CN104678278A - 由连接配置提供信号的集成电路测试结构及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种由连接配置提供信号的集成电路测试结构及其测试方法，由切换模块切换第一量测电路板与第二量测电路板以及第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板之间的连接配置，使第一组信号分配电路板或第二组信号分配电路板将第一量测电路板或是第二量测电路板所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，藉此可以达成提高集成电路脚位的测试效率与提供测试的可靠度的技术功效。

Description

由连接配置提供信号的集成电路测试结构及其测试方法

技术领域

本发明涉及一种测试结构及其测试方法，尤其是指一种由连接配置提供信号的集成电路测试结构及其测试方法。

背景技术

目前对于集成电路（integrated circuit，IC）的测试方式是将集成电路电性连接于电路板上，并直接将测试信号连接到集成电路的脚位上，以进行集成电路的测试。

为了提高集成电路的测试，即需要同时进行多个集成电路的测试，为了将测试信号连接到集成电路的脚位上，则是需要通过信号分配电路板将测试信号分配指定于集成电路的脚位，信号分配电路板的数量即决定最大可测试集成电路脚位的数量。

然而一般是仅具有单一测试信号，以通过多个信号分配电路板将测试信号分配指定于集成电路的脚位，在实际应用上，多个信号分配电路板可可测试集成电路脚位的数量往往会大于实际集成电路的总脚位数量，这样子在实际测试的过程中由于集成电路测试上多个信号分配电路板闲置，而造成测试优化的问题，且当测试信号或是信号分配电路板产生问题时，集成电路的测试结果即会产生问题。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在现有由单一测试信号与多个信号分配电路板进行集成电路测试会有闲置信号分配电路板优化性，且测试信号或是信号分配电路板产生问题时，集成电路的测试结果即会产生的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在现有由单一测试信号与多个信号分配电路板进行集成电路测试会有闲置信号分配电路板优化性，且测试信号或是信号分配电路板产生问题时，集成电路的测试结果即会产生的问题，本发明遂揭露一种由连接配置提供信号的集成电路测试结构及其测试方法，其中：

本发明所揭露的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其包含：第一量测电路板、第二量测电路板、第一组信号分配电路板、第二组信号分配电路板以及基板。

第一量测电路板是用以发送测试信号，以及接收量测信号；第二量测电路板是用以发送测试信号，以及接收量测信号；第一组信号分配电路板包含四个信号分配电路板，第一组信号分配电路板是用以将第一量测电路板或是第二量测电路板所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路（IntegratedCircuit，IC）的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板或是第二量测电路板；第二组信号分配电路板包含四个信号分配电路板，第二组信号分配电路板用以将第一量测电路板或是第二量测电路板所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板或是第二量测电路板；及第一量测电路板、第二量测电路板、第一组信号分配电路板以及第二组信号分配电路板分别与基板连接，并由基板的切换电路切换第一量测电路板与第二量测电路板以及第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板之间的连接配置。

本发明所揭露的由连接配置提供信号的集成电路测试方法，其包含下列步骤：

首先，提供第一量测电路板、第二量测电路板、第一组信号分配电路板、第二组信号分配电路板以及基板；接着，第一量测电路板、第二量测电路板、第一组信号分配电路板以及第二组信号分配电路板分别与基板连接，并由基板的切换电路切换第一量测电路板与第二量测电路板以及第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板之间的连接配置；接着，由第一量测电路板或第二量测电路板发送测试信号；最后，第一组信号分配电路板或第二组信号分配电路板所包含四个信号分配电路板将第一量测电路板或是第二量测电路板所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路（Integrated Circuit，IC）的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板或是第二量测电路板。

本发明所揭露的结构以及测试方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明由基板的切换电路切换第一量测电路板与第二量测电路板以及第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板之间的连接配置，使第一组信号分配电路板或第二组信号分配电路板所包含四个信号分配电路板将第一量测电路板或是第二量测电路板所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板或是第二量测电路板。

通过上述的技术手段，本发明可以达成提高集成电路脚位的测试效率与提供测试的可靠度的技术功效。

附图说明

图1绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试结构的结构示意图。

图2绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试方法的方法流程图。

图3A绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第一连接配置示意图。

图3B绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第二连接配置示意图。

图3C绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第三连接配置示意图。

图3D绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第四连接配置示意图。

【符号说明】

11      第一量测电路板

12      第二量测电路板

13      第一组信号分配电路板

131     信号分配电路板

14      第二组信号分配电路板

15      基板

16      切换电路

具体实施方式

以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式，藉此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。

以下首先要说明本发明所揭露的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，并请参考「图1」所示，「图1」绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试结构的结构示意图。

本发明所揭露的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其包含：第一量测电路板11、第二量测电路板12、第一组信号分配电路板13、第二组信号分配电路板14以及基板15。

第一量测电路板11是用以发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，第一量测电路板11可以是插卡方式与基板15连接，或是直接设置于基板15上，且第一量测电路板11可与外部装置形成连接，上述的外部装置可以是一般台式计算机、笔记本计算机、平板计算机…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，第一量测电路板11自外部装置获得测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，或是第一量测电路板11生成测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

第二量测电路板12是用以发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，第二量测电路板12可以是插卡方式与基板15连接，或是直接设置于基板15上，且第二量测电路板12可与外部装置形成连接，上述的外部装置可以是一般台式计算机、笔记本计算机、平板计算机…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，第二量测电路板12自外部装置获得测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，或是第二量测电路板12生成测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

第一组信号分配电路板13包含四个信号分配电路板131，信号分配电路板131是由多个继电器所组成，每一个信号分配电路板131可以是插卡方式与基板15连接，或是直接设置于基板15上，藉以将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板11或是第二量测电路板12。

值得注意的是，第一组信号分配电路板13将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路脚位的最大脚位数量为“512”，亦即第一组信号分配电路板13最大可同时进行512个集成电路脚位的测试。

第二组信号分配电路板14包含四个信号分配电路板141，每一个信号分配电路板141可以是插卡方式与基板15连接，或是直接设置于基板15上，信号分配电路板141是由多个继电器所组成，藉以将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板11或是第二量测电路板22。

值得注意的是，第二组信号分配电路板14将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路脚位的最大脚位数量为“512”，亦即第二组信号分配电路板14最大可同时进行512个集成电路脚位的测试。

对于第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14之间的连接配置是通过基板15的切换电路16以进行切换，第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14之间的连接配置如下所述：

第一量测电路板11与第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14连接，此时第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14仅会与第一量测电路板11连接，第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14不会与第二量测电路板12连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第一量测电路板11获得测试信号，且第二组信号分配电路板14是自第一量测电路板11获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于同时包含第二组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14，即最大可同时进行“1024”个集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板11。

第二量测电路板12与第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14连接，此时第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14仅会与第二量测电路板12连接，第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14不会与第一量测电路板11连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第二量测电路板12获得测试信号，且第二组信号分配电路板14是自第二量测电路板12获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于同时包含第二组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14，即最大可同时进行“1024”个集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第二量测电路板12。

第一量测电路板11与第一组信号分配电路板13以及第二量测电路板12与第二组信号分配电路板14连接，此时第一组信号分配电路板13仅会与第一量测电路板11连接，第二组信号分配电路板14仅会与第二量测电路板12连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第一量测电路板11获得测试信号，而第二组信号分配电路板14是自第二量测电路板12获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14是分别与第一量测电路板11以及第二量测电路板12，即可同时分别进行最大“512”个集成电路脚位的测试，并且第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14分别反馈量测信号回对应的第一量测电路板11以及第二量测电路板12。

第一量测电路板11与第二组信号分配电路板14以及第二量测电路板12与第一组信号分配电路板13连接，此时第一组信号分配电路板13仅会与第二量测电路板12连接，第二组信号分配电路板14仅会与第一量测电路板11连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第二量测电路板12获得测试信号，而第二组信号分配电路板14是自第一量测电路板11获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14是分别与第二量测电路板12以及第一量测电路板11，即可同时分别进行最大“512”个集成电路脚位的测试，并且第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14分别反馈量测信号回对应的第二量测电路板12以及第一量测电路板11。

藉由上述第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14之间的连接配置，可以提高集成电路脚位的测试效率之外，更可于第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14其中之一发生问题时，可通过连接配置的切换提供测试的可靠度。

接着，以下将以一个实施例来解说本发明的运作方式及流程，以下的实施例说明将同步配合「图2」所示进行说明，「图2」绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试方法的方法流程图。

提供第一量测电路板11（步骤101），第一量测电路板11是用以发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，第一量测电路板11可以是插卡方式与基板15连接（步骤102），或是直接设置于基板15上，且第一量测电路板11可与外部装置形成连接，上述的外部装置可以是一般台式计算机、笔记本计算机、平板计算机…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，第一量测电路板11自外部装置获得测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14（步骤103），或是第一量测电路板11生成测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14（步骤103），在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

提供第二量测电路板12（步骤101），第二量测电路板12是用以发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14，第二量测电路板12可以是插卡方式与基板15连接（步骤102），或是直接设置于基板15上，且第二量测电路板12可与外部装置形成连接，上述的外部装置可以是一般台式计算机、笔记本计算机、平板计算机…等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴，第二量测电路板12自外部装置获得测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14（步骤103），或是第二量测电路板12生成测试信号后，再发送测试信号至第一组信号分配电路板13或是第二组信号分配电路板14（步骤103），在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。

提供第一组信号分配电路板13（步骤101），第一组信号分配电路板13包含四个信号分配电路板131，信号分配电路板131是由多个继电器所组成，每一个信号分配电路板131可以是插卡方式与基板15连接（步骤102），或是直接设置于基板15上，藉以将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板11或是第二量测电路板12（步骤104）。

值得注意的是，第一组信号分配电路板13将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路脚位的最大脚位数量为“512”，亦即第一组信号分配电路板13最大可同时进行512个集成电路脚位的测试。

提供第二组信号分配电路板14（步骤101），第二组信号分配电路板14包含四个信号分配电路板141，每一个信号分配电路板141可以是插卡方式与基板15连接（步骤102），或是直接设置于基板15上，信号分配电路板141是由多个继电器所组成，藉以将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板11或是第二量测电路板22（步骤104）。

值得注意的是，第二组信号分配电路板14将第一量测电路板11或是第二量测电路板12所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路脚位的最大脚位数量为“512”，亦即第二组信号分配电路板14最大可同时进行512个集成电路脚位的测试。

对于第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14之间的连接配置是通过基板15的切换电路16以进行切换。

请参考「图3A」所示，「图3A」绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第一连接配置示意图。

第一量测电路板11与第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14连接，此时第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14仅会与第一量测电路板11连接，第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14不会与第二量测电路板12连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第一量测电路板11获得测试信号，且第二组信号分配电路板14是自第一量测电路板11获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于同时包含第二组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14，即最大可同时进行“1024”个集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第一量测电路板11。

请参考「图3B」所示，「图3B」绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第二连接配置示意图。

第二量测电路板12与第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14连接，此时第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14仅会与第二量测电路板12连接，第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14不会与第一量测电路板11连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第二量测电路板12获得测试信号，且第二组信号分配电路板14是自第二量测电路板12获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于同时包含第二组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14，即最大可同时进行“1024”个集成电路脚位的测试，并反馈量测信号回对应的第二量测电路板12。

请参考「图3C」所示，「图3C」绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第三连接配置示意图。

第一量测电路板11与第一组信号分配电路板13以及第二量测电路板12与第二组信号分配电路板14连接，此时第一组信号分配电路板13仅会与第一量测电路板11连接，第二组信号分配电路板14仅会与第二量测电路板12连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第一量测电路板11获得测试信号，而第二组信号分配电路板14是自第二量测电路板12获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14是分别与第一量测电路板11以及第二量测电路板12，即可同时分别进行最大“512”个集成电路脚位的测试，并且第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14分别反馈量测信号回对应的第一量测电路板11以及第二量测电路板12。

请参考「图3D」所示，「图3D」绘示为本发明由连接配置提供信号的集成电路测试的第四连接配置示意图。

第一量测电路板11与第二组信号分配电路板14以及第二量测电路板12与第一组信号分配电路板13连接，此时第一组信号分配电路板13仅会与第二量测电路板12连接，第二组信号分配电路板14仅会与第一量测电路板11连接，亦即第一组信号分配电路板13是自第二量测电路板12获得测试信号，而第二组信号分配电路板14是自第一量测电路板11获得测试信号，在此连接配置的情况下，由于第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14是分别与第二量测电路板12以及第一量测电路板11，即可同时分别进行最大“512”个集成电路脚位的测试，并且第一组信号分配电路板13以及第二组信号分配电路板14分别反馈量测信号回对应的第二量测电路板12以及第一量测电路板11。

藉由上述第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14之间的连接配置，可以提高集成电路脚位的测试效率之外，更可于第一量测电路板11与第二量测电路板12以及第一组信号分配电路板13与第二组信号分配电路板14其中之一发生问题时，可通过连接配置的切换提供测试的可靠度。

综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于本发明由切换模块切换第一量测电路板与第二量测电路板以及第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板之间的连接配置，使第一组信号分配电路板或第二组信号分配电路板所包含四个信号分配电路板将第一量测电路板或是第二量测电路板所发送的测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试。

藉由此一技术手段可以来解决现有技术所存在现有由单一测试信号与多个信号分配电路板进行集成电路测试会有闲置信号分配电路板优化性，且测试信号或是信号分配电路板产生问题时，集成电路的测试结果即会产生的问题，进而达成提高集成电路脚位的测试效率与提供测试的可靠度的技术功效。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作些许的更动。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定者为准。

Claims (10)

1.一种由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其特征在于，包含：

一第一量测电路板，用以发送一测试信号，以及接收一量测信号；

一第二量测电路板，用以发送所述测试信号，以及接收所述量测信号；

一第一组信号分配电路板，所述第一组信号分配电路板包含四个信号分配电路板，所述第一组信号分配电路板用以将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈所述量测信号回对应的所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板；

一第二组信号分配电路板，所述第二组信号分配电路板包含四个信号分配电路板，所述第二组信号分配电路板用以将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈所述量测信号回对应的所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板；及

一基板，所述第一量测电路板、所述第二量测电路板、所述第一组信号分配电路板以及所述第二组信号分配电路板分别与所述基板连接，并由所述基板的切换电路切换所述第一量测电路板与所述第二量测电路板以及所述第一组信号分配电路板与所述第二组信号分配电路板之间的连接配置。

2.如权利要求1所述的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其特征在于，由所述基板的切换电路切换所述第一量测电路板、所述第二量测电路板、所述第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板的连接配置包含第一量测电路板与第一组信号分配电路板以及第二组信号分配电路板连接；第二量测电路板与第一组信号分配电路板以及第二组信号分配电路板连接；第一量测电路板与第一组信号分配电路板以及第二量测电路板与第二组信号分配电路板连接；第一量测电路板与第二组信号分配电路板以及第二量测电路板与第一组信号分配电路板连接。

3.如权利要求1所述的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其特征在于，所述第一组信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于所述电路板上待量测集成电路脚位的最大脚位数量为512。

4.如权利要求1所述的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其特征在于，所述第二组信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于所述电路板上待量测集成电路脚位的最大脚位数量为512。

5.如权利要求1所述的由连接配置提供信号的集成电路测试结构，其特征在于，所述信号分配电路板是由多个继电器所组成。

6.一种由连接配置提供信号的集成电路测试方法，其特征在于，包含下列步骤：

提供一第一量测电路板、一第二量测电路板、一第一组信号分配电路板、一第二组信号分配电路板以及一基板；

所述第一量测电路板、所述第二量测电路板、所述第一组信号分配电路板以及所述第二组信号分配电路板分别与所述基板连接，并由所述基板的切换电路切换所述第一量测电路板与所述第二量测电路板以及所述第一组信号分配电路板与所述第二组信号分配电路板之间的连接配置；

由所述第一量测电路板或所述第二量测电路板发送一测试信号；及

所述第一组信号分配电路板或所述第二组信号分配电路板所包含四个信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位，以进行集成电路脚位的测试，并反馈所述量测信号回对应的所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板。

7.如权利要求6所述的由连接配置提供信号的集成电路测试方法，其特征在于，由所述基板的切换电路切换所述第一量测电路板、所述第二量测电路板、所述第一组信号分配电路板与第二组信号分配电路板的连接配置包含第一量测电路板与第一组信号分配电路板以及第二组信号分配电路板连接；第二量测电路板与第一组信号分配电路板以及第二组信号分配电路板连接；第一量测电路板与第一组信号分配电路板以及第二量测电路板与第二组信号分配电路板连接；第一量测电路板与第二组信号分配电路板以及第二量测电路板与第一组信号分配电路板连接。

8.如权利要求6所述的由连接配置提供信号的集成电路测试方法，其特征在于，所述第一组信号分配电路板或所述第二组信号分配电路板所包含四个信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位的步骤中，所述第一组信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于所述电路板上待量测集成电路脚位的最大脚位数量为512。

9.如权利要求6所述的由连接配置提供信号的集成电路测试方法，其特征在于，所述第一组信号分配电路板或所述第二组信号分配电路板所包含四个信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于待量测集成电路的脚位的步骤中，所述第二组信号分配电路板将所述第一量测电路板或是所述第二量测电路板所发送的所述测试信号分配指定于所述电路板上待量测集成电路脚位的最大脚位数量为512。

10.如权利要求6所述的由连接配置提供信号的集成电路测试方法，其特征在于，所述信号分配电路板是由多个继电器所组成。