CN104729971B - 一种岩石纳米ct的孔隙标定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种岩石纳米CT的孔隙标定方法,该方法包括SEM与CT扫描区域标定带制作;岩样顶面SEM扫描;CT扫描;SEM扫描结果孔隙标定;利用SEM标定出的孔隙去标定CT顶面层的孔隙阈值Th。当获取了SEM标定的CT顶面层孔隙阈值Th后,根据Th标定CT的其余孔隙空间。本发明将SEM实验数据和纳米CT方法结合起来,用SEM的结果去进一步标定纳米CT的结果,利用SEM高精度图片标定后的CT数据,孔隙空间清晰,与直接观察法得到的SEM结果一致。
Description
技术领域
本发明属于岩石微观孔隙特征分析领域,尤其涉及一种岩石纳米CT的孔隙标定方法。
背景技术
岩石的孔隙结构的几何形状、大小及分布,是影响岩石物性的重要因素。特别是对于致密砂岩、泥页岩,建立岩石孔隙三维结构是分析岩石渗流特征,进行有效开发的关键之一。
目前分析岩石微观孔隙特征的方法有很多,具体包括间接的方法,如气体吸附法、压汞法,和直接的方法,如扫描电镜(SEM)、聚焦离子束(FIB)方法;以及微米计算机扫描断层(CT)方法。但是气体吸附法测定的是封闭的微小孔隙,并且需要选择简化的理论公式,对吸附结果进行解释,才能获得孔径分布结果,并且无法给出孔隙的三维分布特征;压汞法也仅适用于相互连通的微小孔隙,并且无法得到孔隙的三维分布特征;扫描电镜方法可以直接观测二维的孔隙形貌,但是无法得到三维分布特征;FIB方法可以分析孔隙的三维特征,但是由于需要利用离子束烧蚀掉样品,属于破坏式;纳米CT方法可以在不破坏样品的情况分析,但是孔隙的判定,目前主要基于纳米CT数据本身获得阈值,进行图像分割,建立孔隙模型。
因此阈值的选取对于纳米CT数据孔隙的提取至关重要,需要结合其他实验得到的孔隙特征进行比对,以验证阈值设定的合理性。间接实验方法仅能得到连通孔隙的孔径分布特征,无法得到闭合孔隙的信息,以及孔隙的结构信息。
发明内容
本发明的目的在于提供一种岩石纳米CT的孔隙标定方法,旨在解决现有阈值分割方法缺乏其他实验数据的支持,不同的灰度分割算法和专家得到的分割阈值不同,缺乏直接实验数据辨别的问题。
本发明是这样实现的,一种岩石纳米CT的孔隙标定方法对SEM扫描区域和CT扫描区域进行位置标定,确保SEM扫描区域和CT扫描区域重合,在此基础上,结合高分辨率的SEM图片对CT孔隙进行标定,具体方法为:
步骤一、根据SEM仪器和CT仪器对样品的具体要求,制作SEM与CT扫描区域标定带,标定带的中央有一个定位孔,为纳米CT的钻样孔;
步骤二、将标定带绑缚在SEM样品上,定位孔露出待扫描区域,在岩样顶面SEM扫描过程中,采用逐级放大方式,定位到标定孔区域,对定位孔区域的岩石表面进行扫描;
步骤三、岩样顶面SEM扫描完成后,将样品取出,放入CT钻样机内,取出定位孔区域的岩样;
步骤四、根据岩样顶面SEM扫描结果,标定出孔隙;
步骤五、利用SEM标定出的孔隙去标定CT顶面层的孔隙阈值Th,当获取了SEM标定的CT孔隙阈值Th后,根据Th标定CT的其余非顶面孔隙空间。
进一步,所述的标定带采用与SEM样品便于区分的并可以绑到SEM样品上的材料。
进一步,所述的定位孔为方形或者圆形。
本发明将SEM实验数据和纳米CT方法结合起来,用SEM的结果去进一步标定纳米CT的结果,利用SEM高精度图片标定后的CT数据,孔隙空间清晰,与直接观察法得到的SEM结果一致。
附图说明
图1是本发明实施例提供的岩石纳米CT的孔隙标定方法流程图;
图2是本发明实施例提供的标定带的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的SEM扫描样品制备示意图;
图中:1、标定带;2、定位孔;3、SEM样品。
具体实施方式
为能进一步了解本发明的发明内容、特点及功效,兹例举以下实施例,并配合附图详细说明如下:本发明不存在软件或方法的创新。
本发明是这样实现的,一种岩石纳米CT的孔隙标定方法对SEM扫描区域和CT扫描区域进行位置标定,确保SEM扫描区域和CT扫描区域重合,在此基础上,结合高分辨率的SEM图片对CT孔隙进行标定,如图1所示,具体方法为:
S101、根据SEM仪器和CT仪器对样品的具体要求,制作SEM与CT扫描区域标定带,标定带的中央有一个定位孔,为纳米CT的钻样孔;(附图2)
S102、将标定带绑缚在SEM样品上,定位孔露出待扫描区域,在岩样顶面SEM扫描过程中,采用逐级放大方式,定位到定位孔区域,对定位孔区域的岩石表面进行扫描;(见附图3)
S103、岩样顶面SEM扫描完成后,将样品取出,放入CT钻样机内,取出定位孔孔区域的岩样;
S104、根据岩样顶面SEM扫描结果,标定出孔隙;
S105、利用SEM标定出的孔隙去标定CT顶面层的孔隙阈值Th,当获取了SEM标定的CT孔隙阈值Th后,根据Th标定CT的其余非顶面孔隙空间。
进一步,所述的标定带采用与SEM样品便于区分的并可以绑到SEM样品上的材料。
进一步,所述的定位孔为方形或者圆形。
本发明将SEM实验数据和纳米CT方法结合起来,用SEM的结果去进一步标定纳米CT的结果,利用SEM高精度图片标定后的CT数据,孔隙空间清晰,与直接观察法得到的SEM结果一致。
以上所述仅是对本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改,等同变化与修饰,均属于本发明技术方案的范围内。
Claims (3)
1.一种岩石纳米CT的孔隙标定方法,其特征在于,所述的岩石纳米CT的孔隙标定方法包括:
步骤一、根据SEM仪器和CT仪器对样品的具体要求,制作SEM与CT扫描区域标定带,标定带的中央有一个定位孔,为纳米CT的钻样孔;
步骤二、将标定带绑缚在SEM样品上,定位孔露出待扫描区域,在岩样顶面SEM扫描过程中,采用逐级放大方式,定位到定位孔区域,对定位孔区域的岩石表面进行扫描;
步骤三、岩样顶面SEM扫描完成后,将样品取出,放入CT钻样机内,取出定位孔区域的岩样;
步骤四、根据岩样顶面SEM扫描结果,标定出孔隙;
步骤五、利用SEM标定出的孔隙去标定定位孔区域岩样CT顶面层的孔隙阈值Th,当获取了SEM标定的CT孔隙阈值Th后,根据Th标定定位孔区域岩样CT的其余非顶面孔隙空间。
2.如权利要求1所述的岩石纳米CT的孔隙标定方法,其特征在于,所述的标定带采用与SEM样品便于区分的并可以绑到SEM样品上的材料。
3.如权利要求1所述的岩石纳米CT的孔隙标定方法,其特征在于,所述的定位孔为方形或者圆形。
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