的范围的角度表示X射线管12以旋转轴Z为中心旋转的圆形轨道的各位置的角度。
重建部63根据视角为360°或180°+扇形角度的范围内的投影数据集，重建大致圆柱形的三维图像(医用图像)。
图像存储部64存储由重建部63产生的体数据。图像存储部64存储通过未图示的图像处理部产生的被检体的剖面图像。
显示部65显示由重建部63重建的图像、存储于图像存储部64的图像、以及为了进行X射线计算机断层摄影而设定的条件等。
输入部66输入操作者所希望的X射线计算机断层摄影的摄影条件以及被检体的信息等。具体而言，输入部66将来自操作者的各种指示·命令·信息·选择·设定取入X射线CT装置。虽然没有图示，但输入部66具有用于进行关心区域的设定等的轨迹球、开关按钮、鼠标、键盘等。输入部66检测显示在显示画面上的光标的坐标，并将检测到的坐标向系统控制部61输出。另外，输入部66也可以是设置成覆盖显示画面的触摸屏。此时，输入部66按照电磁感应式、电磁应变式、压力感应式等坐标读取原理来检测被触摸指示的坐标，并将检测到的坐标向系统控制部61输出。
系统控制部61作为X射线CT装置的中枢来发挥作用。系统控制部61具备未图示的CPU和存储器。系统控制部61根据存储在未图示的存储部中的检查安排数据和控制程序，为了进行X射线计算机断层摄影而控制病床5、架台4、以及高电压产生部11。具体而言，系统控制部61将从输入部66发送的操作者的指示或图像处理的条件等信息暂时地存储于未图示的存储器。系统控制部61根据暂时存储于存储器的这些信息，控制病床5以及架台4和高电压产生部11。系统控制部61从未图示的存储部读出用于执行规定的图像产生·显示等的控制程序，并在自身所具有的存储器上展开，执行与各种处理相关的运算·处理等。
接着，针对以上那样构成的X射线CT装置中的检测系统3的结构具体地进行说明。
图2是X射线检测器31的俯视图，示意性地示出通道方向的中央(通道中央)、通道中央附近以及通道中央的右半部的一部分的系统S。图3是用于说明检测系统3中的通道中央以及一部分的系统S的示意图，图4是用于说明检测系统3中的一部分的系统S的结构的示意图。
在检测系统3中，各X射线检测元件(的光电二极管31c)以及各数据收集电路(的放大器33和A/D转换部34)中至少各数据收集电路在通道中央附近针对每个通道并列地配置多个系统。另外，通道中央附近是指通道方向的中央附近。另外，X射线检测器31中的准直器31a以及闪烁体31b针对每个通道而被配置。另外，在此，以只适用于通道方向的情况为例进行说明，但并不限定于此，也可以适用于通道方向以及列方向这两方向。在以下的全部结构例以及变形例中均相同。
在图4所示的结构中，各X射线检测元件(的光电二极管31c)以及各数据收集电路(的放大器33和A/D转换部34)两者均在通道中央附近针对每个通道并列地配置多个系统。例如，在距离通道中央最近的通道中，并列地配置8个系统的光电二极管31c、放大器33以及A/D转换部34。另外，在距离通道中央的第2～3个通道中，对每个通道并列地配置4个系统的光电二极管31c、放大器33以及A/D转换部34。另外，在距离通道中央的第4～7个通道中，对每个通道并列地配置两个系统的光电二极管31c、放大器33以及A/D转换部34。
作为补充，各X射线检测元件(的光电二极管31c)在通道中央附近，与和该通道中央附近不同的部分相比高密度地配置，随着通道方向的间距接近通道中央而变窄。该通道方向的间距与距离通道中央的距离的平方根大致成比例。另外，是按照大致与距离通道中央的距离的平方根成比例的通道方向的间距来配置通道中心附近的光电二极管31c以后的部分的结构。
在此，分别如图5或图6所示，通道中央附近的系统S内的放大器33以及A/D转换部34也可以在多个芯片上分散地配置。数据收集部32的线性的系统误差主要基于构成数据收集部32的每个芯片所致的特性差。因此，使来自被平均化的X射线检测器31的检测信号分散于各芯片能够使芯片特性的偏差更加平均。
平均化能够由控制基板35、前处理部62或重建部63执行。其中，进行平均化的结构不是必须的，也可以省略。
接着，针对例如控制基板35内的各输出部执行平均化时的情况进行叙述。在图5或图6中，各输出部中，与在系统S内对每个通道并列地配置多个系统的各数据收集电路连接的各输出部35a1、35a2、……对经由该各数据收集电路而得到的数字数据进行平均化并输出。此时，该各输出部35a1、35a2、……也可以具有与该各数据收集电路的输出端子电连接的多个输入端子和与该各输入端子电连接的一个输出端子。即，各输出部35a1、35a2、……也可以综合对每个通道并列地配置多个系统的各数据收集电路的输出，并与架台控制传送部41连接。在图4所示的结构中也相同。
另外，例如，前处理部62也可以对从对每个通道并列地配置多个系统的各数据收集电路经由各输出部输出的数字数据进行平均化。此时，前处理部62根据通过该平均化得到的数字数据和从配置在与通道中央附近不同的部分的各数据收集电路经由各输出部输出的数字数据，执行前处理。
或者也可以不是通过前处理部62进行，而是通过重建部63对从对每个通道并列地配置多个系统的各数据收集电路经由各输出部输出的数字数据进行平均化。此时，重建部63根据通过该平均化得到的数字数据和从配置在与通道中央附近不同的部分的各数据收集电路经由各输出部输出的数字数据，来重建医用图像。
图7是示出距通道中央的距离(或通道数)和各元件所要求的相对的精度的示意图。如图所示，通道中央附近的系统S内的各元件所要求的精度(相对值)与距离通道中央的距离(或通道数)的平方根成比例地变粗。这与通道中央附近的元件间或数据收集部间的特性的偏差易于与距通道中央的距离的平方根成反比例地产生伪影对应。
因此，主要通过综合多个元件来使各元件的线性等系统偏差变小。例如，从通道中央到大约4mm(8ch)，设为通常的1mm间距，到其一半的约2mm(4ch)，设元件的间距为一半。接着，到四分之一的约1mm(2ch)，设元件的间距为四分之一，另外到八分之一的约0.5mm(1ch)，设元件的间距为八分之一。由此，通过对偏差进行平均化，从而能够使偏差精度分别降低到1/√2、1/√4、1/√8，满足图2的曲线图所要求的精度。
例如，与图7中所要求的精度“1/√8”对应，在本实施方式中，对通道中心附近的8个X射线检测元件以及8个数据收集部中的至少8个数据收集部的特性进行平均化，将偏差抑制在“1/√8”。
同样地，与图7中所要求的精度“1/√2”对应，在本实施方式中，对通道中心附近的两个X射线检测元件以及两个数据收集部中的至少两个数据收集部的特性进行平均化，将偏差抑制在“1/√2”。
本实施方式的X射线CT装置通过如以上那样对通道中心附近的检测系统3的特性进行平均化，从而能够阻止产生与通道中央附近的元件或数据收集系统中的特性的偏差对应的伪影。
如上所述，根据本实施方式，将在各X射线检测元件以及各数据收集电路中的至少各数据收集电路在通道中央附近对每个通道并列地配置多个系统。另外，与该并列地配置的各数据收集电路连接的各输出部35a1、35a2、……对该各数据收集电路的输出进行平均化。由此，能够阻止产生与通道中央附近的元件或数据收集系统中的特性的偏差对应的伪影。
另外，当各输出部35a1、35a2、……具有多个输入端子和与各输入端子电连接的一个输出端子时，对每个通道将多个系统并列地配置的各数据收集电路的输出被综合，并与架台控制传送部41连接。此时，能够容易地对该各数据收集电路的输出进行平均化。
另外，并不限定于各输出部35a1、35a2、……对数字数据进行平均化的情况，例如，也可以通过前处理部62或重建部63对从对每个通道并列地配置多个系统的各数据收集电路经由各输出部输出的数字数据进行平均化。此时，也能够得到与本实施方式相同的效果。
另外，即使各X射线检测元件在通道中央附近，与和该通道中央附近不同的部分相比被高密度地配置，并且通道方向的间距随着接近通道中央而变窄的情况下，也能够得到与本实施方式相同的效果。此时，也可以是通道方向的间距与距通道中央的距离的平方根大致成比例的结构。由此，与使用单独的元件的情况相比较，能够将特性的偏差降低到平均化的元件数的平方根分之一，因此能够阻止产生伪影。另外，从对数据收集系统中的特性的偏差进行平均化的观点来看，优选将对来自该高密度地配置的各X射线检测元件的检测信号进行转换的各数据收集电路在多个芯片上分散地配置。
另外，本实施方式的图4至图6所示的结构也可以分别如图8至图10所示的那样进行变形。即，也可以变形为各X射线检测元件(的光电二极管31c)没有被对每个通道配置多个系统，只有各数据收集电路(的放大器33和A/D转换部34)对每个通道被并列地配置多个系统。
另外，从抑制随着增加通道中心附近的X射线检测元件数而数据收集部32的价格上升的观点出发，本实施方式通过使周边部的通道间距成为所需的粗度，从而能够抑制X射线检测器31整体的X射线检测元件数的增加。
另外，本实施方式除了通道方向之外对列方向也能够适用相同的方法。此时，在检测系统3中，各X射线检测元件(的光电二极管31c)以及各数据收集电路(的放大器33和A/D转换部34)中至少各数据收集电路在中央附近对该X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统。另外，在此所谓的“中央附近”的术语是指X射线检测器31的(检测面的)中央附近，更详细地，是指通道方向以及列方向的中央附近。另外，“每一元件”的术语在例如图5中，相当于“每一闪烁体31b”。
作为补充，各X射线检测元件(的光电二极管31c)在中央附近，与和该中央附近不同的部分相比被高密度地配置，并且随着通道方向以及列方向的间距接近中央而变窄。该通道方向以及列方向的间距与距中央的距离的平方根大致成比例。另外，构成为按照大致与距中央的距离的平方根成比例的通道方向以及列方向的间距来配置中心附近的光电二极管31c以后的部分。
在此，中央附近的系统S内的放大器33以及A/D转换部34分别如图5、图6、图9或图10所示，也可以在多个芯片上分散地配置。另外，图9或图10示出在各X射线检测元件以及各数据收集电路中，只有各数据收集电路在中央附近对X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统，并且并列地配置的各数据收集电路在多个芯片上被分散地配置的结构例。
如以上那样，当是将本实施方式的方法适用于两方向(通道方向以及列方向)的结构时，在通道方向，能够得到与本实施方式相同的效果。另一方面，在列方向，与通道方向不同，不会产生阻止或抑制重建图像时产生伪影的效果。其中，当构成MPR(Multi PlanarReconstruction，多平面重建)图像时，在列方向能够得到相互连接的切片图像间的“连接”变得平滑的效果。
虽然说明了本发明的几个实施方式，但这些实施方式是作为例子而提示的，并不意在限定本发明的范围。这些实施方式能够以其它的各种方式进行实施，在不脱离发明的要旨的范围内，能够进行各种省略、置换、变更。这些实施方式或其变形包含于发明的范围或要旨，并且也包含于权利要求书记载的发明及其均等的范围。

Claims (12)

1.一种X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，具备：
X射线产生部，产生X射线；
X射线检测器，将多个X射线检测元件在与被检体的体轴正交的通道方向和沿着上述被检体的体轴的列方向格子状地排列，上述多个X射线检测元件检测从上述X射线产生部产生、并透过上述被检体的X射线，并且检测信号被读出；
数据收集部，具有：多个数据收集电路，收集从上述各X射线检测元件独立地读出的检测信号，将该收集到的检测信号独立地放大并转换成数字数据；以及多个输出部，独立地输出该转换出的数字数据；以及
重建部，根据输出的上述数字数据来重建医用图像，
上述各X射线检测元件以及上述各数据收集电路中的至少各数据收集电路在中央附近对上述X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统，
上述各输出部中的、与并列地配置的上述各数据收集电路连接的各输出部输出经由该各数据收集电路得到的数字数据。
2.根据权利要求1所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
与并列地配置的上述各数据收集电路连接的各输出部具有：多个输入端子，与该各数据收集电路的输出端子电连接；以及一个输出端子，与上述各输入端子电连接。
3.根据权利要求1所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
与并列地配置的上述各数据收集电路连接的各输出部对经由该各数据收集电路得到的数字数据进行平均化并输出。
4.一种X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，具备：
X射线产生部，产生X射线；
X射线检测器，将多个X射线检测元件在与被检体的体轴正交的通道方向和沿着上述被检体的体轴的列方向格子状地排列，上述多个X射线检测元件检测从上述X射线产生部产生、并透过上述被检体的X射线，并且检测信号被读出；
数据收集部，具有：多个数据收集电路，收集从上述各X射线检测元件独立地读出的检测信号，将该收集到的检测信号独立地放大并转换成数字数据；以及多个输出部，独立地输出该转换出的数字数据；以及
重建部，根据上述输出的数字数据重建医用图像，
上述各X射线检测元件以及上述各数据收集电路中的至少各数据收集电路在中央附近对上述X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统，
上述重建部根据从并列地配置的上述各数据收集电路经由上述各输出部而输出的数字数据、以及从配置在与上述中央附近不同的部分的上述各数据收集电路经由上述各输出部而输出的数字数据，来重建上述医用图像，
5.根据权利要求4所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
上述重建部对从上述并列地配置的上述各数据收集电路经由上述各输出部输出的数字数据进行平均化，根据通过该平均化得到的数字数据，重建上述医用图像。
6.一种X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，具备：
X射线产生部，产生X射线；
X射线检测器，将多个X射线检测元件在与被检体的体轴正交的通道方向和沿着上述被检体的体轴的列方向格子状地排列，上述多个X射线检测元件检测从上述X射线产生部产生、并透过上述被检体的X射线，并且检测信号被读出；
数据收集部，具有：多个数据收集电路，收集从上述各X射线检测元件独立地读出的检测信号，将该收集到的检测信号独立地放大并转换成数字数据；以及多个输出部，独立地输出该转换出的数字数据；
前处理部，对输出的上述数字数据进行前处理；以及
重建部，根据前处理后的上述数字数据来重建医用图像，
上述各X射线检测元件以及上述各数据收集电路中的至少各数据收集电路在中央附近对上述X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统，
上述前处理部根据从并列地配置的上述各数据收集电路经由上述各输出部而输出的数字数据、以及从被配置于与上述中央附近不同的部分的上述各数据收集电路经由上述各输出部而输出的数字数据，来执行上述前处理。
7.根据权利要求6所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
上述前处理部对从并列地配置的上述各数据收集电路经由上述各输出部输出的数字数据进行平均化，根据由该平均化得到的数字数据，执行上述前处理。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
在上述各X射线检测元件以及上述各数据收集电路中，只有上述各数据收集电路在上述中央附近对上述X射线检测元件的每一元件被并列地配置多个系统，
并列地配置的上述各数据收集电路在多个芯片上被分散地配置。
9.根据权利要求1至7中任一项所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
上述各X射线检测元件在上述通道方向的中央附近，与和上述中央附近不同的部分相比被高密度地配置，上述通道方向的间距随着接近上述中央而变窄。
10.根据权利要求9所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
上述通道方向的间距与距上述中央的距离的平方根大致呈比例。
11.根据权利要求10所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
对来自上述高密度地配置的各X射线检测元件的检测信号进行转换的各数据收集电路在多个芯片上被分散地配置。
12.根据权利要求9所述的X射线计算机断层摄影装置，其特征在于，
对来自上述高密度地配置的各X射线检测元件的检测信号进行转换的各数据收集电路在多个芯片上被分散地配置。
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