CN101865975A - 主板测试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种主板测试方法，包括如下步骤：设置测试参数；获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；将示波器的探针定位到主板上待测零件的位置；依次对每个测试信号进行测试；获取测试数据并存储；对测试数据进行分析并存储；当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据并存储。本发明还提供一种主板测试系统。利用本发明可以自动测试主板。

Description

主板测试系统及方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统及方法，尤其是一种主板测试系统及方法。
背景技术
随着电子科学技术的发展，主板已成为各种电器设备(如计算机)不可缺少的重要组成部分。由于受到元器件的老化等多种因素的影，若要保证主板在使用时的可靠性，就必须在出厂时对其进行检测。以往传统的检测方法需要依靠作业员的手工操作，由于检测的范围广、功能多，因此，在检测时常常忙得不可开交，不仅劳动强度大，工作效率低，而且容易产生人为错误，检测的数据也不易管理。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试系统，其可自动测试主板。
鉴于以上内容，还有必要提供一种主板测试方法，其可自动测试主板。
一种主板测试系统，包括测试电脑和示波器，该测试电脑通过交换机与控制电脑和示波器相连，该测试电脑包括：参数设置模块，用于设置主板的测试参数，所述测试参数包括：待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；参数获取模块，用于当测试开始时，获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；探针定位模块，用于根据待测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令；所述控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；所述测试电脑还包括：信号测试模块，用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器采集到每个测试项目的测试数据；所述信号测试模块，还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；所述信号测试模块，还用于当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。
一种主板测试方法，包括如下步骤：于测试电脑中设置主板测试参数，所述测试参数包括：待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；当测试开始时，测试电脑获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；测试电脑根据待测零件在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；示波器通过交换机将采集到的每个测试项目的测试数据返回至测试电脑；测试电脑依次对待测零件的每个测试信号进行测试，根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；当所有测试信号测试完毕时，测试电脑汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。
相较于现有技术，所述的主板测试系统及方法，可以自动测试主板，避免了人工作业的错误发生，提高了测试的可靠度及效率。
附图说明
图1是本发明主板测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1中所示主板测试系统的功能模块图。
图3是本发明主板测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示，是本发明主板测试系统较佳实施例的系统架构图。该系统主要包括控制电脑1、测试电脑2、示波器3、交换机4、机械手臂5、待测试的主板6。其中，所述控制电脑1、测试电脑2和示波器3通过交换机4相连，所述测试电脑2中安装有主板测试系统20。所述机械手臂5上安装有探针抓取装置50，该探针抓取装置50用于抓取示波器3的探针。所述主板6放置于测试机台7上。
当测试开始后，主板测试系统20向控制电脑1发出探针定位指令，所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6上的待测零件。然后，示波器3将测试到的数据通过交换机4返回至测试电脑2。测试电脑2中的主板测试系统20对该测试数据进行分析处理。
如图2所示，是图1中所示主板测试系统20的功能模块图。所述主板测试系统20包括参数设置模块201、参数获取模块202、探针定位模块203和信号测试模块204。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。
其中，所述参数设置模块201用于设置主板6的测试参数，并将该测试参数存储在测试电脑2的存储器中(如硬盘)。所述测试参数包括：待测零件在主板6中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径等。其中，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间等。例如，电压信号的测试项目包括过冲(Overshoot)、下冲(Undershoot)、斜率(Slew Rate)、上升时间(Rise Time)、下降时间(Fall Time)或占空比失真(DutyCycle Distortion)等。在本实施例中，以测试主板6上一个零件的信号序列为例进行说明。
所述参数获取模块202用于当测试开始时，从存储器中获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目。
所述探针定位模块203用于根据待测零件在主板6中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。在本实施例中，以主板6的中心为原点建立坐标系，探针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。
所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6上的待测零件。假设待测零件在主板6中的坐标位置为(10，12)，单位为毫米(mm)，则待测零件到原点的X轴偏移量为10毫米，Y轴偏移量为12毫米。当控制电脑1接收到探针定位模块203发送过来的探针定位指令后，控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针沿X轴正方向移动10毫米，沿Y轴正方向移动12毫米，定位到待测零件在主板6中的坐标位置。待测零件在坐标系中的Z轴坐标为零，控制电脑1将根据探针抓取装置50相对于待测零件的高度控制示波器3的探针沿Z轴方向移动。
所述信号测试模块204用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器3采集到每个测试项目的测试数据，并存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测试结果存储路径为：D:\Motherboard\Test。
所述信号测试模块204还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内，并将分析结果存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定待测零件电压的高电平标准值范围为[5，30]，单位为伏特。如果示波器3采集到的电压高电平为4.5伏特，则信号测试模块204判断该测试数据不合格。
所述信号测试模块204还用于判断所有测试信号是否测试完毕，如果还有测试信号需要测试，则继续测试，如果所有测试信号都已测试完毕，则汇整所有测试数据并存储在设定的测试结果存储路径中。
如图3所示，是本发明主板测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S41，参数设置模块201设置主板6的测试参数，并将该测试参数存储在测试电脑2的存储器中。所述测试参数包括：待测零件在主板6中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径等。其中，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间等。在本实施例中，以测试主板6上一个零件的信号序列为例进行说明。
步骤S42，当测试开始时，参数获取模块202从存储器中获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目。
步骤S43，探针定位模块203根据待测零件在主板6中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。在本实施例中，所述坐标位置是以主板6的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置50的初始位置定位在坐标系原点位置。
所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6上的待测零件。
步骤S44，信号测试模块204依次对待测零件的每个测试信号进行测试。
步骤S45，信号测试模块204获取示波器3采集到每个测试项目的测试数据，并存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定测试结果存储路径为：D:\Motherboard\Test。
步骤S46，信号测试模块204还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内，并将分析结果存储至设定的测试结果存储路径中。例如，设定电压维持高电平时间的标准值范围为[1，5]，单位为秒。如果示波器3采集到的电压维持高电平时间为0.5秒，则信号测试模块204判断该测试数据不合格。
步骤S47，信号测试模块204判断所有测试信号是否测试完毕。如果还有测试信号需要测试，则流程回到步骤S44，继续测试下一个测试信号，如果所有测试信号都已测试完毕，则执行步骤S48。在本实施例中，以变量i记录测试信号的测试次数，变量i的初始值等于1，每测试完一个测试信号，将变量i的值累加1。假设测试信号序列中的测试信号个数为N，如果i大于等于N，则信号测试模块204判断所有测试信号测试完毕。
步骤S48，信号测试模块204汇整所有测试数据并存储在设定的测试结果存储路径中。
本实施例是以一个待测零件为例进行说明的，如果主板6中包含两个以上的待测零件，则当测试完一个待测零件后，探针定位模块203将根据下一个待测零件在主板6中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量，并向控制电脑1发出探针定位指令。其中，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。所述控制电脑1根据该偏移量控制机械手臂5的探针抓取装置50将示波器3的探针定位到主板6上的下一个待测零件，开始下一个测试流程，具体过程参阅图3的描述，在此不在赘述。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种主板测试系统，包括测试电脑和示波器，其特征在于，该测试电脑通过交换机与控制电脑和示波器相连，该测试电脑包括：
参数设置模块，用于设置主板的测试参数，所述测试参数包括：待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；
参数获取模块，用于当测试开始时，获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；
探针定位模块，用于根据待测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令；
所述控制电脑用于根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；
所述测试电脑还包括：
信号测试模块，用于依次对待测零件的每个测试信号进行测试，获取示波器采集到的每个测试项目的测试数据；
所述信号测试模块，还用于根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；及
所述信号测试模块，还用于当所有测试信号测试完毕时，汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。
2.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间。
3.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，所述探针定位模块根据待测零件在主板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令包括：
根据待测零件在主板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标位置是以主板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原点位置；及
向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。
4.如权利要求1所述的主板测试系统，其特征在于，所述探针定位模块还用于：
当主板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，根据下一个待测零件在主板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量；及
向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
5.一种主板测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
于测试电脑中设置主板测试参数，所述测试参数包括：待测零件在主板中的坐标位置、待测零件的测试信号序列、每个测试信号需要测试的项目、每个测试项目的标准值及测试结果存储路径；
当测试开始时，测试电脑获取待测零件的测试信号序列及每个测试信号需要测试的项目；
测试电脑根据待测零件在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令；
控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将示波器的探针定位到主板上的待测零件；
示波器通过交换机将采集到的每个测试项目的测试数据返回至测试电脑；
测试电脑依次对待测零件的每个测试信号进行测试，根据设定的每个测试项目的标准值对测试数据进行分析，以判断每个测试项目的测试数据是否在设定的标准值范围内；及
当所有测试信号测试完毕时，测试电脑汇整所有测试数据及分析结果，并将其存储在设定的测试结果存储路径中。
6.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，待测零件的测试信号序列包括电压信号、周期频率信号及电压维持高电平的时间。
7.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，所述步骤测试电脑根据待测零件在主板中的坐标位置，通过交换机向控制电脑发出探针定位指令包括：
根据待测零件在主板中的坐标位置，计算出该待测零件到原点的偏移量，所述的坐标位置是以主板的中心为原点建立坐标系来确定，探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原点位置；及
向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到原点的偏移量。
8.如权利要求5所述的主板测试方法，其特征在于，还包括步骤：
当主板中包含两个以上的待测零件时，如果测试完第一个待测零件后，测试电脑根据下一个待测零件在主板中的坐标位置，计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量；及
向控制电脑发出探针定位指令，该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
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Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102581851A (zh) * 2011-01-14 2012-07-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 机械手臂运动控制系统及方法
CN102750207A (zh) * 2011-04-18 2012-10-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板测试方法及系统
CN102854417A (zh) * 2012-08-20 2013-01-02 三星半导体(中国)研究开发有限公司 主控测试板及其测试方法
CN102915267A (zh) * 2011-08-01 2013-02-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Sas端口测试系统及方法
CN102955730A (zh) * 2011-08-18 2013-03-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 硬盘接口的信号完整性测试系统及方法
CN103105186A (zh) * 2011-11-14 2013-05-15 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动更换测针系统及方法
CN103631684A (zh) * 2012-08-21 2014-03-12 达丰(上海)电脑有限公司 一种笔记本电脑主板自动测试变形金刚机台
CN103698686A (zh) * 2013-12-11 2014-04-02 华为技术有限公司 一种信号测试方法及设备
CN103995202A (zh) * 2014-05-23 2014-08-20 深圳市易瑞来科技开发有限公司 一种自动信号测试方法、装置及系统
CN104181452A (zh) * 2013-05-22 2014-12-03 富泰华工业（深圳）有限公司 电路板测试系统及方法
CN104251966A (zh) * 2013-06-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动化测量系统及方法
CN104297664A (zh) * 2013-07-19 2015-01-21 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 主板时序测量装置及方法
CN104534988A (zh) * 2014-12-31 2015-04-22 广州兴森快捷电路科技有限公司 用于电子产品的测量方法和系统
CN105975370A (zh) * 2015-07-23 2016-09-28 乐视致新电子科技（天津）有限公司 测试方法与装置
CN106501620A (zh) * 2016-10-21 2017-03-15 郑州云海信息技术有限公司 一种串行信号测试方法、示波器和系统
CN108761302A (zh) * 2018-03-02 2018-11-06 深圳怡化电脑股份有限公司 对验钞器主板进行测试的方法及系统
CN109100636A (zh) * 2018-07-11 2018-12-28 青岛北洋天青数联智能股份有限公司 电路板测试方法、装置、系统及测试上位机
CN109917157A (zh) * 2017-12-13 2019-06-21 清华四川能源互联网研究院 一种无线充电系统的自动测试系统
CN110850269A (zh) * 2019-10-11 2020-02-28 深圳市元征科技股份有限公司 测试系统、测试方法、控制设备和存储介质
CN113434351A (zh) * 2021-07-02 2021-09-24 义乌清越光电科技有限公司 电子纸的自动检测系统

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201227263A (en) * 2010-12-30 2012-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method of setting initialization values for a oscillograph
TW201226132A (en) * 2010-12-30 2012-07-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method for compensating coordinate values of the center of a mechanical arm
CN103091572A (zh) * 2011-11-03 2013-05-08 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 信号测试装置
TW201500747A (zh) * 2013-06-25 2015-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 自動化測量系統及方法
CN103760394B (zh) * 2014-01-15 2017-02-15 广东威创视讯科技股份有限公司 示波器测量数据的自动处理方法及装置
CN107731265A (zh) * 2017-09-30 2018-02-23 上海剑桥科技股份有限公司 Ddr测试系统和方法
CN113567829A (zh) * 2021-06-18 2021-10-29 合肥联宝信息技术有限公司 一种电路板的测试方法及装置
CN113985255A (zh) * 2021-10-29 2022-01-28 北京航星科技有限公司 一种电路板静态测试系统及测试方法
CN113985113A (zh) * 2021-10-29 2022-01-28 北京航星科技有限公司 一种电路板电压的检测装置以及检测方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5469064A (en) * 1992-01-14 1995-11-21 Hewlett-Packard Company Electrical assembly testing using robotic positioning of probes
US5479108A (en) * 1992-11-25 1995-12-26 David Cheng Method and apparatus for handling wafers
US6535794B1 (en) * 1993-02-23 2003-03-18 Faro Technologoies Inc. Method of generating an error map for calibration of a robot or multi-axis machining center
US5644245A (en) * 1993-11-24 1997-07-01 Tokyo Electron Limited Probe apparatus for inspecting electrical characteristics of a microelectronic element
JP3639887B2 (ja) * 1997-01-30 2005-04-20 東京エレクトロン株式会社 検査方法及び検査装置
WO2006017795A2 (en) * 2004-08-05 2006-02-16 University Of South Carolina Automatic signal collection and analysis for piezoelectric wafer active sensor
CN100516902C (zh) * 2005-10-20 2009-07-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电压调整电路效能量测系统及方法
CN101221210B (zh) * 2007-11-30 2010-05-19 华南理工大学 一种成品线路板自动测试校正系统及其自动测试校正方法
CN201218817Y (zh) * 2008-04-25 2009-04-08 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 自动信号测量平台

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102581851A (zh) * 2011-01-14 2012-07-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 机械手臂运动控制系统及方法
CN102750207A (zh) * 2011-04-18 2012-10-24 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板测试方法及系统
CN102915267A (zh) * 2011-08-01 2013-02-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Sas端口测试系统及方法
CN102955730A (zh) * 2011-08-18 2013-03-06 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 硬盘接口的信号完整性测试系统及方法
CN103105186A (zh) * 2011-11-14 2013-05-15 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动更换测针系统及方法
CN102854417B (zh) * 2012-08-20 2014-12-17 三星半导体(中国)研究开发有限公司 主控测试板及其测试方法
CN102854417A (zh) * 2012-08-20 2013-01-02 三星半导体(中国)研究开发有限公司 主控测试板及其测试方法
CN103631684A (zh) * 2012-08-21 2014-03-12 达丰(上海)电脑有限公司 一种笔记本电脑主板自动测试变形金刚机台
CN104181452A (zh) * 2013-05-22 2014-12-03 富泰华工业（深圳）有限公司 电路板测试系统及方法
CN104251966A (zh) * 2013-06-25 2014-12-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动化测量系统及方法
CN104297664A (zh) * 2013-07-19 2015-01-21 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 主板时序测量装置及方法
CN103698686A (zh) * 2013-12-11 2014-04-02 华为技术有限公司 一种信号测试方法及设备
CN103995202A (zh) * 2014-05-23 2014-08-20 深圳市易瑞来科技开发有限公司 一种自动信号测试方法、装置及系统
CN103995202B (zh) * 2014-05-23 2017-01-04 深圳市易瑞来科技股份有限公司 一种自动信号测试方法、装置及系统
CN104534988B (zh) * 2014-12-31 2018-01-30 广州兴森快捷电路科技有限公司 用于电子产品的测量方法和系统
CN104534988A (zh) * 2014-12-31 2015-04-22 广州兴森快捷电路科技有限公司 用于电子产品的测量方法和系统
CN105975370A (zh) * 2015-07-23 2016-09-28 乐视致新电子科技（天津）有限公司 测试方法与装置
CN106501620A (zh) * 2016-10-21 2017-03-15 郑州云海信息技术有限公司 一种串行信号测试方法、示波器和系统
CN109917157A (zh) * 2017-12-13 2019-06-21 清华四川能源互联网研究院 一种无线充电系统的自动测试系统
CN108761302A (zh) * 2018-03-02 2018-11-06 深圳怡化电脑股份有限公司 对验钞器主板进行测试的方法及系统
CN109100636A (zh) * 2018-07-11 2018-12-28 青岛北洋天青数联智能股份有限公司 电路板测试方法、装置、系统及测试上位机
CN110850269A (zh) * 2019-10-11 2020-02-28 深圳市元征科技股份有限公司 测试系统、测试方法、控制设备和存储介质
CN113434351A (zh) * 2021-07-02 2021-09-24 义乌清越光电科技有限公司 电子纸的自动检测系统
CN113434351B (zh) * 2021-07-02 2022-07-12 义乌清越光电科技有限公司 电子纸的自动检测系统

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