CN104503154B - 液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备，其中一种液晶滴下量获取方法包括：从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集，获取第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，计算得到第一膜柱集的平均原始高度；从液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集，分别获取第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到液晶盒的膜柱压缩率；获取液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定液晶盒所需要的液晶滴下量。该方法以单个液晶盒为分析对象，所得到的液晶滴下量也更为准确，解决了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶和低温气泡等问题。

Description

液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，具体地说，涉及液晶滴下量获取方法和液晶滴下设备。
背景技术
近年来，随着TFT-LCD技术的发展，液晶显示器的尺寸也由中尺寸向大尺寸和小尺寸两个方向发展，大尺寸和小尺寸的液晶显示器也得到了广泛地使用。随着液晶显示器应用领域的拓展，人们对液晶显示器的响应时间和视角等关键技术指标也提出了越来越高的要求。
为了实现快速响应，最简单的方法是将盒厚做得更小。而为了实现宽视角，各厂商大多采用多畴垂直取向(MVA)和沿面取向(IPS)技术。然而，传统的真空灌注工艺限制了这些技术的应用。真空灌注工艺是利用毛细现象和内外压力差将液晶注入到盒内。盒厚越小，液晶流动阻力也就越大，液晶的注入也就越加困难。同时，液晶的注入难度还受PI膜的取向及其湿润性的制约，而MVA技术和IPS技术的膜取向不利于液晶的注入，将导致液晶的注入时间过长。
随着技术的发展，因能够有效克服真空灌装工艺所存在的问题，液晶滴下(OneDrop Filling，简称为ODF)工艺逐渐替代真空灌装工艺而在液晶显示器的生产过程中得到广泛应用。ODF工艺具有工艺步骤少、CELL工艺简单、液晶材料利用率高以及能够实现生产自动化等特点。
在ODF工艺中，液晶滴下量是最为重要的管控参数之一。液晶滴下量的控制不当容易导致漏液晶(LC Leak)、低温气泡(Cold Bubble)以及液晶显示器亮度均匀性差等问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是为了克服现有技术中因液晶滴下量控制不当而导致漏液晶、低温气泡以及液晶显示器亮度均匀性差等问题。为解决上述问题，本发明的实施例首先提供了一种液晶滴下量获取方法，所述方法包括：
从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集；
获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均原始高度；
从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集；
分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率；
获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量。
根据本发明的一个实施例，计算液晶盒的膜柱压缩率的步骤包括：
根据所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算所述第二主膜柱集的平均原始高度；
根据所述液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和所述第二主膜柱集的平均原始高度，计算膜柱压缩量；
根据所述膜柱压缩量和第二主膜柱集的平均原始高度，计算所述膜柱压缩率。
根据本发明的一个实施例，根据如下表达式计算所述膜柱压缩率：
其中，a表示膜柱压缩率，d表示液晶盒厚度，dc和da分别表示第一材料层厚度和第二材料层厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。
根据本发明的一个实施例，获取液晶盒中膜柱的总体积的步骤包括：
从所述液晶盒中选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，得到第一主膜柱和第一辅膜柱；
分别获取所述第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径，计算得到所述第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积；
分别获取所述液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，结合所述液晶盒的底面积、第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，分别确定液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，进而得到所述液晶盒中膜柱的总体积。
根据本发明的一个实施例，
根据如下表达式计算所述第一主膜柱的体积：
且/或，根据如下表达式计算所述第一辅膜柱的体积：
其中，V1和V2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的体积，h1和h2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度，r1u和r1l分别表示第一主膜柱的上表面半径和下表面半径，r2u和r2l分别表示第一辅膜柱的上表面半径和下表面半径。
根据本发明的一个实施例，根据如下表达式计算所述主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积：
其中，Vp和Vs分别表示液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，Sp表示液晶盒的底面积，ρp和ρs分别表示液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，V1和V2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的体积。
根据本发明的一个实施例，根据如下表达式确定所述液晶滴下量：
Vout＝Sp·h0·(1-a)-V
其中，Vout表示液晶滴下量，Sp表示液晶盒的底面积，h0表示第一膜柱集的平均原始高度，a表示膜柱压缩率，V表示液晶盒中膜柱的总体积。
本发明所提供的这种液晶滴下量获取方法通过对液晶盒的相关参数的分析，能够得到适合于该液晶盒的液晶滴下量。相较于现有的液晶滴下量获取方法，本实施例所提供的方法是以单个液晶盒为分析对象的，所得到的液晶滴下量也更为准确，所以也就能够有效克服现有方法因对单张玻璃所包含的液晶盒进行膜柱高度平均化所带来的问题，从而避免了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶或低温气泡等问题。
同时，这种方法通过选取多个膜柱计算原始高度的平均值，能够有效减小膜柱高度的波动对最终所确定出的液晶滴下量的影响，从而得到更为精确的液晶滴下量。
本发明还提供了另一种液晶滴下量获取方法，所述方法包括：
获取预设数量的液晶盒，利用上任一项所述的方法确定各个液晶盒所需要的液晶滴下量；
获取各个液晶盒的膜柱的平均原始高度，并根据平均原始高度将所获取的液晶盒划分为多个液晶盒子集；
对于各个液晶盒子集，根据液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量，确定各个液晶盒子集所对应的液晶滴下量；
当需要向待处理液晶盒中滴入液晶时，获取待处理液晶盒中膜柱的平均原始高度，并根据该平均原始高度判断所述待处理液晶盒所对应的液晶盒子集，将该液晶盒子集所对应的液晶滴下量确定为所述待处理液晶盒所需要的液晶滴下量。
根据本发明的一个实施例，在确定液晶盒子集所对应的液晶滴下量时，计算液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量的平均值或中值，将该平均值或中值确定为该液晶盒子集所对应的液晶滴下量。
本发明还提供了一种液晶滴下设备，所述设备采用如上任一项所述的方法来确定待处理液晶盒所需要的液晶滴下量，并根据所述液晶滴下量向所述待处理液晶盒中滴入液晶。
本发明所提供的泽中方法根据液晶盒中膜柱的平均原始高度对液晶盒进行了区间划分，其中每个液晶盒区间均与液晶滴下量相对应。这样，在确定待处理液晶盒的液晶滴下量时，这种方法不需要像本发明所提供的第一种方法那样计算待处理液晶盒的液晶滴下量，而是仅仅需要通过待处理液晶盒中膜柱的平均原始高度，便可以确定出该待处理液晶盒所对应的液晶盒区间，而该液晶盒区间所对应的液晶滴下量则为该待处理液晶盒所需要的液晶滴下量。所以这种方法不仅能够能够有效克服现有方法因对单张玻璃所包含的液晶盒进行膜柱高度平均化所带来的问题，从而避免了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶或低温气泡等问题，还能够有效避免对大量数据的计算以及处理过程，从而提高整个流程的稳定性以及可靠性，同时提高了液晶面板的生产效率。
本实施例所提供的方法通过选取多个膜柱计算原始高度的平均值，能够有效减小膜柱高度的波动对最终所确定出的液晶滴下量的影响，从而得到更为精确的液晶滴下量。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要的附图做简单的介绍：
图1是液晶盒的结构示意图；
图2是根据本发明一个实施例的获取液晶盒所需要的液晶滴下量的方法的流程图；
图3是根据本发明一个实施例的获取液晶盒的膜柱压缩率的流程图；
图4是根据本发明一个实施例的获取液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积的流程图；
图5是根据本发明一个实施例的另一种获取液晶盒所需要的液晶滴下量的方法的流程图；
图6是根据本发明在一个实施例的关于各个液晶盒及其膜柱的平均原始高度的数据图。
具体实施方式
以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
同时，在以下说明中，出于解释的目的而阐述了许多具体细节，以提供对本发明实施例的彻底理解。然而，对本领域的技术人员来说显而易见的是，本发明可以不用这里的具体细节或者所描述的特定方式来实施。
实施例一：
图1示出了液晶盒的结构示意图。从图1中可以看出，液晶盒包括第一材料层101、第二材料层102、封框103、膜柱104和液晶105。其中，膜柱104和液晶105便设置在由第一材料层、第二材料层和封框103所共同形成的空间中。
图2示出了本实施例所提供的获取液晶滴下量的方法的流程图。
如图2所示，该方法在步骤S201中从液晶盒中选取第一预设数量的彩色滤光片膜柱(以下简称为膜柱)，从而得到第一膜柱集。本实施例中，在步骤S201中从液晶盒中选取的膜柱既包含主膜柱，又包含辅膜柱，所选取的主膜柱与辅膜柱的数量之和(即第一预设数量)为9个。当然，在本发明的其他实施例中，在步骤S201中所选取的膜柱也可以仅包含主膜柱或辅膜柱，本发明不限于此。同时，在步骤S201中所选取的膜柱的数量(即第一预设数量)也可以为其他合理值，例如5～20之间的其他值，本发明同样不限于此。
得到第一膜柱集后，在步骤S202中分别获取第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计得到算第一膜柱集的平均原始高度。本实施例中，分别获取所选取的9个膜柱的原始高度，并通过计算这9个膜柱的原始高度的平均值来得到第一膜柱集的平均原始高度。第一膜柱集中各个膜柱的原始高度可以利用膜柱高度测试仪在膜柱生产过程中测量得到。当然，在本发明的其他实施例中，也可以通过其他合理方式来获取各个膜柱的原始高度，本发明不限于此。
此外，在本发明的其他实施例中，第一预设数量也可以为1个，即在步骤S201中所选取的膜柱的数量为1个，那么此时在步骤S202中所计算的第一膜柱集的平均原始高度也就是该膜柱的原始高度。本实施例所提供的方法通过选取多个膜柱计算原始高度的平均值，能够有效减小膜柱高度的波动对最终所确定出的液晶滴下量的影响，从而得到更为准确的液晶滴下量。
如图2所示，本实施例所提供的方法在步骤S203中从液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，从而得到第二主膜柱集。本实施例中，在步骤S203中所选取的主膜柱的数量(即第二预设数量)也为9个。
当然，与第一预设数量类似，在本发明的其他实施例中，第二预设数量也可以为其他合理值，本发明不限于此。此外，还需要说明的是，在本发明的其他实施例中，步骤S203中所选取的主膜柱与步骤S201中所选取的膜柱也可以为相同的膜柱，即第二主膜柱集与第一膜柱集相同，本发明不限于此。
得到第二主膜柱集后，在步骤S204中，分别获取第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度。同时，在步骤S204中还会获取液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度等数据。随后在步骤S205中便可以根据步骤204中所得到的数据确定出液晶盒的膜柱压缩率。
图3示出了本实施例中确定液晶盒的膜柱压缩率的具体流程图。
为了确定液晶盒的膜柱压缩率，就需要先确定出液晶盒中膜柱的压缩量，即膜柱的高度变化量，也就是液晶盒中膜柱的高度相对于该膜柱的原始高度所减小的高度值。所以如图3所示，本实施例首先在步骤S301中根据所获取到的第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算出第二主膜柱集的平均原始高度。
在步骤S302中，根据液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和第二主膜柱集的平均原始高度，计算得到液晶盒中膜柱的压缩量。从图1中可以看出，液晶盒的厚度等于第一材料层厚度、第二材料层厚度与压缩后的膜柱的高度之和，所以膜柱的压缩量Δh可以根据如下表达式计算得到：
Δh＝h-(d-dc-da) (1)
其中，h表示第二主膜柱集的平均原始高度，d表示液晶盒厚度，dc和da分别表示第一材料层厚度和第二材料层厚度。
最后在步骤S303中，根据膜柱的压缩量Δh与第二主膜柱集的平均原始高度h的比值，便可以计算得到液晶盒的膜柱压缩率a，即：
当然，在本发明的其他实施例中，也可以利用其他合理的方式来确定液晶盒的膜柱压缩率，本发明不限于此。本实施例中，利用计算得到的膜柱压缩率，还可以判断出液晶盒是否满足工艺要求。例如，液晶盒的膜柱压缩率的安全值为8.3％～11％，所以如果计算的膜柱压缩率超过了这一范围，便可以判断出该液晶盒不满足工艺要求，从而实现了在生产过程中对液晶盒的质检。
再次如图2所示，得到膜柱压缩率后，本实施例所提供的液晶滴下量获取方法在步骤S206中分别获取液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积(本实施例中，液晶盒中膜柱的总体积也就是液晶中主膜柱的总体积与辅辅膜柱的总体积之和)。
由于液晶盒中待滴入液晶的空间可以视为第一材料层、第二材料层和封框所形成的空间减去液晶盒中各个膜柱的总体积后剩余的空间，而第一材料层、第二材料层和封框所形成的空间的体积可以视为液晶盒的底面积与压缩后的膜柱的高度的乘积。所以本实施例在步骤S207中，根据液晶盒底面积、第一膜柱集的平均原始高度、液晶压缩率、液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，确定出该液晶盒所需要的液晶滴下量。本实施例中，液晶盒所需要的液晶滴下量Vout可以根据如下表达式计算得到：
Vout＝Sp·h0·(1-a)-(Vs+Vp) (3)
其中，Sp表示液晶盒的底面积，h0表示第一膜柱集的平均原始高度，Vs和Vp分别表示液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积。
图4示出了本实施例中获取液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积的流程图。
如图4所示，在步骤S401中，分别从液晶盒选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，从而得到第一主膜柱和第一辅膜柱。本实施例中，所选取的主膜柱和辅膜柱为液晶盒中心位置处的相应膜柱。当然，在本发明的其他实施例中，还可以选取液晶盒其他位置处的主膜柱和/或辅膜柱来分别作为第一主膜柱和/或第一辅膜柱，例如液晶盒边角位置处的主膜柱和/或辅膜柱等，本发明不限于此。
第一主膜柱和第一辅膜柱可以视为圆台，为了得到第一主膜柱的体积和第二主膜柱的体积，在步骤S402中，分别获取第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径，从而分别计算得到第一主膜柱和第一辅膜柱的体积。
本实施例中，分别根据如下表达式计算第一主膜柱的体积V1和第一辅膜柱的体积V2：
其中，h1和h2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度，r1u和r1l分别表示第一主膜柱的上表面半径和下表面半径，r2u和r2l分别表示第一辅膜柱的上表面半径和下表面半径。。
当然，在本发明的其他实施例中，也可以利用其它方式来确定第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，本发明不限于此。例如在本发明的一个实施例中，利用如下表达式来计算第一主膜柱的体积V1和第一辅膜柱的体积V2：
在得到第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积后，在步骤S403中分别获取液晶盒底面Sp、主膜柱的分布密度ρp和辅膜柱的分布密度ρs。本实施例中，膜柱的分布密度表示每平方毫米范围内膜柱的个数，该参数可以根据液晶盒光照设计的密度得到。得到膜柱的分布密度后，结合第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，便可以分别确定出液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积。
本实施例中，分别根据如下表达式计算主膜柱的总体积Vp和辅膜柱Vs的总体积：
得到液晶盒中所包含的主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积后，根据这两个体积之和便可以得到该液晶盒所包含的膜柱的总体积。
现有的液晶滴下量获取方法是利用单张玻璃中所包含的所有液晶盒(对于5.0HD产品来说，单张玻璃上通常包含300多个液晶盒)的膜柱高度的平均值来确定这些液晶盒所需要的液晶滴下量。由此可以看出，现有的方法对各个液晶盒的膜柱高度的波动进行了平均化处理，而这无疑会使得在生产过程中部分液晶盒被滴入的液晶过多或过少，从而导致漏液晶或低温气泡等问题。
从上述描述中可以看出，本实施例所提供的液晶滴下量获取方法通过对液晶盒的相关参数的分析，能够得到适合于该液晶盒的液晶滴下量。相较于现有的液晶滴下量获取方法，本实施例所提供的方法是以单个液晶盒为分析对象的，所得到的液晶滴下量也更为准确，所以也就能够有效克服现有方法因对单张玻璃所包含的液晶盒进行膜柱高度平均化所带来的问题，从而避免了液晶面板生产过程中所产生的漏液晶、低温气泡以及液晶显示器亮度均匀性差等问题。
实施例二：
液晶面板生产线在生产液晶面板的过程中需要处理的玻璃板的数量是十分巨大的。假设液晶面板生产线需要处理的玻璃板为1000片，同时每片玻璃板包含300个液晶盒，那么此时液晶面板就需要对30万个液晶盒滴入液晶，所以也就需要获取30万个液晶盒的液晶滴下量数据。这显然需要液晶面板生产线中的液晶滴入设备具有十分高效的数据处理能力，这也就在一定程度上影响了液晶面板生产线的产能。
所以为了简化液晶滴入过程，提高液晶面板生产线的产能，基于实施例一所提供的液晶滴下量获取方法，本实施例还提供了另一种液晶滴下量获取方法，图5示出了该方法的流程图。
如图5所示，首先在步骤S501中获取预设数量的液晶盒，并利用实施例一所提供的液晶滴下量获取方法确定出各个液晶盒所需要的液晶滴下量。具体地，本实施例中，选取了100片玻璃板，每片玻璃板包含9个液晶盒，所以在步骤S501中确定出了900个液晶盒所需要的液晶滴下量。
在步骤S502中，获取步骤S501中所选取的各个液晶盒的膜柱的平均原始高度，其结果如图6所示。本实施例中，获取各个液晶盒的膜柱的平均原始高度的原理以及过程与图2所示的步骤S202所阐述的原理以及过程相同，在此不再赘述。
得到各个液晶盒的膜柱的平均原始高度后，在步骤S503中，根据膜柱的平均原始高度，将步骤S501中所选取的液晶盒分为多个液晶盒子集。本实施例中，以0.05微米为一个间隔，将步骤S501中所选取的900个液晶盒分为了四个液晶盒子集。当然，在本发明的其他实施例中，还可以以其他合理的间隔值，来对步骤S501中所选取的液晶盒进行划分，例如0.03微米到0.10微米之间的其他合理值等，本发明不限于此。
在步骤S504中，对于各个液晶盒子集，根据步骤S502中所获取的该子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量，可以确定出该液晶盒子集所对应的液晶滴下量。
本实施例中，在确定液晶盒子集所对应的液晶滴下量时，首先计算该液晶盒子集中液晶盒所需要的液晶滴下量的平均值，随后将的得到的液晶滴下量的平均值作为该液晶盒子集所对应的液晶滴下量。由此便确定出了各个液晶盒子集所对应的液晶滴下量。
需要说明的是，在本发明的其他实施例中，也可以根据其他合理方式确定出各个液晶盒子集所对应的液晶滴下量，例如将液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量的中值作为该液晶盒子集所对应的液晶滴下量等，本发明不限于此。
如果要向某一待处理液晶盒中滴入液晶，那么先在步骤S505中获取该待处理液晶盒的膜柱的平均原始高度，并根据该待处理液晶盒的膜柱的平均原始高度确定出该待处理液晶盒所对应的液晶盒子集。具体地，如果液晶盒的膜柱的平均原始高度在步骤S503中所确定出的某一液晶盒子集的膜柱的平均原始高度区间内，那么便可以判断出此液晶盒子集与待处理液晶盒相对应。
最后在步骤S506中，将步骤S505中确定出的液晶盒子集所对应的液晶滴下量确定为该待处理液晶盒所所需要的液晶滴下量。
为了进一步地说明本实施例所提供的液晶滴下量获取方法的优点，本实施例还利用现有方法和本实施例所提供的方法分别对500片玻璃(每片玻璃含有9个液晶盒)进行了液晶滴下测试。其中，利用现有方法所向500片玻璃所包含的4500个液晶盒中滴入液晶时，漏液晶和低温气泡的发生率分别为0.56％和18.5％。而采用本实施例所提供的方法向500片玻璃所包含的4500个液晶盒中滴入液晶时，漏液晶和低温气泡的发生率分别为0.18％和0。由此可见，本实施例所提供的液晶滴下量获取方法能够有效降低液晶滴入过程中漏液晶和低温气泡等现象的发生率，从而有助于提高液晶面板的成品率以及产品质量。
从上述描述中可以看出，本实施例所提供的方法根据液晶盒中膜柱的平均原始高度对液晶盒进行了区间划分，其中每个液晶盒区间均与液晶滴下量相对应。这样在确定待处理液晶盒的液晶滴下量时，本实施例所提供的方法不需要像实施例一所提供的方法那样计算待处理液晶盒的液晶滴下量，而是仅仅需要通过待处理液晶盒中膜柱的平均原始高度，便可以确定出该待处理液晶盒所对应的液晶盒区间，而该液晶盒区间所对应的液晶滴下量则为该待处理液晶盒所需要的液晶滴下量。所以本实施例所提供的方法能够有效避免了对大量数据的计算以及处理过程，提高了整个流程的稳定性以及可靠性，从而提高了液晶面板的生产效率。
此外，本发明还提供了一种液晶滴下设备，其中，该液晶滴下设备采用实施例一或实施例二所提供的方法来确定待处理液晶盒所需要的液晶滴下量，并根据该液晶滴下量向待处理液晶盒中滴入液晶。
应该理解的是，本发明所公开的实施例不限于这里所公开的特定处理步骤或材料，而应当延伸到相关领域的普通技术人员所理解的这些特征的等同替代。还应当理解的是，在此使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，而并不意味着限制。
说明书中提到的“一个实施例”或“实施例”意指结合实施例描述的特定特征、或特性包括在本发明的至少一个实施例中。因此，说明书通篇各个地方出现的短语“一个实施例”或“实施例”并不一定均指同一个实施例。
此外，所描述的特征或特性可以任何其他合适的方式结合到一个或多个实施例中。在上面的描述中，提供一些具体的细节，例如厚度、数量等，以提供对本发明的实施例的全面理解。然而，相关领域的技术人员将明白，本发明无需上述一个或多个具体的细节便可实现，或者也可采用其它方法、组件、材料等实现。
虽然上述示例用于说明本发明在一个或多个应用中的原理，但对于本领域的技术人员来说，在不背离本发明的原理和思想的情况下，明显可以在形式上、用法及实施的细节上作各种修改而不用付出创造性劳动。因此，本发明由所附的权利要求书来限定。

Claims (10)

1.一种液晶滴下量获取方法，其特征在于，所述方法包括：
从液晶盒中选取第一预设数量的膜柱，得到第一膜柱集；
获取所述第一膜柱集中各个膜柱的原始高度，并计算得到所述第一膜柱集的平均原始高度；
从所述液晶盒中选取第二预设数量的主膜柱，得到第二主膜柱集；
分别获取所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料层厚度和第二材料层厚度，计算得到所述液晶盒的膜柱压缩率；
获取所述液晶盒的底面积、液晶盒中膜柱的总体积，并结合所述第一膜柱集的平均原始高度和膜柱压缩率确定所述液晶盒所需要的液晶滴下量，
其中，计算得到的膜柱压缩率还用于判断出所述液晶盒是否满足工艺要求。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，计算液晶盒的膜柱压缩率的步骤包括：
根据所述第二主膜柱集中各个主膜柱的原始高度，计算所述第二主膜柱集的平均原始高度；
根据所述液晶盒厚度、第一材料层厚度、第二材料层厚度和所述第二主膜柱集的平均原始高度，计算膜柱压缩量；
根据所述膜柱压缩量和第二主膜柱集的平均原始高度，计算所述膜柱压缩率。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据如下表达式计算所述膜柱压缩率：
<mrow> <mi>a</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mi>h</mi> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mi>d</mi> <mo>-</mo> <msub> <mi>d</mi> <mi>c</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>d</mi> <mi>a</mi> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mi>h</mi> </mfrac> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <mn>100</mn> <mi>%</mi> </mrow>
其中，a表示膜柱压缩率，d表示液晶盒厚度，dc和da分别表示第一材料层厚度和第二材料层厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取液晶盒中膜柱的总体积的步骤包括：
从所述液晶盒中选取预设位置处的主膜柱和辅膜柱，得到第一主膜柱和第一辅膜柱；
分别获取所述第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度、上表面半径和下表面半径，计算得到所述第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积；
分别获取所述液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，结合所述液晶盒的底面积、第一主膜柱的体积和第一辅膜柱的体积，分别确定液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，进而得到所述液晶盒中膜柱的总体积。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，
根据如下表达式计算所述第一主膜柱的体积：
<mrow> <msub> <mi>V</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>=</mo> <msub> <mi>h</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <mi>&amp;pi;</mi> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <mfrac> <mrow> <msubsup> <mi>r</mi> <mrow> <mn>1</mn> <mi>u</mi> </mrow> <mn>2</mn> </msubsup> <mo>+</mo> <msubsup> <mi>r</mi> <mrow> <mn>1</mn> <mi>l</mi> </mrow> <mn>2</mn> </msubsup> </mrow> <mn>2</mn> </mfrac> </mrow>
且/或，根据如下表达式计算所述第一辅膜柱的体积：
<mrow> <msub> <mi>V</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>=</mo> <msub> <mi>h</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <mi>&amp;pi;</mi> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <mfrac> <mrow> <msubsup> <mi>r</mi> <mrow> <mn>2</mn> <mi>u</mi> </mrow> <mn>2</mn> </msubsup> <mo>+</mo> <msubsup> <mi>r</mi> <mrow> <mn>2</mn> <mi>l</mi> </mrow> <mn>2</mn> </msubsup> </mrow> <mn>2</mn> </mfrac> </mrow>
其中，V1和V2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的体积，h1和h2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的原始高度，r1u和r1l分别表示第一主膜柱的上表面半径和下表面半径，r2u和r2l分别表示第一辅膜柱的上表面半径和下表面半径。
6.如权利要求4或5所述的方法，其特征在于，根据如下表达式计算所述主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积：
<mrow> <msub> <mi>V</mi> <mi>p</mi> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <msub> <mi>S</mi> <mi>p</mi> </msub> <msub> <mi>&amp;rho;</mi> <mi>p</mi> </msub> </mfrac> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <msub> <mi>V</mi> <mn>1</mn> </msub> </mrow>
<mrow> <msub> <mi>V</mi> <mi>s</mi> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <msub> <mi>S</mi> <mi>p</mi> </msub> <msub> <mi>&amp;rho;</mi> <mi>s</mi> </msub> </mfrac> <mo>&amp;CenterDot;</mo> <msub> <mi>V</mi> <mn>2</mn> </msub> </mrow>
其中，Vp和Vs分别表示液晶盒中主膜柱的总体积和辅膜柱的总体积，Sp表示液晶盒的底面积，ρp和ρs分别表示液晶盒中主膜柱和辅膜柱的分布密度，V1和V2分别表示第一主膜柱和第一辅膜柱的体积。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据如下表达式确定所述液晶滴下量：
Vout＝Sp·h0·(1-a)-V
其中，Vout表示液晶滴下量，Sp表示液晶盒的底面积，h0表示第一膜柱集的平均原始高度，a表示膜柱压缩率，V表示液晶盒中膜柱的总体积。
8.一种液晶滴下量获取方法，其特征在于，所述方法包括：
获取预设数量的液晶盒，利用权利要求1～7中任一项所述的方法确定各个液晶盒所需要的液晶滴下量；
获取各个液晶盒的膜柱的平均原始高度，并根据平均原始高度将所获取的液晶盒划分为多个液晶盒子集；
对于各个液晶盒子集，根据液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量，确定各个液晶盒子集所对应的液晶滴下量；
当需要向待处理液晶盒中滴入液晶时，获取待处理液晶盒中膜柱的平均原始高度，并根据该平均原始高度判断所述待处理液晶盒所对应的液晶盒子集，将该液晶盒子集所对应的液晶滴下量确定为所述待处理液晶盒所需要的液晶滴下量。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，在确定液晶盒子集所对应的液晶滴下量时，计算液晶盒子集中各个液晶盒所需要的液晶滴下量的平均值或中值，将该平均值或中值确定为该液晶盒子集所对应的液晶滴下量。
10.一种液晶滴下设备，其特征在于，所述设备采用如权利要求1～9中任一项所述的方法来确定待处理液晶盒所需要的液晶滴下量，并根据所述液晶滴下量向所述待处理液晶盒中滴入液晶。
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