CN104534988B - 用于电子产品的测量方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明为一种用于电子产品的测量方法和系统。该方法包括：用3D测量仪确定定位孔；3D测量仪的测量镜头根据数据库参数移动到测量点；测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；根据数据库参数，测量所有测量点。本发明确保测量准确性的同时，大大的提高实际测量的效率，并简化定位系统程序制定的流程。

Description

用于电子产品的测量方法和系统

【技术领域】

本发明涉及一种丝印领域，特别涉及一种准确测量载板的线路、金手指等对象尺寸的方法和系统。

【背景技术】

随着电子电路行业的不断发展以及该行业后端产业链对线路电性能等方面要求的不断提高，电子产品对线路、金手指等关键设计对象的尺寸控制标准越来越严格。

目前对线路、金手指等对象的尺寸测量主要采用两种方式：金相显微镜与3D测量仪。因为金相显微镜测量在整个过程全部采用手动方式，测量对象边界的确定因人为因素差异较大，从而导致测量结果的准确性就会因为测量人员的方法不同或者测量人员的变动有较大的差异，因此大多数客户都会要求采用3D测量仪进行测量。

3D测量仪能够根据测量对象边界灰度的差异，自动进行边缘识别与拟合，可以较准确的进行线、金手指等微小对象的准确测量。但是由于在镜头下找到固定的测量点非常困难，测量效率也很不理想，与金相显微镜相比，同样设计的产品，采用金相显微镜完成线、手指的测量大概需要30分钟，但是采用3D测量仪进行手动对位测量则需要约1个小时甚至更长的时间。此时，测量所费时间过多，给实际生产带来了很多延迟，实有待改善。

【发明内容】

有鉴于现有技术中的缺陷，有必要提供一种电子产品的测量方法。

为实现上述目的，本发明采用如下方案：

一种用于电子产品的测量方法，其中，包括：

用3D测量仪根据电子产品确定数据库对应参数；

确定定位孔；

3D测量仪的测量镜头根据数据库对应参数移动到测量点；

测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；

根据数据库参数，测量所有测量点。

所述的测量方法，其中，该数据库参数至少包括产品编号，定位孔，定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。

所述的测量方法，其中，该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

所述的测量方法，其中，该测量方法还包括将所述测量点的测量数据导出。

一种用于电子产品的测量系统，其中，包括：

3D测量仪，其包括测量镜头与一输入接口；

一控制模块，通过该3D测量仪的输入接口接收数据库参数，根据电子产品匹配到的数据库参数确定定位孔，并移动测量镜头到测量点；接收到测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；根据数据库参数，测量所有测量点。

所述的测量系统，其中，该数据库参数至少包括产品编号，定位孔，定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。

所述的测量系统，其中，该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

所述的测量方法，其中，该测量系统还包括一输出单元，该输出单元将所述测量点的测量数据导出。

相对现有技术，由于本发明确保测量准确性的同时，大大的提高实际测量的效率，并简化定位系统程序制定的流程。

【附图说明】

图1为本发明测量方法与手动测量方法的对比图。

【具体实施方式】

下面结合图示，对本发明进行说明。

本发明的基本思想为针对电子产品的测量方法，主要是测量载板线宽线距、金手指宽度与间距等对象，从自动定位方法的实现以及定位程序的自动生成两个角度出发，在确保测量准确性的同时，大大的提高实际测量的效率，并从很多程度简化了定位系统程序制定的流程。

【实施一】

一种用于电子产品的测量方法，其中，包括：用3D测量仪根据电子产品确定数据库对应参数；确定定位孔；3D测量仪的测量镜头根据数据库对应参数移动到测量点；测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；根据数据库参数，测量所有测量点。

具体来说，测量者在进行电子产品尺寸测量时，从数据库中调出与该产品相同编号的参数，并通过实际产品边界设定的定位孔建立坐标系，开始自动运行测量。测量镜头移动到指定测量点时会自动停下，由测量者进行判定镜头聚焦与定位是否准确，若准确按“ENTER”键自动向下运行；若不准确，人工进行微调后再自动向后运行。重复以上步骤直至所有对象均测量完毕，测量结束，将测量数据直接导出。

该数据库参数至少包括产品编号，定位孔，定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

测量者在转换电子产品设计文件时，以板边设计的定位孔建立坐标系。并确定该电子产品中的多个测量点并确定测量点的次序，同时说明每个测量点的测量对象。该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。同时，导出各测量点的准确坐标。换句话说，该数据库包括该产品待测量点的坐标数据、测量对象等等参数。也就是说提前编辑好3D测量线、金手指等测量对象的固定程序，并将各测量定位镜头移动坐标一栏空出，同时为了加入人工确认动作，需将具体的线、金手指等每一具体对象边缘聚焦镜头相应的坐标删除。将建立的数据库相应的坐标数据按一定的顺序依次导入到以上提前编辑好的固定程序中，自动生成该特定型号产品的3D定位程序，并进行命名。将所有要测量产品以及每个产品上的测量点的数据都收入该数据库。

【实施二】

一种用于电子产品的测量系统，其中，包括：

3D测量仪，其包括测量镜头与一输入接口；

一控制模块，通过该3D测量仪的输入接口接收数据库参数，根据电子产品匹配到的数据库参数确定定位孔，并移动测量镜头到测量点；接收到测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；根据数据库参数，测量所有测量点。

该数据库参数至少包括产品编号，定位孔，定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

测量者在转换电子产品设计文件时，以板边设计的定位孔建立坐标系。并确定该电子产品中的多个测量点并确定测量点的次序，同时说明每个测量点的测量对象。该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。同时，导出各测量点的准确坐标。换句话说，该数据库包括该产品待测量点的坐标数据、测量对象等等参数。也就是说提前编辑好3D测量线、金手指等测量对象的固定程序，并将各测量定位镜头移动坐标一栏空出，同时为了加入人工确认动作，需将具体的线、金手指等每一具体对象边缘聚焦镜头相应的坐标删除。将建立的数据库相应的坐标数据按一定的顺序依次导入到以上提前编辑好的固定程序中，自动生成该特定型号产品的3D定位程序，并进行命名。将所有要测量产品以及每个产品上的测量点的数据都收入该数据库。

在使用的时候，根据产品编号，直接调用数据库内参数，利用3D测量仪的坐标系统与自动定点功能，从最大程度上解决了测量者用手动对位繁琐的难题。同时在自动定位系统建立的基础上，增加了一步人工的判定步骤，可以有效解决因产品自身的涨缩翘曲等问题造成的自动定位后聚焦不准确，测量点未在测量范围中心的情况，从而有效避免测量结果不准确或无法测量等风险。具体来说，测量镜头移动到指定测量点时会自动停下，由测量者进行判定镜头聚焦与定位是否准确，若准确按“ENTER”键自动向下运行；若不准确，人工进行微调后再自动向后运行。在自动化的基础上有效的解决了因待测板翘曲与涨缩等原因导致的无法准确对焦以及测量对象超出测量范围的问题，从而更好的确保了测量结果的准确性。

在确保测量结果准确的情况下，本方法采用了自动定位系统运行以及通过测量点坐标自动导入的方式自动生产定位程序两种途径，有效的提高了测量的效率。以测量15pnl产品为例，分别采用手动测定、手动编程+自动测定、自动编程+自动测定三种方式来进行，具体花费的时间如图1所示。图1为本发明测量方法与手动测量方法的对比图。

如图1所示，可以看出，与全手动测定相比，采用手动编程+自动测定的方式可以节省约9个小时时间，而采用自动编程+自动测定的方式则可以再次基础上再次节省约2个小时时间。从整体的趋势来看，发现同一型号电子产品测量的次数越多，时间节省的幅度越大，这非常适合于量产型封装基板公司对产品尺寸的大量测定需求。

以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (4)

1.一种用于电子产品的测量方法，其特征在于，包括：

用3D测量仪根据电子产品确定数据库对应参数，该数据库参数至少包括产品编号，定位孔，定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序；

确定定位孔，以所述定位孔建立坐标系；

3D测量仪的测量镜头根据数据库对应参数移动到测量点；

测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；

根据数据库参数，测量所有测量点；

测量对象包括线路、线宽、线距或金手指；

所述测量镜头移动到所述测量点后停止运行，当判定所述测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，该测量方法还包括将所述测量点的测量数据导出。

3.一种用于电子产品的测量系统，其特征在于，包括：

3D测量仪，其包括测量镜头与一输入接口；

一控制模块，通过该3D测量仪的输入接口接收数据库参数，该数据库参数包括产品编号、定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序，根据电子产品匹配到的数据库参数确定定位孔，并移动测量镜头到测量点；接收到测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；根据数据库参数，测量所有测量点；

测量对象包括线路、线宽、线距或金手指；

所述测量镜头移动到所述测量点后停止运行，当判定所述测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据。

4.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，该测量系统还包括一输出单元，该输出单元将所述测量点的测量数据导出。