CN104569633B - 具有多个测试站的转盘式测试装置与系统 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，特别是有关一种可以同时对多个电子元件连续进行不同测试的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统。此具有多个测试站的转盘式测试装置包含一个输送转盘与数个测试转盘。借由测试转盘而使数个测试模块组成一个圆盘式的测试工作站配置，使得每一个测试工作站可以连续地进行测试而不会闲置，进而增加测试的产能。

Description

具有多个测试站的转盘式测试装置与系统

技术领域

本发明涉及一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，特别是涉及一种可以同时对多个电子元件连续进行不同测试的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统。

背景技术

近年来，为了缩减电子产品的体积与增加其功能，设计并制作出具有多种不同功能的电子元件(例如微机电元件)以取代传统仅具有单一功能的电子元件。然而，这些具有多种功能的电子元件在完成制作之后，往往需要对于不同的功能进行不同的测试，但是大部分的测试装置都仅能进行单一测试，所以需要电子元件转移到不同的测试装置而进行不同的测试项目。如此一来，不但大幅地增加测试时间与成本，而降低测试的产能，更因在不同的测试装置之间转移，有很大的机率会因人为或机械的疏失而在转移时造成电子元件的损害，而降低测试的合格率。

为了解决上述问题，近年来发展出一种多功能测试装置，可以对电子元件进行不同的测试项目。参照图1，其为目前常用的多功能测试装置10的示意图。多功能测试装置10包含转盘12、以及数个直线式测试单元14，其中，每一个直线式测试单元14由数个不同的测试工作站t1、t2、t3、t4直线排列而组成。在每一个直线式测试单元14中都具有移载装置(shuttle)16，用以承载电子元件(IC)并将其传送到直线式测试单元14中的不同的测试工作站t1、t2、t3、t4，以进行不同的测试，例如压力测试、感光测试等等。当转盘12将一个电子元件传送至直线式测试单元14中进行测试时，必须要等到此电子元件完成直线式测试单元14中的所有测试工作站t1、t2、t3、t4的测试，并且由直线式测试单元14取出后，才能将另一个电子元件置入直线式测试单元14进行测试。因此，在上一个电子元件未完成直线式测试单元14上所有的测试项目之前，即未完成所有测试工作站t1、t2、t3、t4所提供的测试之前，同一个直线式测试单元14并无法对另一个电子元件进行测试，既使在直线式测试单元14中进行测试的电子元件已经完成部份测试项目(例如完成测试工作站t1、t2、或t3测试项目)，但是仍然需要等到此一个电子元件完成所有的测试项目，并由直线式测试单元14取出之后才能放入下一个电子元件进行测试。换言之，在直线式测试单元14对一个电子元件进行测试时，既使有直线式测试单元14中有测试工作站空出来，也无法置入下一个电子元件进行测试，导致这些空出来的测试工作站处于闲置状态(idle)，而无法连续地置入电子元件进行测试，使得测试装置无法有效地被利用，而造成测试时间过长、进而导致测试产能低下与测试成本无法降低等问题。

有鉴于此，亟需要一种测试装置或系统，可以对连续地电子元件进行不同的测试项目，而减少测试装置中的测试工作站闲置(idle)的时间与机率，进而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

发明内容

本发明的一目的为提供具有多个测试站的转盘式测试装置，可以同时对多个电子元件连续进行不同的测试项目，而不会让任何测试工作站(或测试模块)处于闲置状态(idle)，从而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

本发明的另一目的为提供具有多个测试站的转盘式测试系统，可以同时对多个电子元件连续进行不同的测试项目，并对测试系统进行最大效能的利用，不会让任何测试工作站(或测试模块)处于闲置状态(idle)，从而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。根据本发明的一目的，本发明提供一种具有多个测试站的转盘式测试装置。此具有多个测试站的转盘式测试装置包含用以传送电子元件的输送转盘，以及多个测试转盘。其中，每一个测试转盘周围设置有多个不同的测试模块以形成多个不同的测试工作站，从而提供不同的测试项目而对电子元件(例如IC、MEMS元件等)进行不同的测试(例如感光测试、压力测试、温度测试、磁力测试、翻转测试等)。测试转盘可以自由地来回转动，而每一个测试转盘周围设置的各个测试模块则是固定而不会随着测试转盘转动。此具有多个测试站的转盘式测试装置借由测试转盘转动，在一个测试工作站对一个电子元件完成测试之后，可以将该电子元件送入下一个测试工作站进行测试，并同时将另一个待测试的电子元件带入此测试工作站中进行测试，并且设置于该测试转盘周围各个测试模块皆以此模式运作，使得各个测试工作站(或测试模块)都是连续地对不同的待测电子元件进行测试，而不会有闲置时候，从而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中该输送转盘上设置有多个元件承载单元，用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上，用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试，其中，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中每一该测试转盘能够自由地来回转动，而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动，不会随该测试转盘转动。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中该测试转盘周围设置的每一测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座，而该测试转盘上未对应上述测试模块的该测试座，则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方，或是与该输送转盘相邻。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中上述元件承载单元为真空吸嘴。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中更包含多个拾取装置，其中，每一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。

前述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为0或整数，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。根据本发明的另一目的，本发明提供一种具有多个测试站的转盘式测试系统。此具有多个测试站的转盘式测试装置包含输送转盘，多个测试转盘、自动测试设备(ATE)、进料装置、以及分料装置。在此，输送转盘与各个测试转盘比邻设置，用以传输电子元件，进料装置与分料装置分别与输送转盘连接，分别用以输送待测电子元件至输送转盘中，以及用以将已经完成测试的电子元件依照测试结果进行分类，而自动测试设备(ATE)则与上述测试转盘连接，用以提供测试信号与参数并收集与处理测试结果。在此具有多个测试站的转盘式测试系统中，每一个测试转盘可以自由地来回转动，且每一个测试转盘周围设置有多个不会随着测试转盘转动的测试模块，从而在每一个测试转盘周围形成固定不动的测试工作站，以提供不同的测试项目而对电子元件(例如IC、MEMS元件等)进行不同的测试(例如感光测试、压力测试、温度测试、磁力测试、翻转测试等)。借由测试转盘转动，可以在一个测试工作站对一个电子元件完成测试之后，将已完成此测试工作站所提供的测试的电子元件直接送入另一个测试工作站进行测试，并同时将另一个待测试的电子元件送入此测试工作站中进行测试。此具有多个测试站的转盘式测试系统中设置于每一个测试转盘周围的各个测试模块皆以上述模式运作，使得各个测试工作站(或测试模块)可以连续地对不同的待测电子元件进行测试而不闲置(idle)，以充分地利用测试系统的效能，从而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中该输送转盘上设置有多个元件承载单元，用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上，用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试，其中，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中每一该测试转盘能够自由地来回转动，而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动，不会随该测试转盘转动。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中该测试转盘周围设置的每一个测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座，而该测试转盘上未对应上述测试模块的该试座，则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方，或是与该输送转盘相邻。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中上述元件承载单元为真空吸嘴。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中更包含多个拾取装置，其中，每一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。

前述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为0或整数，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

因此，借由上述技术方案，本发明至少具有下列优点：本发明提供了一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，借由转盘式的设计，使得各个测试工作站可以连续地连续对电子元件进行一连串不同项目的测试，减少或消除各个提供不同测试项目的测试工作站(或测试模块)的闲置时间(idle time)，而充分利用测试装置与系统的效能，进而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1为传统多功能测试装置的示意图。

图2A至图2C分别为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置的俯视图、侧视图、以及局部示意图。

图3为本发明的另一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置的俯视图。

图4为本发明的另一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置中测试转盘的示意图。

图5A至图5G为本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置运作的流程图。

图6为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试系统的示意图。

【主要元件符号说明】

10：多功能测试装置

12：转盘

14：直线式测试单元

16：移载装置

IC：电子元件

t1、t2、t3、t4：测试工作站

100、100A：具有多个测试站的转盘式测试装置

102、102A：输送转盘

104、104A：元件承载单元

106、106’、106A、106’A：电子元件转换区域

108、108’：拾取装置

200、200’、200A：测试转盘

202a、202b、202c、202d、202e：测试座

202’a、202’b、202’c、202’d、202’e：测试座

204：电子元件

206a、206b、206c、206d、206e：排线

300：自动测试设备(ATE)

IC1、IC2、IC3、IC4、IC5、IC6：电子元件

T1、T2、T3、T4：测试模块

T1’、T2’、T3’、T4’：测试模块

400：具有多个测试站的转盘式测试系统

500：进料装置

600：分料装置

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

本发明的一些实施例详细描述如下。然而，除了该详细描述外，本发明还可以广泛地在其他的实施例施行。亦即，本发明的范围不受已提出的实施例的限制，而以本发明提出的专利要求的保护范围为准。其次，当本发明的实施例图示中的各元件或步骤以单一元件或步骤描述说明时，不应以此作为有限定的认知，即如下的说明未特别强调数目上的限制时本发明的精神与应用范围可推及多数个元件或结构并存的结构与方法上。再者，在本说明书中，各元件的不同部分并没有完全依照尺寸绘图，某些尺度与其他相关尺度相比或有被夸张或是简化，以提供更清楚的描述以增进对本发明的理解。而本发明所沿用的现有技艺，在此仅做重点式的引用，以助本发明的阐述。

请同时参照图2A、图2B、以及图2C，图2A为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置100的俯视图，图2B为具有多个测试站的转盘式测试装置100的俯视图，而图2C则为具有多个测试站的转盘式测试装置100中测试转盘200的局部示意图。具有多个测试站的转盘式测试装置100包含输送转盘102与数个测试转盘200、200’，其中，每一个测试转盘200、200’都可以自由来回转动(例如可以自由地顺时针转动与逆时针转动)，并且每一个测试转盘200、200’周围皆设置有数个固定于具有多个测试站的转盘式测试装置100上而不随测试转盘200、200’转动的测试模块T1、T2、T3、T4。这些测试模块T1、T2、T3、T4围绕着测试转盘200、200’，分别形成一个个为围绕着测试转盘200、200’而提供不同测试项目(例如感光测试、压力测试、温度测试、磁力测试、翻转测试等)的测试工作站。虽然，在本实施例中每一个测试转盘200、200’周围设置有四个测试模块T1、T2、T3、T4，但是并不以此为限，而是可以依照测试的需求、规划、与设计，而减少(例如2个、3个)或增加(例如5个或5个以上)。输送转盘102则用以将承载输入的电子元件例如(IC、MEMS元件等)，并将其分别传送至测试转盘200、200’上进行测试，以及用以将测试转盘200、200’上已完成所有测试的电子元件取回并输出。

输送转盘102上设置有多个元件承载单元104，用以承载电子元件，而带动电子元件跟随着输送转盘102转动，而达到传送电子元件的目的，即将由输入端输入的待测电子元件传送至测试转盘200、200’内进行一连串的测试，以及将已经完成测试的电子元件传送至输出端而输出。参照图2B，输送转盘102为悬挂或设置于测试转盘200、200’上方的转盘，即输送转盘102与测试转盘200、200’并不设置于同一平面上，而是设置于高于测试转盘200、200’的平面上，其上的元件承载单元104则为可以吸取电子元件并带动电子元件随着输送转盘102转动的真空吸嘴，这些真空吸嘴可以自由的上下移动而将所携带的电子元件送入测试转盘200、200’，以及已完成测试的电子元件由测试转盘200、200’中取出。输送转盘102上设置元件承载单元104数量，并不以图2A至图2B所示的实施例为限，而是可以依照测试的需求、规划、与设计减少或增加。

每一个测试转盘200、200’上设置有数个测试座，用以容置与承载电子元件，并带动电子元件随着测试转盘200、200’转动，而将电子元件移动至各个不同的测试模块(或测试工作站)T1、T2、T3、T4中进行测试。每一个测试转盘200、200’上设置的测试座数量为n+1个，其中，n为每一个测试转盘200、200’周围设置的测试模块数量，以图2A、图2B、以及图2C所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100为例，每一个测试转盘200、200’周围设置有4个测试模块，因此，测试转盘200、200’上各设置有5个测试座，其中，测试转盘200上设置有测试座202a、202b、202c、202d、与202e，而测试转盘200’上设置有测试座202’a、202’b、202’c、202’d、与202’e。每一个测试转盘200、200’在未转动之前以及转动之后，无论是逆时针转动或是顺时针转动，每一个测试转盘200、200’周边设置的每一个测试模块T1、T2、T3、T4都会分别对应一个测试座，而该测试座会位于对应的测试模块内或下方，例如测试座202b、202’b对应测试模块T1而位于其下方，测试座202c、202’c对应测试模块T2而位于其下方、测试座202d、202’d对应测试模块T3而位于其下方，测试座202e、202’e对应测试模块T4而位于其下方(如图2A与图2B所示)，并且未与任何测试模块对应的测试座202a、202’a则与输送转盘102比邻(如图2A所示)，而分别与最接近的测试座202a与202’a的元件承载单元104比邻，或位于其下方。

在具有多个测试站的转盘式测试装置100中，输送转盘102与每一个测试转盘200、200’相邻或重叠的区域为电子元件转换区域106、106’，而输送转盘102与测试转盘200、200’之间的电子元件传送都是在电子元件转换区域106、106’内进行。以图2A与图2B为例，输送转盘102上移动到电子元件转换区域106的元件承载单元104，为最接近测试转盘200的元件承载单元104，而与测试转盘200上未对应任何测试模块T1、T2、T3、T4的测试座202a相邻(如图2A所示)或上下重叠(如图2B所示)。输送转盘102上移动到电子元件转换区域106’的元件承载单元104为最接近测试转盘200’的元件承载单元104，而与测试转盘200’上未对应任何测试模块T1、T2、T3、T4的测试座202’a相邻(如图2A所示)或上下重叠。

参照图2C，其为具有多个测试站的转盘式测试装置100中的测试转盘200的放大图。测试转盘200上设置的测试座202a、202b、202c、202d、202e下方分别设置有排线206a、206b、206c、206d、206e，而分别借由这些排线206a、206b、206c、206d、206e与自动测试设备(ATE)300连接。每一排线206a、206b、206c、206d、206e都固定连接特定的测试座，例如排线206a连接测试座202a、排线206b连接测试座202b、排线206c连接测试座202c、排线206d连接测试座202d、排线206e连接测试座202e，而随着测试转盘200转动，排线206a、206b、206c、206d、206e会随着其所连接的测试座202a、202b、202c、202d、202e转动，而保持连接不会断开与测试座202a、202b、202c、202d、202e的联系。自动测试设备(ATE)300则经由这些排线206a、206b、206c、206d、206e而将测试信号与参数传送到各个测试座202a、202b、202c、202d、202e，而各个测试座202a、202b、202c、202d、202e分别借由排线206a、206b、206c、206d、206e而将测试结果传送到自动测试设备(ATE)300进行收集与处理。另外，在图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100中，测试转盘200’的测试座202’a、202’b、202’c、202’d、202’e下方同样设置有排线，分别与测试座202’a、202’b、202’c、202’d、202’e连接，而做为各个测试座202’a、202’b、202’c、202’d、202’e与自动测试设备(ATE)300之间的连接，其结构配置与设计与测试转盘200下方的排线206a、206b、206c、206d、206e相同，所以在此不再赘述。另外，可以在各个测试转盘200、200’下方设置保护架(图中未示)，用以保护各个测试座下的排线，避免排线纠缠或撕裂。

虽然图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100中的输送转盘102其上设置有数个真空吸头做为元件承载单元104，而可以借由这些元件承载单元104直接将输送转盘102上携带的电子元件直接转移到测试转盘200、200’上，并置放于其上的测试座中，以及直接测试转盘200、200’上测试座中已完成测试的电子元件取出而转移至输送转盘102，此外，也可以采取其他的方式与设计进行输送转盘102与测试转盘200、200’之间的电子元件取放与转移。参照图3，其为本发明的另一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试装置100A的俯视图，其中，具有多个测试站的转盘式测试装置100A与图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置具有相似的组成，都是由一个输送转盘与数个测试转盘所组成。两者之间的差异在于，具有多个测试站的转盘式测试装置100A中的输送转盘102A上的元件承载单元104A为元件容置槽或元件容置座，其仅能容置与承载电子元件而随着输送转盘102A转动，但是并无法对电子元件进行拾取与放置，因此，在具有多个测试站的转盘式测试装置100A中设置有数个拾取装置108、108’。每一个拾取装置108、108’对应测试转盘200、200’。其中，拾取装置108设置于输送转盘102A与测试转盘200之间。通过拾取装置108，可将由输送转盘102A上，移动至电子元件转换区域106A的元件承载单元104A中的待测电子元件204取出，并置放于测试转盘200上移动至电子元件转换区域106A的测试座202a中，或是将测试转盘200上移动至电子元件转换区域106A的测试座202a中已完成测试的电子元件取出，并置放于输送转盘102A上移动至电子元件转换区域106A的元件承载单元104A中的待测电子元件204中。拾取装置108’则设置于输送转盘102A与测试转盘200’之间，用以将输送转盘102A上移动至电子元件转换区域106’A的元件承载单元104A中的待测电子元件204取出，并置放于测试转盘200’上移动至电子元件转换区域106’A的测试座202a中，或是将测试转盘200’上移动至电子元件转换区域106’A的测试座202a中已完成测试的电子元件取出，并置放于输送转盘102A上移动至电子元件转换区域106’A的元件承载单元104A中的待测电子元件204中。拾取装置108、108’可以为机械手臂或是可以自由地在输送转盘102A与测试转盘200、200’之间移动的真空吸头。

虽然在图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100以及图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A都具有两个测试转盘，但是并不以此为限，而是可以依照测试制作过程的需求或所需要的测试效能增加其数量。测试转盘的数量越多，则测试速度与产能越快，。另外，设置于每一个测试转盘200、200’周围的测试模块T1、T2、T3、T4可以为同一个测试领域但提供不同测试项目的测试模块，以图2B为例，测试转盘200、200’周围的测试模块T1、T2、T3、T4皆用于感光测试，但是其分别提供不同的测试项目，例如测试模块T1为玻璃遮蔽测试模块，用以提供在玻璃遮蔽下的感光测试、测试模块T2为光源测试模块，用以提供无遮蔽的感光测试、测试模块T3为特定色板测试模块，用以在特定色板遮蔽下的感光测试、测试模块T3为暗室测试模块，用以在暗室的感光测试。但是，设置于每一个测试转盘200、200’周围的测试模块T1、T2、T3、T4可以为不同测试领域的测试模块，例如压力测试、温度测试、磁力测试等。参照图4，其为本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置中的测试转盘的另一个实施例。图4所示的测试转盘200A上同样设置有数个测试座202a、202b、202c、202d、202e，而测试转盘200A的周围则同样设置有数个测试模块T1’、T2’、T3’、T4’。事实上，图4所示的测试转盘与图2A所示的测试转盘200、200’具有相同的配置与结构，但是其与图2A所示的测试转盘200、200’之间的差异在于，测试转盘200A周围设置的测试模块T1’、T2’、T3’、T4’为不同测试领域的测试模块而提供不同领域的测试，例如测试模块T1’为翻转测试模块，以对电子元件进行翻转测试、测试模块T2’为压力测试模块，用以对电子元件进行压力测试、测试模块T3’为温度测试模块，用以对电子元件进行温度测试、测试模块T4’为磁力测试模块，用以对电子元件进行磁力测试，但并不以此为限，而是可以视待测电子元件所需进行的测试领域与测试项目，而决定测试转盘周围设置的测试模块种类与数量。

接着，将对本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置的工作原理作做进一步说明，其以图2A与图2B所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100为例，并以图5A至图5G所示的流程图进行说明。首先，图5A，在刚开始进行测试时，输入端(或进料端)会将待测电子元件置入输送转盘102上的元件承载单元104，而由元件承载单元104带着待测电子元件随着输送转盘102转动。然后，当带着待测电子元件IC1(即第一颗待测电子元件)的元件承载单元104随着输送转盘102转动，而将待测电子元件IC1分别移动至电子元件转换区域106与106’时，会将待测电子元件IC1同时由输送转盘102转移到测试转盘200与200’上，即同时将位于电子元件转换区域106的元件承载单元104中的待测电子元件IC1，转移至位于测试转盘200中位于电子元件转换区域106内的测试座202a，以及将位于电子元件转换区域106’的元件承载单元104中的待测电子元件IC1，转移至位于测试转盘200’中位于电子元件转换区域106’内的测试座202’a。由于在具有多个测试站的转盘式测试装置100中，输送转盘102上设置的元件承载单元104即为真空吸头，因此，电子元件转换区域106与106’内的元件承载单元104待测电子元件IC1，可以直接向下移动，而将待测电子元件IC1同时放置于电子元件转换区域106内的测试座202a以及电子元件转换区域106’内的测试座202’a。反之，若是采取图3所示具有多个测试站的转盘式测试装置100A，则是借由拾取装置108与108’分别将电子元件转换区域106A与106’A中元件承载单元104内的待测电子元件IC1取出，并同时放置于电子元件转换区域106A与106’A中的测试座202a与202’a中。

接着，参照图5B，待测电子元件IC1被放置于测试转盘200的测试座202a以及测试转盘202’的测试座202’a，之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202a与电子元件转换区域106’中的测试座202’a移动至测试模块T1下方或测试模块T1内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块T1的测试座202b与202’b会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202c与202’c会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202d与202’d会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202e与202’e会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。

接着，测试转盘200的测试模块T1会对测试座202a中的电子元件IC1进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块T1也会对测试座202’a中的电子元件IC1进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第二个待测电子元件IC2分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC2分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202e以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’e中。

然后，参照图5C，在电子元件IC1完成测试模块T1所提供的测试之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202e与电子元件转换区域106’中的测试座202’e移动至测试模块T1下方或测试模块T1内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块T1的测试座202a与202’a会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202b与202’b会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202c与202’c会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202d与202’d会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。

接着，测试转盘200的测试模块T1与T2会分别对测试座202e中的电子元件IC2与测试座202a中的电子元件IC1进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块T1与T2会分别对测试座202’e中的电子元件IC2与测试座202’a中的电子元件IC1进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第三个待测电子元件IC3分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC3分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202d以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’d中。

然后，参照图5D，在电子元件IC1与IC2分别完成测试模块T2与T1所提供的测试之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202d与电子元件转换区域106’中的测试座202’d移动至测试模块T1下方或测试模块T1内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块T1的测试座202e与202’e会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202a与202’a会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202b与202’b会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202c与202’c会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。

接着，测试转盘200的测试模块T1、T2、与T3会分别对测试座202d中的电子元件IC3、测试座202e中的电子元件IC2与测试座202a中的电子元件IC1进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块T1、T2、与T3会分别对测试座202’d中的电子元件IC3、测试座202’e中的电子元件IC2与测试座202’a中的电子元件IC1进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第四个待测电子元件IC4分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC4分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202c以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’c中。

然后，参照图5E，在电子元件IC1、IC2、与IC3分别完成测试模块T3、T2、与T1所提供的测试之后，测试转盘200与200’会转动而(同时)将电子元件转换区域106中的测试座202c与电子元件转换区域106’中的测试座202’c移动至测试模块T1下方或测试模块T1内。此时随着测试转盘200与200’转动，原本位于测试模块T1的测试座202d与202’d会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202e与202’e会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202a与202’a会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202b与202’b会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。

接着，测试转盘200的测试模块T1、T2、T3与T4会分别对测试座202c中的电子元件IC4、测试座202d中的电子元件IC3、测试座202e中的电子元件IC2与测试座202a中的电子元件IC1进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块T1、T2、T3与T4会分别对测试座202’c中的电子元件IC4、测试座202’d中的电子元件IC3、测试座202’e中的电子元件IC2与测试座202’a中的电子元件IC1进行测试。于此同时，输送转盘102转动，而将第五个待测电子元件IC5分别送入电子元件转换区域106与106’中，并且借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC5分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202b以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’b中。

然后，参照图5F，在测电子元件IC1、IC2、与IC3分别完成测试模块T4、T3、T2与T1所提供的测试之后，测试转盘200与200’会回转，而(同时)将测试模块T4内的测试座202a与202’a分别回转至电子元件转换区域106与106’中。此时随着测试转盘200与200’回转，原本位于电子元件转换区域106与106’中的测试座202b与202’b会分别移动至测试模块T1下方或测试模块T1内，原本位于测试模块T1的测试座202c与202’c会分别移动至测试模块T2下方或测试模块T2内，原本位于测试模块T2的测试座202d与202’d会分别移动至测试模块T3下方或测试模块T3内，原本位于测试模块T3的测试座202e与202’e会分别移动至测试模块T4下方或测试模块T4内，而原本位于测试模块T4的测试座202a与202’a会分别移动至电子元件转换区域106与106’中。此回转步骤是为了避免测试座下方的排线因随着测试转盘转动，而导致排线纠缠与扯断。

接着，测试转盘200的测试模块T1、T2、T3与T4会分别对测试座202b中的电子元件IC5、测试座202c中的电子元件IC4、测试座202d中的电子元件IC3与测试座202e中的电子元件IC2进行测试，而同时测试转盘200’的测试模块T1、T2、T3与T4会分别对测试座202’b中的电子元件IC5、测试座202’c中的电子元件IC4、测试座202’d中的电子元件IC3与测试座202’e中的电子元件IC2进行测试。于此同时，输送转盘102上位于电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，则会分别将已经完成所有测试模块(T1、T2、T3、T4)所提供的测试项目的电子元件IC1，由测试座202a与202’a中取出。

接着，参照图5G，输送转盘102转动，而将第六个待测电子元件IC6分别送入电子元件转换区域106与106’中，并带动已完成测试的电子元件IC1向输出端移动，然后，借由电子元件转换区域106与106’中的元件承载单元104，而将待测电子元件IC6分别转移至测试转盘200位于电子元件转换区域106的测试座202a以及测试转盘200’位于电子元件转换区域106’的测试座202’a中。然后，待测电子元件IC2、IC3、IC4与IC5分别完成测试模块T4、T3、T2与T1所提供的测试之后，重复上述图5B至图5G所示的步骤，对其他待测电子元件进行测试。要注意的是在重复上述步骤进行测试时，每一个测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块(例如测试模块T4)完成测试后，测试转盘会回转以避免测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为0或整数(例如1、2、3…)，n为每一个测试转盘200、200’周围设置的该测试模块的数量。以具有多个测试站的转盘式测试装置100为例，测试转盘200、200’周边设置有4个测试模块T1、T2、T3、T4，所以n=4，因此，在第4m+1个电子元件在测试模块T4完成测试之后，则测试转盘200、200’就需要回转一次。换言之，当第1、5、9、13、17…个电子元件在测试模块T4完成测试之后，测试转盘200、200’就会进行图5F所示的步骤而回转。

另外，图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A的工作原理与动作也是如同前述图5A至图5G所示的步骤，其差异仅在于输送转盘102A与测试转盘200、200’之间的电子元件取放是由拾取装置108、108’所执行的而已。由图5A至图5G所示的步骤可以得知，由于本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置100、100A借由测试转盘而将数个测试工作站形成一个循环性测试工作站系统，使得每一个测试工作站(或测试模块)在完成对一个电子元件的测试之后，将已完成该测试工作站测试的电子元件传送至下一个测试工作站的时候，下一个待测电子元件会被连动而传送至该测试工作站进行测试。因此，使得每一个测试工作站得以连续地对待测电子元件进行测试，而不会如同传统的多功能测试装置(例如图1所示的多功能测试装置10)一样，需等待一个测试元件完成所有的测试工作站所提供的测试项目，才能对下一个电子元件进行测试，所以可以减少每一个工作站闲置(idle)的时间，甚至不会有闲置的时间，而充分地利用每一个测试工作站的效能，从而缩减测试时间与成本并提升测试产能。另外，由于本发明的具有多个测试站的转盘式测试装置100、100A中的各项组成元件(例如输送转盘、测试转盘)多为圆形的转盘机构配置，所以相较于传统多功能测试装置的线性机构配置，特别是直线式测试单元的配置，在空间利用率上显然更为充分。

此外，本发明更提供具有多个测试站的转盘式测试系统。参照图6，其为本发明的一个实施例的具有多个测试站的转盘式测试系统400的示意图。具有多个测试站的转盘式测试系统400包含如图2A所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100、自动测试设备(ATE)300、进料装置500、以及分料装置600。其中，具有多个测试站的转盘式测试装置100包含有一个输送转盘102与数个测试转盘200、200’，其结构配置以及工作原理与动作已在前文详细说明，在此不再赘述。自动测试设备(ATE)300与测试转盘200、200’经由测试座下方的排线而电性连接，用以提供测试信号与参数给各个测试座与测试模块T1、T2、T3、T4(或测试工作站)，并收集与处理每一个电子元件的测试结果。进料装置500与具有多个测试站的转盘式测试装置100(或输送转盘102)连接，用以待测的电子元件输送进入测试转盘102中，其中，进料装置500可以为震动式的进料装置或其他各种形式的进料装置。分料装置600与具有多个测试站的转盘式测试装置100(或输送转盘102)连接，用以依照每一个电子元件的测试结果而将各个电子元件进行分类，并依照分类而收集于同一个容置装置，其中，分料装置600可以采用各种形式的分料装置，在此不加以限制。

另外，本发明的具有多个测试站的转盘式测试系统中的具有多个测试站的转盘式测试装置，也可以采用图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A。由于本发明具有多个测试站的转盘式测试系统中的测试装置使采用图2A-图2C所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100或图3所示的具有多个测试站的转盘式测试装置100A，因此，在进料装置500将待测电子元件传送入输送转盘102或102A之后，输送转盘102或102A会将待测电子元件传送至测试转盘200、200’上，并设置于测试转盘200、200’周围的测试模块T1、T2、T3、T4(或测试工作站)会依照图5A-图5G所示的步骤连续对电子元件进行测试，而不会发生闲置，使其效能能充分地被利用，因此，本发明具有多个测试站的转盘式测试系统中的测试装置可以同时对多个电子元件连续进行不同的测试项目，而缩短测试时间、提升测试产能、以及降低测试成本。

有鉴于上述实施例，本发明提供了一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，借由转盘式的设计，使得各个测试工作站可以连续地连续对电子元件进行一连串不同项目的测试，减少或消除各个提供不同测试项目的测试工作站(或测试模块)的闲置时间(idle time)，而充分利用测试装置与系统的效能，进而缩短测试时间，增加测试产能与效能、以及降低测试成本。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明做任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (18)

1.一种具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于包含：

输送转盘，用以传送电子元件，该输送转盘上设置有多个元件承载单元，用以承载电子元件而带动电子元件随该输送转盘转动进行输送；以及

多个测试转盘，用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试，其中，该输送转盘可同时对多个测试转盘传送电子元件，每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块，从而形成多个不同的测试工作站，以对电子元件连续进行不同的测试项目。

2.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上，用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试，其中，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

3.根据权利要求2所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中每一该测试转盘能够自由地来回转动，而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动，不会随该测试转盘转动。

4.根据权利要求3所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中该测试转盘周围设置的每一测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座，而该测试转盘上未对应上述测试模块的该测试座，则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方，或是与该输送转盘相邻。

5.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中上述元件承载单元为真空吸嘴。

6.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。

7.根据权利要求6所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中更包含多个拾取装置，其中，每一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。

8.根据权利要求2所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。

9.根据权利要求8所述的具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为0或整数，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

10.一种具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于包含：

输送转盘，用以传送电子元件，该输送转盘上设置有多个元件承载单元，用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送；

多个测试转盘，用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试，其中，该输送转盘可同时对多个测试转盘传送电子元件，每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块，从而形成多个不同的测试工作站，以对电子元件连续进行不同的测试项目；

自动测试设备ATE与上述测试转盘电性连接，用以提供测试信号与参数并收集与处理测试结果；

进料装置，用以待测的电子元件输送进入该测试转盘中；以及

分料装置，用以依照每一个电子元件的测试结果而将各个电子元件进行分类。

11.根据权利要求10所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上，用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试，其中，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。

12.根据权利要求11所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中每一该测试转盘能够自由地来回转动，而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动，不会随该测试转盘转动。

13.根据权利要求12所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中该测试转盘周围设置的每一个测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座，而该测试转盘上未对应上述测试模块的该试座，则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方，或是与该输送转盘相邻。

14.根据权利要求10所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中上述元件承载单元为真空吸嘴。

15.根据权利要求10所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。

16.根据权利要求15所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中更包含多个拾取装置，其中，每一该拾取装置对应一个测试转盘，用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。

17.根据权利要求11所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中每一该测试座下方皆具有一排线，该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接，该排线会随着该测试转盘转动，而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。

18.根据权利要求17所述的具有多个测试站的转盘式测试系统，其特征在于其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后，该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断，其中，m为0或整数，n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。