CN104505408A - 晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法 - Google Patents
晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104505408A CN104505408A CN201410790995.6A CN201410790995A CN104505408A CN 104505408 A CN104505408 A CN 104505408A CN 201410790995 A CN201410790995 A CN 201410790995A CN 104505408 A CN104505408 A CN 104505408A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- crystalline silicon
- reactive ion
- array material
- ion etching
- etching
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 31
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 claims abstract description 19
- 239000002077 nanosphere Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims abstract description 17
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 claims abstract description 4
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 14
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 4
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims description 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 238000000054 nanosphere lithography Methods 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 2
- 239000011807 nanoball Substances 0.000 claims 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 5
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 abstract description 5
- 238000006056 electrooxidation reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 abstract description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 4
- 239000002356 single layer Substances 0.000 abstract 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 abstract 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000002094 self assembled monolayer Substances 0.000 description 2
- 239000013545 self-assembled monolayer Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0236—Special surface textures
- H01L31/02366—Special surface textures of the substrate or of a layer on the substrate, e.g. textured ITO/glass substrate or superstrate, textured polymer layer on glass substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Weting (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
本发明晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法,具体指一种工艺简单、具有大面积的、周期性的纳米尺寸的空阵列晶体硅材料的制备技术,涉及周期性纳米结构半导体器件制备技术领域。材料为厚度400~500μm,单面抛光的晶体硅,纳米孔径为200~500nm,孔径间距500nm,空洞深度可控范围500~1500nm。包括准备晶体硅预刻蚀样品,制备单层聚苯乙烯纳米球,缩小聚苯乙烯纳米球尺寸,沉积金属镍,去除聚苯乙烯纳米球和刻蚀硅片,去除金属镍,去离子水冲净,然后用N2吹干等步骤。本发明通过自组装单层聚苯乙烯纳米球制备金属镍膜,以此为掩膜用于反应离子刻蚀。相较电化学腐蚀,得到孔径更规则统一,可保证大面积周期性等优点。
Description
技术领域
本发明涉及周期性纳米结构半导体器件制备技术领域,具体指一种工艺简单、具有大面积的、周期性的纳米尺寸的空阵列晶体硅材料的制备技术。
背景技术
具有规则周期性的亚波长纳米尺寸结构的晶体硅,可以有效减少光反射,减少载流子复合,因此晶体硅的微结构调制已广泛应用于太阳能电池、光电探测器等半导体领域。具有严格周期性纳米结构的硅材料,相比传统的非周期性多孔硅材料,具有更好的减反特性及其它类光栅光学性质。但规则周期性的生产带来了较高的成本问题和技术限制。1956年,Arthur Uhlir Jr.和Ingebory Uhlir在贝尔实验室偶然发现了多孔硅。后人陆续通过电化学腐蚀、金属辅助刻蚀等方法制造出纳米尺寸的微结构硅材料。2013年Nanoscale ResearchLetter上由日本课题组Hidetaka Asoh发表的文章通过先制备多孔铝阳极,再利用金属—辅助化学刻蚀方法制备出了孔径低于100nm的周期性硅阵列结构。但是这一方法工艺复杂,垂直性差;而且过程中使用了贵金属和HF这带来了成本与安全等问题。
发明内容
本发明的目的在于克服工艺复杂的现状,提出一种具有大面积的周期性纳米尺寸的孔阵列晶体硅材料的制备方法。
本发明为一种周期性晶体硅纳米孔阵列材料,其特点,包含利用纳米球光刻工艺与反应离子刻蚀技术在厚度400~500μm,单面抛光的晶体硅上制备周期性纳米孔阵列。
其中,所述纳米孔径范围为200~500nm,孔径间距500nm,空洞深度可控范围500~1500nm.
本发明一种晶体硅纳米孔阵列材料的制备方法,包括如下步骤:
步骤1,准备晶体硅预刻蚀样品。
步骤2,将稀释过的聚苯乙烯溶液滴在洁净的抛光硅片上(或足够光滑的玻璃片上),在空气中晾干;然后将硅片慢慢浸入水中,聚苯乙烯纳米球形成的薄膜漂浮在水面上;最后用待沉积的硅片托起漂浮的薄膜,置于空气中自然晾干;单层膜即沉积在了硅片上。利用此方法在洗净的硅片抛光面制备单层紧排列的直径500nm的聚苯乙烯纳米球。
步骤3,用反应离子刻蚀的方法缩小聚苯乙烯纳米球尺寸,功率40W,氧气流量40sccm,反应气压9.8Pa,刻蚀时间330s。
步骤4,用磁控溅射的方法在上述样品同一面沉积约200nm厚的金属镍。
步骤5,用反应离子刻蚀的方法去除聚苯乙烯纳米球,功率40W,氧气流量80sccm,反应气压9.8Pa,刻蚀时间900s。
步骤6,用反应离子刻蚀的方法刻蚀硅片,刻蚀气体SF6流量70sccm,气压5Pa,功率200W,刻蚀时间1200s。
步骤7,将样品经泡在盐酸中900s,去除金属镍。
步骤8,将样品用去离子水冲净,然后用N2吹干,即获得所述的晶体硅纳米孔阵列。
如上所述,本发明一种基于晶体硅周期性纳米孔阵列材料的制备方法,通过自组装单层聚苯乙烯纳米球制备金属镍膜,以此为掩膜用于反应离子刻蚀。相较电化学腐蚀,此方法得到的孔径更规则统一,可保证大面积周期性等优点。对于其衍生器件的制备带来了便利。
附图说明
图1为本发明一种晶体硅纳米孔阵列材料的制备流程图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明作进一步描述
本发明一种晶体硅纳米孔阵列材料的制备方法(如附图1),包括如下步骤:
步骤1,准备晶体硅预刻蚀样品。
所述样品为晶圆尺寸为100cm2,单面抛光,由严格半导体工艺清洗后得到并经预刻蚀样品由晶圆片切割2cm×2cm方形片,再5%氢氟酸水溶液浸泡600s除去表面氧化层。
步骤2,利用自组装方法在洗净的硅片抛光面制备单层紧排列的直径500nm的聚苯乙烯纳米球。
步骤3,用反应离子刻蚀的方法缩小聚苯乙烯纳米球尺寸,功率40W,氧气流量40sccm,反应气压9.8Pa,刻蚀时间330s。
步骤4,用磁控溅射的方法在上述样品同一面沉积约200nm厚的金属镍。
步骤5,用反应离子刻蚀的方法去除聚苯乙烯纳米球,功率40W,氧气流量80sccm,反应气压9.8Pa,刻蚀时间900s。
步骤6,用反应离子刻蚀的方法,刻蚀气体SF6流量70sccm,气压5Pa,功率200W,刻蚀时间1200s。
步骤7,将样品经泡在盐酸中900s,去除金属镍。
步骤8,将样品用去离子水冲净,然后用N2吹干,即获得所述的晶体硅纳米孔阵列。
如上所述,本发明一种基于晶体硅周期性纳米孔阵列材料的制备方法,通过自组装单层聚苯乙烯纳米球制备金属镍膜,以此为掩膜用于反应离子刻蚀。相较电化学腐蚀,此方法得到的孔径更规则统一,可保证大面积周期性等优点。对于其衍生器件的制备带来了便利。
Claims (8)
1.一种晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,包含基于晶体硅衬底,厚度为400~500nm,单面抛光,结合纳米球光刻与反应离子刻蚀在硅片抛光面制备纳米孔阵列。
2.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,所述晶体硅衬底晶圆片为晶锭经定向、切割、单面抛光得到的工业化晶片,面积为100cm2。
3.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,所述纳米孔径范围为300~500nm,孔间距为500nm,空洞深度范围为500~1500nm,刻蚀面积可达15cm2。
4.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,所述纳米球光刻,即在硅面上制备单层直径500nm的聚苯乙烯纳米球。
5.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,用反应离子刻蚀的方法,用氧气缩减聚苯乙烯纳米球。
6.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,用磁控溅射方法沉积金属镍,用做反应离子刻蚀的掩膜。
7.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,用反应离子刻蚀SF6气体作为刻蚀气体,刻蚀晶体硅。
8.如权利要求1所述的晶体硅周期性纳米孔阵列材料的制备方法,其特征在于,包括步骤如下:
步骤1,准备晶体硅预刻蚀样品;
步骤2,利用自组装方法在洗净的硅片抛光面制备单层紧排列的直径500nm的聚苯乙烯纳米球;
步骤3,用反应离子刻蚀的方法缩小聚苯乙烯纳米球尺寸,功率40W,氧气流量40sccm,反应气压9.8Pa,刻蚀时间330s;
步骤4,用磁控溅射的方法在上述样品同一面沉积约200nm厚的金属镍;
步骤5,用反应离子刻蚀的方法去除聚苯乙烯纳米球,功率40W,氧气流量80sccm,反应气压9.8Pa,刻蚀时间900s;
步骤6,用反应离子刻蚀的方法,刻蚀气体SF6流量70sccm,气压5Pa,功率200W,刻蚀时间1200s;
步骤7,将样品经泡在盐酸中900s,去除金属镍;
步骤8,将样品用去离子水冲净,然后用N2吹干,即获得所述的晶体硅纳米孔阵列。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410790995.6A CN104505408A (zh) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410790995.6A CN104505408A (zh) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104505408A true CN104505408A (zh) | 2015-04-08 |
Family
ID=52947144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410790995.6A Pending CN104505408A (zh) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104505408A (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108455522A (zh) * | 2018-03-02 | 2018-08-28 | 肇庆市华师大光电产业研究院 | 一种六边形有序垂直耦合等离子体阵列及其制备方法和应用 |
CN111816558A (zh) * | 2019-04-12 | 2020-10-23 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种硅基深孔微结构的制作方法 |
CN114249325A (zh) * | 2021-12-22 | 2022-03-29 | 杭州电子科技大学 | 一种制备硅纳米腔的方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090114653A (ko) * | 2008-04-30 | 2009-11-04 | 성균관대학교산학협력단 | 액상 증착 기술을 이용한 나노구조체의 제조방법 및 그에의해 제조된 나노구조체 |
CN102173376A (zh) * | 2011-02-25 | 2011-09-07 | 复旦大学 | 高度有序的小尺寸硅基纳米坑阵列的制备方法 |
CN102593261A (zh) * | 2012-03-14 | 2012-07-18 | 中国科学院微电子研究所 | 一种用于太阳电池的硅基纳米结构及其制备方法 |
-
2014
- 2014-12-17 CN CN201410790995.6A patent/CN104505408A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090114653A (ko) * | 2008-04-30 | 2009-11-04 | 성균관대학교산학협력단 | 액상 증착 기술을 이용한 나노구조체의 제조방법 및 그에의해 제조된 나노구조체 |
CN102173376A (zh) * | 2011-02-25 | 2011-09-07 | 复旦大学 | 高度有序的小尺寸硅基纳米坑阵列的制备方法 |
CN102593261A (zh) * | 2012-03-14 | 2012-07-18 | 中国科学院微电子研究所 | 一种用于太阳电池的硅基纳米结构及其制备方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108455522A (zh) * | 2018-03-02 | 2018-08-28 | 肇庆市华师大光电产业研究院 | 一种六边形有序垂直耦合等离子体阵列及其制备方法和应用 |
CN111816558A (zh) * | 2019-04-12 | 2020-10-23 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种硅基深孔微结构的制作方法 |
CN114249325A (zh) * | 2021-12-22 | 2022-03-29 | 杭州电子科技大学 | 一种制备硅纳米腔的方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103641059B (zh) | 硅柱支撑的金属膜纳米结构阵列及其制备方法 | |
Qing et al. | Towards large-scale graphene transfer | |
JP6392866B2 (ja) | 結晶シリコン太陽電池の表面テクスチャ構造及びその製造方法 | |
TWI472477B (zh) | 矽奈米結構與其製造方法及應用 | |
US11264461B2 (en) | Graphene electrochemical transfer method assisted by multiple supporting films | |
CN101863452B (zh) | 一种改善绝缘衬底上纳米阵列结构器件制作的方法 | |
Asoh et al. | Effect of noble metal catalyst species on the morphology of macroporous silicon formed by metal-assisted chemical etching | |
JP2011523902A (ja) | ナノワイヤアレイを製造するためのプロセス | |
CN101540348A (zh) | 一种多用途硅微纳米结构制备技术 | |
TWI472478B (zh) | 具有矽奈米結構的矽基板與其製造方法及應用 | |
CN103979485B (zh) | 一种微纳多孔硅材料的制备方法 | |
CN104505408A (zh) | 晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法 | |
Leng et al. | Progress in metal-assisted chemical etching of silicon nanostructures | |
Gao et al. | Enhanced etching rate of black silicon by Cu/Ni Co-assisted chemical etching process | |
CN105967139A (zh) | 在硅基体上刻蚀孔洞的方法、含孔洞硅基体和半导体器件 | |
CN103213938B (zh) | 金纳米帽阵列表面增强拉曼活性基底及其制备方法 | |
CN102856434B (zh) | 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法 | |
CN109087837A (zh) | 一种条纹相机光电阴极的制备方法 | |
TW201940419A (zh) | 利用奈米碳管複合膜轉移二維奈米材料的方法 | |
Wu et al. | The effects of Ag particle morphology on the antireflective properties of silicon textured using Ag-assisted chemical etching | |
CN106521635A (zh) | 一种硅表面纳米金字塔绒面的全溶液制备方法 | |
US8945794B2 (en) | Process for forming silver films on silicon | |
Boarino et al. | Fabrication of ordered silicon nanopillars and nanowires by self‐assembly and metal‐assisted etching | |
CN110616408A (zh) | 基于二维材料的多层金属纳米结构的制备方法 | |
Asoh et al. | Pt–Pd-embedded silicon microwell arrays |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20150408 |
|
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |