CN104596414B - 一种校检装置 - Google Patents

一种校检装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104596414B
CN104596414B CN201410830820.3A CN201410830820A CN104596414B CN 104596414 B CN104596414 B CN 104596414B CN 201410830820 A CN201410830820 A CN 201410830820A CN 104596414 B CN104596414 B CN 104596414B
Authority
CN
China
Prior art keywords
crossbeam
bottom plate
signal
checking device
support bar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410830820.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104596414A (zh
Inventor
于涛
于浩
秦绪阳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SUZHOU YOUPUDE PRECISION INSTRUMENT Co Ltd
Original Assignee
SUZHOU YOUPUDE PRECISION INSTRUMENT Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SUZHOU YOUPUDE PRECISION INSTRUMENT Co Ltd filed Critical SUZHOU YOUPUDE PRECISION INSTRUMENT Co Ltd
Priority to CN201410830820.3A priority Critical patent/CN104596414B/zh
Publication of CN104596414A publication Critical patent/CN104596414A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104596414B publication Critical patent/CN104596414B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本本发明公开了一种新型校检装置,包括机架(2),所述机架(2)包括水平设置的底板(4),设置在所述底板(4)上方且与所述底板(4)平行的工件固定架(6),以及竖直设置且与所述底板(4)和工件固定架(6)固定连接的支撑杆(8),本发明解决了背景技术中存在的缺陷,方法简单,易操作、成本低、实用性强、精度高,可单独测量一个孔的位置度,也可批量测量一个工件中多个孔的位置度。

Description

一种校检装置
技术领域
本发明涉及一种校检装置,属于光电学领域。
背景技术
现代机械加工和制造行业的发展,机械产品结构越来越复杂,产品上的孔的质量要求也相应提高,孔的位置度直接影响到产品的质量。随着工业体系的发展,对位置度要求及精度越来越高,测量方法与手段也不断提升。目前主要是通过三坐标测量仪对被测产品表面进行数据点扫描、采集数据点,以获得被测产品在空间范围内的三坐标,从而获得产品上孔的位置度。
但是三坐标测量仪成本较高且不能批量进行测量,使得企业生产成本较高;为降低成本,有采用芯棒配合测量法,即根据被测孔的设计参数,制作相应的芯棒,然后使用仪器对芯棒进行测量而间接获得孔的相关数据,该测量方法虽然成本较低,但是测量精度较低,且不具备较好适应性,因为孔的尺寸变化多样,一棒配一孔的配套芯棒数量较大,管理成本较高,因此,实用性不强。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种成本低廉,实用性强的定位装置。
为解决上述问题,本发明提供了一种校检装置,包括机架,所述机架包括水平设置的底板,设置在所述底板上方且与所述底板平行的工件固定架,以及竖直设置且与所述底板和工件固定架固定连接的支撑杆,其特征在于:
-所述支撑杆8上设有通过第一动力装置驱动做水平运动的信号发射器12和通过第二动力装置做水平运动的取景相机14;-所述底板上设有一可水平移动的信号接收器,所述信号接收器接收到所述信号发射器发出的信号后,控制所述第一动力装置停止运动;
-所述工件固定架至少包括两根水平的夹持臂,所述工件夹持在所述夹持臂之间。
作为本发明的进一步改进,所述第一动力装置包括固定在所述支撑杆上的第一横梁,以及可沿所述第一横梁的长度方向滑动且水平设置的第三横梁,所述第一横梁与所述第三横梁垂直,所述信号发射器设置在所述第三横梁上,且可沿所述第三横梁的长度方向滑动。
作为本发明的进一步改进,所述第二动力装置包括固定在所述支撑杆上的第二横梁,以及可沿所述第二横梁的长度方向滑动且水平设置的第四横梁,所述第二横梁与所述第四横梁垂直,所述取景相机设置在所述第四横梁上,且可沿所述第四横梁的长度方向滑动。
作为本发明的进一步改进,所述信号接收器底部设有电磁铁,所述底板由铁、钴、镍中的一种或者多种组成。
作为本发明的进一步改进,所述信号发射器为红外线发射器,所述信号接受器为红外线接收器。
本发明的有益效果在于,本发明解决了背景技术中存在的缺陷,方法简单,易操作、成本低、实用性强、精度高,可单独测量一个孔的位置度,也可批量测量一个工件中多个孔的位置度。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
其中:2-机架;4-底板;6-工件固定架;8-支撑杆;10-信号接收器;12-信号发射器;14-取景相机;16-夹持臂。
具体实施方式
下面对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。
如图1所示,本发明包括机架2,所述机架2包括水平设置的底板4,设置在所述底板4上方且与所述底板4平行的工件固定架6,以及竖直设置且与所述底板4和工件固定架6固定连接的支撑杆8,其特征在于:
-所述支撑杆8上设有通过第一动力装置驱动做水平运动的信号发射器12和通过第二动力装置做水平运动的取景相机14;
-所述底板4上设有一可水平移动的信号接收器10,所述信号接收器10接收到所述信号发射器12发出的信号后,控制所述第一动力装置停止运动;
-所述工件固定架6至少包括两根水平的夹持臂16,所述工件夹持在所述夹持臂16之间。
作为本发明的进一步改进,所述第一动力装置包括固定在所述支撑杆8上的第一横梁,以及可沿所述第一横梁的长度方向滑动且水平设置的第三横梁,所述第一横梁与所述第三横梁垂直,所述信号发射器12设置在所述第三横梁上,且可沿所述第三横梁的长度方向滑动。
作为本发明的进一步改进,所述第二动力装置包括固定在所述支撑杆8上的第二横梁,以及可沿所述第二横梁的长度方向滑动且水平设置的第四横梁,所述第二横梁与所述第四横梁垂直,所述取景相机14设置在所述第四横梁上,且可沿所述第四横梁的长度方向滑动。
作为本发明的进一步改进,所述信号接收器10底部设有电磁铁,所述底板4由铁、钴、镍中的一种或者多种组成。
作为本发明的进一步改进,所述信号发射器12为红外线发射器,所述信号接受器为红外线接收器。
本发明中,需要对工件上的成型孔的位置进行校验,首先需要设定一个定位孔,该孔的孔径在1mm左右,此孔与成型孔在同一个工位上进行加工,其与成型孔的圆心距为标准值m,然后进行如下操作:
(1)首先将信号接收器10移动到定位孔的正下方,电磁铁通电,信号接收器10固定在底板4上;
(2)驱动第一动力装置运动,当信号发射器12移动到定位孔的正下方时,信号发射器12向下发射的信号能穿过定位孔被信号接收器10接受,信号接收器10接受到信号后向第一动力装置发出停机信号,第一动力装置停止运动,此时,以支撑杆8所在轴线上的点为原点,记录第一动力装置的坐标(X1,Y1);
(3)驱动第二动力装置运动,使得取景相机14运动到成型孔的上方,活动此时的坐标(X2,Y2),此时,取景相机14对成型孔进行拍照取相,相片中心所对位置为(X2,Y2);
(4)通过对照片的测绘获得相片中心到孔中心的坐标差分别为a、b,则孔的中心位置为(|X2-a|,|Y2-b|);
(5)获得成型孔与定位孔的中心距
(6)将m与n的值做对比,从而得出偏移量,将偏移量与偏移范围做对比,若在范围之内,则为合格品,否则为次品。
以上实施例仅为本发明其中的一种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种校检装置,包括机架(2),所述机架(2)包括水平设置的底板(4),设置在所述底板(4)上方且与所述底板(4)平行的工件固定架(6),以及竖直设置且与所述底板(4)和工件固定架(6)固定连接的支撑杆(8),其特征在于:
-所述支撑杆(8)上设有通过第一动力装置驱动做水平运动的信号发射器(12)和通过第二动力装置做水平运动的取景相机(14);-所述底板(4)上设有一可水平移动的信号接收器(10),所述信号接收器(10)接收到所述信号发射器(12)发出的信号后,控制所述第一动力装置停止运动;
-所述工件固定架(6)至少包括两根水平的夹持臂(16),所述工件夹持在所述夹持臂(16)之间。
2.根据权利要求1所述的一种校检装置,其特征在于,所述第一动力装置包括固定在所述支撑杆(8)上的第一横梁,以及可沿所述第一横梁的长度方向滑动且水平设置的第三横梁,所述第一横梁与所述第三横梁垂直,所述信号发射器(12)设置在所述第三横梁上,且可沿所述第三横梁的长度方向滑动。
3.根据权利要求2所述的一种校检装置,其特征在于,所述第二动力装置包括固定在所述支撑杆(8)上的第二横梁,以及可沿所述第二横梁的长度方向滑动且水平设置的第四横梁,所述第二横梁与所述第四横梁垂直,所述取景相机(14)设置在所述第四横梁上,且可沿所述第四横梁的长度方向滑动 。
4.根据权利要求3所述的一种校检装置,其特征在于,所述信号接收器(10)底部设有电磁铁,所述底板(4)由铁、钴、镍中的一种或者多种组成。
5.根据权利要求4所述的一种校检装置,其特征在于,所述信号发射器(12)为红外线发射器,所述信号接受器为红外线接收器。
CN201410830820.3A 2014-12-26 2014-12-26 一种校检装置 Active CN104596414B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410830820.3A CN104596414B (zh) 2014-12-26 2014-12-26 一种校检装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410830820.3A CN104596414B (zh) 2014-12-26 2014-12-26 一种校检装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104596414A CN104596414A (zh) 2015-05-06
CN104596414B true CN104596414B (zh) 2018-01-05

Family

ID=53122358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410830820.3A Active CN104596414B (zh) 2014-12-26 2014-12-26 一种校检装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104596414B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106247941B (zh) * 2016-09-12 2019-05-03 苏州优谱德精密仪器科技有限公司 一种结构紧凑型红外光校验装置
CN109141311B (zh) * 2018-10-31 2020-07-21 浙江中超新材料股份有限公司 一种带有辅助测块的孔位置度次级飞轮综合检具
CN112304219B (zh) * 2020-10-23 2022-06-21 芜湖久弘重工股份有限公司 一种多孔铸件位置度检测装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101825439A (zh) * 2010-03-25 2010-09-08 天津大学 基于多相机组合的发动机缸体结合面孔组在线测量方法
CN202255281U (zh) * 2011-09-08 2012-05-30 甘肃大禹节水集团股份有限公司 滴灌带孔位检测系统
CN103512497A (zh) * 2013-09-30 2014-01-15 爱彼思(苏州)自动化科技有限公司 斜孔检测装置
CN203657752U (zh) * 2013-06-28 2014-06-18 苏州宣佑科技有限公司 孔类产品的红外线检测治具

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58202805A (ja) * 1982-05-21 1983-11-26 Komatsu Ltd 穴位置検出装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101825439A (zh) * 2010-03-25 2010-09-08 天津大学 基于多相机组合的发动机缸体结合面孔组在线测量方法
CN202255281U (zh) * 2011-09-08 2012-05-30 甘肃大禹节水集团股份有限公司 滴灌带孔位检测系统
CN203657752U (zh) * 2013-06-28 2014-06-18 苏州宣佑科技有限公司 孔类产品的红外线检测治具
CN103512497A (zh) * 2013-09-30 2014-01-15 爱彼思(苏州)自动化科技有限公司 斜孔检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN104596414A (zh) 2015-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201955061U (zh) 工件用平面度测量装置
CN103395301B (zh) 一种激光打标机三维校正方法和装置
CN104596414B (zh) 一种校检装置
CN103121326B (zh) 一种利用工业相机对物品进行定位的运动打标装置和方法
CN104567673B (zh) 一种工件孔的圆心位置度校检方法
CN104534987A (zh) 一种新型红外光校检装置
CN104459394A (zh) 一种oled面板对位装置
CN103322917B (zh) 一种基板厚度、规格、正方度高速智能检测仪
CN204882024U (zh) 一种落球试验装置
CN103033381A (zh) 一种晶圆传输机械手测试装置
CN204669549U (zh) 一种摄像头模组的自动离合测试装置
CN205245950U (zh) 一种高度规
CN203929015U (zh) 一种影像测量仪
CN204718550U (zh) 一种铰链杆件自动检测装置
CN204308685U (zh) 可调回转式校准器
CN205246712U (zh) 全自动探针台图像定位装置
CN204286373U (zh) Pcb板翘曲自动测试装置
CN204479005U (zh) 一种自动平面度检测装置
CN203069949U (zh) 一种机械设备用校准相机装置
CN203587048U (zh) 一种应用在多斜孔工件中斜孔位置度检测装置
CN204758005U (zh) 一种用于固定传感器的三维定位装置
CN203132502U (zh) 一种外观尺寸高精度检测模组
CN207751444U (zh) 一种玻璃屏幕高度及平面度检测装置
CN207798026U (zh) 一种基于线激光的单相机中厚板板形检测系统
CN201993087U (zh) 一种新型光电测量仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant