CN104464806A - 一种适用于eeprom和flash的灵敏放大器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种适用于EEPROM和FLASH的灵敏放大器,包括基准电流模块、预充电模块、电流比较模块、判决模块、数据锁存模块、数据输出模块、上电复位模块七部分。本发明与传统技术相比,采用了直接的电流比较模式,增加了预充电支路和反馈机制,使得存储器的读功耗得到进一步的降低,非常适用于便携式电子产品、射频识别电子标签、双界面智能卡等领域。
Description
技术领域
本发明属于非易失性存储器技术领域,具体涉及一种适用于EEPROM和FLASH的灵敏放大器模块,它尤其适合在嵌入式存储器中应用。
背景技术
半导体存储器可以分为两大类:易失性存储器和非易失性存储器。易失性存储器在系统断电之后,所存储的数据丢失,例如SRAM和DRAM。非易失性存储器在系统断电之后,仍然可以很好地保存数据,例如EEPROM和FLASH。
作为目前商业应用最为广泛的两种非易失性存储器,EEPROM和FLASH各有其优缺点:前者工艺非常成熟,器件的可靠性也较好,但是存储单元采用2T结构,导致存储单元的有效面积较大;后者在存储阵列的可靠性方面要稍逊于EEPROM,但是采用1T结构的存储单元,使得存储密度更高,在大容量存储器的使用中很有优势。此外,EEPROM的擦除、编程机制都使用FN隧道效应,而FLASH多采用CHEI效应进行编程,比较而言,EEPROM的写操作功耗更小,更加适合于低功耗、超低功耗的应用场合。
EEPROM和FLASH的系统架构类似,包括存储阵列和外围电路两部分。外围电路一般包括列译码器、行译码器、高压产生电路、灵敏放大器、逻辑控制电路、数据锁存器等模块。在进行写操作时,上述存储器的功耗主要来源于高压产生电路;而在读操作时,重点来源于灵敏放大器,并且正比于读操作的位宽,即灵敏放大器的个数。可见针对便携式电子产品、射频识别电子标签、双界面智能卡等应用领域,需要在保证读取速率满足相关产品协议的基础上,尽可能低的减小灵敏放大器的功耗,否则上述嵌入式存储器将成为整个芯片设计的瓶颈。
图1是传统灵敏放大器的技术实现方案,它的具体电路可以分为两部分:第一部分是左右两侧(左侧是参考存储单元支路,右侧是主存储单元支路,两者呈对称结构)的电流-电压转换模块,它的主要功能是将存储单元提供的电流信号转换为电压信号;第二部分是电压比较器,它的主要功能是将第一部分产生的两个电压信号进行比较,最终分辨出存储单元内的信息是逻辑0还是逻辑1。
下面以左侧的参考存储单元支路为例,介绍电流-电压转换模块。参考存储单元的源极接gnd,栅极接WLR,漏极接BLR,在进行读操作时,它们需要按照Foundry提供的操作条件施加和主存储单元相同的电压激励,从而使得参考存储单元提供准确的参考电流。第五NMOS管和第六NMOS管是由列译码器控制的MOS开关,在参考存储单元一侧,主要是为了和主存储单元支路保持匹配,在读操作时它们处于常通状态。第四NMOS管和第二与非门构成一个负反馈环路,目的是稳定参考存储单元的漏极电压。第二电阻作为一个无源负载,是电流-电压转换模块的关键器件,当然也可以使用有源负载来实现。
传统灵敏放大器的工作原理比较简单,但目前也面临着两大困境:一是随着电源电压的降低(≤1.0V),电流-电压转换模块难以兼顾“稳定存储单元的漏极电压”和“放大位线电压的微小变化”两种功能;二是在便携式电子产品、射频识别电子标签、双界面智能卡等领域,系统对存储器的功耗越来越敏感,传统灵敏放大器的功耗比较大,显然已经无法胜任。
发明内容
针对传统灵敏放大器的技术特点和市场需求的发展趋势,本发明提供了一种同时适用于EEPROM和FLASH的新型灵敏放大器。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现的:
本发明包括基准电流模块、预充电模块、电流比较模块、判决模块、数据锁存模块、数据输出模块、上电复位模块共七部分。
所述基准电流模块由第一PMOS管构成,它的源极接电源电压,漏极和栅极相连,并同时连接灵敏放大器的参考电流输入端口Iref,目的是为预充电模块和电流比较模块提供偏置电压。
所述预充电模块包括第二PMOS管和第四PMOS管。第二PMOS管的源极接电源电压,第二PMOS管的栅极接基准电流模块中第一PMOS管的栅极,第二PMOS管的漏极接第四PMOS管的源极,第四PMOS管的漏极接全局位线GBL,第四PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号prec。当prec信号为低电平时,预充电模块对全局位线GBL进行预充电,使其电压达到预定值。
所述电流比较模块包括第三PMOS管和第五PMOS管。第三PMOS管的源极接电源电压,第三PMOS管的栅极接基准电流模块中第一PMOS管的栅极,第三PMOS管的漏极接第五PMOS管的源极,第五PMOS管的漏极接全局位线GBL,第五PMOS管的栅极接判决模块的输出信号。电流比较模块主要完成参考电流和存储单元电流的比较功能。
所述判决模块包括第六PMOS管、第七PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管。第六PMOS管的源极接电源电压,第六PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号rdsyn,第六PMOS管的漏极接第七PMOS管的源极,第七PMOS管的漏极接第二NMOS管的漏极(作为判决模块的输出信号),第七PMOS管的栅极接第二NMOS管的栅极(作为判决模块的输入信号),并同时接全局位线GBL,第二NMOS管的源极接第一NMOS管的漏极,第一NMOS管的源极接地,第一NMOS管的栅极接rdsynb,rdsynb与rdsyn相位相反。当rdsyn信号为低电平,rdsynb信号为高电平时,判决模块通过检测全局位线GBL的电压变化,来分辨存储单元的信息是逻辑0还是逻辑1。
所述数据锁存模块包括第二反相器、第五传输门和第六或非门。第二反相器的输入端连接第五传输门的一端,同时作为数据锁存模块的输入信号,它们连接判决模块的输出信号。第二反相器的输出端连接第六或非门的一个输入端,同时作为数据锁存模块的输出信号。第六或非门的另一端接灵敏放大器的输入控制信号sarst,第六或非门的输出信号接第五传输门的另一端。当rdsyn信号为高电平,rdsynb信号为低电平时,数据锁存模块用于暂时保存判决模块的输出数据。
所述数据输出模块包括第三反相器和第四反相器。第三反相器的输入端连接数据锁存模块的输出信号,第三反相器的输出端接第四反相器的输入端,第四反相器的输出端作为灵敏放大器的最终数据输出端口。数据输出模块的主要功能是增大灵敏放大器的输出驱动能力。
所述上电复位模块由第八PMOS管构成。第八PMOS管的源极接电源电压,第八PMOS管的漏极接判决模块的输出信号和数据锁存模块的输入信号,第八PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号resetb。当resetb信号为低电平时,对数据锁存模块进行复位操作。
本发明与传统技术相比,结构简单新颖,工作原理易于实现。首先,它采用了直接的电流比较模式,因此无需电流-电压转换模块和电压比较器;其次,参考电流可以共用系统模拟部分产生的基准电流,省去了参考存储单元;第三,增加了预充电支路,可以显著加快读取速率;最后,电流比较模块增加了反馈控制机制,可以进一步降低系统读取功耗。
附图说明
图1是传统灵敏放大器的结构示意图。
图2为本发明灵敏放大器的第一个实施例。
图3为本发明灵敏放大器的第二个实施例。
图4为本发明灵敏放大器的输入控制信号sarst的产生电路。
图5是本发明灵敏放大器的电路工作时序图。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于理解,下面结合附图和实施例,进一步阐述本发明。
如图2所示,本发明应用于EEPROM和FLASH的灵敏放大器,包括基准电流模块201、预充电模块202、电流比较模块203、判决模块204、数据锁存模块206、数据输出模块207、上电复位模块205共七部分。基准电流模块201给预充电模块202和电流比较模块203提供偏置电压。判决模块204的输入端接全局位线GBL,判决模块204的输出端连接数据锁存模块206的输入端,数据锁存模块206的输出端连接数据输出模块207的输入端,数据输出模块207的输出端是本发明灵敏放大器的最终输出端。上电复位模块205的输入端接电源电压,上电复位模块205的输出端接数据锁存模块206的输入端。
基准电流模块201由第一PMOS管构成。它的源极接电源电压,漏极和栅极相连,并同时连接灵敏放大器的参考电流输入端口Iref,目的是为预充电模块202和电流比较模块203提供偏置电压。
预充电模块202包括第二PMOS管和第四PMOS管。第二PMOS管的源极接电源电压,第二PMOS管的栅极接基准电流模块201第一PMOS管的栅极,第二PMOS管的漏极接第四PMOS管的源极,第四PMOS管的漏极接全局位线GBL,第四PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号prec。当prec信号为低电平时,预充电模块对全局位线GBL进行预充电,使其电压达到预定值。预充电电流的大小由第一PMOS管和第二PMOS管的(W/L)比值来决定。
电流比较模块203包括第三PMOS管和第五PMOS管。第三PMOS管的源极接电源电压,第三PMOS管的栅极接基准电流模块201第一PMOS管的栅极,第三PMOS管的漏极接第五PMOS管的源极,第五PMOS管的漏极接全局位线GBL,第五PMOS管的栅极接判决模块的输出信号。电流比较模块主要是完成参考电流和存储单元电流的比较功能。参考电流的大小由第一PMOS管和第三PMOS管的(W/L)比值来决定。
判决模块204包括第六PMOS管、第七PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管。第六PMOS管的源极接电源电压,第六PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号rdsyn,第六PMOS管的漏极接第七PMOS管的源极,第七PMOS管的漏极接第二NMOS管的漏极(作为判决模块204的输出信号),第七PMOS管的栅极接第二NMOS管的栅极(作为判决模块204的输入信号),并同时接全局位线GBL,第二NMOS管的源极接第一NMOS管的漏极,第一NMOS管的源极接地,第一NMOS管的栅极接rdsynb,rdsynb与rdsyn的相位相反。当rdsyn信号为低电平,rdsynb信号为高电平时,判决模块204通过检测全局位线GBL的电压变化,来分辨存储单元的信息是逻辑O还是逻辑1。
数据锁存模块206包括第二反相器、第五传输门和第六或非门。第二反相器的输入端连接第五传输门的一端,同时作为数据锁存模块206的输入信号,它们连接判决模块204的输出信号。第二反相器的输出端连接第六或非门的一个输入端,同时作为数据锁存模块206的输出信号。第六或非门的另一端接灵敏放大器的输入控制信号sarst,第六或非门的输出信号接第五传输门的另一端。当rdsyn信号为高电平,rdsynb信号为低电平时,数据锁存模块206用于暂时保存判决模块204的输出数据。
数据输出模块207包括第三反相器和第四反相器。第三反相器的输入端连接数据锁存模块206的输出信号,第三反相器的输出端接第四反相器的输入端,第四反相器的输出端作为灵敏放大器的最终数据输出端口。数据输出模块207的主要功能是增大灵敏放大器的输出驱动能力。
上电复位模块205由第八PMOS管构成。第八PMOS管的源极接电源电压,第八PMOS管的漏极接判决模块204的输出信号和数据锁存模块206的输入信号,第八PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号resetb。当resetb信号为低电平时,对数据锁存模块206进行复位操作。
电流比较模块203中第五PMOS管的栅极由判决模块204的输出信号控制,这组成了一个反馈环。在电流比较阶段,如果被选中的存储单元是已编程单元(阈值电压较大),则对应的漏电流小于等于10nA,该值远小于参考电流,则全局位线被上拉至高电位,判决模块204输出信号为低电平,第五PMOS管始终导通;相反,如果被选中的存储单元是已擦除单元(阈值电压较小),则对应的漏电流大于等于5uA,该值远大于参考电流,则全局位线被下拉至低电位,判决模块204输出信号为高电平,第五PMOS管由导通变为截止,达到降低读功耗的目的。
第一PMOS管、第二PMOS管和第三PMOS管组成了电流镜电路,通过调节这三个PMOS管的(W/L)的比值,可以改变预充电电流的大小和参考电流的大小,进而精确控制灵敏放大器的功耗,并保证所设计存储器的可靠性。
为了保证灵敏放大器的正常工作,在每次读操作周期之前,需要对数据锁存器206进行复位操作,该复位操作不同于系统的上电复位。具体工作过程是,当prec由高电平变为低电平时,灵敏放大器进入到预充电阶段,同时会产生一个正的窄脉冲信号sarst,对数据锁存器206进行复位,确保第五PMOS管的栅极为低电平,处于导通状态。需要说明的是,在预充电期间,rdsyn信号始终为高电平,rdsynb信号始终为低电平。
另外,需要谨慎设计判决模块204的翻转阈值,判决模块204实际上是一个钟控反相器,如果它的翻转阈值设计不当,很可能导致灵敏放大器工作异常。采用钟控反相器,而不是普通的反相器,也是为了进一步减小灵敏放大器的功耗。
图3是本发明灵敏放大器的又一个具体实施例。它的电路结构、模块划分以及设计注意事项都与图2的实施例相同。唯一的区别在于:在图3中,电流比较模块303第五PMOS管的栅极,连接的是数据输出模块307的中间节点,即第三反相器的输出端,而不是判决模块304的输出信号,但反馈机制与图2实施例完全相同。
图4给出了图2实施例和图3实施例中信号sarst的产生电路。它实际上是一个窄脉冲产生电路,只有在prec的下降沿时,才会触发生成一个具有固定延迟时间的正脉冲,延迟单元由具有特定(W/L)参数的反相器级联构成。图4给出了这些反相器参数的其中一种例子,但实际设计时并不局限于此。prec和sarst的对应波形可以参见图5所示。
图5给出了本发明灵敏放大器的工作时序图。首先,在系统上电时,会对数据锁存器进行一次复位操作,防止不确定态的出现;当rdsyn由低电平变为高电平时,判决模块停止工作,起到节省功耗的作用,同时prec变为低电平,对选中存储单元的位线进行预充电操作,待确定充电至预定电压后,prec变为高电平,预充电结束;在预充电操作期间,如上所述,由prec信号的下降沿触发产生一个正脉冲信号,对数据锁存器进行一次复位操作,保证第五PMOS管的栅极是低电平;预充电结束之后,通过对被选中存储单元的字线施加Foundry提供的读电压激励,进入到电流比较阶段,此刻rdsyn仍为高电平,判决模块不工作,待延迟Δt后,即电流比较模块已经工作Δt时间后,rdsyn变为低电平,判决模块开始工作,并同步输出比较结果。至此完成了一个读操作周期,之后的读操作周期与此完全相同。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所述的权利要求书及其等效物界定。
Claims (10)
1.一种适用于EEPROM和FLASH的灵敏放大器,其特征在于,该电路包括基准电流模块201、预充电模块202、电流比较模块203、判决模块204、数据锁存模块206、数据输出模块207、上电复位模块205共七部分,其中:
基准电流模块201给预充电模块202和电流比较模块203提供偏置电压;判决模块204的输入端接全局位线GBL,判决模块204的输出端连接数据锁存模块206的输入端,数据锁存模块206的输出端连接数据输出模块207的输入端,数据输出模块207的输出端是灵敏放大器的最终输出端;上电复位模块205的输入端接电源电压,上电复位模块205的输出端连接数据锁存模块206的输入端。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述基准电流模块201由第一PMOS管构成,第一PMOS管的源极接电源电压,漏极和栅极相连,并同时连接灵敏放大器的参考电流输入端口Iref,为预充电模块202和电流比较模块203提供偏置电压。
3.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述预充电模块202包括第二PMOS管和第四PMOS管;第二PMOS管的源极接电源电压,第二PMOS管的栅极接基准电流模块201中第一PMOS管的栅极,第二PMOS管的漏极接第四PMOS管的源极,第四PMOS管的漏极接全局位线GBL,第四PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号prec。
4.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述电流比较模块203包括第三PMOS管和第五PMOS管;第三PMOS管的源极接电源电压,第三PMOS管的栅极接基准电流模块201中第一PMOS管的栅极,第三PMOS管的漏极接第五PMOS管的源极,第五PMOS管的漏极接全局位线GBL,第五PMOS管的栅极接判决模块的输出信号。
5.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述判决模块204包括第六PMOS管、第七PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管;第六PMOS管的源极接电源电压,第六PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号rdsyn,第六PMOS管的漏极接第七PMOS管的源极,第七PMOS管的漏极接第二NMOS管的漏极,第七PMOS管的栅极接第二NMOS管的栅极,并同时接全局位线GBL,第二NMOS管的源极接第一NMOS管的漏极,第一NMOS管的源极接地,第一NMOS管的栅极接rdsynb,rdsynb与rdsyn的相位相反。
6.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述数据锁存模块206包括第二反相器、第五传输门和第六或非门;第二反相器的输入端连接第五传输门的一端,并共同连接判决模块204的输出信号,作为数据锁存模块206的输入信号;第二反相器的输出端连接第六或非门的一个输入端,同时作为数据锁存模块206的输出信号;第六或非门的另一端接灵敏放大器的输入控制信号sarst,第六或非门的输出信号接第五传输门的另一端。
7.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述数据输出模块207包括第三反相器和第四反相器;第三反相器的输入端连接数据锁存模块206的输出信号,第三反相器的输出端接第四反相器的输入端,第四反相器的输出端作为灵敏放大器的最终数据输出端口。
8.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述上电复位模块205由第八PMOS管构成;第八PMOS管的源极接电源电压,第八PMOS管的漏极接判决模块204的输出信号和数据锁存模块206的输入信号,第八PMOS管的栅极接灵敏放大器的输入控制信号resetb。
9.根据权利要求6所述的电路,其特征在于,在每次读操作周期之前,需要对数据锁存器206进行复位操作,确保第五PMOS管的栅极为低电平,处于导通状态。
10.根据权利要求4所述的电路,其特征在于,所述第五PMOS管栅极,可由数据输出模块207中第三反向器的输出节点控制。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107896099A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-04-10 | 成都通量科技有限公司 | 一种上电复位电路 |
CN108447518A (zh) * | 2018-04-26 | 2018-08-24 | 成都锐成芯微科技股份有限公司 | 一种低电压灵敏放大器电路 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1435840A (zh) * | 2002-11-27 | 2003-08-13 | 华邦电子股份有限公司 | 动态预充电的电流感应放大器 |
CN1606096A (zh) * | 2004-11-03 | 2005-04-13 | 东南大学 | 低位线摆幅的低功耗静态随机存储器 |
US20060083042A1 (en) * | 2000-05-31 | 2006-04-20 | Ma Stanley J | Multiple match detection circuit and method |
CN101221814A (zh) * | 2008-01-04 | 2008-07-16 | 华中科技大学 | 一种用于eeprom的灵敏放大器及由其构成的读电路 |
CN101546604A (zh) * | 2009-04-29 | 2009-09-30 | 深圳市远望谷信息技术股份有限公司 | 应用于eeprom的灵敏放大器 |
CN101656097A (zh) * | 2009-08-28 | 2010-02-24 | 苏州东微半导体有限公司 | 应用于半导体存储器的灵敏放大器电路及其工作方法 |
CN102290086A (zh) * | 2011-04-22 | 2011-12-21 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 存储器和灵敏放大器 |
CN102820055A (zh) * | 2011-06-07 | 2012-12-12 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 相变存储器的数据读出电路 |
US20140043886A1 (en) * | 2012-08-09 | 2014-02-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Sensing memory element logic states from bit line discharge rate that varies with resistance |
-
2014
- 2014-08-27 CN CN201410427323.9A patent/CN104464806A/zh active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060083042A1 (en) * | 2000-05-31 | 2006-04-20 | Ma Stanley J | Multiple match detection circuit and method |
CN1435840A (zh) * | 2002-11-27 | 2003-08-13 | 华邦电子股份有限公司 | 动态预充电的电流感应放大器 |
CN1606096A (zh) * | 2004-11-03 | 2005-04-13 | 东南大学 | 低位线摆幅的低功耗静态随机存储器 |
CN101221814A (zh) * | 2008-01-04 | 2008-07-16 | 华中科技大学 | 一种用于eeprom的灵敏放大器及由其构成的读电路 |
CN101546604A (zh) * | 2009-04-29 | 2009-09-30 | 深圳市远望谷信息技术股份有限公司 | 应用于eeprom的灵敏放大器 |
CN101656097A (zh) * | 2009-08-28 | 2010-02-24 | 苏州东微半导体有限公司 | 应用于半导体存储器的灵敏放大器电路及其工作方法 |
CN102290086A (zh) * | 2011-04-22 | 2011-12-21 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 存储器和灵敏放大器 |
CN102820055A (zh) * | 2011-06-07 | 2012-12-12 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 相变存储器的数据读出电路 |
US20140043886A1 (en) * | 2012-08-09 | 2014-02-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Sensing memory element logic states from bit line discharge rate that varies with resistance |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107896099A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-04-10 | 成都通量科技有限公司 | 一种上电复位电路 |
CN107896099B (zh) * | 2017-12-14 | 2020-11-03 | 成都通量科技有限公司 | 一种上电复位电路 |
CN108447518A (zh) * | 2018-04-26 | 2018-08-24 | 成都锐成芯微科技股份有限公司 | 一种低电压灵敏放大器电路 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 102209 Beijing, Beiqijia, the future of science and technology in the south area of China electronic network security and information technology industry base C building, Applicant after: Beijing CEC Huada Electronic Design Co., Ltd. Address before: 100102 Beijing City, Chaoyang District Lize two Road No. 2, Wangjing science and Technology Park A block five layer Applicant before: Beijing CEC Huada Electronic Design Co., Ltd. |
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COR | Change of bibliographic data | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20150325 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |