CN104749199B - 双能/双视角的高能x射线透视成像系统 - Google Patents

双能/双视角的高能x射线透视成像系统 Download PDF

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Abstract

本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统具备:检查通道;电子加速器;屏蔽准直装置,包括屏蔽结构、设置在所述屏蔽结构内的用于引出低能平面扇形X射线束流的第一准直器以及用于引出高能平面扇形X射线束流的第二准直器;低能探测器阵列,用于接收来自所述第一准直器的X射线束流;高能探测器阵列,用于接收来自所述第二准直器的X射线束流;信号分析与图像处理子系统、以及电源与控制子系统,所述第一准直器和所述第二准直器位于电子束流的轴线的同一侧,所述第一准直器、所述低能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第一平面内,所述第二准直器、所述高能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第二平面内。

Description

双能/双视角的高能X射线透视成像系统
技术领域
本发明涉及使用两种不同能量的X射线分别从两个不同的角度对受检查对象进行透视成像的系统,特别涉及在无损探伤、透视成像、以及大型集装箱检查、车辆检查、航空货物检查、火车检查等安检设备中利用高能电子加速器产生高能X射线进行透视成像的系统。
背景技术
X射线在工业无损检测、安全检查等领域具有广泛的应用。对于大型的检测对象,例如锅炉、航天发动机、机场/铁路/海关的大宗货物、轿车/卡车/集装箱/火车等整车货物,对其进行透视检查需要使用高能X射线,通常使用能量2MeV以上的电子加速器产生。电子加速器产生X射线的基本方法为:利用电子枪产生电子束流,利用电场对电子束流进行加速使其获得高能量,高能电子束流打靶产生X射线。高能X射线透视成像系统是利用X射线的高穿透能力,X射线穿透受检查对象时,其强度会减弱,减弱的程度与受检查对象的密度、形状、厚度、物质材料等相关,使用探测器获取X射线穿透受检查对象后的强度信息,并经过信号处理、算法分析、图像重建等过程得出反映受检查对象的形状、结构甚至物质材料等信息的透视图像,从而实现结构分析、缺陷检查、货物名称与类型检验、危险品识别、违禁物品检查等目的。
中国专利“一种双视角扫描辐射成像的方法及系统(专利号:CN101210895)”揭示了使用一个射线源产生两个X射线束流对受检查对象进行透视成像,并构建多层次图像的具体方法,这是一项低成本、方便、快速的深度识别技术。
此外,中国专利“多能倍频粒子加速器及其方法(专利号:CN101163372)”等公开了使用电子加速器在不同时刻产生多种不同能量的电子束和X射线的技术;中国专利“产生具有不同能量的X射线的设备、方法及材料识别系统(专利号CN101076218)”、“一种利用多种能量辐射扫描物质的方法及其装置(专利号:CN1995993)”、“物质识别方法和设备(专利号:CN101435783 )”等揭示了使用高能X射线和低能X射线透视受检查对象,获得受检查物体的透视图像和材料信息的方法。
此外,中国专利“一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统(专利号:CN101358936)”揭示了一种使用多能量电子加速器为射线源,通过两个准直器获得对称性(位置对称、能量相同、强度相同等)X射线束流,实现双视角多能量透射图像的方法,这是对上述两类专利技术的组合。其中,多能量电子加速器是指加速器可以在不同的时间输出不同能量的X射线,例如中国专利CN101163372与CN101076218所公开的技术。虽然具有两个准直器,但是两个准直器获得的X射线的特性是相同的。
发明内容
为了解决现有技术的不足,本发明提供一种使用低成本的单能量电子加速器为射线源,通过两个位置对称的准直器分别获取两个具有不同特性的X射线束流,包括能量不同、强度不同、视角不同,并且,两个X射线束流都具有很好的平面内均匀性,来实现双能/双视角透视成像。相比现有技术具有成本低、功能多、图像质量好等技术优势中一个或多个。
本发明提供一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
检查通道,用于使受检查对象通过;
电子加速器,包括电子加速单元、安装在所述电子加速单元的一端的电子发射单元、安装在所述电子加速单元的另一端的靶,来自所述电子发射单元并且被所述电子加速单元加速后的电子束流轰击所述靶而产生X射线;
屏蔽准直装置,包括屏蔽结构、设置在所述屏蔽结构内的用于引出低能平面扇形X射线束流的第一准直器以及用于引出高能平面扇形X射线束流的第二准直器;
低能探测器阵列,用于接收来自所述第一准直器的X射线束流;
高能探测器阵列,用于接收来自所述第二准直器的X射线束流;
信号分析与图像处理子系统,接收来自所述低能探测器阵列以及所述高能探测器阵列的信号,并且经过计算分析最终生成透视图像;以及
电源与控制子系统,对所述双能/双视角的高能X射线透视成像系统的运行提供电源和控制,
所述屏蔽结构包围所述靶,
所述第一准直器和所述第二准直器位于电子束流的轴线的同一侧,
所述第一准直器、所述低能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第一平面内,
所述第二准直器、所述高能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第二平面内。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,所述第一以及第二准直器设置在与轰击所述靶的电子束流构成30度到150度角的方向上。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,所述电子加速器的轴线与所述检查通道平行。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,所述第一准直器和所述第二准直器的中心对称线与所述检查通道垂直。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列分别是由多个低能探测器和多个高能探测器构成的直线型排列、或者分段直线排列、或者标注L型排列、或者C型排列。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列分别是多个探测器排列成一排或者多排。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备用于探测器的安装和固定的探测器臂架,所述探测器臂架形成为直线型、或者分段直线型、或者标注L型、或者C型布置结构。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备用于拖动所述受检查对象以设定的速度从所述检查通道通过的传输装置。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备用于将所述探测器臂架独立固定在地面的可调固定装置。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备布置在所述检查通道的一侧或者两侧的散射屏蔽结构。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备:设备室,用于所述电子加速器等设备的安装固定。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备:控制室,用于对系统工作人员提供设备运行和工作场所。
此外,在本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,还具备:坡台,用于升高所述受检查对象的高度。
此外,本发明提供一种组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
如上所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统;
设备室,固定于所述检查通道一侧的地面,内部安装有所述电子加速器与所述屏蔽准直装置,并且,所述第一准直器和所述第二准直器以不同的角度面向所述检查通道;
传输装置,安装于所述检查通道中;
第一以及第二探测器臂架,位于所述检查通道的另一侧并且通过可调固定装置固定于地面,在内部分别安装有所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列;
散射屏蔽结构,设置在所述设备室与所述检查通道之间;以及
控制室,固定于地面,内部安装有所述信号分析与图像处理子系统以及所述电源与控制子系统,用于对所述组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行控制。
此外,本发明提供一种轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
如上所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统;
平行设置的多根轨道,在相邻的两个轨道之间设置所述检查通道;
移动装置,设置在轨道上;
设备室,通过所述移动装置设置在所述检查通道一侧的所述轨道上,内部安装有所述电子加速器与所述屏蔽准直装置,并且,所述第一准直器和所述第二准直器以不同的角度面向所述检查通道;
两个L型探测器臂架,其“|”段底部通过所述移动装置设置在所述检查通道另一侧的所述轨道上,另一端与所述设备室的顶部连接固定,内部分别安装有所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列;以及
控制室,固定于地面,内部安装有所述信号分析与图像处理子系统以及所述电源与控制子系统,用于对所述组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行控制。
此外,本发明提供一种车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
如上所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统:
底盘车以及安装在所述底盘车上的X射线源舱、设备舱、工作舱、低能探测器臂架系统和高能探测器臂架系统;
所述电子加速器与所述屏蔽准直装置安装在所述X射线源舱中,通过所述第一准直器和所述第二准直器以不同角度向所述底盘车的一侧分别引出低能X射线束流和高能X射线束流,
所述低能探测器臂架系统在内部安装有所述低能探测器阵列,在工作状态下,在所述底盘车的一侧打开,与所述底盘车构成“门”式结构,并且使所述低能探测器阵列位于所述第一准直器所在的所述第一平面内,在非工作状态下折叠存放于所述底盘车顶部,
所述高能探测器臂架系统在内部安装有所述高能探测器阵列,在工作状态下,在所述底盘车的一侧打开,与所述底盘车构成“门”式结构,并且使所述高能探测器阵列位于所述第二准直器所在的所述第二平面内,在非工作状态下折叠存放于所述底盘车顶部,
所述低能探测器臂架系统和所述高能探测器臂架系统位于所述底盘车的同一侧,与所述底盘车构成前后两个“门”式结构,所述两个“门”式结构形成的内部通道成为所述检查通道,
所述设备舱内安装有所述电源与控制子系统以及所述信号分析与图像处理子系统,
所述工作舱内安装有系统操作以及办公设备,用于对所述车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行控制。
本发明主要是提供一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统。一种具有双能量和双视角功能的高能X射线透视成像系统,由能量2MeV以上的高能电子加速器1、屏蔽准直装置2、检查通道3、低能探测器阵列4、高能探测器阵列5、电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7等组成,其中电子加速器和屏蔽准直装置产生两组能量不同、角度不同的X射线束流, X射线束流穿透处于检查通道中的受检查对象,分别被低能探测器阵列和高能探测器阵列接收,接收信号经过分析处理和图像重建,最后显示出反映受检查对象的形状结构和物质材料特性的透视图像。
本发明主要是提供一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统,通过电子加速器、屏蔽准直装置、低能探测器阵列、高能探测器阵列、各种机械组合结构的设计,利用两组能量不同、角度不同但是在各自平面内各向分布均匀的X射线束流进行透视成像,具有下述优点:相比其它使用双能量电子加速器的技术方案,使用单一能量电子加速器,结构简单,成本低;两组不同能量的束流在同一时刻产生,相比其它在不同时刻分别产生高能和低能的方案,检查速度更快;两组不同能量的X射线束流分处不同位置,对应的探测器分别为低能探测器和高能探测器,相比使用高低能综合型探测器的系统结构简单,成本低;X射线束流在其平面内各角度方向上的强度均匀,可以缩短射线源与受检查对象的距离,大角度引出X射线覆盖受检查对象;每组X射线束流在其平面扇形区域内,具有能散小,强度分布均匀,靶点尺寸小的多个优点,可以提高X射线透视成像系统的图像质量。本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统可以设计为固定式、组合式、轨道移动式或车载移动式等具体形势,具有结构简单、成本低、功能强、图像质量好等优点。
附图说明
图1是本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统结构示意图。
图2是本发明中的一种电子加速器与屏蔽准直装置的结构示意图,(A)是电子加速器与屏蔽准直装置的结构示意图,(B)是屏蔽准直装置的剖面图。
图3是另外两种双能/双视角的高能X射线透视成像系统结构示意图,(A)是电子加速器的轴线L与检查通道3形成夹角β的情况,(B)是准直器202a与202b的中心对称线H与检查通道3形成夹角γ的情况。
图4是几种不同形状的探测器阵列的结构及布置方法的示意图,(A)是分段直线型,(B)是标准L型,(C)是C型,(D)是单列和多列探测器,(E)是探测器端面指向靶点O的情况。
图5是一种组合固定式双能/双视角高能X射线透视成像系统的结构示意图。
图6是一种轨道移动式双能/双视角高能X射线透视成像系统的结构示意图。
图7是一种车载移动式双能/双视角高能X射线透视成像系统的结构示意图。
具体实施方式
以下,参照附图详细地对本发明进行说明。
图1是本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统的结构示意图。图2是本发明中的一种电子加速器与屏蔽准直装置的结构示意图,(A)是电子加速器与屏蔽准直装置的结构示意图,(B)是屏蔽准直装置的剖面图。
如图1以及图2所示,本发明的双能/双视角的高能X射线透视成像系统由高能电子加速器1、屏蔽准直装置2、检查通道3、低能探测器阵列4、高能探测器阵列5、电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7组成,其中,电子加速器1包括电子发射单元101、电子加速单元102以及靶103,产生的电子束流E具有2MeV以上的高能量,此外,屏蔽准直装置2包括屏蔽结构201以及至少两个准直器202a、202b,两个准直器202a、202b设置在电子束流E的轴线的同一侧。此外,准直器202a、低能探测器阵列4与电子束流E打靶产生的靶点处于第一平面内,准直器202b、高能探测器阵列5与电子束流E打靶产生的靶点处于第二平面内。
此外,准直器202a、202b所处的第一平面和第二平面与电子束流E的轴线形成不同大小的夹角,夹角的角度范围为30度至150度,分别引出在各自平面内强度分布均匀的高能X射线束流和低能X射线束流。
在图1中示出了一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统的结构的示意图,电子加速器1产生高能电子束流E,其轴线为L,电子束流E打靶,在靶点位置Ο产生4Π立体角发射的X射线,包围靶点Ο的屏蔽准直装置2吸收阻挡大部分X射线,通过位于电子束流轴线L同一侧的两个准直器202a和202b分别引出低能平面扇形X射线束流X1和高能平面扇形X射线束流X2。X1和X2以不同角度同时透射位于检查通道3中的受检查对象8的不同位置,X射线的强度受到不同程度的减弱,并且分别被低能探测器阵列4和高能探测器阵列5接收,低能探测器阵列4和高能探测器阵列5将反映X射线强度的信号进行初步处理后,送给信号分析与图像处理子系统7,经过信号分析、算法计算、图像构建等过程得出反映受检查对象8的两个被X射线穿透的切面的透视图像。在工作过程中,如果让受检查对象8与X射线透视成像系统保持相对运动,即,让受检查对象8的各部分先后经过低能X射线透视区和高能X射线透视区,则可以获得受检查对象8的两幅完整透视图像,一幅由低能X射线以左向视角穿透,并被低能探测器阵列4接收的低能左视透视图像,另一幅由高能X射线以右向视角穿透,并被高能探测器阵列5接收的高能右视透视图像。通过双视角图像重建算法对这两幅图像进行处理,获得具有层次感的综合图像,通过双能量材料识别算法对这两幅图像进行处理,获得具有材料特性的图像,最后综合为具有材料信息和分层次信息的受检查对象8的透视图像。
同方威视技术股份有限公司的专利CN101210895对使用两个不同视角的X射线束流对受检查对象进行透视成像,最终构建出多层次图像的方法进行了具体描述。虽然本申请中所采用的两个X射线束流是不同质的,即,一个为低能量而另一个为高能量,并且分布均匀性更好、靶点更小,不同于专利CN101210895所用的对称X射线,但是,双视角图像重建算法可以基本相同,因此在本申请中不再详细描述。
同方威视技术股份有限公司的多个专利例如CN101435783等,对使用两种不同能量的X射线束流先后对受检查对象分别进行透视成像,最终构建出反映物质材料信息的透视图像的方法进行了具体描述。虽然在本申请中是通过单能加速器在两个不同的位置同时产生低能和高能X射线,不同于专利CN101435783等所披露的利用双能加速器在同一个位置按时间先后分别产生低能和高能X射线的方法,但是,通过双能量实现物质识别的方法是基本相同的,在本申请中不再详细描述。
由于电子束流打在靶上时,在相对于靶的不同的方位角上产生的X射线束流的强度和能量分布是不同的,因此当多个准直器布置在相对于靶的不同的方位角上时,由电子加速器和具有多个准直器的屏蔽准直装置组成的子系统能够引出多组角度不同、强度不同、能量分布不同的X射线束流,并且这里所述的多组X射线束流除了强度不同、能量不同、角度不同外,还具有在各自平面扇形区域内X射线强度分布均匀、能散较小、焦点较小等特点。
在图2中示出了在本发明中所使用的一种电子加速器与屏蔽准直装置的具体结构的示意图。
在图2(A)中示出了电子加速器与屏蔽准直装置的组成,电子加速器1由电子发射单元101、电子加速单元102和靶103组成,电子发射单元101产生电子束流E,电子加速单元102对电子束流E进行加速,使其成为高能量的电子束流,使电子束流的轴线为L,也定义为电子加速器1的轴线,高能电子束流轰击靶,在靶点位置Ο产生向空间各个角度发射的X射线。屏蔽准直装置2包围靶,屏蔽准直装置2由屏蔽结构201和准直器202组成,准直器202是设置在屏蔽结构201中的平面扇形薄缝,用于引出计划使用的X射线,并将X射线限制在所需要的平面形状内。扇形的角点是电子束流打靶的靶点Ο,薄缝的厚度为毫米量级,通常例如为0.5mm至5mm,典型的如2mm。此外,薄缝还可以是具有一定锥度的缝隙,例如靠近靶点位置Ο处缝隙厚度薄,远离靶点位置Ο处缝隙厚度厚,例如靶点处缝隙厚度1.5mm,中段厚度2mm,缝隙出口处厚度2.5mm。在图2所示的结构中准直器202有两个,分别为202a和202b,为了描述方便,本申请中有时也将准直器202a称为第一准直器,将准直器202b称为第二准直器,准直器202a与电子束流的偏转角θ1较大,引出平面扇形低能X射线束流,称为X1,准直器202b与电子束流的偏转角θ2较小,引出平面扇形高能X射线束流,称为X2,X射线束流X1与X2之间的中心线,也是准直器202a和202b的中心对称线,定义为H。在图2中H与L成90度角,这是一种推荐的具有较优效果的设计结构。
在图2(B)中示出了一种屏蔽准直装置2的剖面视图。屏蔽准直装置2包围靶点Ο,在靶点产生的X射线,大部分X射线被屏蔽结构201阻挡吸收,只有准直器202的缝隙可以引出平面扇形X射线束流。缝隙的厚度、张角大小以及开口位置决定了平面扇形X射线束流的形状分布。典型的如图2(B)所示,X射线束流厚度为2mm,总张角为90度,以水平面(0°)为参考,其中,向下张角15度(-15°),向上张角75度(+75°)。
在本发明中,电子加速器1的轴线L与检查通道3的夹角小于60度,推荐的为两者平行。电子加速器1的轴线L与检查通道3形成夹角β的情形如图3(A)所示。
在本发明中,两个准直器202a、202b的中心对称线与检查通道3的夹角大于45度,推荐的为两者垂直。准直器202a与202b的中心对称线H与检查通道3形成夹角γ的情形如图3(B)所示。
在图3中示出了另外两种双能/双视角的高能X射线透视成像系统的结构的示意图。
图3(A)示出了一种电子加速器1的轴线L与检查通道3形成夹角β的X射线透视成像系统结构,在β小于60度的情况下,只要将准直器202a与电子束流的偏转角θ1以及准直器202b与电子束流的偏转角θ2调整为合适的角度,X射线透视成像系统都可以实现双能/双视角的功能。但是,当β角度越大时,低能X射线X1和高能X射线X2之间的能量差异会受到影响,因此,推荐的是β=0,即,电子加速器1的轴线L与检查通道3平行。
图3(B)示出了一种两个准直器202a、202b的中心对称线H与检查通道3形成夹角γ的X射线透视成像系统结构,在γ大于45度的情况下,只要将准直器202a与电子束流的偏转角θ1以及准直器202b与电子束流的偏转角θ2调整为合适的角度,X射线透视成像系统也可以较好地实现双能/双视角的功能。但是,γ角度越小时,高能X射线X2的路径越长,一方面使探测器的数量增加,使成本变高,另一方面视角太偏,也影响重建图像的分层效果。因此,推荐的是γ在90度附近,例如,两个准直器202a、202b的中心对称线H与检查通道3垂直。
在本发明中,低能探测器阵列4和高能探测器阵列5是由多个低能探测器或高能探测器构成的直线型排列,或者分段直线排列,或者标准L型排列,或者C型排列。
在本发明中,低能探测器阵列4和高能探测器阵列5是由多个探测器排列成一排或者多排。
在图4中示出了几种探测器阵列的不同形状和不同布置方式。
图4(A)示出了一种探测器阵列按照分段直线的方式布置的情形。低能探测器阵列4分为两个直线段,上部低能探测器阵列41和侧面低能探测器阵列42,同样高能探测器阵列5也分为上部高能探测器阵列51和侧面高能探测器阵列52。从靶点Ο产生的X射线被2个准直器(图中是垂直纸面,前后叠加在一起的位置关系)引出为平面扇形低能X射线束流和高能X射线束流,分别穿透受检查对象8,被低能探测器阵列4或者高能探测器阵列5接收。探测器阵列和靶点O构成的扇形区域能完整覆盖受检查对象8的切面。这种结构的探测器阵列的结构简单并且易于安装和固定。
图4(B)示出了一种探测器阵列按照标准L型的方式布置的情形。低能探测器阵列4分为两个互相垂直的直线段,即,上部“-”段位置的低能探测器阵列41和侧面“|”段位置的低能探测器阵列42,同样高能探测器阵列5也分为上部“-”段位置的高能探测器阵列51和侧面“|”段位置的高能探测器阵列52。从靶点Ο产生的X射线被2个准直器(图中是垂直纸面,前后叠加在一起的位置关系)引出为平面扇形低能X射线束流和高能X射线束流,分别穿透受检查对象8,被低能探测器阵列4或者高能探测器阵列5接收。探测器阵列和靶点O构成的扇形区域能完整覆盖受检查对象8的切面。这种结构的探测器阵列的结构简单、规则,易于形成可折叠收拢的结构。
图4(C)示出了一种探测器阵列按照C型方式布置的情形。低能探测器阵列4和高能探测器阵列5分别位于两个弧线段上,该弧线段以靶点位置Ο为圆心。从靶点Ο产生的X射线被2个准直器(图中是垂直纸面,前后叠加在一起的位置关系)引出为平面扇形低能X射线束流和高能X射线束流,分别穿透受检查对象8,被低能探测器阵列4或者高能探测器阵列5接收。探测器阵列和靶点Ο构成的扇形区域能完整覆盖受检查对象8的切面。在这种结构的探测器阵列中,各探测器到靶点的距离相等,而本发明的准直器引出的又恰好是各角度上强度分布均匀的X射线束流,因此,各探测器接收到的原始X射线信号强度是一致的,故可以选用放大倍数完全一致的探测器组成探测器阵列,有利于简化系统,降低成本。
图4(D)示出了从X射线的方向观察探测器布置方式的情形。探测器阵列可以是由多个探测器排成一排,也可以是由多个探测器排成多排。探测器排列为多排时,探测器的相对位置可以是并列的,也可以是错开的。使用多排探测器,会增加探测器的成本,但是,每次获取的受检查对象的切片厚度也成倍增加,可以成倍提高系统的检查速度。
图4(E)示出了各位置探测器的端面与X射线都是垂直关系。在X射线透视成像系统中,所有探测器通常都是正面接收X射线的入射,也即所有探测器都布置为端面指向靶点Ο。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括探测器臂架9,用于探测器的安装和固定,并形成所述的直线型,或者分段直线型,或者标准L型,或者C型布置结构。探测器臂架9通常为管状,可以对安装在其内部的探测器形成保护,在探测器端面的对应位置具有开口,不影响X射线直接到达探测器端面。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括传输装置10,用于拖动受检查对象8以设定的速度从检查通道通过。传输装置可以是皮带、辊道、链条、滚轮、拖杆等各种传送方式。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括可调固定装置11,用于将探测器臂架9独立固定在地面,并且可对探测器臂架9的位置、开口的方向进行灵活调整。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括布置在检查通道3的一侧或两侧的散射屏蔽结构,用于屏蔽X射线穿透受检查对象8时形成的反射射线和散射射线,保障工作人员和公众的安全。准直器侧的散射屏蔽结构,在与准直器对应的位置有长条型开口,便于X射线束流的通过;位于探测器侧的散射屏蔽结构,位置在探测器臂架后方。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括设备室,用于电子加速器1等设备的安装固定,提供合适的温湿度工作环境,符合国家对X射线设备的相关运行管理规定。设备室可以是各种舱体,例如集装箱改造的设备舱,也可以是临时房间或者固定建筑。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括控制室,为系统工作人员提供合适的设备运行和工作场所。控制室可以是各种舱体,如集装箱改造的设备舱,也可以是临时房间或者固定建筑。
本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统还包括坡台,用于升高受检查对象的位置高度,使受检查对象的各个部分都能处于低能X射线和高能X射线的覆盖范围之内。
需要特别指出的是,在本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,低能探测器和高能探测器是指其接收的X射线束流相对为低能量和高能量,探测器本身不一定有明显区别。推荐的是,低能探测器和高能探测器是分别对相对低能量的X射线束流和高能量的X射线束流具有更好的探测效果的探测器。
需要特别指出的是,在本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,屏蔽准直装置2可以在电子束流的同一侧具有更多的准直器,形成更多能量更多视角的高能X射线透视成像系统。
需要特别指出的是,在本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,电子加速器1可以是单能量加速器,也可以是脉冲交替多能量加速器。当电子加速器1为双(多)能量时,对应的探测器也相应的为双(多)能探测器。
需要特别指出的是,在本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统中,各组成部分,可以全部布置在地面,形成固定式系统;也可以一部分固定在地面,一部分布置在短距离移动设备上,形成部分移动式系统;还可以全部布置在可远距离移动的设备上,形成移动式系统。
此外,在图5中示出了一种组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统的示例。
图5中所示的组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统由电子加速器1、屏蔽准直装置2、检查通道3、低能探测器阵列4、高能探测器阵列5、电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7、探测器臂架9、传输装置10、可调固定装置11、散射屏蔽结构12、设备室13、控制室14组成。
电子加速器1与屏蔽准直装置2等安装在设备室13中,位于检查通道3的一侧,电子加速器1的轴线平行于检查通道3,准直器202a和202b面向检查通道3并且其中心对称线垂直于检查通道3。准直器202a和202b的扇形薄缝的总张角90度,其中向下-15度向上+75度,电子加速器1离检查通道3的距离较小,也能覆盖大型受检查对象8,减小系统的占地面积。C型探测器臂架9位于检查通道3的另一侧,有两组,内部分别安装低能探测器阵列4和高能探测器阵列5,通过可调固定装置11固定在地面,分别位于与准直器202a和202b相对应的位置,即,靶点位置Ο、准直器202a与低能探测器阵列4这三者位于第一平面内,靶点位置Ο、准直器202b与高能探测器阵列5这三者位于第二平面内。平面辊轴式的传输装置10安装在检查通道3中,可承载航空集装箱、航空托盘等大型箱体通过X射线检查区域。散射屏蔽结构12设置在设备室13与检查通道3之间,是一种铅板和钢板的复合结构,铅板用于屏蔽X射线,钢板用于结构支撑和固定。散射屏蔽结构12在与准直器202a和202b对应的位置设置有长条形开口,不会对低能X射线X1和高能X射线X2形成阻挡。电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7、以及办公设备等布置在控制室14中。设备室13和控制室14是带保温层的钢结构舱体,具备基本的窗、门、空调、照明、通风等设施,上部有吊装结构,底部有固定结构,可以灵活摆放安装。设备室、控制室、传输装置、探测器臂架之间通过电线电缆连接,各部分结构相对独立,可现场灵活固定安装,因此称为组合固定式。这种组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统适合于在机场、货运车站等场所对大型、中型的货柜、行李集中装运的箱体等受检查对象进行透视成像检查。
在图6中示出了一种轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统的示例。
图6中所示的轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统由电子加速器1、屏蔽准直装置2、检查通道3、低能探测器阵列4、高能探测器阵列5、电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7、L型探测器臂架9、设备室13、控制室14、轨道20、移动装置21、连接支撑结构22、电气连接结构23等组成。
电子加速器1与屏蔽准直装置2等安装在设备室13中,通过设备室13底部的移动装置21放置在固定于地面的轨道20上,位于检查通道3的一侧,电子加速器1的轴线平行于检查通道3,准直器202a和202b面向检查通道3并且其中心对称线垂直检查通道3。两组L型探测器臂架9的一端(“-”段)均通过连接支撑结构22与设备室13的顶部连接固定,L型探测器臂架9的另一端(“|”段底部)均通过移动装置21放置在检查通道3的另一侧的导轨20上,各导轨相互平行,探测器臂架9与设备室13形成放置在多根平行导轨上的门式结构。各移动装置有多种实现方式,例如步进电机带动的滚轮等,保持同步运动,从而让探测器臂架9和设备室13构成的“门”式机构在轨道上整体移动。两组L型探测器臂架9的上部“-”段内,内部分别安装低能探测器阵列41和高能探测器阵列51,侧面“|”段内,内部分别安装低能探测器阵列42和高能探测器阵列52。靶点位置Ο、准直器202a、低能探测器阵列41、低能探测器阵列42位于第一平面内,靶点位置Ο、准直器202b、高能探测器阵列51、高能探测器阵列52位于第二平面内。电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7以及办公设备等布置在控制室14中。控制室14固定摆放在地面上,与设备室13之间通过电气连接结构连接,电气连接结构包括电缆和对电缆进行自动收放的设备,例如电缆自动卷筒等,可在设备室13在轨道上移动过程中自动收放电缆,灵活调节电缆长度。这种双能/双视角的高能X射线透视成像系统部分固定在地面,部分放置在导轨上,可以在一定距离内往返移动,因此称为轨道移动式。
轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统对受检对象进行透视成像的过程是:受检查对象8停放在检查通道3上,电子加速器1开始工作,与屏蔽准直装置2共同产生X射线束流X1和X2,同时,设备室13和探测器臂架9组成的“门”式结构以设定的速度从导轨的一端移动到另一端,从而让准直器202a引出的平面扇形低能X射线X1和准直器202b引出的平面扇形高能X射线X2先后扫过停止在检查通道3上的受检查对象,并且分别被低能探测器阵列4和高能探测器阵列5接收,最后经信号分析与图像处理子系统7产生反映受检查对象多层次结构和材料信息的透视图像。
轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统还可以包括坡台24,用于提高受检查对象8的高度,实现对受检查对象8的完整成像,例如对小汽车检查时,可以连汽车轮胎一起成像,检查是否在汽车轮胎中夹带毒品等违禁物品。坡台24具有已知的设计结构,例如钢架结构等,可以在系统成像时,对部分坡台的结构信息进行消隐,从而减除坡台对受检对象8的图像影响。
轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统可以布置在海关、陆路口岸、重要场所等地对中小型货车、各种拖挂车厢、各种轿车、小型客车等进行透视成像,获取清晰的透视图像,并具有多层次显示和材料识别的功能,因此可以很好的实现对走私品、危险品、违禁物品的检查。
此外,在图7中示出了一种车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统的示例。
图7所示的车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统由电子加速器1、屏蔽准直装置2、检查通道3、低能探测器阵列4、高能探测器阵列5、电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7、可折叠L型探测器臂架9(两个,分别为9a和9b)、底盘车30、电源舱31、X射线源舱32、设备舱33、工作舱34、升降与旋转装置36(两个,分别为36a和36b)、连接支撑装置37(两个,分别为37a和37b)、折叠连接装置38(两个,分别为38a和38b)等组成。
底盘车30为大型卡车,例如Volvo的三轴重型底盘车,上面设计有多个舱体,分别为电源舱31、X射线源舱32、设备舱33、工作舱34等。各舱体根据需要设计有保温层、窗、门、空调、照明、通风等设施。
在电源舱31内安装有供电设备,可以是发电设备,例如柴油发电机,和/或市电电源连接装置,例如包括电缆和自动卷筒在内的可与市电连接的设备。电源舱为整个系统提供电力支持,功率容量通常在15kVA以上。
电子加速器1与屏蔽准直装置2等安装在X射线源舱32中,电子加速器1的轴线L与底盘车30的左右对称线平行,屏蔽准直装置2的两个准直器202a和202b的中心对称线H与底盘车的左右对称线垂直,引出的低能X射线X1和高能X射线X2通过X射线源舱32侧面的长条型开孔从底盘车30的同一侧射出。车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统还进一步包括辐射安全防护子系统,由按照国家相关规定要求的辅助屏蔽设施、辐射标识、声光警示、环境剂量监测、摄像监控、安全连锁等装置组成,辐射安全防护子系统的全部或者部分设备也安装在射线源舱中。
设备舱33安装有设备电源与控制子系统6、信号分析与图像处理子系统7等其它相关设备。电源与控制子系统6进一步包括探测器臂架系统运动控制分子系统。
工作舱34安装在底盘车30的尾部,内部安装有办公桌椅、显示设备及操作控制设备等,是工作人员对车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行运行操作的场所。
X射线源舱32的上部安装有升降与旋转装置36,可折叠L型探测器臂架9通过连接支撑装置37和升降与旋转装置36连接,可折叠L型探测器臂架9分为“-”和“|”两个直线段,两段相连处通过折叠连接装置38连接,这部分装置统称为探测器臂架系统。升降与旋转装置36用于探测器臂架系统相对底盘车的升降和一定角度的旋转,有多种实现方法,例如利用液压装置、气动装置或电机等。折叠连接装置38用于L型探测器臂架9的“-”和“|”两个直线段的连接、以及在特定状态下将这两段折叠为“=”型或者打开为“L”型,也有多种实现方法,例如利用液压连杆装置、气动连杆装置或电机齿轮组合装置等。
升降与旋转装置36、连接支撑装置37、可折叠L型探测器臂架9以及折叠连接装置38与两个准直器202a、202b、两组X射线束流即低能X1和高能X2对应地,也分为结构和功能基本相同的两组,分别称为36a和36b、37a和37b、9a和9b、38a和38b。它们之间的具体连接关系为:(a)在与准直器202a对应的位置,X射线源舱32的上部安装有升降与旋转装置36a,可折叠L型探测器臂架9a通过连接支撑装置37a和升降与旋转装置36a连接,可折叠L型探测器臂架9a分为“-”和“|”两个直线段,“-”段内安装有低能探测器阵列41,“|”段内安装有低能探测器阵列42,两段相连处通过折叠连接装置38a连接,这一部分称为低能探测器臂架系统;(b)在与准直器202b对应的位置,X射线源舱32的上部安装有升降与旋转装置36b,可折叠L型探测器臂架9b通过连接支撑装置37b和升降与旋转装置36b连接,可折叠L型探测器臂架9b分为“-”和“|”两个直线段,“-”段内安装有高能探测器阵列51,“|”段内安装有高能探测器阵列52,两段相连处通过折叠连接装置38b连接,这一部分称为高能探测器臂架系统。
车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统的所有设备都集成在一辆底盘车上,形成一种特种设备车辆。平时,探测器臂架系统折叠收放在位置35的区域(图7中虚线框所示)。车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统通过底盘车可以在县级公路及以上的各种道路上行使,从而可以灵活地满足各种场合的应用需求。
工作原理和过程
车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统驾驶到达某个应用需求场所,具体工作过程如下:
(1)车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统停置到平整空旷的工作场所,工作人员进入工作舱,启动系统;
(2)电源舱31中的供电设备开始工作,例如发电机启动,或者电力电缆连接到市电供电设备,车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统获得电力供应;
(3)电源与控制子系统6的探测器臂架系统运动控制分子系统工作,使得:(a)升降与旋转装置36a先升高到一定高度,然后,顺时针旋转一定角度,使低能探测器阵列41、低能探测器阵列42位于靶点位置Ο、准直器202a所在的第一平面内;折叠连接装置38a驱动可折叠L型探测器臂架9a从“=”的折叠状态打开为“L”状态;(b)升降与旋转装置36b先升高到一定高度,然后,逆时针旋转一定角度,使高能探测器阵列51、高能探测器阵列52位于靶点位置Ο、准直器202b所在的第二平面内;折叠连接装置38b驱动可折叠L型探测器臂架9b从“=”的折叠状态打开为“L”状态;(a)和(b)可以先后进行,也可以同时进行。探测器臂架系统在底盘车的一侧与底盘车构成一个“门”式结构,该“门”式结构内的通道即为检查通道3,如图7中虚线所示;
(4)受检查对象例如集装箱卡车、厢式货车、客车、小型轿车等按队列停放到检查通道上,驾驶员等人员离开受检查对象;
(5)电源与控制子系统6启动电子加速器1的工作,通过准直器202a在第一平面内输出低能扇形X射线束流X1,同时通过准直器202b在第二平面内输出高能扇形X射线束流X2;X1直接到达或者穿透受检查对象后到达位于探测器臂架9a “-”段内的低能探测器阵列41和“|”段内的低能探测器阵列42;X2直接到达或者穿透受检查对象后到达位于探测器臂架9b “-”段内的高能探测器阵列51和“|”段内的高能探测器阵列52;所有探测器阵列将接收到的信号转化后输送到信号分析与图像处理子系统7;
(6)电源与控制子系统6启动电子加速器工作的同时,启动底盘车自动驾驶,以设定的速度沿直线行使,让X射线束流X1和X2先后扫过检查通道上的所有受检查对象;
(7)信号分析与图像处理子系统7同步(与上述(5)、(6)同步)获得反映受检查对象几何结构和材料信息的低能X射线透视数据和高能X射线透视数据,经过信号分析、算法计算、图像构建等过程产生受检查对象的具有多层次信息和材料信息的透视图像,并在显示设备上实时显示出来;工作人员根据图像信息,实现对走私品检查、危险品检查、违禁物品检查等检查目的;
(8)受检查对象例如集装箱卡车、厢式货车、客车、小型轿车等在完成检查,并且,在没有需要处理的问题时,驶离检查通道;
(9)如果有多批次受检查对象,则重复上述的(4)~(8);如果检查工作结束,则停止电子加速器1的工作,停止X射线的产生,并且:(a)折叠连接装置38a先驱动可折叠L型探测器臂架9a从“L”的打开状态收拢为“=”折叠状态;升降与旋转装置36a逆时针旋转一定角度,使折叠后的L型探测器臂架9a到达35虚线框区域上方,然后,下降一定高度到达存放位置;(b)折叠连接装置38b先驱动可折叠L型探测器臂架9b从“L”的打开状态收拢为“=”折叠状态;升降与旋转装置36b顺时针旋转一定角度,使折叠后的L型探测器臂架9b到达35虚线框区域上方,然后,下降一定高度到达存放位置;(a)和(b)可以先后进行,也可以同时进行;
(10)工作人员停止系统工作,关闭电源,离开工作室,并可以将车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统开往下一个工作地点。
车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统可以布置在海关、陆路口岸、机场、重要场所等地对集装箱车辆、大中小型货车、各种轿车、小型客车等进行透视成像,获取清晰的透视图像,并具有多层次分辨和材料识别的功能,因此可以很好的实现对走私品、危险品、违禁物品的检查。
(有益效果)
本发明主要是提供一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统,通过电子加速器、屏蔽准直装置、低能探测器阵列、高能探测器阵列、各种机械组合结构的设计,利用两组能量不同、角度不同但是在各自平面内各向分布均匀的X射线束流进行透视成像,具有下述优点:相比其它使用双能量电子加速器的技术方案,使用单一能量电子加速器,结构简单,成本低;两组不同能量的束流在同一时刻产生,相比其它在不同时刻分别产生高能和低能的方案,检查速度更快;两组不同能量的X射线束流分处不同位置,对应的探测器分别为低能探测器和高能探测器,相比使用高低能综合型探测器的系统结构简单,成本低;X射线束流在其平面内各角度方向上的强度均匀,可以缩短射线源与受检查对象的距离,大角度引出X射线覆盖受检查对象;每组X射线束流在其平面扇形区域内,具有能散小,强度分布均匀,靶点尺寸小的多个优点,可以提高X射线透视成像系统的图像质量。本发明的一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统可以设计为固定式、组合式、轨道移动式或车载移动式等具体形势,具有结构简单、成本低、功能强、图像质量好等优点。

Claims (15)

1.一种双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
检查通道,用于使受检查对象通过;
电子加速器,包括电子加速单元、安装在所述电子加速单元的一端的电子发射单元、安装在所述电子加速单元的另一端的靶,来自所述电子发射单元并且被所述电子加速单元加速后的电子束流轰击所述靶而产生X射线;
屏蔽准直装置,包括屏蔽结构、设置在所述屏蔽结构内的用于引出低能平面扇形X射线束流的第一准直器以及用于引出高能平面扇形X射线束流的第二准直器;
低能探测器阵列,用于接收来自所述第一准直器的X射线束流;
高能探测器阵列,用于接收来自所述第二准直器的X射线束流;
信号分析与图像处理子系统,接收来自所述低能探测器阵列以及所述高能探测器阵列的信号,并且经过计算分析最终生成透视图像;以及
电源与控制子系统,对所述双能/双视角的高能X射线透视成像系统的运行提供电源和控制,
所述屏蔽结构包围所述靶,
所述第一准直器和所述第二准直器位于电子束流的轴线的同一侧,
所述第一准直器、所述低能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第一平面内,
所述第二准直器、所述高能探测器阵列、电子束流打靶产生的靶点位于第二平面内,
所述准直器是设置在所述屏蔽结构中的扇形薄缝,所述扇形薄缝是靠近靶点位置处缝隙厚度薄并且远离靶点位置处缝隙厚度厚的薄缝,
所述第一准直器和所述第二准直器的中心对称线与所述检查通道垂直,
所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列分别是由多个低能探测器和多个高能探测器构成的C型排列。
2.如权利要求1所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
所述第一以及第二准直器设置在与轰击所述靶的电子束流构成30度到150度角的方向上。
3.如权利要求1所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
所述电子加速器的轴线与所述检查通道的夹角小于60度。
4.如权利要求1所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
所述电子加速器的轴线与所述检查通道平行。
5.如权利要求1所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列分别是多个探测器排列成一排或者多排。
6.如权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备用于探测器的安装和固定的探测器臂架,
所述探测器臂架形成为C型布置结构。
7.如权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备用于拖动所述受检查对象以设定的速度从所述检查通道通过的传输装置。
8.如权利要求6所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备用于将所述探测器臂架独立固定在地面的可调固定装置。
9.如权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备布置在所述检查通道的一侧或者两侧的散射屏蔽结构。
10.如权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备:设备室,用于所述电子加速器的安装固定。
11.如权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备:控制室,用于对系统工作人员提供设备运行和工作场所。
12.如权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,
还具备:坡台,用于升高所述受检查对象的高度。
13.一种组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统;
设备室,固定于所述检查通道一侧的地面,内部安装有所述电子加速器与所述屏蔽准直装置,并且,所述第一准直器和所述第二准直器以不同的角度面向所述检查通道;
传输装置,安装于所述检查通道中;
第一以及第二探测器臂架,位于所述检查通道的另一侧并且通过可调固定装置固定于地面,在内部分别安装有所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列;
散射屏蔽结构,设置在所述设备室与所述检查通道之间;以及
控制室,固定于地面,内部安装有所述信号分析与图像处理子系统以及所述电源与控制子系统,用于对所述组合固定式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行控制。
14.一种轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统;
平行设置的多根轨道,在相邻的两个轨道之间设置所述检查通道;
移动装置,设置在轨道上;
设备室,通过所述移动装置设置在所述检查通道一侧的所述轨道上,内部安装有所述电子加速器与所述屏蔽准直装置,并且,所述第一准直器和所述第二准直器以不同的角度面向所述检查通道;
两个L型探测器臂架,其“|”段底部通过所述移动装置设置在所述检查通道另一侧的所述轨道上,另一端与所述设备室的顶部连接固定,内部分别安装有所述低能探测器阵列和所述高能探测器阵列;以及
控制室,固定于地面,内部安装有所述信号分析与图像处理子系统以及所述电源与控制子系统,用于对所述轨道移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行控制。
15.一种车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统,其特征在于,具备:
权利要求1~5任一项所述的双能/双视角的高能X射线透视成像系统:
底盘车以及安装在所述底盘车上的X射线源舱、设备舱、工作舱、低能探测器臂架系统和高能探测器臂架系统;
所述电子加速器与所述屏蔽准直装置安装在所述X射线源舱中,通过所述第一准直器和所述第二准直器以不同角度向所述底盘车的一侧分别引出低能X射线束流和高能X射线束流,
所述低能探测器臂架系统在内部安装有所述低能探测器阵列,在工作状态下,在所述底盘车的一侧打开,与所述底盘车构成“门”式结构,并且使所述低能探测器阵列位于所述第一准直器所在的所述第一平面内,在非工作状态下折叠存放于所述底盘车顶部,
所述高能探测器臂架系统在内部安装有所述高能探测器阵列,在工作状态下,在所述底盘车的一侧打开,与所述底盘车构成“门”式结构,并且使所述高能探测器阵列位于所述第二准直器所在的所述第二平面内,在非工作状态下折叠存放于所述底盘车顶部,
所述低能探测器臂架系统和所述高能探测器臂架系统位于所述底盘车的同一侧,与所述底盘车构成前后两个“门”式结构,所述两个“门”式结构形成的内部通道成为所述检查通道,
所述设备舱内安装有所述电源与控制子系统以及所述信号分析与图像处理子系统,
所述工作舱内安装有系统操作以及办公设备,用于对所述车载移动式双能/双视角的高能X射线透视成像系统进行控制。
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10143076B2 (en) * 2016-04-12 2018-11-27 Varian Medical Systems, Inc. Shielding structures for linear accelerators
US10754057B2 (en) * 2016-07-14 2020-08-25 Rapiscan Systems, Inc. Systems and methods for improving penetration of radiographic scanners
CN110199209B (zh) * 2016-07-28 2021-07-30 德国史密斯海曼简化股份公司 散射成像
CN106443806B (zh) * 2016-09-18 2020-01-14 北京君和信达科技有限公司 辐射成像系统和图像处理方法
CN106455285A (zh) * 2016-11-14 2017-02-22 上海联影医疗科技有限公司 一种靶组件以及具有该靶组件的加速器
CN106483153A (zh) * 2016-12-23 2017-03-08 同方威视技术股份有限公司 双能探测器及辐射检查系统
CN106707354A (zh) * 2017-01-04 2017-05-24 重庆日联科技有限公司 人车分离x 射线检测系统
CN109242920B (zh) * 2017-07-11 2020-06-02 清华大学 物质分解方法、装置和系统
CN109686469A (zh) * 2017-10-19 2019-04-26 北京君和信达科技有限公司 准直器及双视角成像系统
CN108387593A (zh) * 2017-12-12 2018-08-10 北京航星机器制造有限公司 一种ct探测装置
CN107870346B (zh) * 2017-12-26 2023-09-19 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 一种x射线强度准无损二维成像装置
CN108508049B (zh) * 2018-02-08 2021-03-26 同济大学 一种基于x射线背散射的移动式轿车底盘安检装置
CN108508043A (zh) * 2018-06-06 2018-09-07 南京正驰科技发展有限公司 单源双视角安检机
JP7063383B2 (ja) * 2018-06-08 2022-05-09 株式会社島津製作所 蛍光x線分析装置および蛍光x線分析方法
RU2706219C1 (ru) * 2019-03-19 2019-11-15 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") Коллиматор для жесткого рентгеновского излучения
CN110850494A (zh) * 2019-10-24 2020-02-28 武汉艾崴科技有限公司 一种大型汽车集装箱双x光源侧照式安检机
CN113640894A (zh) * 2021-06-29 2021-11-12 博微太赫兹信息科技有限公司 一种双视角毫米波收发阵列
GB2624599A (en) * 2021-10-01 2024-05-22 Rapiscan Holdings Inc Methods and systems for the concurrent generation of multiple substantially similar X-ray beams
CN114152994A (zh) * 2021-12-31 2022-03-08 同方威视科技(北京)有限公司 安检设备、安检系统及安检方法
CN117233827B (zh) * 2023-11-10 2024-04-09 原子高科股份有限公司 一种低能光子源的源强测量装置及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4731807A (en) * 1985-10-08 1988-03-15 Thomson-Cgr X-ray examination apparatus
CN2410260Y (zh) * 2000-03-01 2000-12-13 清华大学 可拆装组合的移动式集装箱检测装置
CN2572400Y (zh) * 2002-10-16 2003-09-10 清华大学 一种车载移动式集装箱检查系统
WO2004010162A2 (en) * 2002-07-19 2004-01-29 Varian Medical Systems, Inc. Radiation sources and compact radiation scanning systems

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4599740A (en) * 1983-01-06 1986-07-08 Cable Arthur P Radiographic examination system
JPS63142243A (ja) * 1986-12-05 1988-06-14 Hitachi Ltd 分光型放射線画像撮影装置
JP2638875B2 (ja) * 1988-01-31 1997-08-06 株式会社島津製作所 骨塩定量分析装置
JPH0455743A (ja) * 1990-06-26 1992-02-24 Fujitsu Ltd エックス線検査装置
US6069936A (en) 1997-08-18 2000-05-30 Eg&G Astrophysics Material discrimination using single-energy x-ray imaging system
US6628745B1 (en) * 2000-07-01 2003-09-30 Martin Annis Imaging with digital tomography and a rapidly moving x-ray source
CN1160557C (zh) * 2001-09-03 2004-08-04 北京埃索特核电子机械有限公司 钴60γ射线源-碘化铯或钨酸镉阵列探测器集装箱检测设备
US7783004B2 (en) 2002-07-23 2010-08-24 Rapiscan Systems, Inc. Cargo scanning system
CN1181336C (zh) * 2002-10-16 2004-12-22 清华大学 一种车载移动式集装箱检查系统
WO2004101162A1 (en) 2003-05-19 2004-11-25 Ntu Ventures Private Limited Method and apparatus for disinfecting fluids using electromagnetic radiation while undergoing separation
JP4055743B2 (ja) 2003-06-04 2008-03-05 松下電工株式会社 足浴器
FR2856513A1 (fr) * 2003-06-20 2004-12-24 Thales Sa Tube generateur de rayons x a ensemble porte-cible orientable
CN1627061A (zh) * 2003-12-10 2005-06-15 清华同方威视技术股份有限公司 一种组合移动式低靶点集装箱检查系统
US7162007B2 (en) * 2004-02-06 2007-01-09 Elyan Vladimir V Non-intrusive inspection systems for large container screening and inspection
CN1995993B (zh) 2005-12-31 2010-07-14 清华大学 一种利用多种能量辐射扫描物质的方法及其装置
CN101076218B (zh) 2006-05-19 2011-05-11 清华大学 产生具有不同能量的x射线的设备、方法及材料识别系统
CN101163372B (zh) 2006-10-11 2010-05-12 清华大学 多能倍频粒子加速器及其方法
CN101163369B (zh) * 2006-10-13 2011-07-20 同方威视技术股份有限公司 用于辐射源的控制单元和控制方法及辐射检查系统和方法
CN101162507B (zh) * 2006-10-13 2010-05-12 同方威视技术股份有限公司 一种对移动车辆进行车型识别的方法
US7492861B2 (en) * 2006-10-13 2009-02-17 Tsinghua University Apparatus and method for quick imaging and inspecting moving target
CN101162205B (zh) * 2006-10-13 2010-09-01 同方威视技术股份有限公司 对移动目标进行检查的设备及避让方法
TR200904838T1 (tr) 2006-12-28 2009-10-21 Nuctech Company Limited Binoküler steryoskobik taramalı radyografik görüntülemeye ilişkin metot ve sistem
US7957505B1 (en) * 2007-03-12 2011-06-07 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy X-ray radiography for container inspection
GB0716045D0 (en) 2007-08-17 2007-09-26 Durham Scient Crystals Ltd Method and apparatus for inspection of materials
CN101358936B (zh) * 2007-08-02 2011-03-16 同方威视技术股份有限公司 一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统
CN101435783B (zh) 2007-11-15 2011-01-26 同方威视技术股份有限公司 物质识别方法和设备
CN101470084B (zh) * 2007-12-28 2011-12-28 同方威视技术股份有限公司 一种双视角扫描装置的臂架结构
JP5559471B2 (ja) * 2008-11-11 2014-07-23 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法
CN101592622A (zh) * 2009-07-03 2009-12-02 公安部第一研究所 具有真实双能量的多视角x射线行李爆炸物自动探测装置
WO2011091070A2 (en) 2010-01-19 2011-07-28 Rapiscan Systems, Inc. Multi-view cargo scanner
MX2012009922A (es) * 2010-02-26 2012-12-17 Rapiscan Systems Inc Sistema portatil integrado de punto de control.
IT1405995B1 (it) 2010-07-09 2014-02-06 Alta Lab S R L Sistema e metodo per la ispezione a raggi x e la identificazione della composizione chimica dei materiali
RU2430424C1 (ru) * 2010-08-02 2011-09-27 Исб Портал Лимитед (Исб Портал Лтд) Система досмотра грузов и транспортных средств, перемещающихся своим ходом, способ автоматического радиоскопического контроля движущихся объектов и зоны радиационного сканирования и способ формирования теневого изображения инспектируемого объекта
US9541510B2 (en) * 2011-11-29 2017-01-10 American Science And Engineering, Inc. System and methods for multi-beam inspection of cargo in relative motion
CN203941116U (zh) * 2013-12-30 2014-11-12 同方威视技术股份有限公司 双能/双视角的高能x射线透视成像系统

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4731807A (en) * 1985-10-08 1988-03-15 Thomson-Cgr X-ray examination apparatus
CN2410260Y (zh) * 2000-03-01 2000-12-13 清华大学 可拆装组合的移动式集装箱检测装置
WO2004010162A2 (en) * 2002-07-19 2004-01-29 Varian Medical Systems, Inc. Radiation sources and compact radiation scanning systems
CN2572400Y (zh) * 2002-10-16 2003-09-10 清华大学 一种车载移动式集装箱检查系统

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