CN201859179U - 一种pcb快速阻抗测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种PCB快速阻抗测试系统，包括数据处理单元、第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪、SSR继电转换单元和测试插座，所述数据处理单元与第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪连接，第一TDR时域反射仪、第二TDR时域反射仪与SSR继电转换单元连接，SSR继电转换单元上设置有固态继电器，该固态继电器与测试插座连接。本系统将待测PCB插入测试插座，弹性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变换，从而可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量，极大地提高了测试效率，同时测试插座上的弹性触点与待测PCB连接平稳且压力均衡，提高了测试精度、降低了压伤。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCB阻抗测试技术，特别涉及的是一种PCB快速阻抗测试系统。
背景技术
随着现代电子电路速度的不断提高，高品质控制阻抗电路板的需求量持续增长。高频信号和高速数字信号的传输对于电路板的电气测试不仅仅是通断的要求，更要达到特性阻抗的匹配。
阻抗测试是PCB行业中常见的一种功能性测试，目前通常采用的是阻抗测试仪对PCB进行测量。阻抗测试仪包括数据处理电脑、TDR时域反射仪、连接电缆、测试探头等部件。一般的阻抗板会在板边或板中间预留专用测试Coupon来等效板内转输线，以往的阻抗测试是由电缆连接TDR时域反射仪与测试探头，测试探头与PCB中的Coupon的信号与参照触点分别相连进行测量。
目前有一种实际传输线为测试Coupon的PCB产品，在极小的尺寸内存在大量有阻抗要求的传输线。对这种PCB产品进行阻抗测试时，由于普通的TDR时域反射的测试通道数量较少，如果按传统测试方法测量PCB的差分阻抗，每次最多只能测试一个阻抗Coupon，需要利用探头逐个测试，不仅生产效率极其低下，而且因测试探针的尖头频繁接触会对其产生压伤、静电等不良影响。
发明内容
为解决极小的尺寸内存在大量阻抗要求传输线的PCB产品的测试要求，避免PCB产品的测试效率低下，以及容易产生压伤、静电的问题，本实用新型的目的在于提供一种PCB快速阻抗测试系统。
为实现上述目的，本实用新型主要采用以下技术方案：
一种PCB快速阻抗测试系统，包括数据处理单元(1)、第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)、SSR继电转换单元(4)和测试插座(5)，所述数据处理单元(1)与第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)连接，第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)与SSR继电转换单元(4)连接，SSR继电转换单元(4)上设置有固态继电器(401)，该固态继电器(401)与测试插座(5)连接。
其中所述SSR继电转换单元(4)上还设置有多个与固态继电器(401)对应连接的电缆插孔(402)，该电缆插孔(402)通过电缆(6)与第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)连接。
其中所述测试插座(5)中设置有弹性触头。
本实用新型由数据处理单元连接第一、第二TDR时域反射仪来实现每次测量并记录多个差分阻抗值，由SSR继电转换单元实现阻抗测试端口之间的切换，测试插座通过弹性触头将测试Coupon与测试端口相连。当进行阻抗测试时，将待测PCB插入测试插座，弹性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变换，如此可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量，极大地提高了测试效率，又因为测试插座上的弹性触点，连接平稳且压力均衡，因此提高了测试精度、降低压伤等。与现有技术相比，本实用新型不仅极大的提高生产效率，而且改善了由测试探头产生的不良影响。
附图说明
图1为本实用新型系统连接示意图。
图中标识说明：数据处理单元1、第一TDR时域反射仪2、第二TDR时域反射仪3、SSR继电转换单元4、固态继电器401、电缆插孔402、测试插座5、电缆6。
具体实施方式
本实用新型的核心思想是：数据处理单元连接第一、第二TDR时域反射仪，以实现每次测量并记录多个差分阻抗值，同时SSR继电转换单元可实现阻抗测试端口之间的切换，测试插座通过弹性触头将测试Coupon与测试端口相连。当进行阻抗测试时，将待测PCB插入测试插座，弹性触头将测试Coupon与测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变换，如此可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量。
为阐述本实用新型的思想及目的，下面将结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步的说明。
请参见图1所示，图1为本实用新型系统连接示意图。本实用新型提供的是一种PCB快速阻抗测试系统，该系统主要用于极小的尺寸内存在大量有阻抗要求传输线的PCB产品中，以避免传统测试方法每次最多只能测试一个阻抗Coupon，生产效率低下，以及测试探针的尖头频繁接触会对PCB产品产生压伤、静电的不良影响。
其中本系统包括有包括数据处理单元1、第一TDR时域反射仪2、第二TDR时域反射仪3、SSR继电转换单元4、测试插座5和电缆6，所述数据处理单元1为数据处理电脑，它与多个TDR时域反射仪连接，本实施例中以两个为例，即与第一TDR时域反射仪2、第二TDR时域反射仪3连接。
第一TDR时域反射仪2、第二TDR时域反射仪3分别通过电缆6与SSR继电转换单元4连接，SSR继电转换单元4上设置有电缆插孔402和固态继电器401，上述TDR时域反射仪通过电缆6对应插入到电缆插孔402中，这些电缆插孔402通过SSR继电转换单元的内部输入控制电路与上述固态继电器401连接。
固态继电器401对应与测试插座5连接，测试插座5上设置有弹性触头，这些弹性触头的接触点与待检测的PCB产品连接，通过弹性触头可将PCB测试Coupon与测试插座5的测试端口相连，通过SSR继电转换单元的输入控制电路变换即可实现测试端口间的变换，从而可实现待测PCB的全部阻抗测试Coupon的逐一测量。
以上是对本实用新型所提供的一种PCB快速阻抗测试系统进行了详细的介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的结构原理及实施方式进行了阐述，以上实施例只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (3)
1.一种PCB快速阻抗测试系统，其特征在于包括数据处理单元(1)、第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)、SSR继电转换单元(4)和测试插座(5)，所述数据处理单元(1)与第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)连接，第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)与SSR继电转换单元(4)连接，SSR继电转换单元(4)上设置有固态继电器(401)，该固态继电器(401)与测试插座(5)连接。
2.根据权利要求1所述的PCB快速阻抗测试系统，其特征在于所述SSR继电转换单元(4)上还设置有多个与固态继电器(401)对应连接的电缆插孔(402)，该电缆插孔(402)通过电缆(6)与第一TDR时域反射仪(2)、第二TDR时域反射仪(3)连接。
3.根据权利要求1所述的PCB快速阻抗测试系统，其特征在于所述测试插座(5)中设置有弹性触头。
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