CN104570490B - 一种检布机及采用该检布机的检布方法 - Google Patents

一种检布机及采用该检布机的检布方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种检布机及采用该检布机的检布方法。该检布机包括:用于放置待检布的机台;吸尘结构,设置于所述机台上方,用于通过吸附方式清除待检布中的第一异物;检测结构,设置于所述机台上方,用于检测待检布中第二异物的位置;剪刀结构,设置于所述机台上方,用于通过剪切方式清除待检布中的第二异物;第一驱动结构,分别与所述检测结构和所述剪刀结构连接,用于根据所述检测结构的检测结果,驱动所述剪刀结构移动至所述检测结构所检测定位的第二异物的位置处。本发明利用吸尘结构、检测结构和剪刀结构的组合实现待检布的自动扫描检测,能够获得优质的检测结果,且能够降低人工检测成本,缩短检测时间。

Description

一种检布机及采用该检布机的检布方法
技术领域
本发明涉及液晶显示装置的摩擦工艺,尤其是指一种检布机及采用该检布机的检布方法。
背景技术
在液晶显示器的制造中,摩擦工序是必不可少的工艺步骤。如图1所示的结构示意图,在摩擦工序中包括采用贴附有绒布类材料摩擦布1的摩擦辊2对涂布有取向剂PI的玻璃基板3表面进行摩擦的步骤,形成配向膜,配向膜表面通过摩擦辊上摩擦布的摩擦而被刷出一定方向排列的沟槽,具有配向液晶的能力,使液晶层的液晶分子依照预定倾角排列。
在上述摩擦工序的步骤中,摩擦布1的品质直接影响工艺配向的品质,然而制成摩擦布1的原材料会有相关不良,需要通过大量的人力物力进行粗检然后再进行精检,才能使用。
一般采用人工对摩擦布进行检查的方式为:用细的剪刀和毛刷分别对摩擦布进行粗检和精检,最后放置12小时左右,然后才能将摩擦布粘贴至摩擦辊2上才能进行配向作业。然而通常情况下,人工检测摩擦布会存在如下的缺陷:
对于微小的棉籽,无法检出,容易漏检;
粗检的时候,作业人员只是用软毛刷清扫摩擦布边缘的碎毛,但该方式很容易将碎毛清扫到布毛的缝隙中去,造成二次污染;
较粗大的布头难以剪掉,如果剪掉的话,周围好的布毛也容易受到损伤,造成布毛的创伤较大,影响工艺品质;
会耗费大量时间,且人工检测的方式非常容易触碰毛面造成毛面的损伤,导致毛向的改变,造成品质不良;
每个作业员的作业手法不一样,没有统一的系统标准。
发明内容
本发明技术方案的目的是提供一种检布机及采用该检布机的检布方法,能够自动完成摩擦布的检测过程,降低人工检测成本,缩短检测时间,且获得优质的检测结果。
本发明提供一种检布机,包括:
用于放置待检布的机台;
吸尘结构,设置于所述机台上方,用于通过吸附方式清除待检布中的第一异物;
检测结构,设置于所述机台上方,用于检测待检布中第二异物的位置;
剪刀结构,设置于所述机台上方,用于通过剪切方式清除待检布中的第二异物;
第一驱动结构,分别与所述检测结构和所述剪刀结构连接,用于根据所述检测结构的检测结果,驱动所述剪刀结构移动至所述检测结构所检测定位的第二异物的位置处。
优选地,上述所述的检布机,还包括:
第二驱动结构,与所述吸尘结构连接,用于驱动所述吸尘结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动。
优选地,上述所述的检布机,所述第二驱动结构还用于驱动所述吸尘结构在所述机台上方沿与所述待检布垂直的方向移动。
优选地,上述所述的检布机,还包括:
第三驱动结构,与所述检测结构连接,用于驱动所述检测结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动。
优选地,上述所述的检布机,所述第三驱动结构还用于驱动所述检测结构在所述机台上方沿与所述待检布垂直的方向移动。
优选地,上述所述的检布机,还包括:
铺设于所述机台上的滑轨;
升降架,相对于所述机台垂直设置,且所述升降架与所述滑轨配合连接;
支撑架,固定设置于所述升降架上,其中所述吸尘结构、所述检测结构和所述剪刀结构均设置于所述支撑架上。
优选地,上述所述的检布机,还包括:用于将待检布固定于所述机台上的固定结构。
优选地,上述所述的检布机,所述固定结构包括真空吸附单元,设置于机台用于放置待检布的表面。
优选地,上述所述的检布机,所述检测结构包括:
图像扫描单元,用于获得待检布的扫描图片;
图像分析单元,用于对所述图像扫描单元所获得的扫描图片进行图像分析,确定第二异物的定位坐标。
优选地,上述所述的检布机,还包括:
传送结构,与所述机台连接,用于将待检布传送至所述机台上。
优选地,上述所述的检布机,所述第一驱动结构还用于:驱动所述剪刀结构定位于机台上方预定高度位置处,并沿预定高度位置进行平移,在平移过程中执行剪切动作,剪除待检布中高于预定高度的布毛。
本发明还提供一种采用如上所述检布机的检布方法,其中所述检布方法包括:
利用所述吸尘结构通过吸附方式清除待检布中的第一异物;
利用所述检测结构检测待检布中的第二异物的位置;
根据所述检测结构的检测结果,驱动所述剪刀结构移动至所述检测结构所检测定位的第二异物的位置处,通过剪切方式清除待检布中的第二异物。
优选地,上述所述的检布方法,其中,在通过剪切方式清除待检布中的第二异物的步骤之后,所述检布方法还包括:
再次利用所述吸尘结构通过吸附方式清除剪切第二异物时产生的第三异物。
优选地,上述所述的检布方法,其中,在利用所述吸尘结构通过吸附方式清除待检布中的第一异物的步骤中,使所述吸尘结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动,对整个待检布进行吸附扫描;
以及在利用所述检测结构检测待检布中的第二异物的位置时,使所述检测结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动,对整个待检布进行检测扫描。
优选地,上述所述的检布方法,其中,在通过剪切方式清除待检布中的第二异物的步骤之后,所述检布方法还包括:
驱动所述剪刀结构定位于机台上方预定高度位置处,并沿预定高度位置进行平移,在平移过程中执行剪切动作,剪除待检布中高于预定高度的布毛。
本发明具体实施例上述技术方案中的至少一个具有以下有益效果:
利用吸尘结构、检测结构和剪刀结构的组合实现待检布的自动扫描检测,既能够检测到粗大的棉籽,也能够检测到细小的棉籽和碎毛,并清除;相较于人工的检测方式,不会造成二次污染,获得优质的检测结果,且能够降低人工检测成本,缩短检测时间。
附图说明
图1表示现有技术中摩擦工序的结构示意图;
图2表示本发明具体实施例所述检布机的立体结构示意图;
图3表示本发明具体实施例所述检布机的侧面结构示意图;
图4为结合待检布说明各部件移动方向的示意图;
图5为说明待检布的表面状态的结构示意图;
图6为本发明实施例所述检布方法的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例对本发明进行详细描述。
参阅图2本发明具体实施例所述检布机的立体结构示意图和图3所述检布机的侧面结构示意图,本发明实施例所述检布机,包括:
用于放置待检布100的机台10;
吸尘结构20,设置于所述机台10上方,用于通过吸附方式清除待检布100中的第一异物;
检测结构30,设置于所述机台10上方,用于检测待检布100中第二异物的位置;
剪刀结构40,设置于所述机台10上方,用于通过剪切方式清除待检布100中的第二异物;
第一驱动结构(图中未显示),分别与所述检测结构30和所述剪刀结构40连接,用于根据所述检测结构30的检测结果,驱动所述剪刀结构40移动至所述检测结构30所检测定位的第二异物的位置处。
本发明实施例上述结构的检布机,利用吸尘结构20能够清除待检布100中的第一异物(如质量较轻的碎毛),利用检测结构30能够检测待检布100中的第二异物(如质量较重的棉籽)的位置,这样剪刀结构40根据检测结构30所定位的位置剪除第二异物,该些结构的组合实现待检布的自动扫描检测,既能够检测到粗大的棉籽,也能够检测到细小的棉籽和碎毛,并清除;相较于人工的检测方式,不会造成二次污染,获得优质的检测结果,且能够降低人工检测成本,缩短检测时间。
本发明实施例中,所述检布机还包括:
第二驱动结构(图中未显示),与吸尘结构20连接,用于驱动吸尘结构20在机台10上方沿与待检布100平行的方向移动。其中,该与待检布100相平行的方向如图4所示,可以为从第一边缘110至相对的第二边缘120的X方向,也可以为从第三边缘130至相对的第四边缘140的Y方向,或者既能够沿X方向平移又能够沿Y方向平移,又或者沿任一方向相对于待检布100的平行移动。较佳地,吸尘结构20的宽度大于等于待检布100的其中一边缘的宽度,这样只要吸尘结构20沿垂直于该边缘的方向往复平移即能够完成对待检布100的吸尘扫描过程。
这样,通过第二驱动结构带动吸尘结构20在待检布100上方的平行移动,使吸尘结构20完成对待检布100从一边缘至相对的另一边缘的吸尘扫描,保证待检布100的每一位置均被吸到,能够完全清除待检布100中的碎毛(第一异物)。
进一步,所述第二驱动结构还用于:驱动吸尘结构20在机台10上方沿与待检布100垂直的方向移动。通过第二驱动结构驱动吸尘结构20在竖直方向的上下移动,实现吸尘结构20距离待检布100的高度调节,以确定用于达到最佳吸附效果的高度位置。
较佳地,所述检布机还包括:
第三驱动结构(图中未显示),与检测结构30连接,用于驱动检测结构30在机台10上方沿与待检布100平行的方向移动。其中,与吸尘结构20所作平行移动方向相同,参阅图4,第三驱动结构可以驱动检测结构30从第一边缘110至相对的第二边缘120的X方向的平移,也可以为从第三边缘130至相对的第四边缘140的Y方向的平移,或者既能够沿X方向平移又能够沿Y方向平移,又或者沿任一方向相对于待检布100的平行移动。较佳地,检测结构30的宽度大于等于待检布100的其中一边缘的宽度,这样只要检测结构30沿垂直于该边缘的方向往复平移即能够完成对待检布100的检测扫描过程。
通过第三驱动结构带动检测结构30在待检布100上方的平行移动,使检测结构30完成对待检布100从一边缘至相对的另一边缘的检测扫描,保证待检布100的每一位置均被检测到,能够完全检测出待检布100中的棉籽(第二异物)。
进一步,所述第三驱动结构还用于:驱动检测结构30在机台10上方沿与待检布100垂直的方向移动。通过第三驱动结构驱动检测结构30在竖直方向的上下移动,实现检测结构30距离待检布100的高度调节,以确定用于达到最佳检测效果的高度位置。
较佳地,本发明实施例所述检布机中的第一驱动结构可以驱动剪刀结构40相对于待检布100作任一方向的平行移动,以及相对于待检布100在垂直方向的移动,以使剪刀结构40移动至待检布100上的棉籽位置,并精确对准该位置,实施剪除操作。
本发明实施例所述检布机中,上述的吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40可以分别为独立设置结构,也可以集成为一体。当为独立设置结构时,上述的第一驱动结构、第二驱动结构和第三驱动结构也分别为独立结构。
本实施例中,根据图2和图3,具体地,所述检布机还包括:
铺设于机台10上的滑轨14;
高度能够伸缩的升降架11,该升降架11相对于机台10垂直设置,且该升降架11与滑轨14配合连接,能够沿滑轨14在机台10上往复移动;
支撑架12,固定设置于升降架11上,且垂直于机台10上的滑轨14设置,本实施例中,吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40均设置于该支撑架12上,利用支撑架12将吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40集成为一体。
较佳地,该吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40均集成于一安装组上,且该安装组通过滑轨与支撑架12配合连接,通过安装组沿支撑架12的滑动,带动吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40相对于支撑架12的移动。
根据该种设置,用于分别驱动吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40移动的第一驱动结构、第二驱动结构和第三驱动结构可以集成为一个驱动结构。
利用升降架11在竖直方向的伸缩功能,通过驱动结构使升降架11在竖直方向上的长度变化,使支撑架12相对于待检布100的高度变化,从而带动吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40距离待检布100的高度变化。
通过驱动结构驱动升降架11在滑轨上滑动,带动吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40相对于待检布100沿图4所示的X方向移动,以对整个待检布100沿X方向进行扫描;通过驱动结构驱动安装组沿支撑架12滑动,带动吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40相对于待检布100沿图4所示的Y方向移动,以对整个待检布100沿Y方向进行扫描。
这样,利用上述升降架12在机台10上滑轨的平移、升降架11在竖直方向上的伸缩以及安装组相对于支撑架12上滑轨的平移,实现吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40在三个方向的组合移动。当然,在采用检布机进行检布的过程中,吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40的执行动作分别为分步完成,在其中一个结构执行动作时,其他两个结构的同时动作不会影响该结构的功能。
当然,所述检布机中,可以包括多个支撑架12和升降架11的组合结构,均滑动地设置于滑轨14上,吸尘结构20、检测结构30和剪刀结构40分别独立设置,分别位于一个支撑架12上。
较佳地,本发明实施例所述检布机,还包括:
用于将待检布100固定于机台10上的固定结构,优选地,该固定结构包括真空吸附单元,设置于机台10上用于放置待检布100的表面,用于通过真空吸附方式将待检布100固定于机台10上;
传送结构,与机台10连接,用于将待检布100传送至机台10上。
另外,优选地,所述检测结构30包括:
图像扫描单元,用于获得待检布100的扫描图片;
图像分析单元,用于对所述图像扫描单元所获得的扫描图片进行图像分析,确定第二异物的定位坐标。
具体地,该图像扫描单元可以设置于一照相机上,该图像分析单元可以设置于一计算机上,照相机与计算机连接,当照相机采集到待检布100的扫描图片时,传输至计算机,通过计算机上设置的图像分析单元对所扫描图片进行分析,确定棉籽200的位置,如图5所示,并将所定位位置的数据结果传输至第三驱动单元,使第三驱动单元驱动剪刀结构40移动至所定位位置,实施剪除操作。
当然,当所述检测结构30由照相机和计算机两部分构成时,可以仅将照相机与吸尘结构20和剪刀结构40组合设置在一起。
较佳地,本发明实施例所述检布机中,所述第一驱动结构还用于:
驱动剪刀结构40定位于机台10上方预定高度位置S处,如图5所示,并沿预定高度位置S进行平移,在平移过程中执行剪切动作,剪除待检布中高于预定高度的布毛。
本领域技术人员应该能够了解吸尘结构20和剪刀结构40的具体结构以及在本实施例所述检布机上的设置方式,在此不详细描述。
本发明实施例另一方面提供一种采用上述所述检布机的检布方法,所述检布方法包括:
利用所述吸尘结构通过吸附方式清除待检布中的第一异物;
利用所述检测结构检测待检布中的第二异物的位置;
根据所述检测结构的检测结果,驱动所述剪刀结构移动至所述检测结构所检测定位的第二异物的位置处,通过剪切方式清除待检布中的第二异物。
采用该检布方法,能够自动完成第一异物(如质量较轻的碎毛)和第二异物(如质量较重的棉籽)的清除工作,相较于人工的检测方式,不会造成二次污染,获得优质的检测结果,且能够降低人工检测成本,缩短检测时间。
如图6所示为采用本发明实施例所述检布机执行检布方法的整个流程示意图,参阅图6,整个所述检布方法包括步骤:
S610,通过传送结构将待检布移动至机台上,机台下方的真空吸附单元动作,使待检布固定于机台上;
S620,第二驱动结构调节吸尘结构相对于待检布的高度位置,之后使吸尘结构启动,并相对于待检布平行移动,该平移过程包括移动至待检布的任一位置,对整个待检布扫描,以将待检布每一位置的碎毛(第一异物)吸除;
S630,第三驱动结构调节检测结构的照相机相对于待检布的高度位置,之后使照相机开始工作,并相对于待检布平行移动,包括移动至待检布的任一位置,对整个待检布扫描,对每一位置进行变焦放大并拍照,将所拍得照片传输至检测结构的计算机,由计算机通过分析计算每一图片,定位待检布上每一棉籽(第二异物)的位置,并将每一棉籽所在位置信息传输至第一驱动结构;
S640,第一驱动结构调节剪刀结构相对于待检布的高度位置,根据所获得的每一棉籽的位置信息数据,使剪刀结构依次定位至每一位置,实施剪除操作;
S650,第一驱动结构驱动剪刀结构定位于机台上方预定高度位置处,并沿预定高度位置进行平移,在平移过程中执行剪切动作,剪除待检布中高于预定高度的布毛;
S660,第二驱动结构再次调节吸尘结构相对于待检布的高度位置,之后使吸尘结构启动,相对于待检布平行移动,对整个待检布进行扫描,利用吸尘结构通过吸附方式清除剪切棉籽和布毛后产生的碎毛(第三异物);
S670,通过传送结构移走待检布,完成待检布的整个检测过程。
采用上述过程的检布方法,利用吸尘结构、检测结构和剪刀结构的组合实现待检布的自动扫描检测,既能够检测到粗大的棉籽,也能够检测到细小的棉籽和碎毛,并清除;相较于人工的检测方式,不会造成二次污染,获得优质的检测结果,且能够降低人工检测成本,缩短检测时间。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (15)

1.一种检布机,其特征在于,包括:
用于放置待检布的机台;
吸尘结构,设置于所述机台上方,用于通过吸附方式清除待检布中的第一异物;
检测结构,设置于所述机台上方,用于当通过所述吸尘结构以吸附方式清除待检布中的第一异物之后,检测待检布中第二异物的位置;
剪刀结构,设置于所述机台上方,用于通过剪切方式清除待检布中的第二异物;其中所述第一异物和所述第二异物分别为棉籽或碎毛,且所述第二异物的质量大于所述第一异物的质量;
第一驱动结构,分别与所述检测结构和所述剪刀结构连接,用于根据所述检测结构的检测结果,驱动所述剪刀结构移动至所述检测结构所检测定位的第二异物的位置处。
2.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述检布机还包括:
第二驱动结构,与所述吸尘结构连接,用于驱动所述吸尘结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动。
3.如权利要求2所述的检布机,其特征在于,所述第二驱动结构还用于驱动所述吸尘结构在所述机台上方沿与所述待检布垂直的方向移动。
4.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述检布机还包括:
第三驱动结构,与所述检测结构连接,用于驱动所述检测结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动。
5.如权利要求4所述的检布机,其特征在于,所述第三驱动结构还用于驱动所述检测结构在所述机台上方沿与所述待检布垂直的方向移动。
6.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述检布机还包括:
铺设于所述机台上的滑轨;
升降架,相对于所述机台垂直设置,且所述升降架与所述滑轨配合连接;
支撑架,固定设置于所述升降架上,其中所述吸尘结构、所述检测结构和所述剪刀结构均设置于所述支撑架上。
7.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述检布机还包括:用于将待检布固定于所述机台上的固定结构。
8.如权利要求7所述的检布机,其特征在于,所述固定结构包括真空吸附单元,设置于机台用于放置待检布的表面。
9.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述检测结构包括:
图像扫描单元,用于获得待检布的扫描图片;
图像分析单元,用于对所述图像扫描单元所获得的扫描图片进行图像分析,确定第二异物的定位坐标。
10.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述检布机还包括:
传送结构,与所述机台连接,用于将待检布传送至所述机台上。
11.如权利要求1所述的检布机,其特征在于,所述第一驱动结构还用于:驱动所述剪刀结构定位于机台上方预定高度位置处,并沿预定高度位置进行平移,在平移过程中执行剪切动作,剪除待检布中高于预定高度的布毛。
12.一种采用权利要求1所述检布机的检布方法,其特征在于,所述检布方法包括:
利用所述吸尘结构通过吸附方式清除待检布中的第一异物;
利用所述检测结构检测待检布中的第二异物的位置;
根据所述检测结构的检测结果,驱动所述剪刀结构移动至所述检测结构所检测定位的第二异物的位置处,通过剪切方式清除待检布中的第二异物;其中所述第一异物和所述第二异物分别为棉籽或碎毛,所述第二异物的质量大于所述第一异物的质量。
13.如权利要求12所述的检布方法,其特征在于,在通过剪切方式清除待检布中的第二异物的步骤之后,所述检布方法还包括:
再次利用所述吸尘结构通过吸附方式清除剪切第二异物时产生的第三异物。
14.如权利要求12所述的检布方法,其特征在于,在利用所述吸尘结构通过吸附方式清除待检布中的第一异物的步骤中,使所述吸尘结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动,对整个待检布进行吸附扫描;
以及在利用所述检测结构检测待检布中的第二异物的位置时,使所述检测结构在所述机台上方沿与所述待检布平行的方向移动,对整个待检布进行检测扫描。
15.如权利要求12所述的检布方法,其特征在于,在通过剪切方式清除待检布中的第二异物的步骤之后,所述检布方法还包括:
驱动所述剪刀结构定位于机台上方预定高度位置处,并沿预定高度位置进行平移,在平移过程中执行剪切动作,剪除待检布中高于预定高度的布毛。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104914627B (zh) * 2015-07-09 2017-09-29 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种取向装置
CN105129492B (zh) * 2015-07-23 2017-09-26 合肥京东方光电科技有限公司 一种摩擦布贴布机
TWI644095B (zh) * 2016-12-20 2018-12-11 財團法人紡織產業綜合研究所 織物封測設備
CN109752378A (zh) * 2017-11-01 2019-05-14 香港理工大学 移动式织物疵点自动检测系统及其控制方法
CN111535004A (zh) * 2020-05-18 2020-08-14 东莞晶苑毛织制衣有限公司 一种裁片生产一体化系统
CN112301717B (zh) * 2020-11-02 2021-12-14 淮北悯农生物科技有限公司 衣服面料生产用检验装置
CN113310999B (zh) * 2021-07-30 2022-02-08 布鲁希斯纺织用品(南通)有限公司 一种可用于除杂丝的服饰生产用检测装置
CN113668125B (zh) * 2021-10-09 2021-12-21 布鲁希斯纺织用品(南通)有限公司 一种多级调整型的纺织断纱监控装置和方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002244136A (ja) * 2001-02-21 2002-08-28 Hitachi Ltd ラビング用布の検査方法および液晶表示素子の製造方法ならびに製造装置
KR20110073013A (ko) * 2009-12-23 2011-06-29 엘지디스플레이 주식회사 러빙포 검사장치 및 러빙장치
CN102236212A (zh) * 2011-07-21 2011-11-09 昆山龙腾光电有限公司 调节液晶显示面板制造过程中摩擦强度的方法
CN102402075A (zh) * 2011-12-06 2012-04-04 昆山龙腾光电有限公司 摩擦强度控制方法及系统以及摩擦布选取方法
CN203397056U (zh) * 2013-08-22 2014-01-15 合肥京东方光电科技有限公司 一种摩擦取向设备
CN104020610A (zh) * 2014-05-23 2014-09-03 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种贴布机

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102707497B (zh) * 2011-11-15 2014-08-06 京东方科技集团股份有限公司 一种摩擦布检查机及摩擦布检查方法
CN103913895B (zh) * 2014-04-18 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 摩擦布老化改善设备

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002244136A (ja) * 2001-02-21 2002-08-28 Hitachi Ltd ラビング用布の検査方法および液晶表示素子の製造方法ならびに製造装置
KR20110073013A (ko) * 2009-12-23 2011-06-29 엘지디스플레이 주식회사 러빙포 검사장치 및 러빙장치
CN102236212A (zh) * 2011-07-21 2011-11-09 昆山龙腾光电有限公司 调节液晶显示面板制造过程中摩擦强度的方法
CN102402075A (zh) * 2011-12-06 2012-04-04 昆山龙腾光电有限公司 摩擦强度控制方法及系统以及摩擦布选取方法
CN203397056U (zh) * 2013-08-22 2014-01-15 合肥京东方光电科技有限公司 一种摩擦取向设备
CN104020610A (zh) * 2014-05-23 2014-09-03 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种贴布机

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